Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Ионизация молекул электронным ударом

    Сечения ионизации молекул электронным ударом [c.40]

    Сечения ионизации молекул электронным ударом при энергии электронов 75 эв [c.41]

    Ионизация молекул электронным ударом во многом подобна электронному возбуждению. Процесс может протекать при участии молекул, находящихся в основном состоянии, или уже возбужденных прямая и ступенчатая ионизация). Прямая ионизация преобладает в плазме при низких давлениях (с ЮО Па) и малых степенях ионизации. С ростом давления и концентрации заряженных частиц возрастает роль ступенчатой ионизации электронным ударом, а также других процессов ионизации, идущих с участием возбужденных частиц. Так, при соударениях возбужденных тяжелых частиц возможен процесс ассоциативной ионизации [c.362]


    Сечения ионизации молекул электронным ударом. Как указывалось, различные элементарные процессы могут быть охарактеризованы величиной эффективного сечения. Величина сечения ионизации молекул зависит от ряда факторов. В первую очередь она определяется свойствами ионизуемой молекулы. [c.48]

Рис. 24. Ионизация молекул электронным ударим. Рис. 24. Ионизация молекул электронным ударим.
    Метод, основанный на ионизации молекул электронным ударом, позволяет получать большие ионные токи, для регистрации которых обычно применяют масспектрометр. Однако создать моноэнергетический пучок электронов с таким же энергетическим разбросом, как у потока фотонов, прошедших монохроматор, практически невыполнимая задача. Так, начальный разброс энергии электронов зависит от максвелловского распределения термоэлектронов катода. Электрическое поле, втягивающее ионы из пространства ионизации в масспектрометр, оказывает влияние на энергетический разброс электронов. [c.237]

    Механизм ионизации молекулы электронным ударом аналогичен механизму ионизации атомов. Переход молекулы АВ в состояние молекулярного иона АВ" и процессы диссоциации также. могут быть рассмотрены при помощи потенциальных кривых. Минимум потенциальной кривой молекулярного иона лежит выше минимума потенциальной кривой молекулы, и глуб1ша потенциальной ямы меньше. Это обусловлено тем, что связь между атомными ядрами в молеку-ляр 10М ионе слабее, чем в молекуле, 13-за отсутствия одного электрона. [c.37]

    Вклад вторичных процессов ионизации был обнаружен также в послесвечении разряда в азоте [539]. Прежде всего возникает вопрос, не является ли вторичный процесс ступенчатой ионизацией молекул электронным ударом. Оценки показали, что максимальный вклад могла бы дать ионизация с нижних триплетных уровней, в частности с но скорости этого процесса недоста- [c.169]

    В тлеющем разряде в окиси углерода, водороде и углекислом газе наблюдаемая скорость ионизации целиком объясняется прямой ионизацией молекул электронным ударом. Анализ показывает, что концентрации возбужденных частиц в этих случаях недостаточны для того, чтобы заметный вклад мог.ии дать вторичные процессы ассоциативная ионизация или ступенчатое возбуждение электронами [315, 542]. [c.176]


    Уравнение деградационного спектра предполагает возможность изменения числа пробных частиц в процессе соударений [26, 27, 38, 39]. При этом коэффициент размножения а определяет число пробных частиц после акта соударения одной пробной частицы. При а > 1 число пробных частиц в процессе соударений возрастает. В частности, такая ситуация имеет место при ионизации молекул электронным ударом (см. гл. 1). При а< 1 чис-96 [c.96]

    В экспериментах по рассеянию электронов или по ионизации молекул электронным ударом данные об энергетич. распределении электронов позволяют оценить импульсную Э. п., к-рая определяется ф-лой (1), при условии, что координатное представление ф-ции У заменено на импульсное, т. е. в роли 4 использованы вектор импульса электрона Р и спин. Величина р(Р) позволяет находть кинетич. энергию и импульсы электронов системы. [c.441]

    Сделаны выводы. Диссоциация молекулярных ионов зависит в основном от величины энергии возбуждения, но не от способа возбуждения. Сходство масс-спектров электронного удара с масс-спектрами фотонного удара и в особенности с перезарядными наблюдается при энергиях Ее электронов, удовлетворяющих условию Яе—/энергия ионизации молекулы), т. е. для случая, когда функции распределения молекулярных ионов по энергиям возбуждения сравнительно узки. Сходство масс-спектров осколо чных ионов при ионизации молекул электронным ударом и масс-спектров диссоциации быстрых ионов, сталкивающихся с нейтральными частицами, обнаруживается при Ее, удовлетворяющих условию Ее—/>/, т. е. в Случаях, когда функции распределения становятся сложными. Это указывает на сходство механизмов возбуждения в этих процессах. Так как в процессе ДМС происходит значительно большее возбуждение молекулярных ионов, чем в процессе МС, и их последующая большая фрагментация, то на основании вышесказанного масс-спектр диссоциации ДМС можно рассматривать как продолжение масс-спектра осколочных ионов МС в область больших энергий возбуждения. Зависимость масс-спектров от энергии возбуждения и связь между масс-спектрами МС и ДМС позволяют предсказать масс-спектры молекулярных ионов, которые могут быть получены в столкновениях типа молекулярный ион + электрон. Таким образом, предсказаны основные черты масс-спектров NN3 и СН4 при столкновении с электронами. [c.27]

    Ионизация и диссоциативная 1 онизация молекул. Механизм ионизации молекулы электронным ударом аналогичен механизму ионизации атомов. Переход молекулы АВ в. состояние молекулярного иона АВ+ и процессы диссоциации также могут быть рассмотрены при помощи потенциальных кривых. [c.44]

    Предположение о максвелловском распределении энергии электронов при прямой ионизации молекул электронными ударами и отсутствии отрицательных ионов ведет к хорошо известной диффузионной теории газоразрядной плазмы, восходящей к работам Шоттки, Энгеля, Штинбека [66]. Эта теория дает универсальную зависимость средней энергии электронов, выраженной в долях энергии ионизации молекул, от произведения концентрации молекул на характерный размер плазменной системы (рис. 1.24). Влияние свойств плазмообразующего газа учитывается величиной постоянной С и энергией ионизации. [c.86]


Смотреть страницы где упоминается термин Ионизация молекул электронным ударом: [c.100]    [c.133]    [c.660]    [c.713]    [c.42]    [c.61]    [c.171]   
Химическая кинетика и катализ 1985 (1985) -- [ c.92 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте