Направление дифракции рентгеновских лучей

Прохождение рентгеновских лучей через кристаллическое вещество сопровождается отклонением их от первоначального направления. Это явление называется дифракцией рентгеновских лучей. [c.111]

Нейтроны подчиняются законам волновой механики, и наблюдение волновых свойств нейтронов возможно и выполнимо в значительном числе опытов. Для тепловых нейтронов ( 1/40 эв) длина волны порядка 2-10 см, т. е. близка к межатомным расстояниям, поэтому можно наблюдать дифракцию нейтронных волн на кристаллах, подобно дифракции рентгеновских лучей, имеющих длину волны того же порядка. Если на грань кристалла, спиленную параллельно ряду плоскостей кристаллической решетки, падают рентгеновские лучи (рис. 95), то в направлении, которое характеризуется углом отражения 0, равным углу падения, отражаются лучи с длиной волны Я,, определяемой соотношением Вульфа — Брэгга [c.198]

На фотокассете, поставленной за исследуемым кристаллом, в результате дифракции рентгеновских лучей получится система пятен (рис. 11). Каждое пятно на лауэграмме представляет собой результат интерференции рентгеновских лучей, отраженных определен-ны.м семейством параллельных кристаллографических плоскостей. Направления рентгеновских лучей, образующих интерференционные пятна на лауэграмме, определяются формулой Вульфа — Брэгга. Нетод Лауэ позволяет установить относительное расположение раз- [c.38]

НАПРАВЛЕНИЕ ДИФРАКЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ [c.374]

Рис. 0. Дифракция рентгеновских лучей под малыми углами для ориентированных полимеров (ось ориентации вертикальна, первичный пучок направлен перпендикулярно оси ориентации полимеров) а — аморфный полимер — полиметилметакрилат (вытяжка в 2,5 раза, малоугловые рефлексы отсутствуют) б — кристаллич. полимер — поли-8-капроамид (вытяжка в 7 раз, видны четкие малоугловые меридиональные рефлексы).

НЕЙТРОНОГРАФИЯ — метод изучения структуры молекул, кристаллов, жидкостей с помощью дифракции (рассеивания) нейтронов имеет много общего с рентгегюграфией. Дифракция нейтронов — типичное оптическое явление, аналогичное дифракции рентгеновских лучей, в котором ярко проявляются волновые свойства нейтрона. Для нейтронографических исследований требуются пучки тепловых нейтронов высокой интенсивности. Поэтому Н. начала развиваться лишь после строительства ядерных реакторов. Для исследования структуры вещества узкий направленный пучок тепловых нейтронов из реактора падает на монокристалл. Отражение нейтронных волн от кристаллической поверхности происходит в результате взаимодействия нейтронов с ядрами кристалла. Чтобы определить структуру кристалла, надо измерить углы, под которыми наблюдаются отражения первого порядка и интенсивность его. Н. имеет ряд преимуществ по сра-внлшю с рентгенографией благодаря зк1 чительному расширениво числа объектов исследования. [c.172]

Молекулярная биология изучает биологические структуры и их функции на молекулярном и атомном уровне. Как научное направление молекулярная биология начала развиваться в период 1930—1940 гг., когда были достигнуты успехи в понимании тонкой структуры и свойств небольших молекул благодаря применению спектральных и магнитных методов, в первую очередь дифракции рентгеновских лучей на кристаллах (рентгеноструктурный анализ) и дифракции электронов молекулами газа этим успехам способствовал и прогресс в теории, связанный с появлением квантовой механики. Первые рентгенограммы фибриллярных белков и целлюлозы были получены в 1918 г., кристаллов глобулярных белков —в 1934 г. но только много лет спустя удалось полностью расшифровать строение белковых молекул. [c.428]

Если вторичная вытяжка происходила под большим углом по отношению к направлению, первичной ориентации, то образовывались полосы изгиба. При этом методом дифракции рентгеновских лучей под большими углами было установлено, что полимер в этих полосах, как и в случае найлона, подвергается резкой переориентации. [c.280]

В твердом ПБГ может сохраняться также и нематическая сверхструктура. Такая одноосная структура образуется при ориентации жидкого кристалла в магнитном поле (большем, чем Не) и последующем медленном испарении растворителя в присутствии поля. В результате получается высокоориентированный одноосный образец ПБГ, молекулы которого параллельны первоначальному направлению поля. Одноосная структура показана на снимке скола образца (рис. 16,6). На снимке видна фибриллярная структура, в которой фибриллы параллельны направлению действовавшего магнитного поля (вертикально на снимке). Исследования упорядоченных в магнитном поле пленок методом дифракции рентгеновских лучей показали, что упорядоченность в них сравнима с той,, которую получают при механической деформации волокон [50]. [c.204]

При прохождении монохроматического пучка рентгеновских лучей через кристалл электронное облако каждого атома становится источником вторичного излучения, имеющего ту же длину волны. Рентгеновское излучение этой трехмерной совокупности источников (атомных электронных облаков) вследствие интерференции суммируется в некоторых направлениях, удовлетворяющих определенным соотношениям между длиной волны и межатомными расстояниями данного твердого вещества, и погашается по всем остальным направлениям. Количественная теория этого явления, предложенная Брэггом [4], является одним из основных законов дифракции рентгеновских лучей. [c.72]

Условия Лауэ лежат в основе использования дифракции рентгеновских лучей, а также упругого рассеяния электронов и нейтронов для структурного анализа кристаллов. Фиксируя падающий на кристалл пучок и те направления, в которых распространяются вышедшие из кристалла волны (рис. 12), можно определить векторы В, т. е. определить узлы обратной решетки кристалла. А зная обратную решетку, нетрудно восстановить структуру кристалла. [c.25]

Для определенной симметрии молекул колебания,которые происходят в направлении, параллельном оси ориентации, можно отличить от колебаний, перпендикулярных этому направлению. Интерпретация спектров, полученных с помощью поляризованного излучения, также дает информацию о кристаллических структурах. Действительно, эти спектры оказались полезными для определения связей, которые было трудно найти методом дифракции рентгеновских лучей. Однако при этом возникают технические трудности, связанные с получением и правильной ориентацией кристаллического образца. [c.24]

Случайные погасания (Дж. Донней и Г. Донней). Недавно Дж.Донней и Г. Донней [16] снова подчеркнули различие между периодом структуры (определенным рентгенографически) и морфологическим периодом. Период структуры является повторением совокупности атомов, на которых происходит дифракция рентгеновских лучей. Морфологический же период является повторением совокупности связей между атомами, совокупности точек приложения цепей периодических связей (см. следующий раздел). Если определенные координаты атомов имеют частные значения, то при рассмотрении проекции структуры по избранному направлению морфологический период может составлять половину структурного. В случае когда это направление является осью важной зоны, морфологическое развитие зоны будет отличаться от развития, выводимого из закона Доннея — Харкера. Появляются дополнительные случайные погасания (для удвоенных индексов), НС имеющие отношения к погасаниям пространственной группы. [c.335]

Изучение функции радиального распределения привело Моргана и Уоррена к заключению [22], что только часть молекул воды имеет координационное число 4, хотя тетраэдрическая симметрия в расположении молекул полностью не исчезает. Любая произвольно выбранная молекула Н2О связана одновременно с двумя или тремя ближайшими молекулами, в то время как другие соседние молекулы движутся в направлении к ней или от нее. Таким образом, эти молекулы находятся между первой и второй координационными сферами. Неполная реализация координационной структуры с четырьмя молекулами находится в согласии с другими явлениями. Например, данные по вязкости Юла и Эйринга [25] показывают, что каждая молекула воды окружена 2,5 1,5 и 1 молекулой при температурах О, 50 и 100 °С соответственно. Такой вывод, естественно, противоречит результатам экспериментов по дифракции рентгеновских лучей, в которых изучали температурную зависимость координационного числа. Однако [c.41]

Аналогичным образом можно представить себе дифракцию рентгеновских лучей от одномерного кристалла, т. е. от ряда атомов, расположенных на прямой через равные промежутки (рис. 141). Однако, поскольку направление в плоскости чертежа ничем не отличается от [c.123]

До сих пор мы рассматривали дифракцию рентгеновских лучей лишь в простейших структурах предполагалось, что атомы располагаются только в узлах пространственной решетки. Откажемся теперь от этого допущения. В реальных кристаллах атомы находятся не только в узлах как уже указывалось, структурной единицей в кристалле является группа атомов (базис решетки) решетка дает схему повторения этой группы атомов по различным направлениям в пространстве. [c.189]

ВЫХ, размер кристалла хотя бы в одном из направлений дол кен быть не меньше 1 мм, а это значительно превышает размеры большинства белковых кристаллов, полученных обычными методами. Во-вторых, для установления структуры белка на основе данных но дифракции рентгеновских лучей необходимо исследовать не только нативный белок, но и ряд его изоморфных производных. Такие производные могут быть получены введением в белковые- [c.105]

В рентгеновских камерах применяется фотографическая регистрация излучения. Уже в первых опытах Дебая по дифракции рентгеновских лучей была использована камера цилиндрического типа, обидая схема которой оставалась долгое время неизменной, хотя детали ее конструкции изменились довольно значительно. К камерам подобного типа относятся камеры РКД-57, РКУ 6 и РКУ-114, которые до сих пор применяются во многих лабораториях. Простота конструкции и эксплуатации этих камер компенсирует в известной степени их недостатки (невысокие точность и разрешающую способность). В камерах РКУ-86 и РКУ-114 в качестве держателя образца можно применять гониометрическую головку для съемки монокристаллов то позволяет снимать рентгенограммы вращения и качания вдоль направления, близкого к оси головки, и с хорошей точностью получать данные о межплоскостных расстояниях, отвечающих нулевой слоевой [c.16]

Рентгеноструктурный анализ. Этот метод является наиболее старым из перечисленных. Дифракция рентгеновских лучей была открыта Лауэ с сотр. в 1912 г. Тогда же Лауэ показал, что разность хода лучей с длиной волны к, рассеиваемых в дифракционном направлении, т. е. а(соьф— osx). > де о — периодичность решетки [c.201]

Важнейшая особенность кристаллов, вытекающая из правильного расположения составляющих их частиц в пространстве, состоит в том, что свойства кристаллов могут быть различными в различных направлениях. Эта особенность называется анизотропией. Например, в направлении, в котором на единицу длины приходится большее число узлов решетки, чем на другом направлении, возможна и большая теплопроводность. Расстояния между узлами в кристаллической решетке суть межатомные (межионные или межмолекулярные) расстояния, которые зависят от размеров частиц. Эти расстояния определяют путем изучения дифракции рентгеновских лучей от кристалла. Это возможно благодаря тому, что прави ьные ряды частиц в кристаллах отражают излучение подобно микроскопической дифракционной решетке. В зависимости от природы частиц и типа химической связи кристаллы могут быть ионными, ковалентными, металлическими и молекулярными. [c.161]

Ароматические углеводородные системы образуют жидкие кристаллы неметаллического типа (рис. 90). Они образуются дискообразными молекулами высококонденсированных ароматических соединений плоского строения (рис. 91) или длинными молекулами в виде стержней с ароматическими фрагментами. В нематике возникают области до сотен нанометров с одинаково ориентированными молекулами. Центры тяжести нематической фазы расположены случайно, поэтому в ней не существует дальнего координационного порядка. Оси всех частиц нематики ориентированы в определенном направлении. Методами дифракции рентгеновских лучей может быть исследован ориентационный порядок, характерный длн жидкокристаллических структур. [c.168]

В более поздние годы возникли некоторые сомнения в отношении антппараллельного расположения цепей. Были предложены модели, в которых цепи целлюлозы соседних плоскостей 002 идут в одном и том же направлении. При расчете энергии упаковки Сарко [172] нашел ее меньшее значение для параллельного расположения цепей по сравнению с антипараллельным. Данные по интенсивности дифракции рентгеновских лучей соответствуют па- [c.70]

Рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны длиной порядка нескольких ангстрем. Если пучок таких лучей направить на монокристалл, то произойдет дифракция и, помимо первичного пучка лучей, направленного на кристалл, возникнет ряд дифрагированных лучей. ЛтомЬ и молекулы располагаются в кристалле строго закономерно, образуя трехмерную пространственную решетку. Наименьший кирпич , из которого строится пространственная регнетка, называется элементарной ячейкой кристалла. Размеры элементарной ячейки имеют тот же порядок величин, что н длина волны рентгеновских лучей. Это дает возможность наблюдать дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах и использовать это явление для изучения их Структуры. [c.99]

Методы определения координат атомов в кристаллической решетке с помощью рентгеноструктурного анализа хорошо отработаны и продолжают совершенствоваться. В основе их. лежит изучение картины дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Пучок рентгеновского излучения рассеивается на атомах решетки, причем в результате интерференции лучей, рассеянных в определенном направлении от разных областей решет ки, происходит практически полное гашение рассеянного пучка. Взаимное усиление п])оисходит лишь в некоторых определенных направлениях, удовлетворяющих уравнению. Лауэ [c.309]

Как и в случае ионных ПАВ (рис. 5.9) фаза представляет собой изотропный раствор ПАВ в воде. Двухфазный участок с наименьшей температурой, 1+ С, описывает кристаллы и кристаллическое ПАВ. Обозначены две мезофазы. Участок регулярной гексагональной фазы Н , отвечающий так называемой промежуточной фазе, дает дифракцию рентгеновских лучей с небольшими углами, что говорит о наличии двумерной решетки, такой как показано на рис. 5.11. Другая мезофаза — ламмелярная — дает дифракцию трех порядков, направленную по отражению (00/). Двухфазный участок + отвечает изотропному раствору, обогащенному водной фазой, и раствору, обога- [c.161]

Модель твердого раствора не дает удовлетворительного объяснения тому основному экспериментальному факту, что расхождение между потенциалами заряда и разряда по существу не зависит от скорости (эффект гистерезиса [89, 90]). Это свойство нельзя объяснить кинетической теорией реакций переноса заряда, согласно которой скорость процесса в любом направлении при наложении потенциала нужного знака увеличивается (электрохимическое уравнение Аррениу,-са [101]). Конечно, можно представить, что отклонение от равновесия столь велико, что механизмы прямой и обратной реакции в обычных экспериментальных условиях различны при таком предположении наблюдающиеся закономерности могла бы объяснить более сложная кинетическая схема. Ясно, что данные по дифракции рентгеновских лучей в значительной мере способствуют выяснению истинной природы сложных фазовых пфеходов, которые происходят при заряде и разряде окисных никелевых электродов. [c.465]

НОИ рентгенограмме у них доминируют полярные отражения при 5,1—5,3 и 1,5 А и диффузная экваториальная полоса около 10 А. Изучение ИК-спектров ориентированных образцов в поляризованном свете покаа ывает, что Н-связи более или менее параллельны направлению ориентации — обычно оси волокна или направлению прокатки пленки. В Р-форме эти вещества не растягиваются, Н-связи обычно направлены перпендикулярно ориентирующей силе, и на дифракционной рентгенограмме главные отражения находятся у 4,6 и 10 Л по экватору и полярное— около 7 Л. Детальная картина дифракции рентгеновских лучей, образуемая каждой данной формой, не строго одинакова и зависит от вида пептидной цепи, а в особенности от кристалличности объекта. Этот вопрос хорошо изложен в нескольких обзорных работах последних лет [2231, 1930, 122]. При интерпретации рентгенограмм известную пользу может принести глава, написанная Хаппи в сборнике Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических материалах [871. [c.263]

Электронные микрофотографии показывают, что в полимере, закристаллизованном при сдвиге, происходит фибриллизация в направлении течения. Поверхность пленки показана на рис. 17. На снимке видны ла.мели, развивающиеся перпендикулярно направлению сдвиговых деформаций и уложенные вдоль нанравления сдвига. Как указывалось выше, можно принять, что текстура такого типа образовалась вследствие кристаллизации в условиях, когда имеет место молекулярная ориентация, степень коюрой различна для разных элементов структуры. На некоторых типичных образцах были проведены измерения рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Во всех исследованных образцах наблюдались меридиональные рефлексы, хотя и довольно диффузные. Угловое расстояние между ними соответствует величине большого периода порядка 140— 160 А. Рассмотрение картины дифракции рентгеновских лучей под большими углами указывает, что при повышении скорости сдвига в процессе кристаллизации происходит некоторое изменение ориентации макромолекул по отношению к оси фибриллы, а именно при высоких скоростях с осью фибриллы совпадает ось с кристалла, а при низких скоростях сдвига происходит некоторый сдвиг в сторону оси а. Другими словами, каждый дуговой рефлекс (200), который для образцов, полученных при высоких скоростях сдвига, расположен на экваторе, расщепляется на два, несколько отстоящих от экватора, для образцов, сформованных при более низких [c.109]

Сжимаемость. Коэффициент сжимаемости определяется как относительное уменьшение объема на единицу давления при постоянной температуре. Для органических кристаллов коэффициент сжимаемости, как и коэффициент теплового расширения, значительно больше, чем для типичных неорганических веществ (исключая щелочные металлы), что опять-таки связано со сравнительно плохо упакованными структурами кристаллов органических веществ. Значения коэффициентов для металлов, тугоплавких окислов и неорганических солей обычно от 0,3-10 до 6-10 см -кг- -. Для щелочных металлов характерны значения от 1 10 до 6-10 см - кг" -, а для органических кристаллов — от 2-10 до 5-10 см -кг -. Сжимаемость бензола и гексана вблизи точки плавления исследовалась Стэйвели и Парамом [6881. Исследование кристаллических нормальных парафинов проведено Мюллером [450], который измерял методом дифракции рентгеновских лучей деформации решетки вдоль цепей и различных кристаллографических осей кристаллов под давлением до 1500 атм. Он показал, что сжимаемость вдоль оси цепочек молекул примерно в десять раз меньше, чем в перпендикуляр-Бом направлении. Пожалуй, наиболее обширное исследование сжимаемости органических кристаллов провел Бриджмен [87], который определил сжимаемость большого ряда органических кристаллов до высоких давлений порядка 4-10 кг-сж 2. Среди исследованных Бриджменом соединений были вормальные и циклические парафины, ароматические конденсированные циклические системы, органические производные, содержащие галогены, кислород, азот, серу и фосфор. Обобщение исследований Бриджмена до 1948 г. и другие данные по сжимаемости твердых веществ можно найти в его монографии [88]. [c.54]

Фигуры погасания, показанные на рис. 19, могут быть объяснены с точки зрения кооперированной ориентации посредством скручивания следующим образом. На рис. 19, а и 19, б показаны соответственно оптически одноосные и двуосные фибриллы, скручивающиеся вдоль нормали к оптической оси в первом случае и вдоль линии, перпендикулярной плоскости двух оптических осей,— во втором. В обоих случаях принимается, что фибриллы полностью лежат в плоскостях сферолитов и равномерное скручивание дает правовращающий винт с одинаковой фазой у всех фибрилл. Нулевое погасание двойного лучепреломления будет наблюдаться в каждом случае, когда оптическая ось направлена перпендикулярно предметному столику микроскопа, вызывая расположенные на одинаковом расстоянии друг от друга простые или двойные кольца погасания. Кресты, как и в случае, рассмотренном ранее, соответствуют нулевой амплитуде погасания, когда фибриллы лежат параллельно направлениям поляризатора и анализатора. Расстояния между чередующимися кольцами в радиальном направлении обычно составляют величину порядка 10 мк и меняются при переходе от одного полимера к другому. У каждого данного полимера это расстояние зависит от температуры кристаллизации, увеличиваясь при ее повышении [50]. Иногда расстояние между кольцами превышает, однако, 100 лк, и тогда прямое подтверждение ориентационного скручивания методом дифракции рентгеновских лучей становится исключительно трудным. Тем не менее Фудзиваре [29] удалось этим методом показать постепенное скручивание в направлении радиусов у сферолитов полиэтилена. Наличие кооперированной ориентации скручивания у других полимеров было подтверждено методом микроскопии путем изучения систематических изменений фигур погасания при рассмотрении сферолитов на универсальном столике Федорова под различными углами наклона [48, 49, 59, 109, ПО]. Фигуры, показанные на рис. 19, в и 19, г, также объясняются ориентацией скручивания. Например, зигзагообразные кресты были найдены как у одноосных, так и у двуосных полимеров, у которых скрученные фибриллы имеют кристаллографические ориентации, не допускающие расположения оптических осей в тангенциальных направлениях. Более сложная фигура, изображенная на рис. 19, г, особенно интересна, так как она иллюстрирует на примере такого одноосного полимера, как полиэтилен, обычное различие поперечных сечений глобулярных и двумерных сферолитов, выросших в тонких пленках. В первом случае фибриллы лежат в плоскости сечений, образуя фигуры погасания такого типа, как показано на рис. 19, а. Однако во втором случае температурные градиенты, возникающие вдоль пленки полимера во время кристаллизации [49], могут вызвать наклон фибрилл к плоскости сферолитов на несколько градусов. Такие наклоны неизменно приводят к образованию круглыми сферолитами зигзагообразных крестов, и при интерпретации картин, даваемых образцами, закристаллизованными в виде тонких пленок, всегда следует иметь в виду возможность этой необычной ориентации фибрилл в таких случаях. У сферолитов наблюдается как правое, так и левое скручивание, по-видимому, с равной вероятностью, и каждый сферолит вообще поделен на ряд секторов то с правым, то с левым ориентационным скручиванием [49, 52]. На практике ориентационное скручивание не так хорошо координировано, как это показывают идеализированные фигуры на рис. 19, хотя может быть, как видно из рис. 20 (сравните с рис. 19, г), при благоприятных условиях довольно правильным. [c.453]

Полвека назад была разработана ядерная модель атома, и Нильс Бор впервые применил квантовую теорию при расчетах строения атома. По существу тогда же У. Л. и У. Г. Бреггами и Максом Лауэ был разработан весьма эффективный метод изучения строения вещества — метод определения строения кристаллов по дифракции рентгеновских лучей. На протяжении последующих десятилетий были разработаны и применены также и другие эффективные экспериментальные методы определения строения молекул и кристаллов все это, а также развитие теории квантовой механики, обусловило огромные успехи теоретических направлений. [c.7]

Структурная кристаллография исследует закономерности внутреннего строения кристаллов. Рентгенография исследует структуру кристаллов, анализируя дифракцию рентгеновских лучей от кристалла. Кристаллическим называют вещество, чьи частицы закономерно периодически повторяются в пространстве. Согласно одному из распространенных определений, кристаллом называется однородное анизотропное тело, способное самоог-раняться. Однородность кристалла проявляется в постоянстве химического и фазового состава его, в неизменности его скалярных свойств. Анизотропия кристалла состоит в том, что векторные свойства его могут оказаться разными, будучи измеренными в различных направлениях. Наконец, способность самоограняться есть также следствие правильного внутреннего строения кристаллического тела, благодаря которому атомы кристалла располагаются на определенных прямых (потенциальных ребрах кристалла) и плоскостях (потенциальных гранях кристалла). Малые скорости зарождения и роста приводят к возникновению крупных одиночных правильно ограненных кристаллов. Высокие скорости зарождения и роста приводят к конкурирующему росту множества зародившихся в расплаве или растворе микроскопически мелких кристаллов до их случайного столкновения друг с другом с образованием поликристаллического конгломерата. Минералы принадлежат к веществам, способным образовывать крупные монокристаллы, металлам же и сплавам свойственны высокие скорости зарождения и роста, поэтому они чаще дают поликристаллические массы, не имеющие огранки. Плоские грани и прямые ребра можно, однако, увидеть и у металлических кристаллов со свободной по- [c.10]

При достаточно совершенной кристаллической структуре объекта на электронограмме будут присутствовать не только точки (результат упругого рассеяния и дифракции электронов от точечного источника), но и дополнительная сложная картина светлых и темных поле (результат дифракции электронов пучка, претерпевших неупругое рассеяние в объеме объекта при малых потерях энергии. Интенсивность рассеяния электронов максимальна в направлении падающего пучка и с увеличением угла рассеяния а резко уменьшается. Пусть где-то внутри кристалла находится источник диффузно рассеянных электронов. В направлении ti и 2 рассеянные электроны встречают плоскости HKL кристалла, от которых отражаются в соответствии с законом Вульфа— Брегга. В связи с тем, что интенсивность диффузно рассеянных электронов, в направлении ai меньше, чем в направлении 2 (поскольку а <Са2), интенсивность отраженных лучей А/г>A/i. Следовательно, добавление к интенсивности фона [-fA/2 в направлении ai больше, чем убыль интенсивности —А/ь и, наоборот, убыль интенсивности —Д/2 в направлении 2 больше, чем добавление +A/i- В итоге в определенных направлениях должна возникать избыточная интенсивность фона, а в других недостаток интенсивности (рис. 20.31). Эти направления соответствуют образующим конусов, осью которых является нормаль к отражающим плоскостям HKL и HKL, и угол при вершине равен (180°—2 ). Геометрия дифракции электронов, источник которых располагается внутри самого кристалла, та же, что и геометрия псевдо-Косселя для дифракции рентгеновских лучей (см. гл. 9). В связи с малостью углов О пересечения конусов с плоскостью экрана или фотопластинки в случае дифракции быстрых электронов картина имеет вид прямых линий (вместо гипербол при рентгеновской дифракции). Картины линий Кикучи очень чувствительны к изменению ориентировки кристалла. Как видно на рис. 20.31,6, след отражающей плоскости точно проектируется посередине расстояния между соответствующими темной и светлой линиями Кикучи и представляет собой гномоническую [c.474]

Итак, для получения дифракционного эффекта имеются в принципе две возможности результат можно достигнуть изменением длины волны или изменением ориентации решетки относительно падающего пучка. Правда, непрерывное изменение длины волны лучей реально неосуществимо. Можно, однако, воспользоваться сплошным спектром рентгеновских лучей. Среди лучей всевозможных длин волн будут присутствовать и такие избранные , которые дадут конусы,, пересекающиеся по одному направлению. Каждому дифракционному лучу с индексом pqr будет соответствовать своя длина волны. Все возможные дифракционные лучи возникнут одновременно. Этот способ получения дифракционной картины можно назвать полихроматическим. В первом опыте по дифракции рентгеновских лучей, осуществленном Фридрихом и Книппингом по предложению Лауэ, был применен именно этот способ. Поэтому обычно его называют методом Лауэ. [c.185]