Четвертьволновая пластинка

Рис. 15. Действие четвертьволновой пластинки на плоско-поляризованный

Рис. 17. Действие четвертьволновой пластинки на циркулярно-поляризованный свет.

В настоящее время эти проблемы решены различными способами. Повышены интенсивность источников излучения и чувствительность детекторов. По существу, эти части установок для кругового дихроизма могут быть одинаковыми с таковыми в спектро-поляриметрах для измерений дисперсии оптического вращения. В связи с тем, что неизвестно такое дихроичное вещество, для которого один из коэффициентов поглощения е или бг был бы очень мал, принципиальным является узел прибора для формирования лучей с круговой поляризацией. Для этого используется так называемая четвертьволновая пластинка. [c.197]

В качестве четвертьволновой пластинки служит пластинка кристалла, вырезанная параллельно оптической оси (рис. IX.3). Если луч света распространяется вдоль оси z и падает на пластинку под углом р к оси X, то можно принять, что линейно поляризованный луч представляет результат сложения линейно поляризованных лучей по осям х м у (левая система координат). Амплитуды лучей вдоль X к у будут равны соответственно [c.198]

Эллиптический луч света выходит из ячейки Керра и направляется на четвертьволновую пластинку, ось которой совпадает с осью эллипса. Тогда эта пластинка становится компенсатором и превращает луч с эллиптической поляризацией в линейно поляризованный луч, который претерпевает поворот на угол а от направления 8, определяемый анализатором (см. рис. Х1И.З). Измерения светового потока регистрируются детектором. [c.238]

Схема прибора для измерения кругового дихроизма показана на рис. IX.5. Источником света служит ксеноновая лампа высокого давления. Далее луч света проходит монохроматор и поляризатор. После формирования луча с круговой поляризацией в блоке четвертьволновой пластинки он пропускается через кювету с веществом. Поглощение регистрируется фотоумножителем и далее записывающей системой. Для каждого значения v (или X) в интервале от 185 до 600 нм получают //, h, la и, соответственно, е/. Er и Е или Ae(v) = E/(v)—Er(v) и е. Обычно измеряют Ae(v). При этом [c.200]

Используется четвертьволновая пластинка (6 = л/2) и угол р= 45°. [c.47]

Для определения молекулярной анизотропии определяют интенсивность света, рассеянного под углом 90° к падающему и поляризованного вдоль 2 и (/ (рис. XII.2). В последнее время источником света в основном служат газовые лазеры непрерывного действия. При использовании ламп необходимы монохроматоры. Если изучают рассеяние поляризованного света, то перед ячейкой с веществом устанавливают поляризатор. Конструкция ячейки предусматривает поглощение отраженных внутрь ячейки лучей. Постоянство температуры обеспечивается термостатированием. На пути рассеянного луча устанавливают анализатор и четвертьволновую пластинку, которая превращает линейно поляризованный луч в луч с [c.233]

I — лазер 5 — поляризатор 3 — ячейка 4 — анализатор 5 — четвертьволновая пластинка 6 — детектор [c.234]

Найдем связь между а и ср. Эллиптический луч, падающий на четвертьволновую пластинку, может быть представлен системой уравнений для двух лучей в перпендикулярных плоскостях, разность фаз между которыми л/2, г. е. [c.238]

Измеряя с помощью анализатора угол поворота плоскости поляризации света, прошедшего ячейку Керра и четвертьволновую пластинку, получаем возможность определить и, наконец, ц—Пх, что и требуется от эксперимента. Возможно также прямое измерение разницы Лц—/1х с использованием компенсаторов. [c.239]

Схема эксперимента МКД аналогична КД (см. гл. IX). После четвертьволновой пластинки лучи с круговой поляризацией г и I проходят через кювету, находящуюся в поле В. Обычно исследуют растворы, жидкости или твердые тела. [c.257]

Источником света служила высокочастотная разрядная трубка, заполненная иодидом исследуемого металла и помещенная в продольное магнитное поле напряженностью до 18 ООО гаусс. Одна из зеемановских компонент выделялась с помощью четвертьволновой пластинки и поляризатора. Сканирование осуществлялось изменением величины магнитного ноля. Пучок модулировался вращающимся зеркальным сектором, попеременно проходя либо минуя пламя. Затем он попадал на щель монохроматора малого разрешения, выделяющего исследуемую линию. На выходе монохроматора устанавливался фотоэлектрический приемник, усилитель постоянного тока с синхронным детектором ж самописец. [c.340]

Четвертьволновая пластинка обеспечивает разность фаз [c.45]

Рис. 18. Действие четвертьволновой пластинки на эллипти-чески-поляризованный свет с тем же направлением осей.

Например, для четвертьволновой пластинки (0 = Х14) мы находим, что б = л/2. [c.58]

Тонкий срез кварца параллельно оптической оси будет представлять собой превосходную четвертьволновую пластинку. Ее оси — оптическая ось ( медленная ось) и направление, перпендикулярное ей ( быстрая ось). Тогда два показателя преломления, соответствующие этим осям, Пу и Пх для кварца являются показателями преломления необыкновенного п ) и обыкновенного (Ио) лучей. Однако требуемые толщины, как это видно из приведенной нил е таблицы, настолько малы, что они не могут быть реализованы на практике [c.58]

Дихроичное вещество преобразует плоско-поляризованный свет в эллиптически-поляризованный. Если этот эллиптический свет изучать с помощью эллиптического анализатора, то мерой эллиптичности, обусловленной дихроизмом, будет угол ф, который образует анализатор с медленной осью четвертьволновой пластинки. Для достижения хорошей точности существенно, чтобы одна из осей четвертьволновой пластинки была строго параллельна большой оси эллиптических колебаний, которые должны быть измерены. Эта настройка имеет еще большее значение, если четвертьволновая пластинка не очень точна. Измеряемый угол ф дается формулой [c.70]

При измерении кругового дихроизма угол а является углом оптического вращения вещества вообще говоря, он неизвестен и изменяется с длиной волны. Например, пусть измеряется эллиптичность, равная 1° при 5890 А для материала, вращение которого 1° четвертьволновая пластинка точно сделана для 5460 А. Тогда при отсутствии компенсации вращения вводится ошибка 0,13° если компенсировать вращение, то ошибка будет равна только 0,01°. [c.70]

Принципиально эта система измерения не сильно отличается от только что описанной, но по практическим причинам устройство является обращенным, т. е. четвертьволновая пластинка помещается после поляризатора и перед образцом дихроичного вещества. Четвертьволновую пластинку можно удалить, а соответ- [c.70]

Общая схема прибора такая же, как и в предыдущем случае, т. е. система включает поляризатор, четвертьволновую пластинку (ромб Френеля), кювету и анализатор (призма Рошона). Поляризатор (призма Рошона) состоит из двух частей, соединенных так, что каждая часть перекрывает половину поля и плоскости поляризации образуют небольшой угол 2р. Таким образом, данное устройство действует как поляризатор вместе с [c.73]

Ориентируя поляризатор на угол ф по отношению к его первоначальному положению, можно получить два пучка с эллиптичностями ф +р и ф —р, так что после прохождения через дихроичное вещество они будут иметь одну и ту же эллиптичность. В этом случае анализатор пропускает равные интенсивности (рис. 32, б). Дополнительное вращение а, которое дает кювета, не влияет заметно на равенство интенсивностей (рис. 32, г), так как они увеличиваются одинаково для обоих пучков. Итак, если плоскость поляризатора наблюдается на выходе анализатора, то видны два световых поля (соответствующие двум частям поляризатора) поворачивая поляризатор, можно сделать освещение этих полей одинаковым. В этом случае угол ф, на который нужно повернуть поляризатор, равен эллиптичности ф, обусловленной дихроизмом вещества. Таким образом, имеется только одно видоизменение по сравнению с предыдущим методом здесь неподвижны четвертьволновая пластинка и анализатор, а поля- [c.74]

Мы также пытались применить в качестве четвертьволновой пластинки ромб Френеля. Это позволило бы продвинуться в ультрафиолетовую область и избежать поправок, так как ромб Френеля имеет очень малый хроматизм (небольщая величина т). Однако результаты разочаровали нас. В приборе данного типа измеряется угол вращения ф между четвертьволновой пластинкой и анализатором (или поляризатором). Чтобы хорошо измерить этот угол, необходимо иметь точность того же порядка при определении плоскости поляризации поляризатора и осей четвертьволновой пластинки. Мы обнаружили, что оси ромба Френеля (в зависимости от угла падения) определяются не вполне удовлетворительно. Тем не менее можно было ожидать, что некоторая степень компенсации, т. е. среднее положение [c.76]

Например, с четвертьволновой пластинкой, которая изготовлена точно для 5460 А, измерения, выполненные при 5890 А, имеют ошибку только около 1%- [c.78]

Если допущена ошибка в угле ф при ориентации четвертьволновой пластинки (скажем, оси пластинки образуют угол 45° + g с плоскостью поляризации поляризатора), то ошибка, которая вводится при измерениях, очень мала. Круговой дихроизм дается формулой [c.78]

Значит, для данного способа измерений в принципе мы могли бы использовать поляризатор или четвертьволновую пластинку, в которых оси определены относительно плохо. Более того, недавно изготовлен такой прибор Митчелла, в котором роль четвертьволновой пластинки играет ромб Френеля. [c.78]

Система, состоящая из регулируемого поляризатора и неподвижного ромба Френеля в качестве четвертьволновой пластинки, имеет один специфический недостаток свет, выходящий из монохроматора, всегда поляризован в довольно большой степени, и поэтому наблюдаемое пропускание поляризатора [c.79]

Если линейно поляризованный луч попадает на двулучепре-ломляющую четвертьволновую пластинку, то он разлагается на два луча во взаимно перпендикулярных направлениях (рис. IX.3). Оптические пути лучей с перпендикулярной поляризацией, определяемые произведением толщины пластинки й на показатель преломления для каждого из лучей, например, параллельного оси п [c.197]

Возникающие технические проблемы решаются несколькими способами. Так, используется система тонких призматических пластин из кварца, которые могут скользить друг относительно друга, чтобы изменялась толщина d в соответствии с уравнением (IX.33). Другой способ получения четвертьволновой пластинки с d X) состоит в использовании электрооптического эффекта Покельса. [c.199]

I — ксеноновая лампа 2 — моно.хроматор . 3 — поляризатор 4 — четвертьволновая пластинка 5 — кювета 6 — детектор [c.200]

Наличие двух сомножителей в выражениях (12) означает, что в поляризацнонно-оитическую картину тонкого турбулентного потока вносят одновременный вклад как ориентация, так и касательное напряжение, т. е. имеет место неоднозначность при расшифровке результатов поляризационно-оптических исследований. Избежать этого позволяет круговая поляризация, которая обеспечивается введением двух четвертьволновых пластинок в схему [c.48]

Если через систему, показанную на рис. 17, а, пропустить правый циркулярно-поляризованный свет, то он будет полностью погашен, однако левый циркулярно-поляризованный свет прошел бы беспрепятственно, так как эта левая форма, преобразуемая четвертьволновой пластинкой в плоско-поляризованный свет, была бы поляризована в плоскости поляризатора. Аналогичным образом система рис. 17,6 погасила бы свет, поляризованный по левому кругу. [c.47]

Используется четвертьволновая пластинка (б = я/2) через нее проходит эллиптический свет, оси которого совпадают с осями двулучепреломляющей пластинки. Угол р регулируется до прлцого гашения света (рис. 18]. [c.48]

Пластинка достаточно хроматична, поэтому ее можно было бы использовать только для узкого участка длин волн. Однако пластинки в 3 или 5 раз большей толщины уже можно изготовить они соответствовали бы 4 или волны. В устройствах, описанных выше, они будут выполнять ту же роль, что и четвертьволновая пластинка. Однако такие пластинки можно использовать только в еще более узком диапазоне длин волн, величина которого зависит от толщины пластинки, и хроматизм соответственно в 3 или 5 раз выше, чем для четвертьволновой пластинки. Угловое поле очень большое, и поглощение при используемых толщинах практически не принимается во внимание. Более того, оси также очень хорошо определены. [c.58]

Была сделана попытка применить метод Бруа для конструирования прибора, который мог бы работать в ультрафиолетовой области [И]. Расположение основных деталей прибора обратное по сравнению с прибором Бруа, т. е. он имеет вид классического эллиптического анализатора. Анализатор закреплен неподвижно, а система световых полей и вращающегося анализатора заменена фотоэлектрической модуляционно-компенсационной системой, основанной на эффекте Фарадея [12, 13]. В качестве четвертьволновой пластинки использовалась слюда, и, поскольку вращение не компенсировалось, необходимо было вводить поправки. [c.76]

Другой метод измерения был предложен Митчеллом [14— 16]. Использованный принцип прост последовательно измеряют коэффициенты поглощения для правого и левого циркулярно-поляризованного света и определяют их разность. Прибор Митчелла включает обычный спектрофотометр с дополнительным устройством, которое размещается в кюветном отделении перед кюветой. Это устройство состоит из поляризатора Глазебрука, за которым следует четвертьволновая пластинка ее оси наклонены под углом 45° к плоскости поляризации поляризатора. С помощью рычага эта четвертьволновая пластинка может быть повернута на угол +45° или —45°, так что в одном положении получается правый циркулярно-поляризованный свет, а в другом— левый. В первоначальном варианте пластинка была изготовлена из слюды. Область длин волн простиралась от 3500 до 10 000 А и ограничивалась в коротковолновой части поглощением поляризатора Глазебрука и четвертьволновой пластинки. Оптическое вращение исследуемого вещества существенно не влияет на измерения, и единственной помехой остается хроматизм четвертьволновой пластинки. Для тех длин волн, для [c.77]

На практике имеются и другие причины недостаточной точности спектрофотометрических измерений, которые обычно более важны, чем шум Шоттки. Сначала необходимо удостовериться, что спектрофотометр одинаково чувствителен как к левому, так и к правому циркулярно-поляризованному свету. На самом деле довольно большое различие в чувствительности, которое может оказаться сравнимым по величине с круговым дихроизмом, может возникнуть либо вследствие селективных отражений между кюветой с образцом и фотоэлементом, либо собственно из-за самого приемника, что зависит от применяемого типа. Вообще фотоприемники, имеющие темный катод (типа 1Р28), чувствительны к плоско-поляризованному свету, тогда как приемники с полупрозрачным катодом гораздо меньше проявляют этот эффект. Необходимо также, чтобы пучки левого или правого циркулярно-поляризованного света попадали точно в одно и то же место чувствительной поверхности фотоприемника, поскольку его чувствительность значительно различается даже для двух близко расположенных точек. В однолучевом устройстве подобная нежелательная ситуация встречается значительно рел<е, так как ориентация четвертьволновой пластинки или поляризатора, которые должны поворачиваться на 45°, обычно сопровождается весьма незначительным смещением пучка. Если система, положение которой нужно изменить, затеняет только часть пучка, тогда обнаруживается, что разница в пропускании более значительна, чем для собственно кругового дихроизма. [c.79]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология