Многолучевые ОКГ

Для решения описываемой проблемы разработан комплекс программ для ПЭВМ, в который включены программы определения жесткости в зависимости от вида сечения арматуры и принятой схемы армирования, вычисления прогибов, моментов и напряжений, возникающих при установке понтона, на опорную конструкцию в форме многолучевой звезды, напряжений, возникающих на плаву от действия затвора. Учтена анизотропность материалов. Предусмотрена возможность изменения опорной конструк-Ш1и варьируется величина угла между лз чами опоры, рассмотрены схемы [c.150]

Для увеличения поверхности фильтрации сетчатый элемент выполняется комбинированным и состоит из нескольких помещенных один внутри другого элементов, а также в виде многолучевой звездочки (в поперечном сечении) или пакета фильтрующих дисков. [c.125]

Многолучевые интерференционные микроскопы основаны на том же принципе, но разделение одного пучка на несколько пучков усложняет их конструкцию и повышает разрешающую способность. [c.123]

Создание антенн с многолучевыми и контурными диаграммами направленности требует разработки облучающих устройств, обладающих направленными свойствами при малых поперечных размерах. Как показали исследования, проведенные в нашей стране и за рубежом, из множества возможных типов облучающих устройств (вибраторные, щелевые, линзовые, диэлектрические, спиральные) наиболее перспективным является использование комбинации конического рупорного облучателя с диэлектрической насадкой. Насадки могут быть цилиндрические или конические, тонкостенные трубчатые или сплошь диэлектрические. Материал насадок должен удовлетворять ряду требований диэлектрическая проницаемость-(5-10), тангенс угла диэлектрических потерь- на уровне (3-10)-10 , стабильность в широком диапазоне рабочих температур, устойчивость к механическим, радиационным, ИК- и УФ-воздействиям. Такому комплексу требований из класса неорганических материалов в наибольшей степени удовлетворяют стеклокристаллические материалы. [c.26]

Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

Фильтрующий элемент изготовлен по типу многолучевой звездочки (см. рис. 89). Он состоит из гофрированной бумажной ленты, свернутой в цилиндр и приклеенной по торцам сверху и снизу к картонным дискам. Высота активной части фильтрующего элемента 71 мм и диаметр 100 мм. Общая фильтрующая поверхность его около 1850 см [c.219]

Поверхности с малыми неровностями (М < 0,002 мкм) контролируют методом многократного отражения лучей, называемым также методом многолучевой интерферометрии. [c.498]

Схема многолучевого микроинтерферометра показана на рис. 10. Свет от источника 1 (ртутная лампа низкого давления, дающая монохроматическое излучение, выделяемое фильтром 10) через диафрагму 2 проходит конденсор 3 и параллельным пучком падает на полупрозрачное зеркало 4. После отражения пучок проходит пластину 5, накладываемую на объект б под малым углом (0. Ее нижняя сторона покрыта слоем вещества с коэффициентом отражения, близким к коэффициенту отражения контролируемой поверхности. [c.498]

Рис. 10. Схема многолучевого интерферометра

Наиболее полную картину диффузионного процесса можно получить из кривой распределения концентрации. В работе [36] разработан микрометод фиксирования движущихся границ в системах полимер—растворитель, основанный на явлении многолучевой интерференции. В литературе описаны оптические методы, пригодные для исследования диффузии в системах полимер — растворитель в широкой области концентраций [37 ] они подразделяются на рефрактометрические, интерференционные и колориметрические. Основным недостатком этих методов является ограниченность их применения, связанная с оптическими свойствами исследуемой системы, и невозможность количественной оценки процесса переноса вещества. [c.198]

Изучение физических процессов, происходящих в источниках света, подробная разработка теоретических основ спектрального анализа, точные метрологические измерения, атомные исследования (изучение изотопических смещений) невозможны без приборов высокой разрешающей способности. Разработка таких приборов может быть осуществлена на основе многолучевой интерферометрии или с использованием дифракции света в высоких порядках. [c.6]

Интерференция света — сложение двух или многих световых волн, отличающихся разностью фаз (разностью хода). В спектральных приборах обычно используется многолучевая интерференция, когда происходит сложение многих световых волн с разностью хода, меняющейся вполне определенным образом. Типичный пример такой интерференции представлен на рис. 3. В плоскопараллельной пластинке толщиной I лучи света много- [c.9]

Рис, 3. Схема многолучевой интерференции [c.9]

Интерферометр Фабри—Перо работает на принципе многолучевой интерференции. Интерференция происходит в плоскопараллельной пластинке, стеклянной или воздушной (рис. 102, а и б на рисунках не показано преломление луча на границе стекло—воздух). [c.163]

Широкое раопространение получили фильтрующие элементы звездообразной формы с вертикальными гофрами вследствие сравнительно несложной технологии изготовления. В виде многолучевой звезды (рис. 44, а) конструктивно выполнены отечественные фильтрующие элементы типа КазСХИ и зарубежные типа Микро-ник , выпускаемые в различных модификациях фирмами Fram в США и Франции, Мапп в ФРГ и Purolator в США и Англии. Зубчатые фильтрующие элементы (на рисунке их нет) сходны со звездообразными по кон- [c.262]

Для увеличения жесткости конструкции при изготовлении фильтрующих элементов типа Микроник применяют крепированную (мелкогофрированную) бумагу. Иногда, чтобы предотвратить сжатие отдельных лучей и увеличить поверхность фильтрования, в звездообразных фильтрующих элементах каждому лучу многолучевой звезды придают зигзагообразную форму, что, однако, усложняет технологию изготовления подобных элементов, получивших название шевронно-лучевых (рис.44,б). Фильтрующие элементы этого типа выпускает фирма В]еУ15 (Франция). В некоторых случаях для увеличения жесткости во внутреннее пространство лучей вставляют прокладки из сетки или перфорированного картона. [c.263]

Рис. 57. Формы укладки фильтрующих элементов а — многолучевая звезда б — гармощка в — винтовая штора г — шевроиио-складчатая штора д — набор пластин е — спиральная штора

При одинаковом шаге ггк )рирования наибольшее увеличение поверхности фильтрующего материала одной и той же толщины достигается спиральной укладкой шторы. Слиральные шторы позволяют в одном и том же объеме фильтра разместить бумаги в 1.5 раза больше, чем при укладке многолучевой звездой. [c.130]

Испытанию на фузовых автомобилях с двигателями 84 10/10 подвергались улучшенные и серийные СОТ (см. табл. 18). При этом в улучшенной системе бумажный ФТО в виде многолучевой звездочки вы-гюлнялся в трех вариантах, отличающихся один от другою только типом бумаги фильфующей перегородки (БТК. БФМ-П, МФ-16). [c.154]

Участие активных (содержащих связи Сбо-литий) гексааддуктов в реакциях функционализации и сочетания. Получены двенадцатилучевые двуядерные и моноядерные многолучевые полистиролы, структуры типа браслет со звездообразными подвесками . [c.40]

Во многих из цитированных выше работ при уменьшении расстояния Н до 500—800 А отмечались отклонения от закона Р (Н) для полностью запаздывающих сил. Они могли быть связаны как с неполным проявлением запаздывания, так и с влиянием поверхностных неровностей. Величина неровностей полированных поверхностей составляет обычно 50—100 А. Ясно, что для продвижения в область малых толщин прослоек необходимо было использовать более гладкие поверхности. Впервые это удалось сделать Тейбору и Уинтертону [81, 82], модифицировавшим известный метод скрещенных нитей [22, 83]. Силы молекулярного притяжения Р измерялись между скрещенными под углом 90° стеклянными цилиндрами (Ло — 1 см), покрытыми снаружи тонкими (несколько микрометров) листочками слюды (мусковита). Расстояние Н между молекулярногладкими поверхностями слюды измерялось (с точностью около 3 А) методом многолучевой интерференции по Толанскому. При этом использован вариант метода с применением белого света и наблюдением полос одинакового цвета (одинаковой длины волны) с помощью светофильтров. Для получения многократной интерференции тыльные стороны листочков слюды были покрыты полупрозрачными слоями серебра. [c.99]

Наиболее полную картину диффузионного процесса можно получить из кривой распределения концентрации по расстоянию. С этой целью Васенин, Чалых и Коробко разработали микрометод фиксирования движущихся границ в системах полимер — растворитель, основанный на явлении многолучевой интерференции. [c.259]

Фильтрующий элемент фирмы Fram имеет бумажную штору, сложенную в виде многолучевой звездочки. [c.217]

Если же разрезают каучук после разогрева, то можно пользоваться многолучевыми многолезвиевыми ножами. [c.51]

Ре(СМ)б]"" Бензидин, СНзСООН Многолучевые звезды, иглы, ромбы 0,1 1 10000 [Fe( N),] , soj-, rOf [c.184]

Многолучевые звездообразные ПС получены путем функционализации связей fiQ-Li реакцией с бензоилхлоридом и последующим взаимодействием содержащего карбонильные группы гексаад-дукта с новой порцией живущего полистирола [57] [c.207]

От геометрической поверхности переходят к истинной или адсорбционной поверхности, умножая ее на фактор шероховатости , величину которого принимают равной единице для поверхности жидкости и близкой к единице для непористых порошков [401 (см. подраздел В данного раздела — определение пористости). Однако неясно, какой величиной этого множителя нужно пользоваться для массивных металлов. Часто пользовались дробными множителями между 1 и 2, однако Ридил, Боуден и их сотрудники [41] показали, что для протянутых или подвергавшихся электрополировке металлов этот множитель равен 3 или большей величине, которая может достигать 13 для свежеотполированного никеля. В принципе подробные сведения о шероховатости поверхности можно получить при помощи многолучевой интерферометрии [42] или электронномикроскопического изучения методом оттенения. В ин-терферометрическом методе поверхность помещают вблизи оптически гладкой поверхности кварца таким образом, чтобы образовался тонкий клин, который дает интерференционные полосы (получаемые при отражении или пропускании), смещаемые неправильностями поверхности. Если исследуемая поверхность и плоскость покрыты тонким однородным слоем серебра, нанесенным на них испарением, то картина интерференционных полос, образуемых многократным отражением, становится более ясной. Топография поверхности может быть получена контурнрованием через интервалы по 30. В методе оттенения проекции выступов или впадин проявляются после того, как их склоны или ступени покроют атомами золота из молекулярного пучка, направленного под косым углом к поверхности. Подобного рода исследования проводились для того, чтобы детально проследить изменения, происходящие при росте кристаллов и образовании пленок металлов, а определение таким способом фактора шероховатости едва ли целесообразно. С другой стороны, подробные сведения о топографии поверхности монокристаллов, вероятно, важны для отнесения активности их граней за счет поверхностных дислокаций, выступов, изломов и т. п. [c.168]

Еще в середине XVII в. Р. Бойль и Гук описали интерференционные явления в тонких пленках однако создание спектральных приборов на основе интерференции относится к самому концу XIX в. и связано с именами Майкельсона, Фабри и Перо. Развитие интерференционных систем главным образом определялось развитием техники нанесения отражающих полупрозрачных слоев на стеклянные пластины с точными поверхностями. Имя Майкельсона связано с созданием ступенчатого эшелона (в настоящее время не применяемого из-за больших трудностей изготовления) и двухлучевого интерферометра, широко используемого для разных целей. Фабри и Перо создали многолучевой интерферометр и эталон, получившие их имя и широко используемые в настоящее время. [c.48]

Смотреть страницы где упоминается термин Многолучевые ОКГ: [c.20] [c.255] [c.255] [c.255] [c.345] [c.447] [c.262] [c.270] [c.131] [c.131] [c.132] [c.140] [c.141] [c.238] [c.20] [c.32] [c.219] [c.56] [c.31] [c.30] [c.499] [c.183]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология