Фриделя закон

НОРМАЛЬНОЕ РАССЕЯНИЕ И ЗАКОН ФРИДЕЛЯ [c.218]

Закон Фриделя не позволяет, в частности, определить абсолютную конфигурацию молекул. [c.220]

Теперь можно показать, что в общем случае аномального рассеяния для структур, не имеющих центра симметрии, не выполняется закон Фриделя. Действительно, [c.222]

В чем состоит закон Фриделя [c.226]

Почему из закона Фриделя следует невозможность различить дифракционную картину энантиомеров [c.226]

Закон Фриделя при условии Х<Хк (Ал— длина волны собственных переходов) дифракционная картина имеет центр симметрии (нормальное рассеяние) /(Н)=/(Н), где / — интенсивность рассеянных рентгеновских лучей от монокристалла Н — радиус-вектор узла обратной решетки Н = —Н. [c.279]

Закон Фриделя не позволяет определить абсолютную конфигурацию молекул. так как /я(Н) =/в(Н) =/я(Н) =/я( Н). [c.279]

Закон Фриделя можно рассматривать как частный случай принципа Неймана всякое физическое явление обладает определенной собственной симметрией, которая накладывается ( умножается ) на симметрию кристалла. В данном случае собственная сим.метрия рентгеновской оптики — операция инверсии. [c.69]

Как уже отмечалось, закон Фриделя нарушается, если рентгеновские лучи попадают в область аномального рассеяния атомами одного из (или ряда) элементов, входящих в состав кристалла. Эта область определяется близостью длины волны рентгеновских лучей к краю К- или -полосы их поглощения элементом если X края элемента несколько больше, чем X лучей, то рассеяние лучей атома.ми этого элемента сопровождается небольшим изменением их начальной фазы. Этот дополнительный сдвиг по фазе отражается, естественно, и на результирующей амплитуде дифракционного луча. [c.80]

А. Закон Бравэ — Фриделя [c.331]

По мнению авторов, это второе обобщение закона Бравэ — Фриделя, вероятно, применимо к тем структурам, в которых ясно выраженная псевдосимметрия проявляется только на одной избранной проекции однако в целом структура может не показывать различимой псевдосимметрии. [c.335]

Юстировка осуществляется легко и с большой точностью, если кристалл обладает плоскостью симметрии, перпендикулярной устанавливаемому направлению (или, в соответствии с законом Фриделя, если само это направление является осью симметрии четного порядка). В этом случае верхняя и нижняя части рентгенограммы должны быть симметричны. Выберем два пятна, связанных горизонтальной линией симметрии и расположенных вблизи средней вертикальной линии, проведенной через центральное пятно. Различие в расстоянии этих пятен от линии симметрии определяется продольным отклонением е ц юстируемого направления от оси вращения. На рис. 274 верхнее пятно Л 1 является отражением от плоскости 1—1, образующей угол йо с плоскостью симметрии кристалла и угол 1= 0 о—е ц с первичным пучком. Нижнее пятно N2 является отражением от симметрично расположенной плоскости 2—2, образующей тот же угол б о с плоскостью симметрии и угол 2= о+Е 1 с первичным пучком. Следовательно, [c.420]

Важнейшее искусство в деле составления патентов — это способность сделать патентные притязания (т. е. юридическую монополию) как только можно более широкими, с тем чтобы помешать конкурентам обойти патент, однако при этом необходимо придерживаться золотой середины между двумя крайностями — алчностью и чрезмерной осторожностью. Так, например, если открыта реакция, катализируемая хлоридом железа, исследователь поинтересуется, как ведут себя применительно к этой реакции хлорид алюминия и, возможно, фтористый водород, не только потому, что они могут оказаться лучшими катализаторами, но также и потому, что в случае, если они оказывают хотя бы какое-то каталитическое действие, можно будет обосновать широкое патентное притязание на технологический процесс, осуществляемый с помощью катализаторов типа Фриделя-Крафтса . Но если конкурирующая фирма установит, что какой-то из катализаторов типа Фриделя-Крафтса полностью неэффективен, то подобное широкое притязание потеряет законную силу на этот [c.190]

Центры инверсии, выявление по максимумам межатомной функции—445 Центры инверсии, выявление по статистике отражений—158 Центросимметричности (Фриделя) закон— 10, 312 [c.625]

I pqr И IpqT также всегда одинаковы . Сказанное означает, что дифракционная картина, даваемая любым кристаллом, всегда центросимметрична независимо от того, содержится ли в действительности операция инверсии в точечной группе симметрии кристалла. Это общее правило называется законом центросимметричности рентгеновской оптики (закон Фриделя). [c.69]

Дифракционные лучи ккЫШ имеют одинаковые амплитуды и противоположные фазы. Поскольку / , оба луча имеют одинаковую интенсивность. В этом и заключается одно из двух положений, содержащихся в законе Фриделя о центросимметричности рентгеновской оптпки (см. с. 69). [c.80]

НИИ центра инверсии в начале координат. Это вытекает из рис. 35 (атомы / и / связаны как вектором ы,-/ так и вектором = — ,/, из формулы (45) (возможность замены переменных / наг—и без изменения результата) и, наконец, из формулы (46) (косинус — центросимметричная функция). Результат и не мог бы быть иным, поскольку по закону Фриделя дифракционный эффект центросимметричен, а паттерсоновская функция основана только на экспериментальных дифракционных данных. [c.94]

Фридель [20] проверил эту гипотезу, изучая морфологию минералов. Во многих случаях ему удалось найти решетки, у которых межплоско-стпые расстояния удовлетворяют зависимости, предложенной Бравэ поэтому он назвал эту зависимость эмпирическим законом. В настоящее время она известна как закон Бравэ — Фриделя. [c.331]

Второе обобщение закона Бравэ — Фриделя, сделанное Дж. Доннеем и Г. Донней [86], подробно обсуждено этими же авторами на примере минералов колумбита РеНЬгОб [87] и барита ВаЗО [88]. В этих работах был сделан следующий общий вывод если морфология кристалла не может быть объяснена в соответствии с законом Доннея — Харкера ни одной пространственной группой, то в элементарной ячейке должны быть некоторые центры со случайными значениями координат. Эти центры могут представлять собой центры молекул, отдельных атомов или ансамблей ионов. [c.357]

Попытку установления связи между геометрическим подходом и теорией цепей периодических связей можно найти в статье Гартмана [90]. Исходя из концепции роста слоями, автор указывает, что минимальная толщина слоя роста определяется периодом, через который происходит повторение поверхностной структуры грани (/гк/). В общем случае этот период является межплоскостным расстоянием йинь но иногда он может представлять собой и часть величины ёььг- В последнем случае поверхностные структуры не совсем идентичны, но очень сходны благодаря своего рода псевдосимметрии или случайным значениям координат некоторых атомов. Отсюда происходит упомянутая выше связь с обобщением закона Бравэ — Фриделя, предложенным Дж. Доннеем и Г. Донней. [c.357]

Так как Fhki обращается в нуль, когда h, k и I не целые числа, можно заменить интегрирование дискретным суммированием. Учитывая равенство модулей структурных факторов для двух противоположных направлений с индексами hkl и h — k — l (закон Фриделя), получаем p xyz) в форме действительного числа [c.243]

Ацилирование по Фриделю — Крафтсу в тех случаях, когда кинетика может быть легко прослежена, часто подчиняется тому же общему кинетическому закону, что и алкилирование Скорость = [АгН] [R O l] [А1СЬ] [c.160]

В [12-15] использована идея аппроксимации электронной плотности металла Пе г) простыми аналитическими выражениями. Рассмотрим по-лубесконечный кристалл в предположении, что заряд его ионной решетки размазан и образует однородный положительный фон с плотностью заряда еп+, которая резко обрывается на некоторой плоскости (граница фона ). Обычно принимают эту границу на расстоянии /2 от крайней плоскости решетки, проведенной через центры положительно заряженных ионов так, чтобы электрическое поле, усредненное по макроскопической области, стремилось к нулю как внутри, так и вне металла д, — межплос-костное расстояние кристаллической решетки). Распределение электронной плотности для такой модели, получаемое различными самосогласованными методами представляется в виде кривой, затухающей вне металла по экспоненциальному закону. Внутри металла вблизи поверхности электронная плотность испытывает осцилляции Фриделя, связанные с волновыми свойствами электронов и затухающие с глубиной металла. Двойной электрический слой, возникающий благодаря отличию электронной плотности от нуля за формальной границей фона г = 0), приводит к тому, что электростатический потенциал за пределами поверхности р оо) будет отличаться от потенциала внутри металла Таким образом, вылетая за пределы металла, электроны должны преодолевать электростатический барьер высотой [c.51]

ИЗ двух типов слоев атомов, Л и В. Если закон Брэгга удовлетворяется для последовательных слоев любого типа А, А, А... или В, В, В...), то волны, диффрагируемые слоями В штриховые линии), отстают от волн, диффрагируемых слоями А (сплошные линии), как это представлено на схеме // эти волны интерферируют, и результатом их взаимодействия является волна, проведенная сплошной жирной линией. Отражение от противоположной грани кристала Ик1 показано на схеме III. Здесь волны от слоев В обгоняют волны слоев А как видно на схеме /У, суммарная волна IV) отличается от суммарной волны (//) только не поддающимся определению фазовым углом поддающаяся измерению величина, амплитуда (или интенсивность), остается той же самой. Такое соотношение является нормальным и описывается законом Фриделя Рнн — Рш, и соответствующие [c.75]

Закон центросимметричности закон Фриделя) [c.250]

Закон Фриделя не является абсолютным. Он перестает быть справедливым в области аномального рассеяния атомов, т. е. в тех случаях, когда длина волны рентгеновских лучей несколько меньше края полосы поглощения одного из элементов исследуемого кристалла. Нарушение закона центросимметричности происходит вследствие фазового скачка б при рассеянии рентгеновских лучей атомами этого элемента. О существовании этого скачка уже упоминалось при обсуждении процесса рассеяния рентгеновских лучей электронами (стр. 150 и 152). [c.252]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология