Угол Брэгга

Угол Брэгга, град [c.596]

Для исследований с монохроматическим излучением необходимо более сложное оборудование. В некоторых случаях подходящее монохроматическое излучение можно выделить с помощью металлических фильтров, но для большей надежности необходимо работать с теми же приборами, которые используются для рентгеновского флуоресцентного-анализа (см. гл. 5, раздел IVA). В этом случае первичные рентгеновские лучи служат для возбуждения вторичного излучения, которое затем диспергируется кристаллом-анализатором. Изменяя материал вторичного излучателя и поворачивая кристалл (изменяя угол Брэгга),. [c.130]

Угол Брэгга 20 — это угол между падающим и отраженным (дифрагированным) лучом. Луч, отраженный плоскостью (hkl), является также лучом, дифрагированным в направлении hkl. [c.242]

Для измерения размеров ячейки кристалла при помощи рентгеновских лучей используют монохроматический пучок, т. е. пучок рентгеновских лучей одной и той же (известной) длины волны. В качестве примера можно назвать характеристическую длину волны X = 1,5407 А рентгеновских лучей, испускаемых рентгеновской трубкой с медным антикатодом (см. разд. 4.1).-Угол Брэгга 9 измеряют для] ряда отражений от кристалла, а затем при помощи уравнения (3.8) вычисляют соответствующие межплоскостные расстояния d. В случае ромбического кристалла для определения параметров а, Ь ш с из уравнения (IV.1) необходимо знать значения d для трех отражений с известными индексами hkl. Для определения длин основных векторов и углов между ними в случав триклинного кристалла необходимо получить шесть отражений. [c.772]

Для большей части аппаратуры в области больших длин волн возникают другие проблемы. При угле Брэгга 90° блок детектора, установленный на 180°, окажется между образцом и кристаллом-анализатором. Поэтому в большинстве конструкций угол Брэгга не может превосходить 80° при этом длина волны не будет более 0,985 от ее максимального значения, определяемого уравнением (11) закона Брэгга. [c.132]

Обычно наблюдается, что, если связывающими силами в кристалле являются силы электростатического притяжения между противоположно заряженными ионами, кристалл обладает большей прочностью но сравнению с кристаллом, содержащим молекулы такой же формы, удерживаемые более слабыми силами, такими, как силы Ван-дер-Ваальса. Большая прочность и более высокие точки плавления также присущи наличию ионной связи. Слабо связанные кристаллы молекулярного соединения будут в большей степени обнаруживать тепловые движения атомов. Как указывалось, такое изменение в тепловом движении может обнаруживаться по уменьшению интенсивности рассеяния рентгеновских лучей, поскольку угол Брэгга 0 увеличивается. В таком случае можно применить интерпретации Пауэлла и Хьюза [223]. [c.75]

Кристаллы, ориентация которых разрешает отражение от плоскостей (100), приведут к образованию кругового конуса лучей с половинным углом 20юо, где через 0100 обозначается угол Брэгга для плоскостей (100). Точно так же, ориентация другого набора кристаллов делает возможным отражение от плоскостей (ПО), и эти плоскости приведут к возникновению конуса лучей с половинным углом 20ПО, где 0по — угол Брэгга для [c.129]

Решение. Проведем сначала расчет для линии спектра рентгеновских лучей с меньшей длиной волны. Она называется Z -линией. Угол Брэгга 6 для этой линии в первом приближении, как видно из рисунка, равен 5°18. Отсюда sind равен 0,0924. Уравнение Брэгга для п = 1 имеет вид [c.73]

При отражении от данного набора плоскостей решетки фаза ф волны, рассеянной атомом, определяется положецием атома относительно плоскостей решетки (рис. IV.4). Поскольку углы рассеяния и отражения равны (угол Брэгга 0), смеш вние атома параллельно плоскостям решетки не влияет на угол ф. Влияние оказывает лишь смеш енив, перпендикулярное плоскостям (рис. IV.4). Пусть и — расстояние, измеренное от данного атома до плоскости решетки, проходящей через начало системы координат элементарной ячейки, и пусть фаза волны, рассеянной от этой плоскости, равна 0. При увеличении и от О до d (расстояние между пло- скостями) фаза рассеянной волны увеличивается от О до 2пп радиан п — порядок отражения от плоскости решетки), так как волна, рассеянная одной плоскостью решетки, смещена на п длин волн относительно волны, отраженной следующей плоскостью, согласно условию (3.8). Для промежуточных значений и фаза будет иметь промежуточное значение, пропорциональное и, так что ф = 2nnuld. [c.775]

При измерении дифракционного отражения для определенной слоевой линии взаимное положение счетчика и дифракционного луча определяется двумя углами ф и у. Первый угол определяет вращение кристалла относительно оси шпинделя (нулевое положение произвольно, обычно его выбирают таким, чтобы ось обратной решетки была параллельна падающему пучку), а второй угол — положение счетчика на конусе отражений он отсчитывается от плоскости, в которой находятся пучок и ось вращения кристалла. Сравнивая рис. 45, б с вайсенбергограммой нулевой линии, можно видеть, что v = 20 (О — угол Брэгга), т. е. он является мерой вертикального расстояния пятна на пленке от экватора. Угол ф есть мера горизонтального расстояния. [c.109]

Поскольку положение дифракционных линий, для которых угол Брэгга близо-к к 90°, очень чувствительно к малым изменениям параметров решетки, для наиболее точного их определения используют дифракционные линии, соответствующие углам отражения. максимально возможной величины. Если одновременно получить дифракционные линии для большого угла от материала, пара.метры решетки которого точно известны, например подмешиванием этого материала к испытываемому, то параметры рещетки можно определить с большой точностью. Размер рентгенограмм определяют длиной волны падающего пучка, благодаря чему при удачном выборе длины волны обычно можно Д0стг1гнуть обратного отражения для больгних углов Брэгга. [c.225]

Из рис. 47 видно также, что неправильная обработка кристалла может привести к недопустимому спектральному ушире-нию монохроматического пучка. Это уширение может сопровождаться значительным возрастанием полной интенсивности отражения. Оба эффекта возникают вследствие того, что обработка преврашает поверхность кристалла в мозаику различно ориентированных участков угол Брэгга для них достигается при уста- [c.130]

Рассмотрим на этом рисунке сходящийся пучок рентгеновских лучей с длиной волны Яь угол Брэгга для оторого [по уравнению (М)] ра-вен 0i. Три отраженных луча (один от центра кристалла и по одному от каждого края) сходятся, как показано, к неточному фокусу / [. Действительно, лучи, отраженные от соседних плоскостей, пересекаются в точках, расположенных на каустической окружности , радиус которой определяется углом Брэгга. Полезная апертура кристалла ограничена допустимым несоверщенством фокусировки. [c.134]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология