Линия симметрии

Сигма (а)- и пи (я)-связи. ст-Связь проявляется между двумя атомами по прямой линии, соединяющей центры атомов и совпадающей с осевой линией симметрии электронных облаков (рис. 64, а). Обычно эта связь называется ординарной связью. Однако между атомами может осуществляться кратная связь двойная или тройная. Например, для этилена СзН характерна двойная связь НзС СНа, с помощью которой соединяются два [c.114]

Приведена независимая по углу ф область (карта имеет линии симметрии при ф, = 180 и ф = 180°). Крестиком обозначена экспериментально найденная конформация [c.91]

В общем случае петля плоской сетки будет параллелограммом (рис. 78, а). Однако ввиду того, что кристаллические решетки могут обладать разной симметрией, то и плоские сетки могут иметь разные оси (в проекции точки) и плоскости (в проекции линии) симметрии. [c.56]

При получении электронограммы от поверхности шлифа чрезвычайно важным бывает уметь точно находить центр дифракционной картины, который всегда попадает в область тени. Ранее английские исследователи (Томсон и др.) пользовались для этого следующим способом. После получения самой электронограммы объект отодвигается с -пути луча и при действии последнего фотопластинка поднимается или опускается, что дает на ней черту. Если провести перпендикулярную к черте линию симметрии электронограммы, то пересечение их обеих и укажет на центр картины. [c.111]

Другое существенное отличие рентгенограммы качания заключается в ее симметрии. Четыре симметрично расположенных пятна рентгенограммы полного вращения являются следствием отражения от одного и того же семейства плоскостей, проходящего последовательно через четыре отражающих положения. Ясно, что при качании в небольшом интервале углов данное семейство плоскостей может, в лучшем случае, дать одно из четырех пятен. Таким образом, рентгенограмма качания не обладает в общем случае теми двумя взаимно перпендикулярными линиями симметрии, которые присущи рентгенограмме полного вращения. [c.206]

Предположим, что кристалл обладает плоскостью симметрии, параллельной оси вращения, я расположен в исходном положении таким образом, что эта плоскость параллельна, кроме того, первичному пучку лучей. Допустим, что это исходное положение кристалла является средним положением в интервале углов качания. Тогда, если при повороте по часовой стрелке какое-либо семейство плоскостей проходит через отражающее положение, то при последующем обороте на тот же угол против часовой стрелки в отражающем положении окажется семейство плоскостей, связанное с первым симметрическим преобразованием отражения. Таким образом, на рентгенограмме появится пара пятен с координатами ху и ху. Рентгенограмма будет иметь вертикальную (перпендикулярную слоевым линиям) линию симметрии (рис. 129, в). [c.207]

Если первичный пучок падает не перпендикулярно оси вращения, рентгенограмма сохраняет лишь вертикальную линию симметрии. Расстояние между нулевой и +я-ной слоевой линией перестает быть равным расстоянию между нулевой и —п-ной линией. [c.328]

Часто выявление основных прямых можно провести вовсе без всякого расчета. Если параллельно оси вращения кристалла располагается плоскость симметрии, одна из двух основных прямых рентгенограммы должна являться линией симметрии рентгенограммы. Если таких плоскостей две (ромбический кристалл), обе основные прямые располагаются вдоль линий симметрии. [c.363]

Рассмотрим теперь плоскость решетки кристалла, параллельную первичному пучку. Каждое кристаллографическое направление этой плоскости является осью некоторой зоны плоскостей (рис. 252, а). В обратной решетке зонам соответствуют перпендикулярные им узловые сетки. Эти сетки имеют разных наклон к первичному пучку, пересекаясь по общему направлению, перпендикулярному рассматриваемой плоскости кристалла (на рис. 252, б перпендикулярному плоскости чертежа). При пересечении со сферой отражения каждая из сеток создает конус лучей все эти конусы имеют общую образующую (направление первичного пучка) и все оси конусов лежат в одной плоскости. В этом случае вместо серии пересекающихся в одной точке зональных кривых на лауэграмме возникает серия вставленных друг в друга зональных кривых, т. е. кривых, касающихся друг друга в центральной точке рентгенограммы и имеющих общую линию симметрии. [c.395]

Юстировка осуществляется легко и с большой точностью, если кристалл обладает плоскостью симметрии, перпендикулярной устанавливаемому направлению (или, в соответствии с законом Фриделя, если само это направление является осью симметрии четного порядка). В этом случае верхняя и нижняя части рентгенограммы должны быть симметричны. Выберем два пятна, связанных горизонтальной линией симметрии и расположенных вблизи средней вертикальной линии, проведенной через центральное пятно. Различие в расстоянии этих пятен от линии симметрии определяется продольным отклонением е ц юстируемого направления от оси вращения. На рис. 274 верхнее пятно Л 1 является отражением от плоскости 1—1, образующей угол йо с плоскостью симметрии кристалла и угол 1= 0 о—е ц с первичным пучком. Нижнее пятно N2 является отражением от симметрично расположенной плоскости 2—2, образующей тот же угол б о с плоскостью симметрии и угол 2= о+Е 1 с первичным пучком. Следовательно, [c.420]

Углы отражения 1 и вг находятся по обычным формулам из расстояний Ь и рассматриваемых пятен от линии симметрии рентгенограммы [c.420]

Ось симметрии (линия симметрии — л. с.) [c.57]

В общем случае спектр системы АВ состоит из четырех пиков, причем два центральных пика более интенсивны, чем два боковых. Спектр симметричен относительно центра, поэтому во многих случаях удобнее измерить расстояние между эталоном и линией симметрии АВ-спектра, а химические сдвиги ядер А и В измерять уже относительно этой линии (рис. 1У-3). [c.150]

НОЙ ординате. В случае зеркальной симметрии эти частоты в сумме должны дать удвоенную частоту Vg линии симметрии. [c.42]

Рассмотрим несколько простых рисунков, которые легко получаются применением операций симметрии к цифре t как основному элементу. Можно, например, записать цифру 7 и ее отражение от вертикальной линии, получив при этом фигуру, изображенную на рис. 1. Каждая семерка является зеркальным отображением другой, т. е. если бы одну из семерок поставить перед зеркалом, то ее отражение выглядело бы, как показано на рисунке. Отражение предмета от линии симметрии является одной из возможных операций повторения. Если бы на рис. I отсутствовала вертикальная линия, то можно было бы сказать, что [c.11]

Линии сечения, являющиеся линиями симметрии для наложенных или вынесенных сечений [c.32]

Фрикция оказывает существенное влияние на картину течения. При равных скоростях вращения валков (фрикция отсутствует, 4 = 1) наблюдается полная симметрия потока. По линии симметрии скорости частиц имеют нулевые значения, так же как и по линии образования запаса. С увеличением фрикции наблюдается смещение линий тока. Область противотока смещается в сторону тихоходного валка тем сильнее, чем выше фрикция (см. рис. 8, б) при этом происходит также смещение центра одного из завихрений в сторону от оси симметрии. Фрикция позволяет значительно улучшить качество смешения. Однако линии тока все же остаются замкнутыми и вальцевание материала на вальцах с фрикцией не отвечает полностью требованиям, предъявляемым к идеальному смесителю. [c.35]

Здесь — частота поглощаемого света Тд—симметричная частота люминесценции Уо—частота линии симметрии, имеющая смысл частоты электронного перехода О" О (рис. 184). При этом по оси ординат для спектров поглощения откладываются коэффициенты поглощения а, а для спектров люминесценции — квантовые интенсивности /кв = //V. [c.414]

В этом случае верхняя и нижняя части рентгенограммы должны быть симметричны. Если выбрать два пятна, связанных горизонтальной линией симметрии и расположенных вблизи средней вертикальной [c.208]

Элементы симметрии этих двумерных решеток сводятся к следующим центр инверсии 1 (или, что то же самое для]двумерного случая, ось симметрии второго порядка, перпендикулярная к плоскости решетки), линия симметрии /п ( след плоскости симметрии, перпендикулярной к двумерной решетке, или двойная ось, проходящая вдоль этой линии), линия скольжения 2 (след плоскости скольжения, или двойная винтовая ось, проходящая вдоль этой линии) и, разумеется, простая трансляция t. [c.95]

В рассматриваемых косоугольных и прямоугольных сетках особые (специальные, частные) положения могут принять только такие плоские фигуры, которые обладают либо центром инверсии, либо одной или двумя линиями симметрии. Эти фигуры могут быть размещены в особых положениях, так как центр инверсии или линия симметрии фигуры могут быть совмещены с такими же элементами симметрии сетки. Про фигуру, расположенную таким образом, говорят, что она обладает симметрией в двумерной решетке. [c.103]

Фигуры, обладающие одной линией симметрии, можно укладывать в трех группах симметрии 21(т) и (1)Дот) . В первой из них [c.103]

Фигуры с симметрией т не могут быть упакованы с координацией 6 при отсутствии ограничений, накладываемых на их расположение в исходной цепи. Упаковка с координацией 6 возможна в слоях симметрии 2х т) и ( ) m)t при условии такого расположения фигур, чтобы линия симметрии фигуры была перпендикулярна к оси цепи. [c.107]

Если в поперечном сечении трубы имеются адиабатные поверхности , являющиеся линиями симметрии температурного поля, то модель выполняется не для всего поперечного сечения трубы, а для его части, как показано иа рис. 8.5. Электрическое питание осуществляется от источника иостоян-иого тока, замер потенциалов производится 26 [c.403]

Вычислена [38, 66] полная матрица для системы, состоящей из двух пар двух эквивалентных ядер. Примем прежде всего, что вследствие симметрии Уав = Уд в, а Уд в = Улв - В систерле имеется 4 слабых комбинированных перехода и 24 перехода, которые можно отнести к А или к В. Набор из 12 Л-линий во всех случаях представляет собой зеркальное изображение набора из 12 В-линий. Симметрия спектров А2В2 и А2Х2 в значительной степени облегчает их идентификацию. В спектре А В 6 из 12 Л-линий можно определить непосредственно из матрицы, но остальные 6 линий требуют решения детерминанта четвер- [c.302]

Картина будет нагляднее, если следить за движением нормали к отражающей плоскости. При вращении кристалла она опишет конус вокруг оси вращения. Плоскость будет отражать только в те моменты, когда угол между первичным пучком и нормалью к плоскости будет равен 90°—О, где 0 определяется уравнением Брегга—Вульфа. Из рис. 126 очевидно, что нормаль проходит четыре раза через положения, при которых она составляет такой угол с первичным пучком два раза одним своим концом и два—другим. В соответствии с этим плоскость будет четыре раза в отражающем положении, и на пленке возникнут четыре пятна. Эти пйтна будут расположены симметрично (и, очевидно, будут иметь одинаковую интенсивность) если координаты одного пятна ху, то остальные будут иметь координаты ху, ху ху. Таким образом, рентгенограмма вращения всегда обладает двумя взаимно перпендикулярными линиями симметрии (и центром симметрии в точке их пересечения) [c.201]

Расчет рентгенограмм качания, снятых на медном излучении при вращении кристалла вокруг осей X и 1, дает а=5,72 А, с= 10,37 А число молекул в элементарной ячейке N = 2. Наличие горизонтальной линии симметрии на рентгенограмме, снятой при вращении вокруг оси X, доказывает, что мы имеем дело с дифракцион-нмм классом А1ттт. [c.341]

В заключение рассмотрим пример индицирования вейсенбергограммы. На рис. 230 изображена вейсенбергограмма нулевой слоевой линии, снятая с кристалла [Р1(КНз)5С1]С1з-Н20 при вращении его вокруг оси 2. По гониометрическим данным этот кристалл принадлежит к дитригональ-но-пирамидальному виду симметрии тригональной сингонии. На рентгенограмме отчетливо видны косые плоскости симметрии. Они отмечены буквами А я В. Расстояние (по горизонтали) между ближайшими плоскостями равно 15 мм, что соответствует углу в 30° (прибор имеет константу С=1/2). Таким образом, нулевая узловая сетка обратной решетки имеет шесть линий симметрии под углами в 30° друг к другу. Это исключает дифракционный класс Сд =3 и подтверждает до известной степени гониометрические данные. [c.364]

Для разделения этих погрешностей следует учесть, что Р — величина постоянная, а 2 Да представляет собрй синусоидальную функцию. Проведя линию симметрии относительно синусоиды, мы получим график погрешности 2Да (заштрихованная часть). Ордината линии симметрии определит погрешность р. [c.204]

Необходимым условием для выполнения симметрии-,,частотг является тождественность. колебательных, уровней нормального, и возбужденного электронных состояний и равенство- частотш линии симметрии частоте электронного перехода. Предполо--жим, что молекула проста и. ее спектры поглощения и излуч,ег ния линейчатые. Такое упрощение вполне оправдано, так ка№ позволяет легче установить необходимые закономерности, ж перенести их хотя бы в качественном виде на случай реаль нш% молекулы. [c.53]

Сформулированную выше двумерную задачу теплопроводности Путс 162] решил с помощью интегрального метода. Точность получаемого решения в значительной мере зависит от того, насколько правильно удастся угадать форму профиля температур и линии затвердевания для всего времени протекания процесса. Ввиду того, что в данном случае исследуемая область обладает многими линиями симметрии, формы кривых, принятые автором, по-видимому, близки к истинным. Заметим, что начало процесса характеризуется соотношением [c.92]

Таким образом, строить двумерные цепи можно при помощи трансляции t, при помощи линии скольжения, или, что то же самое в двумерном случае, оси 2 (это истинные трансляции) и при помощи псевдотрансляций — бесконечной последовательности линий симметрии (m)f, бесконечной последовательности центров инверсии (1)с и чередующейся последовательности причем этот перечень относится и к сеткам высшей симметрии (гексагональным и тетрагональным). [c.96]

Действительно, рассмотрим прежде всего группы с линией симметрии. Будем исходить из какой-либо плоской цепи фигур произвольной формы и применять к ней псевдотрансляцию линиями симметрии. Вполне очевидно, что при этом любая фигура касается лишь одной фигуры в соседней цепи. Таким образом, во всех группах с линиями симметрии будут возникать слои с координацией 4. Примеры этих плоских слоев показаны на рис. 47—51" [c.99]

Если фигура обладает двумя линиями симметрии и занимает частное положение в решетке, то она теряет все степени свободы. Как это с очевидностью следует из рис. 55, а, фигуры такой симметрии и произвольной формы образуют упаковку с координацией 6 в плоской группе (/и1) 21 с центрированной ячейкой. Фигуры этой симметрии могут также упаковываться в слой (/н)Дт)Дтот]. Однако здесь координация 6 при произвольной форме фигуры невозможна фигуры будут либо перекрываться во второй цепи (рис. 55, б), либо перестанут касаться в первой (рис. 55, в). [c.103]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология