Лауэ классы

I. Установление сингонии и класса Лауэ (диффракционного класса) и ориентации кристаллов. [c.376]

Таким образом, точечная группа определяется по симметрии рентгенограмм лишь с точностью до центра инверсии (и равнодействующих элементов симметрии). Например, кристаллы с симметрией 2, т и 2/ш дадут рентгенограммы с одинаковой симметрией 21т. Из 32 кристаллографических групп одиннадцать содержат операцию инверсии. Следовательно, рентгенографически (по симметрии рентгенограмм) все точечные группы распределяются по 11 семействам — так называемым классам Лауэ . [c.69]

Если, например, в классе Лауэ 2/т (точечные группы 2, т или 2/т) среди отражений hkl погасаний нет, среди hkO присутствуют лишь отражения с Н = 2п, а среди 00/ — лишь с 1=2 п, то пространственная группа определяется однозначно как P2i/a (примитивная решетка, плоскость скольжения, винтовая ось). Но если срабатывает только правило среди hkQ h = 2n, то возможны как Я2/а, так и Ра. Аналогично, если действует только правило среди 00/ 1=2 п, то возможны группы P2i/m или P2i. И, наконец, если нет никаких регулярных погасаний, то возможны три группы Р2/т, Рт и Р2. [c.72]

Заметим, что по лауэграмме не всегда удается определить симметрию кристалла полностью, так как на узоре лауэ-граммы неизменно есть центр симметрии. Поэтому, например, кристаллы классов 21т, т и 2, отличающиеся только наличием или отсутствием центра симметрии, по лауэграмме неразличимы (см. табл. 7). [c.132]

Симметрия классов Лауэ [c.40]

Если, например, в классе Лауэ 2/т (точечные группы [c.72]

Однако в практике структурного анализа можно встретиться со случаями, когда применение метода рядов Фурье по тем или иным причинам затруднительно. Например, на дебаеграммах кристаллических веществ, принадлежащих к низшему из двух классов Лауэ кубической, тетрагональной, гексагональной или тригональной сингоний, нельзя разделить структурные факторы двух независимых, но накладывающихся друг на друга отражений кЫ и кМ. Это затрудняет составление ряда Фурье, но не мешает использовать метод наименьших квадратов при условии объединения в отдельных членах коэффициента достоверности Ф (см. стр. 516) суммы структурных факторов, относящихся к накладывающимся отражениям. [c.533]

Прммечание. Классы, объединенные в прямоугольную рамку, принадлежат к одному Лауэ-классу. [c.64]

Правила погасаний дают сведения о центрированности решетки и о присутствии плоскостей скользящего отражения и винтовых осей. При отсутствии регулярных погасаний сохраняется известная неопределенность остается неясным, заменяется ли в рамках данного класса Лауэ скользящее отражение на зеркальное, а винтовой поворот на простой поворот или таких операций вообще в кристалле нет. [c.72]

В принципе метод Лауэ можно использовать также для решения одной из промежуточных задач структурного исследования — установления точечной группы симметрии кристалла, или, точнее, его класса Лауэ (с учетом закона центросимметричности рентгеновской оптики— см. ниже). Для этого требуется повернуть кристалл так, чтобы с первичным пучком совпал предполагаемый элемент симметрии — ось симметрии и (или) плоскость симметрии. Тогда симметрия в расположении пятен на рентгенограмме отразит именно эти элементы симметрии. Из нескольких лауэграмм, снятых при раз- [c.68]

Поэтому ясно, что определение сложной структуры (от десятка структурных единиц на ячейку), особенно без использования ЭВМ, выполнимо только на монокристаллах, В этом случае анализ начинают со съемки лауэ- или эпиграмм. Метод Лауэ применяют для отбора подходящих кристаллов, определения сингонии кристалла, его ориентировки (если внешняя огранка отсутствует), а также для установления лауэвского класса. По данным расчета рентгенограммы кристалл ориентируют для съемки рентгенограмм вращения или качания, по которым находят величину и форму элементарной ячейки, число структурных единиц в ней, а также ее трансляционную симметрию с привлечением данных о никнометрической плотности. [c.290]

Благодаря непосредственности, с которой дифракционная симметрия обнаруживается на лауэграммах, ее часто называют лауэвской симметрией, а классы дифракционной симметрии — к л а с с а м и Лауэ. [c.256]

Гониометрические развертки подтвердили гексагональную симметрию кристаллов (класс Лауэ 6//н). Систематические погасания рефлексов приводят к двум возможным пространственным группам Р63 и Р6з/т. Параметры элементарной ячейки, а = 17.375 + +0.005, с=15.185+0.005 А плотность измеренная 1.4 г/см вычисленная на 6 формульных единиц [Ni(en)з]-81305-8.7Н2О 1.3 г/см . Измерения интенсивностей выполнены на монокристаль-ном дифрактометре со сцинтилляционным счетчиком по схеме перпендикулярного пучка методом неподвижный счетчик—вращающийся кристалл . Использовалось монохроматизированпое отражением от кристалла-монохроматора — Мо-Л -излучение. Были измерены 920 ненулевых неэквивалентных отражений [c.63]

Лауэвские классы симметрии. Симметрия рентгенограммы складывается из симметрии кристалла и симметрии фотографической пластинки. По лауэ-грамме нельзя определить наличие или отсутствие центра симметрии. В один лауэвский класс симметрии объединяются те классы, которые отличаются друг от друга только наличием или отсутствием центра симметрии. [c.65]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология