Композиция эмиссионная

Композиция эмиссионная (ТУ 6-05-193—80). Готовится на основе сополимера этилена с винилацетатом. [c.17]

Определение присутствующего в исследуемой конечной композиции класса ПАВ может быть сделано на основании яда качественных химических реакций, методики проведения которых достаточно полно описаны в систематических руководствах [7, 10, 11 ]. Аналогичную информацию в ряде случаев можно получить путем съемки ИК-спектров if , определения элементного состава (С, Н, S, N, О и т. д.), состава катионов методами атомно-абсорбционного и эмиссионного анализов. При этом последних два определения целесообразно провести после разделения исследуемой композиции ПАВ с помощью экстрагирования на неорганическую (соли) и органическую (поверхностно-активные вещества, не вошедшие в реакцию полупродукты) [c.288]

Полимеры перед определением в них металлов отделяют от наполнителей, добавки экстрагируют из полимерной композиции, затем озоляют по ГОСТ 15973—82 и анализируют зольный остаток спектрально-эмиссионным или атомно-адсорбционным методом [26, гл. 20]. Обнаружение металлов в неорганических наполнителях проводят теми же методами после отделения полимерной основы композиционного материала и органических добавок. [c.26]

При сложном составе неорганической части полимерной композиции для количественного определения неорганического наполнителя можно использовать метод эмиссионного спектрального анализа золы полимера. [c.258]

Компоненты К. подбирают т. о., чтобы они химически не взаимодействовали друг с другом, имели близкие коэф. линейного термич. расширения и т-ры спекания. Прочное сцепление фаз обеспечивается добавлением небольших кол-в (до 5% ) в-в, к-рые образуют со всеми в-вами композиции хим. соединения. Изделия из К. получают гл. обр. методами порошковой металлургии, а также пропиткой керамич. пористой заготовки расплавл. металлом, осаждением ме таллов из р-ров на пов-сти керамич. частиц и др. Примен. для изготовления деталей ракетных и реактивных двигателей, металлорежущего инструмента, ядерных топливных элементов, эмиссионных катодов, щеток электротехн. коллекторов, тормозных колодок тяжелых машин. [c.253]

Анализ готовых композиций присадок к смазочным маслам и лластичных смавок неизвестного состава начинают с определения присутствующих металлов и неметаллов и качественной оценки органических веществ. Эмиссионным (по ГОСТ 9436—63 или по [530, 531 ]) или атомно-абсорбционным [532 ] методом определяют содержание А1, Ва, В, К, Na, Са, Мд, РЬ, 2п, а с помощью методов химического микроанализа — содержание К, С1, 3, Р и др. Применяя ИК-спектрометрию и, в частности метод разностных спектров для получения спектра присадки, свободного от полое поглощения базового масла, определяют присутствие основных органических веществ . Более подробную информацию получают после препаративного отделения присадки от базового масла (в пластичных смазках — загустителя от дисперсионной среды), их дальнейшего разделения на группы органических веществ и исследования различ-. ными методами (спектрометрия, хроматография и т. д.). [c.316]

Эффективность протекания фотохимических реакций зависит от правильного сочетания оптических свойств композиций, спектральных характеристик поглощения фотоускорителей и спектральных параметров применяемых источников излучения. Максимум эмиссионной полосы излучателя должен совпадать с длиной волны, вызывающей максимальное возбуждение фотоускорителя. С учетом этого эффективно применение смесей фотоинициаторов с разными максимумами возбуждения, соответствующими различны.м эмиссионны-м линиям [115]. Кроме того, эффективность протекания фотохимических реакций зависит от толщины покрытий. Установлено [26], что формирование покрытий на поверхности твердых тел сопровождается возникновением неоднородной по толщине пленки структуры, приче.м неоднородность возрастает с повышением толщины покрытий. Для того, чтобы пленка была проницае-.ма. длина волны излучения должна быть больше размера структурных элементов. [c.109]

Так как описываемый метод анализа основан, по существу, на сопоставлении абсолютных интенсивностей спектральных линий элементов, то необходимо с особой тщательностью следить за соблюдением постоянства условий возбуждения спектров и проявления спектрограмм, а также проявлять некоторую осторожность при выборе эталонов, используемых при количественных оценках содержания элементов в пробе. При работе с образцами, в состав которых входят окислы металлов и другие труднолетучие соединения элементов, можно считать, что в первом приближении результаты рентгеноспектральных определений содержания элементов не зависят от химического состава анализируемой пробы. Поэтому вообще при проведении эмиссионного рентгеноспектрального анализа с первичным методом возбуждения спектров эталонные смеси необязательно должны пол-рюстью воспроизводить композицию изучаемых образцов. Один и тот же комплект стандартов в большинстве случаев может быть применен для определения содержания данных элементов в объектах различной химической природы и химического состава. Однако при работе по методу [c.135]