Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Мультиплекс

    Преимущества спектрометра с преобразованием Адамара (СПА) включают достоинства мультиплекса, т. е. гораздо более высокое пропускание по энергии, чем у дифракционного спектрометра (численно в /n/2 раз), одновременную фиксацию всех длин волн, в том числе и интересующих исследователя, и использование хорошо разработанной техники сканирующих спектрофотометров. Недостатками СПА являются необходимость применения ЭВМ для декодирования данных, ошибки в кодировании, возникающие из-за оптических аберраций, и отсутствие контроля за температурой маски. Кроме того, эффективность дифракционной решетки высока только в относительно ограниченном интервале, поэтому охват полного спектра практически невозможен. [c.37]


    Мультиплекс. Сферический эталон. Для увеличения постоянной А Я применяют последовательную установку двух эталонов друг за другом, получившую название мультиплекс. [c.108]

    Возможность применения мультиплекса основана на независимости дисперсии эталона от его толщины. Если толщина одного [c.108]

    По величине образующегося фона все применяющиеся установки мультиплекса можно разбить на два типа установка Лау и установка Куна. [c.108]

Рис. 12.7. Образование интерференционной картины в мультиплексе а — тонкий эталон б — толстый эталон в — мультиплекс Рис. 12.7. Образование <a href="/info/302119">интерференционной картины</a> в мультиплексе а — <a href="/info/135373">тонкий эталон</a> б — толстый эталон в — мультиплекс
    Мультиплекс применяется также в том случае, когда хотят увеличить (раза в полтора) разрешающую силу и снизить величину фона при данном значении постоянной эталона. В этом случае ставят один за другим два эталона одинаковой толщины. [c.109]

    Использование мультиплекса затрудняется необходимостью очень точной подгонки толщин эталонов и большими потерями света. [c.109]

    Последовательная установка в спектрометре двух эталонов (мультиплекс) может дать еще больший выигрыш в световом потоке. Если же задачей является не увеличение светового потока, а повышение разрешающей силы, то применение эталона Фабри— Перо позволит работать со щелевыми монохроматорами небольшой дисперсии. [c.324]

    Дальнейшее уменьшение полуширины полосы пропускания ИФ можно достичь путем их комбинации. Сложные интерференционные фильтры высокой монохроматичности, или мультиплекс-светофильтры, позволяют [c.105]

    Поскольку интенсивность фона между максимумами для эталона не равна нулю, в аппаратной функции мультиплекса, кроме основных максимумов, появляются побочные. Их число и интенсивность зависят от соотношения [c.183]

    Пропускание мультиплекса в максимуме также равно произведению пропусканий составляющих эталонов [c.184]

    Оно быстро падает при увеличении потерь на поглощение в зеркалах. Так,, для зеркал сг = 90%ие = 5% (т = 5%) пропускание мультиплекса будет всего 6%. Поэтому при работе со сложными эталонами желательно применять зеркала с диэлектрическими покрытиями. Для них потери на поглощение существенно меньше, чем для металлических пленок. [c.184]

    Помимо обычной юстировки каждого из эталонов при работе с мультиплексом необходимо добиваться кратного отношения их оптических толщин. Точность изготовления распорных колец при этом недостаточна и приходится подгонять оптические толщины, изменяя давление газа в промен утке между зеркалами одного из эталонов. [c.184]


    Такая схема эквивалентна мультиплексу с отношением толщин 1 1. При этом постоянная эталона не изменяется, разрешающая способность немного увеличивается, а контрастность существенно возрастает,, хотя ее трудно довести до теоретического значения, равного квадрату контрастности это-лона. [c.184]

Рис. 8.11. Спектры Венеры, полученные с помощью дифракционного спектрографа (а), мультиплекса (б) и фурье-спектрометра (б) [8.в]. Рис. 8.11. Спектры Венеры, полученные с помощью <a href="/info/449889">дифракционного спектрографа</a> (а), мультиплекса (б) и фурье-спектрометра (б) [8.в].
    На рис. 8.11 приведен участок спектра Венеры в области 1,5 мкм, полученный П. Коном с помощью трех различных приборов — дифракционного спектрографа, мультиплекса и фурье-спектрометра. Наглядно видны преимущества последнего прибора. [c.219]

    Особенно высокие качества в отношении коэффициента пропускания и полуширины полосы пропускания обнаруживают комбинации нескольких интерференционных фильтров (мультиплекс-светофильтры) с многослойными диэлектрическими покрытиями. Теория и технология изготовления мультиплекс-светофильтров разработана и описана Ф. А. Королевым [84]. Эти фильтры могут быть изготовлены как для видимой, так и для ультрафиолетовой области спектра и позволяют получить полуширину полосы пропускания порядка 1 А при коэффициенте пропускания до 50—70%. Применение подобных высококачественных светофильтров в упрощенных спектрофотометрах для атомно-абсорбционных измерений представляет большой интерес, так как по сравнению со щелевыми монохроматорами фильтры обеспечивают уменьшение размеров спектрофотометров, простоту использования и большую светосилу ). [c.112]

    Фурье-спектроскопия — направление, которое к настоящему времени продемонстрировало наилучшие результаты в широко-диапазонной ИК-спектроскопии высокого разрешения. Фурье-спектрометры обеспечивают выигрыш в светосиле и мультиплекс-выигрыш по сравнению с классическими спектрометрами, как и адамар-спектрометры с двойным кодированием. Однако, в отличие от адамар-спектрометров, это уже хорошо разработанные и успешно работающие приборы высокого разрешения. Их разрешающая способность превысила все лучшие цифры для дифракционных приборов, что связано с конструктивными особенностями. Фурье-спектрометры позволяют измерять волновые числа в спектре с точностью на порядок выше, чем дифракционные приборы. Составной частью фурье-спектрометра является ЭВМ для вычисления спектра. Это позволяет легко наладить дальнейшую машинную обработку спектра. [c.174]

    Таким образом, контрастность обычных эталонов составляет 100—200. То обстоятельство, что интенсивность в минимуме не равна нулю, ограничивает возможность выявления очень слабых спутников спектральных линий. Контрастность может быть повышена, если два одинаковых эталона расположить друг за другом. Такая система называется мультиплексом. В идеальном случае контрастность при этом будет [c.92]

    Если два последовательно расположенных эталона имеют кратные постоянные, то при этом, кроме того, увеличивается область, свободная от наложений, как это видно из рис. 80. Применение мультиплекса [c.92]

    Сложный эталон (мультиплекс). Если пропустить световой пучок через два последовательно расположенных эталона, толщины которых находятся в простом кратном отношении, то можно получить существенный выигрыш в разрешающей способности и контрастности. Постоянная такой системы АХ будет определяться более тонким эталоном, разрешающая способность — более толстым. Такая система называется мультиплексом (рис. 6.17). В том случае, когда оба эталона расположены достаточно далеко друг от друга, можно не учитывать интерференции лучей, идущих между эталонами (пунктир на рис. 6.17). При этом инструментальный контур системы из двух эта- [c.180]

    Такая схема эквивалентна мультиплексу с отношением толщин 1 1. При этом постоянная эталона не изменяется, разрешающая способность [c.182]

    К известным ранее способам разложения излучения в спектр (рефракция, дифракция, интерференция) добавился новый способ-модуляция. На этой основе разрабатываются совершенно новые типы спектральных приборов — с п е к т р о м ет р ы с интерференционно-селективной амплитудной модуляцией излучения (сисамы), растровые спектрометры, мультиплекс-спектрометры, Адамар-1 [c.72]

    Быстрое развитие и широкое применение ФС обусловлены рядом преимуществ фурье-спектрометра по сравнению с дисперсионными приборами. Т. наз. выигрыш Фелжета, или мультиплекс-фактор, связан с тем, чго любая точка ингерфе-рограммы содержит информаггию о всей исследуемой спектральной области. На детектор в каждый момент поступают сигналы, соответствующие всем частотам. За одно сканирование (за время ( ) регистрируется спектр с таким же отно- [c.222]

    Мукохлорная кислота 2/233, 234 Мукронин-А 3/923 Муллит 2/733 3/325 5/112, 113 Мультиплекс-фактор 5/435 Мультиплетная теория катализа 1/1059 [c.656]


    Теория и экспериментальное осущестслепие интерференционного мультиплекс-светофильтра изложены в работе Ф. А. Королева Полученный им сложный светофильтр имел следующие характеристики Лт 540л,и/с, 2ЬК = 3,3 А, Тт 50%. Таким образом, по степени моно-хроматизации интерференционные фильтры близки к обычному монохроматору. Но в отличие от монохро.ма-торов светосила НФ (его апертура) может быть очень большой, что позволяет более простыми средствами осуществить фотоэлектрическую регистрацию слабых монохроматических световых потоков это особенно важно для решения спектроаналитических задач. [c.106]

    Сложный эталон (мультиплекс). Если пропустить световой пучок через. два побледовательно расположенных эталона, толщины которых находятся в простом кратном отношении, то можно получить существенный выигрыш в разрешающей способности и контрастности. Постоянная такой системы АА, будет определяться более тонким эталоном, разрешающая способность — более [c.183]

    Материал с регулируемого питающего устройства (например, вибрационного желоба) падает в бронированное рабочее пространство с отбойными брусьями и уловителем для недробимых тел, где подвергается измельчению горизонтальным ротором с билами диаметром 400 мм, шириной 400 мм и окружной скоростью 85—125 м/сек. В верхней части корпуса мельницы находится новый воздушный сепаратор Мультиплекс или зигзагообразный. Граница разделения этого сепаратора благодаря бесступенчатому изменению скорости вращения от 400 до 4350 об/мин может варьироваться в диапазоне 20—150 мк и крупнее в соответствии с видом материала при резкой верхней границе крупности. Крупные частицы отбрасываются непосредственно в зону размола. Защитный бронированный отражатель предохраняет колесо вентилятора от прямых попаданий материала. Мелкозернистый материал через середину рабочего колеса вентилятора отсасывается в трубопровод. Мощность привода ротора составляет 20—33 кет, мощность привода сепаратора — 3 кет. В среднем пропускается 13 м мин воздуха, что соответст- [c.452]

    В качестве одной из разновидностей центробежных сепараторов с вращающейся зоной сепарации рассмотрим противоточно-поворотный зигзагообразный аппарат Мультиплекс [120]. Схема его приведена на рис. 11 (класс 3.3). Нельзя не отметить большое сходство этого аппарата с цротивоточным центробежным сепаратором. Единственное существенное отличие заключается в форме сепарирующих каналов. Об этом свидетельствуют эксплуатационные характеристики этого классификатора. [c.24]

    ИРИ — традиционный режим информационного обслуживания в СССР им занимаются в основном отраслевые и региональные центры информации. При этом они обычно используют многие базы данных часть из них они изготовляют сами, однако основные базы данных поставляются им в готовом виде из наиболее крупных информационных центров страны — ВИНИТИ, ИНИОН, НПО Поиск и др. Программные средства для построения систем ИРИ существуют в нескольких вариантах, обладающих, вообще говоря, различными возможностями, однако эти различия с точки зрения результата не очень существенны. Среди наиболее употребительных в нащей стране пакетов программ для введения ИРИ следует назвать УСС, разработанный в Чехословакии, а также АСОД и МУЛЬТИПЛЕКС, разработанные в Международном центре научно-технической информации. [c.30]

    Среди фавитационных противоточных классификаторов наибольшее распространение получили аппараты Zigzag фирмы Альпине (Мультиплекс Zigzag MZM и MZF). Аппарат представляет собой набор параллельно соединенных колонок, одна из которых показана на рис. 2.3.12, а. Производительность такого аппарата по исходному материалу достигает 200 т/ч. Его отличают малый износ корпуса, защита от перегрузок, низкая чувствительность характеристик процесса к гранулометрическому составу исходного материала, возможность плавного регулирования граничного размера дроссельными заслонками, высокие надеж- [c.168]


Смотреть страницы где упоминается термин Мультиплекс: [c.22]    [c.733]    [c.211]    [c.108]    [c.183]    [c.93]    [c.181]   
Техника и практика спектроскопии (1976) -- [ c.183 ]

Техника и практика спектроскопии (1972) -- [ c.180 , c.216 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте