Рентгеновская Лоренца

Здесь Ф , Ук я Ск — интегральная интенсивность, полуширина (ширина на половине максимальной интенсивности) и положение центра тяжести к-то рентгеновского пика соответственно. Параметр т] соответствует относительной доле лоренцевой и гауссовой компонент в форме профиля рентгеновского пика. Если т) = 1, форма профиля описывается только функцией Лоренца (длинные хвосты) если т] = О, — то только функцией Гаусса (короткие хвосты). [c.34]

Погрешность в вычислении интегральной интенсивности фона в основном зависит от правильности выбора базисных линий. Поскольку рентгеновские пики на рентгенограммах наноструктурной Си преимущественно описываются функцией Лоренца, т. е. имеют длинные хвосты, то оказалось очень трудно достаточно точно определить место, где кончается рентгеновский пик и начинается фон 79-82]. Для уменьшения погрешности базисные линии выбирали таким образом, чтобы их концы совпадали с концами широких интервалов углов дифракции, в которых производилась съемка рентгеновских пиков [79-82]. Как показано в работах [80, 81], ИПД Си приводит к росту интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 6 3 %. [c.79]

В поисках пресной воды рассматриваются даже такие пути, как использование айсбергов, росы... Привлекает внимание появившееся в печати сообщение об американском патенте на новую методику обессоливания воды (рис. 33). Вода, содержащая ионы, протекает мимо источника ультрафиолетового (или рентгеновского) излучения. От внешней оболочки ионов отрываются электроны, что увеличивает заряд иона. Такие подзаряженные ионы перемещаются в магнитном поле, при этом на них действуют силы Лоренца, отклоняющие (закручивающие) траекторию движения ионов. Образуется область пониженной концентрации, из которой вода отделяется от общего потока. Указывается, что при надлежащем подборе всех условий процесса за один прием таким путем можно удалить из воды более 90% ионов [41]. [c.76]

В данном уравнении К представляет собой масштабный коэффициент, необходимый для того, чтобы привести экспериментальные данные (полученные в произвольном масштабе, зависящем от размера кристалла и интенсивности пучка рентгеновского излучения) к абсолютному масштабу рассеяния (величины /), используемому при определении расчетных структурных амплитуд (Fhfei) (или F ) из известных координат атомов Xj, yj, zj с использованием уравнения 11.2-7. Фактор А представляет собой коэффициент коррекции на поглощение рентгеновского излучения в соответствии с законом Бугера—Ламберта—Бера, который также должен учитьшать размер и характер (распределение сходных по симметрии граней) кристалла. Фактор Лоренца L компенсирует разницу в эффективных временах измерения для брэгговских отражений и зависит от брэгговского угла в и схемы экспериментальной установки. Р — поляризационный фактор, который позволяет учесть тот факт, что эффективность дифракции рентгеновских лучей зависит от поляризации падающего луча. [c.400]

Реакции в цементной шихте во время обжига в дальнейшем изучались Лоренцем и Кюлем , которые отмечали непрерывное понижение содержания двуокиси углерода и свободной извести. Однако такой чисто химический метод может привести к значительным ошибкам, если он применяется, для количественного определения химических соединений в продуктах обжига его необходимо дополнить микроскопическим и рентгеновским исследованиями. Предположение Лоренца и Кюля о том, что монокальциевый силикат образуется первым, оказалось неправильным. Как было обнаружено Лоренцем и Монатом, при температуре 700— 800°С значительное количество извести уже связано. [c.770]

По одному варианту кристалличность рассчитываетя по дифракционной картине одного образца путем сравнения интенсивности кристаллических рефлексов с полной интенсивностью рассеяния Правильность результатов (в смысле данного определения) зависи от того, насколько тщательно учтены все факторы, влияющие на из меряемые интенсивности —факторы Лоренца, поляризационный тепловой, некогерентное рассеяние, а также внешний фон (немоно хроматичность излучения, рассеяние воздухом и т. д.). Наиболе( точные результаты для такого метода получены Руланд при очен] тщательной технике рентгеновского эксперимента и большого ин тервала углов дифракции . Проведение эксперимента в различны областях дифракции позволило определить еще одну характеристик упорядоченности —дефектность кристаллитов . [c.212]

Физика дифракционных методов 5.1. Основные определения и формулы (определения символов, формулы для рассеяния электронов, атомного мнг жителя рассеяния). 5,2. Интенсивность излучения, дифрагированного кристаллом (структурный мксжитель, температурный множитель, интегральное отражение, угловые множителн интенсивности, мнсшители Лоренца и поляризационный). 5,3, Поправки на поглощение (малый кристалл в узком пучке, большой кристалл или поликристаллический обра-еец, пересекающий узкий пучок отражение узкого пучка от плоскостей, параллельных вытянутой грани кристалла при отсутствии и наличии пропускания, отражение от кристаллических плоскостей, наклоненных к вытянутой грани поглощающего блока поглощение при перпендикулярном и наклонном расположении поверхности кристаллического блока по отношению к отражающим плоскостям поглощение в цилиндрическом кристалле, омываемом однородным пучком рентгеновских лучей, нормальным к оси кристалла, поглощение сферой, поглощение кристаллом произвольной формы, поправки на поглощение при исследовании преимущественней ориентировки в листовых образцах), 5.4, Мозаичная теория (различия между совершенным и идеально несовершенным кристаллом, первичная и вторичная экстинкция). 5,5. Сводка формул интегральной интенсивности, [c.323]