Идентификация вещества по межплоскостным расстояниям

Идентификация вещества по данным о межплоскостных расстояниях [c.84]

Целью рентгенофазового анализа является идентификация вещества в смеси по набору его межплоскостных расстояний ( ) и относительным интенсивностям (/) соответствующих линий на рентгенограмме. Для этого, согласно закону Брегга — Вульфа, необходимо определение углов отражения 6. [c.39]

Метод порошка (поликристаллический метод) можно использовать не только для идентификации, но и для точного определения констант элементарной ячейки хорошо кристаллизующихся веществ. Если известна кристаллическая система, то по рентгенографическим данным можно получить ряд значений межплоскостных расстояний йнм),. соответствующих определенным плоскостям кЫ). Параметры элементарной ячейки можно затем найти путем решения соответствующего уравнения, связывающего эти параметры, значения НЫ и величины ё. [см., например, уравнение (2)]. [c.75]

Для характеристики каждого кристаллического вещества требуется точное кристаллографическое описание [113—116]. О применении поляризационного микроскопа см. [117—120]. Из обширной литературы по рентгенографическому определению кристаллической структуры см. работы [121—131]. О расшифровке рентгенограмм см. работы [132— 135]. Таблицы межплоскостных расстояний кристаллических решеток около 1000 преимущественно неорганических веществ для рентгенографической идентификации приведены в работах [136—139]. [c.166]

Для идентификации вещества с помощью американской картотеки в первую очередь используются три самые яркие линии рентгенограммы. По величине межплоскостного расстояния din линии, имеющей наивысшую интенсивность, определяется тот участок картотеки, в котором может лежать нужная карточка. Значение d]n второй линии сужает этот участок, величина djn третьей линии, как правило, позволяет остановиться на одной или нескольких возможных карточках. Последующее сопоставление значений djn и интенсивностей всех линий дебаеграммы и выделенных эталонных карточек либо приводит к однозначному определению соединения, либо доказывает, что рассматриваемого соединения в картотеке вообще не имеется. [c.477]

НЫМ анодом и никелевым фильтром. Были сняты рентгенограммы всех образцов. При съемке всех рентгенограмм поддерживался строго постоянный режим работы рентгеновской установки. При расшифровке рентгенограмм для идентификации фаз использовались справочные таблицы межплоскостных расстояний веществ [12]. [c.50]

Качественный рентгеновский анализ. Анализ заключается в идентификации веществ по их рентгенограммам или рентгеновским дифракционным кривым. Набор экспериментально полученных рентгеновских рефлексов (колец, пятен на рентгенограмме или максимумов на дифракционных кривых) описывается тремя характеристиками углом рассеяния 20, межплоскостными расстояниями duhi, относительными интенсивностями. Угол рассеяния 29 определяют непосредственно нз эксперимента, относительные интенсивности находят по соотношению площадей под соответствующими пиками дифракционной кривой или микрофотометрической кривой рентгенограммы (после отделения этих пиков от фона), а межплоскостные расстояния находят по уравнению Вульфа — Брегга [c.5]

Более сложная задача — определение фазового состава при неизвестном химическом составе. Во многих случаях эта задача однозначно не решается и желательно провести хотя бы качественный химический анализ. Если данных о химическом составе нет, то неоднозначность определения объясняется тем, что изо-структурные вещества могут давать близкие рентгенограммы, мало различающиеся по величинам межплоскостных расстояний и относительным интенсивностям. С такой неоднозначностью часто приходится сталкиваться при идентификации веществ, кристаллизующихся в кубической, гексагональной и тетрагональной синго-ниях (особенно в случае кубических веществ). Однако точное определение параметров решетки, которое как раз в этом случае можно выполнить по дебаеграмм ,. значительно уменьшает эту неоднозначность. [c.46]

Для облегчения идентификации веществ с помощью рентгенометрической картотеки она снабжена ключом. Для ключа отбираются три наиболее характерных межплоскостных расстояния — желательно в области сравнительно больших с1 (8—2 А) —с высокой интенсивностью соответствующих им линий. [c.46]

РАСЧЕТ РЕНТГЕНОГРАММЫ №... ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕЖПЛОСКОСТНЫХ РАССТОЯНИЙ И ИДЕНТИФИКАЦИИ ВЕЩЕСТВА ИСХОДНЫЕ ДАННЫЕ [c.64]

РАСЧЕТ ДИФРАКТОГРАММЫ №... ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕЖПЛОСКОСТНЫХ РАССТОЯНИЙ И идентификации вещества [c.68]

Идентификация вещества по межплоскостным расстояниям [c.46]

Применение эффекта Мёссбауэра для исследования фазового состава образцов фактически основано на том же принципе, что и рентгенографический фазовый анализ, с той лишь разницей, что в ядерном гамма-резонансе характеристическими величинами для идентификации линий спектра поглощения являются изомерный сдвиг линии поглощения б, квадрупольное расщепление линии АЕ и значение величины внутреннего эффективного поля на ядрах резонансного изотопа. В случае рентгеновских исследований каждому из веществ соответствует определенный набор дифракционных углов отражения (межплоскостные расстояния) и ин- [c.217]

Кроме того, практику приходится постоянно сталкиваться с поликристаллическими веществами неизвестной структуры. В каталогах, содерл<ащих сведения об интенсивностях отражений и о межплоскостных расстояниях, приводятся таблицы лишь для небольшой части известных и неизвестных структур. Индексы отражений обычно не приводятся, хотя это необходимо для контроля остальных данных. Кроме того, в приводимых значениях межплоскостных расстояний часто содержатся неточности уже во втором десятичном знаке [6]. Это затрудняет идентификацию фаз, а недостаток таблиц в каталогах постоянно ставит исследователей перед необходимостью определения новых структур. Поэтому большое значение имеет повышение точности определения межплоскостных расстояний, ибо таким путем можно было бы повысить шансы на успех при определении структур по норошкограм-мам, и поэтому развитию прецизионной съемки всегда уделялось большое внимание. [c.6]

К сожалению, эти линии часто перекрываются, особенно в сложных структурах с низкой симметрией, и это является основным ограничением применимости данного метода. В общем случае часто оказывается, что плоскости с достаточно различными индексами и ориентацией имеют одни и те же или очень близкие межплоскостные расстояния, поэтому они не могут быть однозначно идентифицированы по порощкограмме. Для кубической, гексагональной, триго-нальной и тетрагональной сингоний индексы линий можно находить с помощью графических методов и по этим индексам определять размеры элементарной ячейки. Но даже в этих случаях отражения от ряда кристаллографически различных плоскостей сливаются в одну линию и невозможно оценить интенсивность каждой из них в отдельности. Для систем с низкой. симметрией очень трудно однозначно определить даже размеры элементарной ячейки, если в распоряжении исследователя нет некоторых дополнительных данных. На практике обычно невозможно детально определить структуру, если в распоряжении имеется только рентгенограмма порошка. Однако метод имеет огромное значение для характеристики и идентификации веществ и точного измерения межплоскостпых расстояний. [c.41]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология