Рентгеновское отражение

Чтобы найти распределение электронной плотности в элементарной ячейке кристалла, необходимо найти фазы рентгеновских волн, отраженных кристаллом в различных направлениях. Для определения фаз рентгеновских отражений применяются специальные методы. Если удается определить фазы всех рентгеновских отражений, можно достаточно точно определить картину распределения электронной плотности в кристалле. Если удается найти фазы лишь некоторой части рентгеновских отражений, то картина распределения электронной плотности будет довольно размытой и нечеткой. Мы будем иметь нечто подобное изображению предмета, рассматриваемого в микроскоп при плохой фокусировке. [c.545]

Для миоглобина удалось найти фазы некоторой части рентгеновских отражений и, соответственно, найти распределение электронной плотности в молекуле. Полученные картинки оказались, как и следовало ожидать, не очень четкими, на них не были видны отдельные атомы. Однако третичная структура проявилась на них весьма рельефно, так как общие контуры цепей были видны отчетливо. [c.545]

Для гемоглобина удалось также определить фазы многих рентгеновских отражений, а также определить его третичную структуру (рис. 15). [c.545]

Разрешающая способность в 6 А не является пределом используемых методов исследования. Ее можно повысить до 1,5—2 А, в соответствии с числом экспериментально наблюдаемых рентгеновских отражений. Следовательно, можно определить положение всех атомов, образующих в своей совокупности сложную молекулу. [c.546]

Действительно, в последнее время для миоглобина удалось определить фазы 12 ООО рентгеновских отражений и получить распределение электронной плотности в молекуле с разрешением в 2 А. Полученная разрешающая способность еще недостаточна, чтобы можно было наблюдать каждый атом в отдельности. Однако на этом распределении можно проследить конфигурацию чередующихся аминокислотных остатков. На нем четко выявились участки с а-спиральной конфигурацией цепей. [c.546]

Этим же правилам подчиняется погасание рентгеновских отражений. Поэтому удваивание индексов называют также морфологическим погасанием . Оно отражает тот факт, что значимость грани, параллельной плоскостям с удвоенными индексами, меньше, чем она была бы в случае существования примитивной элементарной ячейки. [c.331]

Пластическая деформация кристаллов в основном подразделяется на два типа — скольжение и двойникование. Скольжением кристаллов называется сдвиг некоторых частей кристалла по определенным плоскостям вдоль определенных направлений. При сдвиге в кристаллах образуются полосы скольжения. Кристаллическая решетка в этих полосах и вблизи них сильно искажена, что обнаруживается по астеризму рентгеновских отражений. Вблизи полос скольжения имеются упруго напряженные области, в которых локализованы так называемые остаточные напряжения [4-7]. [c.13]

Структурных изменений не обнаружено Все когерентные рентгеновские отражения исчезли [c.318]

Если фазовая проблема уже разрешена и найдена правильная приблизительная структура, возникает непосредственная, хотя обычно очень трудоемкая задача уточнения координат до пределов, определяемых интенсивностями. Если в независимой области ячейки содержится N атомов, то для определения структуры необходимо 3N координат как правило регистрация числа диффракционных пятен, большего 3N, не представляет затруднений. Обычно удается добиться 10-кратного количества. Регистрация интенсивностей рентгеновских отражений обычным фотографическим методом с последующей визуальной оценкой не является слишком точной (значительно более точны, хотя менее удобны для этой цели методы с применением счетчиков). [c.63]

Предсказания теории согласуются с данными эксперимента о том, что рентгеновские отражения сохраняют четкость вплоть до температуры плавления, хотя и становятся менее интенсивными, тогда как диффузное рассеяние монотонно возрастает при повышении температуры до точки плавления. [c.389]

Измерения интенсивностей рентгеновских отражений выполнялись только с использованием монохроматизированных отражением от кристалла-монохроматора излучений. Важным условием получения точных значений интенсивностей является корректный учет поглощения рентгеновских лучей в исследуемых кристаллах. Вопросы учета поглощения для кристаллов сферической и цилиндрической формы были рассмотрены нами в [1], где предложен также метод получения кристаллических сфер размером 0.2—0.3 мм с полированной поверхностью. [c.108]

Оценка точности применяемой нами методики измерения интенсивностей рентгеновских отражений и получения структурных амплитуд была сделана во время проведения Международным союзом кристаллографов коллективной работы, результаты которой приведены в [2]. Эти результаты свидетельствуют о весьма удовлетворительной точности данной методики. [c.108]

Определение кристаллических структур силикатов и их аналогов с применением точных методов оценки интенсивностей рентгеновских отражений, Смолин Ю, И, [c.313]

Наличие плоскости скольжения оказывает значительно более заметное влияние на рентгеновские отражения, чем наличие винтовой оси, так как благодаря плоскости скольжения снижается вдвое вся плошадь проекции. Так, если у кристалла имеется плоскость с, перпендикулярная к [Ь], то в проекции на [6] элементарная ячейка выглядит так, как будто интервал с вдвое меньше, чем в действительности это видно из рис. 7.5, [c.147]

До сих пор рассматривались только положения рентгеновских отражений и их наличие или отсутствие. Этих данных достаточно для того, чтобы судить о размере и форме элементарной ячейки и в некоторых случаях выявить части, а иногда и все элементы симметрии, имеющиеся у молекулы. Положения рентгеновских отражений можно измерить с большой точностью, и из них без особого труда можно найти значения параметров ячейки с ошибкой, не превышающей 0,001 А. При тщательно проводимом эксперименте размер ячейки кубического кристалла при заданной температуре можно определить с точностью до 0,00001 А. В приведенных в предыдущем разделе примерах положения рентгеновских отражений не давали никаких сведений о действительных величинах длин связей в молекулах. Однако в случае хлористого натрия (см. разд. 6.11) ясно, что кратчайшее расстояние между ионами хлора и натрия равно половине ребра ячейки. Таким образом, можно очень точно определить это межионное расстояние. Это справедливо и для многих других ионных кристаллов и для большинства металлов, но у ковалентных соединений межатомные расстояния редко определяются только размерами ячейки. Единственными известными [c.163]

Как уже указывалось, в некоторых случаях по положениям рентгеновских отражений и по систематическим погасаниям возможно установить симметрию молекулы в кристалле. Но в общем случае этого недостаточно для определения молекулярных параметров и необходимо научиться каким-то образом определять положения всех атомов Б элементарной ячейке. Для этого нужно рассматривать интенсивности наблюдаемых рентгеновских отражений. [c.165]

В предыдущем разделе обсуждался вопрос, каким образом при известных координатах атомов можно рассчитывать интенсивности всех возможных рентгеновских отражений. Сделать это непосредственно можно только для простейших кристаллических структур. В общем случае, когда положения атомов не установлены, следует решать обратную задачу — каким образом по известным интенсивностям отражений можно определить положения атомов. Метод решения такой задачи был предложен Брэггом, и сейчас этот метод или его модификации лежат в основе практически всех определений структуры кристалла. Любую величину, являющуюся периодической функцией одной координаты х, можно представить в виде ряда Фурье [c.175]

Измерения интенсивностей рентгеновских отражений выполнялись на монокристальном дифрактометре. Использовалось монохроматическое Мо-.йГ -излучение. Измерено 1990 ненулевых неэквивалентных отражений I [hkl) по Z от О до 11. Вводились поправки на поляризацию и кинематический фактор. Поглощение из-за его малой величины не учитывалось. Поскольку кристалл находился в стеклянном капилляре с маточным раствором, измерения проводились на фоне заметного диффузионного рассеяния. Кривые фона снимались для каждой слоевой линии с шагом по т в 2.5° (х — установочный угол счетчика). [c.69]

Метод рентгеновской топографии дает возможность исследовать толстые и достаточно большие образцы. В этом методе используется брэгговское рентгеновское отражение, а дифракционный контраст получается из-за того, что локальная деформация решетки, связанная с дефектом, изменяет условия отражения и рассеяния рентгеновских лучей. Интенсивность дифрагированного рентгеновского пучка вблизи дефекта уменьшается, вследствие чего дефект виден как темная линия на общем светлом фоне (рис. 319). [c.357]

Обычно рассматривают рентгеновские отражения первого порядка от плоскостей, т. е. /г = 1 в формуле Брэгга (см. далее), и при индицировании плоскостей учитывают п. Таким образом, отражение 200 считают отражением пер- [c.12]

Миллеровские индексы, используемые для обозначения плоскостей и граней, обычно заключают в скобки, например (йй/), тогда как при обозначении узлов обратной решетки или рентгеновских отражений их записывают без скобок, например кЫ. [c.13]

Арндт и Виллис [39] обсудили различные факторы, определяющие счет импульсов для фона, которые могут быть источником систематических и случайных ошибок при измерении интенсивностей рентгеновских отражений. [c.124]

Вильсон [94] показал, что интенсивность рентгеновского отражения можно представить как [c.183]

Полукаров Ю. М., Семенова 3. В. Микроструктура никелевых покрытий по данным гармонического анализа рентгеновских отражений. О состоянии водорода в электроосажденных слоях никели по данным магнитных и рентгенографических исследований/УЭлектрохимическне процессы при электроосажденни и анодном растворении металлов. М. Наука, 1969. С. 39—47, 73—77. [c.282]

Карбидные превращения в карбонильном железе, начиная с отжига при 250 °С, внешне сходны с карбидными превращениями в конце третьей стадии отпуска закаленной стали. Однако эти превращения в карбонильном железа начинаются и проходят при более низкой температуре и гораздо интенсивнее, чем у закаленных сталей. У закаленных сталей снятие когерентных и дисперсионных искажений решетки происходит при температуре отпуска порядка 400 °С, а формирование карбидной фазы РедС, дающей отчетливые рентгеновские отражения при 500— 600 °С. В карбонильном же железе снятие искажений и формирование крупных кристаллов РсдС, аналогичных карбиду, образующемуся при отпуске закаленной стали при 600 °С, заканчивается в области температур 300— 325 °С. [c.93]

Морфологическая значимость кристаллической грани обратно пропорциональна ее ретикулярной площади 3, если решетка относится к гексаэдри-ческому виду (нецентрирована) и пространственная группа не содержит винтовых осей и плоскостей скольжения. Влияние центрирования, винтовых осей и плоскостей скольжения состоит в том, что индексы грани в выражении для 8 заменяются кратными индексами рентгеновских отражений низшего порядка, совместимыми с пространственной группой . [c.332]

Так как большие значения Аф требуют больших отклонений значений I от /, то вероятность образования устойчивых зародышей будет уменьшаться при отклонении значений I в обе стороны от /. Лауритзен и Гофман подсчитали распределение ожидаемых длин складок и показали, что оно должно быть очень узким. Например, когда I — 140 А и Аф / Г — 50, то 73% зародышей критических размеров будут иметь длины складок в интервале от 126 до 157 А. Этот интервал, несомненно, достаточно узок, чтобы объяснить наблюдаемые отчетливые рентгеновские отражения при съемке под малыми углами. [c.443]

Графит взаимодействует также с фтором, образуя гидрофобный твердый продукт, близкий по составу к (GF) [228] и обладающий изоляционными свойствами. Наиболее вероятной для этого продукта является структура, представляющая собой ряд образованных из гармошкообразных углеродных цепей плоскостей, к которым с обеих сторон примыкают плоскости из атомов фтора. Очевидно, природа этой фазы отличается от природы ранее описанных соединений графита. Есть и некоторые аномалии в интенсивностях рентгеновских отражений, трудно увязываемые с алифатической структурой [198]. Сообщается о различных величинах межслоевого расстояния (8 8,17 6,6 и 8,9 А), причем это расстояние отчасти зависит от содержания фтора [102]. Состав соединений изменяется в пределах от СРо.втв ДО Fo,99g. [c.330]

Согласно рентгенографическим данным, полученным для ориентированных гелей ВТМ, период вдоль вирусной частицы равен всего лишь 69 А. Это подтверждает существование субъединиц, поскольку длина стержня равна 3000 А. Белковые субъединицы уложены в виде спирали, причем на каждый виток приходится 167з субъединицы, а на три витка — 49 субъединиц. Шаг спирали (расстояние между витками) равен 23 А. Плоскости оснований РНК приблизительно параллельны оси стержня. Для определения знаков рентгеновских отражений применялся метод изоморфного замещения с РЬ и Hg (см. разд. 1 гл. XV). Этот метод удалось применить к такой крупной частице лишь потому, что она состоит из расположенных регулярным образом идентичных субъединиц, одинаково модифицирующихся при введении тяжелого атома. По измеряемым амплитудам рассеяния с помощью Фурье-синтеза рассчитывают радиальное распределение электронной плотности, т. е. среднюю электронную плотность [c.359]

ОиРБДБЛЕНИЁ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР СИЛИКАТОВ И ИХ АНАЛОГОВ С ПРИМЕНЕНИЕ] ТОЧНЫХ МЕТОДОВ ОЦЕНКИ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ РЕНТГЕНОВСКИХ ОТРАЖЕНИЙ [c.107]

Значительная часть структурных исследований, упомянутых ниже, посвящена определению строения силикатов и германатов редкоземельных элементов. Изучение структур этих соединений весьма важно по многим причинам. В частности, большой интерес для кристаллохимии представляет определение силикатных и германатных структур в ряду редкоземельных элементов с катионами, обладающими одинаковой внешней электронной оболочкой и поэтому слабо различающимися по своим химическим свойствам, но монотонно изменяющимися по величине от соединения к соединению. Использование точных методов оценки интенсивностей при исследовании этих структур позволило преодолеть некоторые затруднения, связанные с тем, что в изучаемых кристаллах вклады тяжелых атомов в рентгеновские отражения ряда соединений превышают вклады легких более чем втрое. Поэтому надежное определение координат легких атомов и достаточно точные величины межатомных расстояний могли быть получены только нри возможно более полных и точных экспериментальных данных. [c.108]

Мочевина (NH2)2 O [6]. Мочевина кристаллизуется с образованием тетрагональных кристаллов. Определение параметров элементарной ячейки и плотности показывает, что в элементарной ячейке содержатся только две молекулы. Среди рентгеновских отражений систематических погасаний нет, частные же погасания отмечаются только у отражений (hOO) с нечетными h и, поскольку в тетрагональном кристалле [а] и Щ эквивалентны, у отражений (OfeO) с нечетным k. По Международным таблицам такие погасания указывают на возможные пространственные группы РА2 Гп и РА2 2. Последний вариант сразу же исключается, так как при этом молекула мочевины должна была бы иметь ось четвертого порядка или три пересекающихся оси второго порядка. Ясно, что этого быть не может, и достаточно ограничиться рассмотрением пространственной группы P42im. Некоторые данные по этой пространственной группе приведены в Международных таблицах (табл. 7.3). [c.155]

Принцип, лежащий в основе такого метода, можно изложить довольно просто. Измерим для каждого набора плоскостей hkl) интенсивность 1ш дифрагированного пучка. В разд. 6.9 было показано, как проводится индицирование рентгеновских отражений, а в следующем разделе рассмотрим методы измерения интенсивностей. Для кристалла, состоящего из большого числа кристаллитов (разд. 6.3), эта интенсивность, помимо геометрического фактора, который может быть вычислен, равна квадрату величины, называемой структурным фактором Fhki- В тех случаях, когда учитывается геометрический фактор, интенсивности называются исправленными интенсивностями. Так, для каждой наблюдаемой интенсивности получаем исправленную интенсивность и, извлекая из нее квадратный корень, найдем наблюдаемый структурный фактор Теперь можно вычислить структурный фактор, так как он зависит только от двух свойств атомов, входящих в элементарную ячейку — от их факторов рассеяния и их положений. Следовательно, если в элементарной ячейке имеется атомов, можно записать [c.167]

Для получения приближенных сведений о координатах атомов можно использовать различные данные. Наиболее полезным оказывается то, что из всех уже найденных ранее результатов нам примерно известно, как далеко могут отстоять друг от друга атомы в молекуле и как близко могут подходить друг к другу атомы разных молекул. Значения длин связей составляют обычно от 1 до 3 А, тогда как наименьщее расстояние, на которое могут приблизиться друг к другу атомы разных молекул, так называемое вандерваальсово расстояние, почти в два раза больще. Размеры элементарной ячейки часто могут оказать помощь при определении ориентации молекулы в ячейке, особенно если молекула плоская. Иногда, когда одно определенное рентгеновское отражение значительно интенсивнее остальных, можно полагать, что в плоскостях, обусловливающих это рассеяние, будет находиться соответственно большая доля рассеивающего вещества. Как показано в разд. 12.3, при определении ориентации плоской молекулы могут оказаться полезными измерения магнитной восприимчивости. Нередко известную роль может сыграть и определение показателей преломления, поскольку в направлении, перпендикулярном к плоскости молекулы, значение показателя преломления, как правило, не велико, а в нанрав- [c.178]

Ориентация молекулы была найдена из рассмотрения интенсивных рентгеновских отражений. На основании этой ориентации и ожидаемых параметров молекулы получен пробный набор координат, которые были использованы для вычисления набора структурных факторов. Совпадение рассчитанных значений структурных факторов с наблюдае1иыми оказалось удовлетворительным, что подтверждает правильность выбранной модели. Затем для каждой проекции было проведено несколько циклов уточнения по методу Фурье до получения постоянства в знаках. / -фактор на этой стадии был равен 0,11. Окончательные карты электронной плотности для обеих проекций приведены на рис. 8.4. [c.185]

Проведенные исследования позволяют в некоторой степени проверить существование зависимости между радиусом обменного катиона и величиной рентгеновского отражения йоо2> косвенно характеризующей толщину межслоевой области вермикулита. Экспериментальное подтверждение этого предположения явилось бы важным этапом в изучении структуры и фазовых переходов при обжиге вермикулита и слоистых силикатов вообще. [c.126]

С помош,ью дифрактометра установлена принадлежность кристалла к моноклинной сингопии. Определение параметров элементарной, ячейки, также выполненное на дифрактометре, дало следующие величины а=20.48 + 0.01, 6=14.565+0.005, с=9.046 А (погрешность +0.005 А) р=94°43 + 5. Пространственная группа P2Jn однозначно определяется по погасаниям. Измерения интенсивностей рентгеновских отражений выполнялись на ручном монокристальном дифрактометре. Использовалось монохроматическое Мо-А -излучение. Измерено 1950 ненулевых неэквивалентных отражений. Вводились поправки на поляризацию и кинематический фактор. Поглощение из-за его малой величины не учитывалось. [c.76]

С целью определения количественных характеристик степени графитизации графита с грубыми дефектами были разработаны различные рентгеновские методы исследования 530]. Несмотря на то что таким способом можно установить некоторые полезные эмпирические закономерности, истинная количественная оценка дефектов может быть произведена только на основе учета интенсивности рентгеновских отражений, когда структура не слишком отличается от почти идеального графита. Например, все виды кристаллического углерода имеют некоторые характерные черты структуры графита [295]. В большинстве случаев на рентгенограммах углерода с весьма неупорядоченной структурой наблюдаются диффузные кольца, приблизительно соответствующие линиям графита (002) и (100). Это указывает на присутствие гексагональной сетки углерода в параллельных слоях, но не везде правильным образом ориентированной. Помимо этих отражений (002), в таком неупорядоченном углероде обнаруживаются М-линии и отсутствуют линии кЫ (/ 0). Если имеет место процесс графитизации при нагревании, то его можно обнаружить по появлению и усилению отражений М/ (I = 0) (см. также данные Касаточкина и Кавер01ва [521]). [c.40]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология