Фактор повторяемости

Факторы повторяемости для всех ли1 ик одинаковы. [c.104]

Тип решетки определяется вполне однозначно и в случае метода порошка (конечно, при правильном индицировании рентгенограммы), так как эти погасания характерны для большой группы линий. Сложнее обстоит дело с погасаниями, которые связаны с присутствием плоскостей скользящего отражения и особенно винтовых осей, поскольку в этом случае анализируется только небольшая часть линий, к тому же с неблагоприятным фактором повторяемости. Возьмем в качестве примера пространственную группу Р 2 2. 2. . Координаты точек, относящихся к одной правильной системе X, у, 1/2 -X, у-, 1/2+2 1/2 + ,1/2 - у,2. Х 1/2 + у, 1/2 - 2 . Нетрудно видеть, что простые соотношения для получаются только для комбинаций индексов Л 00, ОАО,00 [c.184]

Из-за большого объема ячейки есть несколько групп линий, которые не разрешаются на рентгенограмме (12 линиям из 46 можно приписать по 2-3 индекса). При этом целесообразно различать два случая 1) одна из этих линий индицируется в субъячейке, и на первой стадии определения структуры вся интенсивность приписывается этой линии, а остальным линиям приписывается нулевая интенсивность 2) все линии сверхструктурные, и интенсивность делится пропорционально факторам повторяемости (т.е. для всех линий принимаются равными). На каждой последующей стадии определения структуры величины F совпадающих линий необходимо пересчитать пропорционально f g . [c.195]

В ходе вычислений уточняется фактор повторяемости если вектор рассеяния и квадрат структурного фактора для различных наборов И, к, 1 совпали с относительной точностью 10 и 10 соответственно, то фактор повторяемости для первого набора увеличивается на единицу, а другой набор отбрасывается. [c.220]

Возникает, однако, вопрос, почему же отсутствуют в данном случае отражения с несмешанными индексами 400, 331, 313 и почему отражения 200, 220 и 311 слабее отражений 002, 202 и 113, тогда как должно быть наоборот (у первых трех отражений фактор повторяемости вдвое больше, чем у последних). [c.130]

Таблица V Фактор повторяемости плоскостей в методе порошка

Фактор) повторяемости плоскостей р [c.47]

Примечание Фактор повторяемости векторов соответствует координационным числам, т. е. количеству атомов углерода, пересекаемых координационными сферами различного радиуса. [c.49]

Смесь вольфрама (о. ц. к. решетка) с карбидом вольфрама гС (гексагональная решетка). Вольфрам, линии которого имеют высокий фактор повторяемости (до 48), можно обнаружить при содержании 0,1—0,2% линии карбида ШгС с меньшими значениями фактора повторяемости (не более 24) заметны лишь тогда, когда карбида в смеси не меньше 0,3—0,5 %. [c.280]

В стали можно обнаружить не меньше 10 % цементита (ромбическая решетка, очень низкий фактор повторяемости). [c.280]

Указания высота штрихов пропорциональна интенсивности учесть только угловой, структурный фактор и фактор повторяемости удобный масштаб по оси 1 мм—2°. [c.293]

Изучение рекристаллизации обычно ведут в камере обратной съемки с одной диафрагмой, намеренно создавая дефокусировку, чтобы легче было заметить первые уколы. Желательно для повышения чувствительности использовать линии с большим фактором повторяемости и рентгенографировать несколько участков образца. [c.369]

Нужно иметь в виду, что в зависимости от системы кристалла некоторые из отражений являются идентичными по интенсивностям. Данные, используемые для решения кристаллической структуры, должны представляться набором независимых отражений. Таблицы соответствующих факторов повторяемости для каждой кристаллической системы приведены в первом томе Интернациональных таблиц на стр. 32, 33. Например, для триклинной системы имеют место следующие соотношения [c.93]

При составлении набора дифракционных данных для триклинного кристалла необходимо выбрать только один из двух эквивалентных наборов. В кристаллах более высокой симметрии фактор повторяемости больше. Обычно измеряют все имеющиеся данные, а затем проводят усреднение для кратных отражений. [c.94]

Полное число отражений, которые можно собрать, находится путем деления объема сферы ограничений (ее радиус равен двум радиусам сферы отражений) на объем элементарной ячейки обратной решетки. Для получения числа независимых отражений следует принять во внимание фактор повторяемости системы изучаемого кристалла. [c.95]

Факторы повторяемости для всех линий ддинакоаы. В ост льных случаях (таб.п, 23-26) приведены факторы пов-горяемости уменьшенные вдвое. [c.101]

Существование хлоридных шпинельных фаз подтверждено нейтронографическими исследованиями, но интенсивности линий, вычисленные для различных вариантов упорядочения, должны различаться уже вследствие различных факторов повторяемости [см. гл. 7] для ромбоэдрической и кубической фаз у сверхструктурных (по отношению к структуре типа N301) линий. В случае кубической фазы со структурой шпинели [c.169]

Из табл. 40 видно, что факторы повторяемости для линий с индексами АО/, 00 и 00Z одинаковы в обоих дифракционных классах 3 и 3//7. Поэтому для определения координат атомов могут быть использованы проекции межатомной функции и электронной плотности на плоскость jrOz. В ромбоэдрической сингонии при ЬфЪп для одной из линий Ло/ или ЛоГ = 0 (так как h - к + I = 3/7). Это дает возможность определить 1/ э1 для линий Ло/ пркНфЪп. [c.192]

Индицирование линий, соответствующих субъячейке (в тябл-41 они отмечены звездочками) в случае К2Ц7 22 несколько затруднено тем, что относительная интенсивность линий в группах, образующихся при гексагональном искажении, не соответствует соотношениям факторов повторяемости. Впоследствии это нашло объяснение, но при индицировании вызывало недоумение несоответствие факторам повторяемости 1 200 110 201 111 вместо [c.193]

В первом методе величину параметра Дебая-Уоллера В (Г) получают из наклона прямой, аппроксимирующей экспериментальные данные зависимости а фу./ к) от квадрата вектора рассеяния при некоторой температуре Т. Здесь ф). — скорректированная интегральная интенсивность А-го максимума, обладающего фактором повторяемости гпк- Величина ф , измеряемая в этом методе [88] для пиков с разными (кЫ), будет меняться в зависимости от степени текстурованности материала. В связи с этим первый метод можно применять для исследования образцов, не обладающих кристаллографической текстурой. [c.75]

При сравнении теоретической кривой с экспериментальной (рис. 80 сверху) может возникнуть разочарование, в особенности, если учесть, что в качестве факторов повторяемости расстояний Гг/ мы брали 2 для г=3,8 и по единице для всех остальных. Может показаться, что этим путем мы добились совпадения только положениий трех максимумов, но не их формы. [c.143]

Тоблии/у 9. Фактор повторяемости аля отражающих плоскостей в решетке [c.47]

В табл. 9 и 10 приведены значешш фактора повторяемости, атомных факторов рассеяния рентгеновского и электронного излучений. В пределах допустимых отклонений расчетных значений атомных факторов углерода функции /р (X) и (X) описываются следующими аналитическими зависимостями [c.47]

Однако в формировании интерференционного максимума участвуют только те плоскости, нормали к которым образуют с падающим пучком углы от 90— О о—( Ь до 90— Оо+с О. Общее число нормалей к плоскости концы которых по-падают на сферу (количество узлов Я/С/, обратной рещетки монокристалла, образующих сферу узла ОР поликристалла), равно М-рны, где М —число зерен в облучаемом объеме V, а рш —фактор повторяемости, т.е. число плоскостей в совокупности кк1 . [c.190]

Доля кристаллитов, находящихся в отражающем положении, определяется отношением площади полоски к площади сферы = Да-ДРРй/,/4л, где p ,hi — фактор повторяемости для плоскостей hkl . [c.258]

Лучшей, чем выражение (13.7), является нормировка, предложенная А. Вильсоном, где Риы взвешивается по фактору повторяемости Мпкй [c.331]

Особой областью применения ОПФ является количественный фазовый анализ монолитных текстурованных материалов, когда вместо отношения интенсивностей двух линий (см. п. 10.3) используют отношение сумм Фнк1, определенных по ОПФ каждой фазы. Часто ограничиваются суммой взвешенных по фактору повторяемости интегральных интенсивностей всех линий каждой фазы на одной дифрактограмме и вычислением отношения этих сумм. Определение количества фазы в этом случае целесообразнее проводить по заранее построенному градуировочному графику, хотя возможно и аналитическое определение коэффициента /Сар. [c.333]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология