Выбор величины навески пробы

Весовой анализ представляет собой сложный и иногда длительный процесс, состоящий из таких отдельных операций, как отбор средней пробы и подготовка вещества к анализу, выбор величины навески вещества для анализа, растворение навески, осаждение определяемого элемента, расчет количества осадителя и проверка полноты осаждения, фильтрование и промывание осадка, высушивание и прокаливание осадка и, наконец, взвешивание и вычисление результатов анализа. [c.187]

Под масштабами работы [2] в АХ, прежде всего, подразумевают величину взятой навески пробы (анализируемой части пробы, аналитической навески). В тех пределах, в которых возможен выбор, величина навески пробы 5 определяется применяемым методом анализа (в определенных случаях методикой анализа), относительным содержанием определяемого компонента С и другими факторами, например требуемой точностью. [c.33]

Выбор величины навески пробы для химико-спектрального анализа (при заданной чувствительности определения) [c.123]

Выбор величины навески пробы для концентрирования элементов. Хотя При концентрировании элементов можно исходить из больших величин навесок проб для анализа, но это бывает не всегда возможно. Вещества высокой чистоты, например полупроводниковые материалы, очень дороги и поэтому при анализе материалов, главным образом металлов, прошедших сложную, дорогостоящую очистку, ограничиваются величиной навески пробы I—5 г. При анализе жидких проб (вода, кислоты, органиче- [c.164]

При выборе величины навески пробы для химико-спектрального анализа можно воспользоваться несложным расчетом. Если известна минимальная концентрация элемента, уверенно определяемая в выбранных условиях прямым спектральным методом, что соответствует чувствительности метода, то для определения химико-спектральным методом заданной предельной концентрации этого элемента может быть вычислена исходная навеска для обогащения по формуле [10] [c.165]

График (рис. 101), показывающий зависимость чувствительности химико-спектрального метода от величины навески пробы для обогащения, может быть использован для рационального выбора навески пробы и метода концентрирования. [c.165]

Выбор величины навески желательно производить на основании полуколичественных спектральных данных о содержании германия в пробе. При содержании германия менее 0,001 % берут навеску 0,5 г, при содержании от 0,001 до 0,005% —0,2 г, от 0,005 до 0,01 % — —0,1 г, более 0,01% —0,05 г. [c.179]

Определение следов элементов люминесцентным методом включает подготовку анализируемого вещества к анализу и оценку интенсивности люминесценции. Подготовка вещества к анализу состоит из отбора пробы, выбора величины навески, переведении вещества в форму, пригодную для проведения анализа. Все эти операции принципиально не отличаются от известных, применяемых при колориметрическом методе анализа . [c.215]

Металлические порошки обычно представляют собой неоднородные дисперсные системы, частицы которых не могут быть измельчены путем растирания. Отчасти такими свойствами обладают и порошки шлаков, содержащие частицы и корольки металла. Поэтому отбор и приготовление представительной пробы и выбор величины оптимальной навески при анализе металлических порошков и шлаков представляют трудную задачу, которую в настоящее время нельзя считать полностью решенной. [c.7]

Относительная среднеквадратичная погрешность при многократных независимых определениях К для одинаковых навесок одной и той же пробы не превышала 0,6%. Для уменьшения статистической погрешности в определении величины ц навеску выбирали так, чтобы отношение /о// лежало в пределах от 3 до 30. При этом погрешность [при числе импульсов в отсутствие образца N0 около (6-Ь8) 10 ] равна 0,5—0,3%. Кроме того, такая навеска обеспечивала достаточную представительность образца, не изменяя заметно спектрального состава проходящего через пробу излучения. Правильность выбора навесок проверяли экспериментально (рис. 38). Как видно из рисунка, К имеет наибольшие значения для навесок 0,25—0,45 г (поверхностная плотность 0,4—0,75 г/см ). При малых навесках из-за неоднородности образца К уменьшается. То же наблюдается и при высоких поверхностных плотностях из-за присутствия в спектре излучения источника линии А /Ср (25 кэВ), влияние которой усиливается с возрастанием фильтрации излучения. [c.113]

График, показывающий зависимость чувствительности хими-ко-спектральпого метода от величины навески пробы для обогащения, может быть использован для рационального выбора навески пробы и метода концентрирования элементов, т. е. этот график облегчает, до известной степени, программирование исследования. [c.122]

Выбор величины навесок. Ошибка за счет самопоглоще-ния нейтронов значительно снижается при использовании небольших кювет (расстояние между стенками кюветы 5 мм). При навеске 50 г присутствие в пробе 2,5% В2О3, 5% Ь 20, 2,5% 0с120з вносит ошибку 10—12%, а при навеске 5 г мешающее действие практически отсутствует [554б [c.116]

Опыт спектрального качественного и полуколичественного анализов показал, что величина навески в 30—40 мг бывает достаточной для достижения обычных чувствительностей, принятых в стандартных методах спектрального анализа мине ральных образований. В зависимости от величины навески и петрографо-минералогического состава пробы подбирается глубина, ширина и форма угольного электрода. При выборе формы угольного электрода надо учитывать соотношение между толщиной стенки канала (электрода) и величиной сжигаемой пробы. Очень тонкая стенка может сгореть быстрее, чем сама проба, что нежелательно, так как в таком случае расплавленная проба, не имея опоры, может легко выпасть из угля. Этого необходимо избегать для предотвращения потери при анализе некоторых элементов. [c.79]

В зависимости от содержания СаО в пробе количество N320 и К2О находят по калибровочному графику, при выборе которого необходимо учитывать не только содержание СаО в пробе, но и величину взятой навески. [c.47]

Спектры эталонов и образцов фотографировались по 4 раза в оптимальных условиях, полученных после математического планирования эксперимента. С целью сокращения поисковой стадии выбора оптимальных условий анализа был использован метод Бокса—Уилксона [2]. С помощью этого метода было выяснено влияние трех факторов расхода газа, состава газа, времени экспозиции на величину отношения интенсивности линии определяемого элемента к фону. При планировании эксперимента была выбрана матрица типа 2 . В результате математического планирования были взяты следующие условия анализа пятиокиси тантала сила тока 15 а, навеска пятиокиси тантала 40 мг. разбавление пробы углем 4 3 (навеска угля 30 мг), время экспозиции 110 сек, расход газа 12,5 л1мин, состав газа 70% аргона+30% кислорода. [c.22]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология