Интерференционный микроскоп

Интерференционный микроскоп основан на том же принципе, что и интерференционный рефрактометр, описанный выше. Пучок света разбивается на два луча один из них проходит через то вещество, показатель преломления которого нужно определить, а другой, контрольный, обычно проходит [c.107]

Интерференционный микроскоп применяют для исследования поверхностей скола, трещин, линий скольжения, измерения толщины тонких пленок и т. п. [c.123]

Явление нагружения и разрыва молекулярных нитей изучалось различными методами. В большинстве цитированных работ приведены оптические и электронные микрофотографии трещин серебра. Отдельные примеры воспроизведены на рис. 9.8—9.10. Результаты исследований формы трещин серебра методом интерференционной микроскопии обсуждаются в работах [15, 155, 177]. Приведем некоторые результаты, полученные путем измерений тепловых характеристик [31, 50, 184—186], путем анализа влияния молекулярной массы на образование трещин серебра [И, 15, 65, 79, 146, 178], методом акустической эмиссии [174, 188] и методом ЭПР [189—190]. [c.381]

Многолучевые интерференционные микроскопы основаны на том же принципе, но разделение одного пучка на несколько пучков усложняет их конструкцию и повышает разрешающую способность. [c.123]

Рис. 2. Микрофотографии деформированных кристаллов а — X 50 б — X 500(интерференционная микроскопия), в — X 2000 (кристалл после травления).

Двойное лучепреломление характеризуют с помощью следующих четырех основных методов трансмиссионного и компенсаторного методов, метода, основанного на использовании интерференционного микроскопа, и рефрактометрического метода. [c.206]

Появление цветной картины вызвано оптической интерференцией. Различие в цвете может возникать вследствие разницы в толщине поверхностных пленок. Следовательно, регулярное изменение цвета соответствует правильному изменению высоты поверхностей, так что они пространственно дополняют друг друга. Это свидетельствует о распространении трещины только на двух определенных уровнях. Последнее становится очевидным, если учесть, что поле напряжений симметрично относительно средней плоскости разрушения. Топографию поверхности разрушения изучали с помощью интерференционной микроскопии. [c.91]

На основании данных, полученных с помощью интерференционной микроскопии, была построена модель поверхности разрушения (рис. 11.28). Из этой модели видно, что первичная трещина имеет двухплоскостную конфигурацию и что плоскость вторичной трещины наклонена по отношению к плоскости первичной трещины. Когда вторичная трещина достигнет уровня (верхнего и нижнего) первичной трещины, эти уровни будут сосуществовать. В пределах очень малой области устанавливается двухплоскостная структура. [c.91]

Важным применением интерференционного микроскопа является определение содержимого отдельных клеток. Показатель преломления разбавленных водных растворов белков, нуклеиновых кислот и других интересных в биологическом отношении высокомолекулярных веществ пропорционален концентрации С этих растворов. Константы пропорциональности, которые иногда называют биологическими удельными инкрементами преломляемости, для различных веществ почти одинаковы среднее значение /С равно для белков 0,0018 и для нуклеиновых кислот 0,0016. Если известны показатели преломления среды (по) и раствора (и ), то, зная соответствующее значение К, можно вычислить концентрацию С раствора по уравнению [c.108]

Указанные величины определяют с помощью интерференционного микроскопа. Получаемое при этом относительное удлинение в процентах характеризует величину пластической деформации. [c.101]

Проведение опыта. Чистые поверхности, после хорошего предварительного обезгаживания в вакууме, окисляют либо О2, либо N0 при 10 мм рт. ст. в течение 2 час. Затем снимают микрофотографии, как описано в разд. 3, Б-б. С помощью интерференционного микроскопа получают детальную топографическую карту травленых поверхностей, обеспечивая при этом горизонтальность плоскостей ООО/ и вертикальность оси микроскопа. Измерение диаметра и глубины какой-либо ямки травления непосредственно дает величину требуемого отношения. [c.157]

Толщина среза определяется с помощью интерференционных микроскопов. Для этой цели существуют специальные микроскопы, к которым прилагаются соответствующие инструкции. Толщину срезов можно определять и на интерференционных микроскопах других типов. Ниже приведена методика работы с микроскопом МИС-11, применяемым в технике для определения высоты неровностей обрабатываемых деталей. [c.137]

I Интерференционная микроскопия масса ( елка на зону Ж -10 г [c.285]

Разность оптических путей измеряется так называемым методом следового смещения. Это схематически изображено на рис. 5. Следует отметить, что оптическое смещение белковой зоны измеряется относительно смещения в геле, и нет необходимости измерять его относительно смещения иммерсионной среды. На рис. 5 схематически показана часть микрогеля с белковой зоной, наблюдаемая в интерференционном микроскопе. Поскольку количества белка очень малы, то и смещение интерференционных полос внутри белковой зоны по отношению к смещению в геле тоже сравнительно мало и трудно поддается визуальной оценке, [c.289]

Отношения с Рози оставались такими же напряженными. Когда Морис вернулся из Бразилии, ему было нетрудно прийти к заключению, что она даже больше, чем прежде, ничего не хочет слышать о сотрудничестве. Поэтому в поисках утешения Морис занялся интерференционной микроскопией, пытаясь найти способ измерения хромосом. Руководителю лаборатории Рэндоллу было заявлено, что Рози следовало бы [c.86]

Микроскопичеокие исследования на металлографическом микроскопе МИМ-8 и интерференционном микроскопе МИИ-1 позволили выявить детали микрорельефа поверхности кристаллов. [c.90]

Но, во-первых, положение первого рефлекса часто соответствовало с1>344,0 пм , н этот факт не мог быть объяснен в рамках пачечно-бахромчатой модели. Кроме того, интенсивности максимумов (002) и (004) были часто аномальными в смысле их несоответствия структуре фафита. Во-вторых, конечность размеров областей когерентного рассеяния сама по себе не указывает ни на двухфазность системы, ни на ее микрогетерогенность, как это было осознано в отношении цепных (линейных) полимеров . Действительно, с помощью элекфонной и интерференционной микроскопии, фазоконтрастных методов" не было обнаружено никаких дискретных частиц - кристаллитов. Более того, оказалось, что протяженность изогнутой, скрученной, сплетенной пачки (микрофибриллы) из нескольких лентоподобных слоев (молекул) значительно превышает обычные значения для фафита, достигая [c.21]

Аналогичные изломы в околокритических по М цепях будут происходить при изменении числа складок в зародыше. Так как при малых М общее число складок в одноцепочечном зародыше невелико, происходит своего рода квантование складок, впервые описанное Ковачем с сотр. [59]. Ковач, работая с полиокси-этиленом — удобным для подобного рода опытов очень гибкоцепным и относительно низкомолекулярным полимером, наблюдал множественные переходы по числу складок, причем, зная М, он определял с помощью интерференционного микроскопа толщину ламелей и — тем самым — число складок. [c.106]

Если просмотреть под электронным микроскопом ультратон-кие срезы образцов холоцеллюлозы древесины бука после гидролиза ксиланазой, то по сравнению с исходным образцом слой 1 более электронно-проницаем, что позволяет различать целлюлозные микрофибриллы. Более прозрачны также внешние и внутренние края слоя 2, что говорит об удалении ГМЦ из этих районов. С помощью интерференционной микроскопии показано, что ксиланаза, удаляя 20—30% ксилана холоцеллюлозы ели, действует главным образом на слой 82 клеточной стенки [72]. [c.233]

При количественном методе оценки высоту микронеровностей определяют непосредственно в Нск ч I p с помощью приборов. Наибольшее распространение для количественной оценки получили щуповые и оптические приборы — профилометр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. [c.557]

В ряде работ при помощи метода реплик были изучены изменения рельефа поверхности обычных ненористых стекол в результате различных технологических операций, действия протравливающих агентов, царапания и т. д. [22—26]. Применялось комбинированное исследование поверхности посредством светового, электронного и интерференционного микроскопов [24, 25]. Вначале реплику со сравнительно большого участка поверхности рассматривали в световом микроскопе и выбирали наиболее интересные места. Затем с этих мест, фиксированных при помощи специального нриспособления, получали реплики, пригодные для электрОпно-микроскопического исследования. Для определения величины неровностей рельефа исследуемой поверхности также применялись специальным образом подготовленные реплики, которые исследовались в интерференционном микроскопе. Исследования в электронном микроскопе проводили нри небольших увеличениях, используя большую глубину резкости прибора. Эти работы показали, что электронный микроскоп может дать важные сведения о состоянии поверхностного слоя стекла и применение его весьма полезно для выяснения таких вопросов, как пластичность стекол, размягчение их при высоких давлениях, особенности процессов шлифования и полировки стекол. [c.245]

Интерференционная микроскопия наряду с такими стандартными технич. приложениями, как определение Аи и (или) степени ориентации химич. волокон и пленок, с успехом применяется для исследования диффузии растворителей в полимер (и, соответственно, для изучения кинетики набухания), сложных процессов, связанных с суперпозицией диффузии низкомолекулярного вещества и стимулированной ею кристаллизации полимера, для определения толщины монокристаллов с точностью до нескольких десятых долей нл и прецизионного измерения темп-рного коэфф. линейного расширения. В последнем случае интерференционный микроскоп играет роль дилатометра и его удобно использовать для изучения релаксационных процессов при размягчении и стекловании полимеров. С использованием специальных методов контрастирования на интерференционном микроскопе можно получать стерео-скопич. изображения, не уступающие по четкости и разрешению фотографиям, получаемым на сканирующем электронном микроскопе. Однако круг задач, решаемых этим методом, более ограничен. [c.240]

Полученные величины приводят к одной толщине среза. Толщина среза препарата определяется с помощью интерференционного микроскопа. Там, где это возможно, результаты гистофотометрии пересчитывают на одну клетку. [c.137]

Определение глубины т р"е щ и п. При точном соблюдении вышеописапной методики люминесцентный метод позволяет определять глубину трещш по ширине флуоресцирующей полосы и по времени, протекшему с момента посыпания изделия силикагелем до появления заметного свечения (время выявления) [38]. Глубина трещин предварительно определялась на двойном интерференционном микроскопе МИИ-1 системы акад. В. П. Липника, а ширина флуоресцирующих полос — на отсчетном микроскопе. Полученная закономерность дана на рис. 61, а также в таблице 24. [c.249]

ИОВ и наибольших максимумов профиля в пределах измеряемой длины (0,8 мм) или параметром Rg — средним арифметическим отклонением неровностей поверхности от,средней линии по всей длине измеряемого профиля. Шероховатость измеряется на профилометрах КВ-4, КВ-7, ПЧ-3, профилографе-про( илометре модели 201 , двойном микроскопе МИС-11, интерференционном микроскопе-МИИ-4. Кроме этого, шероховатость поверхности оценивают качественно, сравнением е образцами-этало-нами визуально или на микроскопе. [c.203]

Таким образом, объектами исследования являются белковые зоны в микрополиакриламидном геле с поперечным сечением в виде правильного (диаметр около 200 мкм) или несколько деформированного круга. Измеренный интерферометрически показатель преломления материала геля оказался равным 1,485 0,005, Показатель преломления белка приблизительно равен 1,59. Микрогель погружают в смесь глицерина и бензилового спирта с показателем преломеления, равным 1,485, Эта смесь пропитывает гель полностью, что можно заметить, рассматривая образец в интерференционный микроскоп. Погруженный гель помещается под прямым углом к интерференционным полосам. Если показатель преломления жидкой среды равен показателю преломления геля, то интерференционная картина в присутствии геля не должна искажаться. Однако обычно показатели преломления среды и геля не совсем совпадают, и интерференционная картина внутри геля претерпевает некоторое смещение (рис. 4). Это смещение (разность оптического пути в геле по отношению к оптическому пути в иммерсионной среде) зависит от толщины геля и той небольшой разницы, которая существует между показателями преломления геля и иммер- [c.287]