Вульфа-Брэгга закон отражения

Следует отметить, что русский ученый Ю. В. Вульф сформулировал закон отражения рентгеновских лучей ранее Брэгга, которому обычно приписывается открытие этого закона. (Прим. ред). [c.224]

Это соотношение известно как закон отражения Вульфа — Брэгга. [c.26]

С помощью рентгеновских лучей в 1912 г. было установлено в кристаллах наличие плоских сеток, от которых лучи отражаются по закону Вульфа—Брэгга ln=2d sin Qn. В этом выражении Я — длина волны рентгеновских лучей fl — простые числа (1, 2, 3 и т. д.), показывающие порядок отражения d — межплоскостное расстояние 0л — угол отражения соответствующего порядка. [c.11]

Нейтроны подчиняются законам волновой механики, и наблюдение волновых свойств нейтронов возможно и выполнимо в значительном числе опытов. Для тепловых нейтронов ( 1/40 эв) длина волны порядка 2-10 см, т. е. близка к межатомным расстояниям, поэтому можно наблюдать дифракцию нейтронных волн на кристаллах, подобно дифракции рентгеновских лучей, имеющих длину волны того же порядка. Если на грань кристалла, спиленную параллельно ряду плоскостей кристаллической решетки, падают рентгеновские лучи (рис. 95), то в направлении, которое характеризуется углом отражения 0, равным углу падения, отражаются лучи с длиной волны Я,, определяемой соотношением Вульфа — Брэгга [c.198]

Основная роль спектрального анализатора заключается в выделении из. всего потока рентгеновских лучей лишь излучения определенной длины волны. Анализаторами служат пластинки кристаллов или решетки. Длина волны Я, отраженной кристаллом (решеткой), однозначно связана с углом отражения ф законом Вульфа — Брэгга [c.34]

Поскольку целью рентгенофазового анализа является индентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний с1 и относительным интенсивностям соответствующих линий на рентгенограмме, для этого, согласно закону Брэгга-Вульфа, необходимо определение углов отражения В. [c.30]

В связи с тем, что характеристические лучи К-, L- и отчасти Л1-серий возникают при переходах электронов на внутренних уровнях атома, энергия электронов на которых практически не зависит от степени ионизации атомов, длины волн характеристического спектра практически одинаковы независимо от того, какие соединения данный атом образует. Поэтому, если разложить в спектр характеристическое рентгеновское излучение, образующееся при возбуждении мишени, состоящей из атомов разного сорта, то по наличию спектральных линий тех или инЫх элементов можно определить качественный, а по их интенсивности количественный элементный состав мишени. Всего проще спектр можно получить, направляя на монокристалл, у которого параллельно поверхности расположены плоскости (hkl) с межплоскостным расстоянием dhhi, полихроматическое излучение, которое отражается от монокристалла в соответствии с законом Вульфа—Брэгга (см. гл. 6) 2dhhtsinu= = пХ, где — угол, под которым на кристалл падает рентгеновское излучение. Поворачивая кристалл (меняя ), можно добиться отражения излучения с разной длиной волны. [c.146]

При слишком малом размере селекторной диафрагмы возникает несоответствие между областью объекта, где изображается селекторная диафрагма, и областью объекта, от которой фактически получается дифракционная картина. Это несоответствие может быть следствием неточной фокусировки. Однако существует и принципиальное ограничение, связанное со сферической аберрацией объективной линзы. Как видно на схеме (рис. 20,26), сферическая аберрация вызывает смещение изображения селекторной диафрагмы. Из-за сферической аберрации электроны, покидающие объект в разных направлениях и формирующие разные рефлексы возле главной фокальной плоскости, относятся к разным участкам объекта. Величину смещений определяют как эффект сферической аберрации для дифрагированных лучей, т. е. для углов атаХ/йнкь (по закону Вульфа — Брэгга) у= = Ссфа (Ссф 2 мм). В микроскопе с ускоряющим напряжением 100 кВ смещения для отражений второго и третьего порядков достигают нескольких десятых долей микрометра поэтому обычно получают картины дифракции от области около 1 мкм в поперечнике. Существенное уменьшение размера области дифракции достигается в высоковольтной электронной микроскопии, а также при ограничении размера освещенной области объекта системой осветителя с использованием сходящегося пучка электронов (см. ниже п. 21.4). [c.466]

В науке никогда не исчезал глубокий интерес к вопросу о связи между химическим составом и физическими свойствами кристаллических веществ. Стереохимические исследования прошлого века в этом отношении создали прочную основу наших знаний о химической структуре веи1ества. В нашей стране эти работы связаны с именем А. М. Бутлерова, положившего начало структурной теории углеродсодержащих органических соединений. С другой стороны, другому великому русскому ученому, Е. С. Федорову, принадлежит создание геометрической теории о 230 пространственных группах, по которым располагаются элементарные частицы в кристаллических структурах, и разработка метода кристаллохимического анализа вещества. Однако исключительного успеха кристаллохимические исследования достигают с момента обнаружения диффракцин рентгеновских лучей в кристаллах. Благодаря рентгеновскому анализу, а затем электронографическому анализу и другим физическим методам учение о пространственном расположении атомов сделало огромный шаг вперед. Напомним, что основной закон отражения рентгеновских лучей в кристаллах независимо от Брэгга был сформулирован у нас Ю. В, Вульфом. В наше время учение о пространственной структуре вещества стало основой физического и химического знания. [c.5]

Целью рентгенофазового анализа является идентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний (й) и относительным интенсивностям (/) соответствующих линий на рентгенограмме. Для этого согласно закону Вульфа — Брэггов, необходимо определение углов отражения (0). Ход этого определения изложен ниже. [c.40]

В качестве простейшего и наиболее ясного примера использования этих явлений можно указать случай, иозволяюш пй вывести закон отран<ения рентгеновских лучей от поверхности кристалла — закон Брэгга—Вульфа. В самом деле, каждый атом или ион в кристалле действует в качестве центра, от которого излучение рассеивается во всех направлениях, совместимых с законами оптики. Однако излучение, рассеянное в направлении связи между двумя атомами, многократно усиливается рассеянием излучения в том же направлении другими атомами. Суммарная дифракция в избранном направлении составляет одно из брэгговских отражений. Другое применение, некоторые обоснования которого были даны в гл. VII, принадлежит Дебаю, Менке и Принсу опо позволяет установить распределение атомов в жидкости. Наконец, метод смешанных порошков, развитый независимо Гуллом, а также Дебаем и Шерером, позволил сэкономить большое количество труда. В этом методе рентгеновские лучи рассеиваются во всех направлениях маленькими частицами смеси кристаллов, причем структура одного из них (обычно каменной солп) долл<на быть известна. В этом случае измерение межъядерных расстояний производится относительным методом, который сводится к измерению диаметров дифракционных колец, принадлежащих изученному и неизученному рассеивающим веществам. [c.463]

Основной закон, которому подчиняется геометрия дифракционного изображения, установлен английскими физиками — отцом и сыном Брэггами и русским кристаллографом Г. В. Вульфом. Оказывается, направлению, в котором все волны усиливают друг друга, соответствует простой и наглядный смысл сильный луч как бы отразился от плоскости, проходящей через узлы решетки. Все узловые плоскости кристаллической решетки выступают параллельными семействами. Каждому такому семейству соответствует определенное межплоскостное расстояние, обозначаемое обычно буквой d. Отражение луча от системы плоскостей происходит не при любом угле падения, а только в том случае, когда длина волны излучения Я, угол отражения 0 и межплоскостное расстояние связаны формулой [c.353]

Появление дифракционных максимумов может быть истолковано как селективное отражение рентгеновских лучей от снсте.м параллельных атомных плоскостей. Такую остроумную интерпретацию дифракции рентгеновских лучей от кристаллов дали с 1912—13 гг. У. Л. Брэгг и Ю. В. Вульф . Это отражение происходит по обычному закону (угол падения равен углу отражения), но только под строго определенными углами, диктуемыми длиной волны и параметрами кристаллической решетки. Зависимость между длиной волны рентгеновских лучей к и межпло-скостным расстоянием d пространственной решетки выражается основной формулой рентгеноструктурного анализа [формула Брэгга — Вульфа) пХ — 2с1 sin 0 [c.120]

Брэгга — Вульфа закон (условие) гласит, что отражение ре]1тгеиоиских лучей от параллельных атомных плоскостей кристалла наблюдается в том случае, когда лучи, отраженные ралными плоскостями, имеют разность хода, равную целому числу длин волн (стр. 120). [c.125]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология