Анализаторы рентгеновские

Анализатор рентгеновский флуоресцентный для количественного анализа горных пород, руд, продуктов их обогащения и других материалов ТУ 25-05-1504-73 [c.239]

Анализатор рентгеновский портативный ТУ 25-05-1835—75 [c.239]

Рис. 11-20. Анализатор рентгеновского излучения с энергетической дисперсией а —образец облучается непосредственно гамма-лучами радиоактивного источника б —на образец попадает только рентгеновское излучение, испускаемое флуоресцирующей мишенью, возбуждаемой первичным гамма-излучением.

Пластинки с полученными таким образом искусственными органическими кристаллами могут быть в дальнейшем изогнуты по цилиндру и использованы в спектрографах в качестве анализаторов рентгеновских лучей в мягкой области спектра (<20А). [c.20]

В качестве анализатора рентгеновских лучей в спектрометре используется такой же кристаллодержатель с кристаллом, как и в спектрографе РСК-3. Он укрепляется на специальном столике спектрометра так, как это показано на рис. 49. [c.112]

Также применимы другие спектроскопические методы. Идентификация нескольких термопластов, например ПК, АБС, ПП, ПС, ударопрочного ПС и ПВХ может быть получена с помощью ИК-Фурье анализа, основанного на тех же принципах [37]. Под гамма-излучением молекулы ПВХ с высокой молекулярной массой, содержащие атомы хлора, выделяют возвратный квант рентгеновского излучения, легко улавливаемый анализатором рентгеновской флуоресценции. Полиолефины, у которых молекулярная масса намного ниже, испускают слабый сигнал обратного рассеяния, который едва заметен на рентгеновском анализаторе и поэтому полиолефины могут быть легко распознаны и отделены [16, 38]. Компания предложила технологию автоматической идентификации и сортировки использованных полимеров, в которой при составлении рецептуры полимера в нее включается флуоресцирующий краситель для полимера каждого типа — свой. Эти красители, которые легко регистрируются, можно добавлять в незначительных количествах 5 г на 1 т полимера достаточно для идентификации диодным устройством [39]. [c.340]

Современные приборы для МРА представляют собой растровые электронные микроскопы, оснащенные анализаторами рентгеновского излучения. Анализируемый участок поверхности выбирают, наблюдая изображение объекта во вторичных, отраженных или поглощенных электронах. Кроме анализа в точке растровая система позволяет получить распределение интенсивности излучения данного элемента вдоль выбранного направления на поверхности образца. Это делает метод МРА особенно полезным для контроля за концентрационными профилями катализаторов, получаемых пропиткой носителей растворами соединений каталитически активных элементов. Как известно, свойства таких катализаторов заметно зависят от равномерности распределения активных компонентов по зерну. Установить характер распределения элементов, концентрация которых составляет доли процента, другими методами анализа чрезвычайно сложно. [c.220]

Плаг тины-монохроматоры и анализаторы. Высокая светосила германиевых монокристаллов обусловливает целесообразность применения их в качестве монохроматоров и анализаторов рентгеновского излучения. Полученные образцы ленты нашли применение в тех случаях, когда предпочтителен анализатор с определенным радиусом кривизны, достигаемым в результате пластического изгиба [248]. На основании сказанного ясно, какое большое значение имеет организация промышленного производства лент германия. [c.150]

В результате взаимодействия электронного зонда с веществом возникают различные типы сигналов, изображенные на рис. 7.2, которые могут быть использованы для исследования объекта. В зависимости от регистрируемого сигнала различают следующие основные виды электронно-зондовых устройств просвечивающие микроскопы и электронографы (упруго отраженные или рассеянные электроны), растровые микроскопы (отраженные, вторичные, поглощенные электроны, катодолюмннес-ценция, возбужденная проводимость), микрорентгеноспектральные анализаторы (рентгеновское излучение), Оже-электронные [c.223]

Анализатором рентгеновских лучей в каждом из этих приборов служило устройство, состоявшее из 50 плоских, слегка повернутых друг относительно друга кристалликов кварца, вблизи отражающей поверхности которых располагали не прозрачный для рентгеновских лучей клин. Таким образом, каждый из кристаллов анализатора мультикристалл-спектрометров Дю-Монда и Киркпатрика отражал рентгеновские лучи в условиях, аналогичных тем, которые имеют место в спектрографах, работающих по методу Зеемана. Все 50 плоских кристалликов прибора ориентировали один относительно другого таким образом, чтобы монохроматические лучи после отражения их от поверхности кристалла пересекались в одной точке или в небольшой узкой области пространства. Это будет иметь место, если кристаллы расположены так, что продолжения их поверхностей (в случае, представленном на рис. 1,а) или нормалей к ним (рис. 1,6) пересекаются в одной точке. Если обозначить это расстояние буквой то сфокусированные прибором пучки монохроматических лучей различных длин волн будут располагаться на одной общей окружности, радиус которой равен Совмещая с этой окружностью — так называемой окружностью изображения — фотопленку, можно зарегистрировать на ней достаточно узкие линии рентгеновского спектра, характеризующие радиацию, излучаемую поверхностью антикатода рентгеновской трубки спектрографа. Очевидно, что ширина [c.9]

Значительный интерес, проявляемый в последнее время к мономолекулярным слоям (МС), обусловлен их весьма широким применением для решения ряда научных и технических проблем. Особое место занимают полимолекулярные слои, получаемые при переносе МС на твердую основу по методу Лэнгмюра—Блоджетт [1, 2]. Однако, несмотря на их широкое применение (3—7], вопросы механизма и условий переноса МС на твердую основу, характер образующихся структур, состав первоначального МС и его физико-химические характеристики не являются пока достаточно изученными. Так, например, д,чя получения наилучших рабочих параметров анализаторов рентгеновского спектра, создаваемых на оснойе регулярных поли-молекулярных слоев солей жирных кислот, необходимо максимальное превращение кислоты в ее соль. Это достигается обычно изменением pri раствора- подкладки , на поверхность которого наносится МС жирной кислоты. Анализ состава МС, снятых с поверхности раствора при различных значениях pH может оказаться полезным при выборе оптимальных условий получения анализаторов рентгеновского спектра. Однако имеющиеся в литературе данные по составу таких МС немногочисленны [6, 11], а рекомендуемые оптимальные значения pH в ряде случаев противоречат друг другу [5, 6]. [c.85]

Это 5ке явление, по нашим наблюдениям, оказывает некоторое влияние и на интенсивность линий рентгеновских спектров, получаемых в спектрографах, в которых изогнутые кварцевые пластинки используются в качестве анализаторов рентгеновских лучей. Снятые с интервалом в 3 месяца и проявленные в стандартных условиях спектрограммы от одного и того же веш ества заметно отличались друг от друга интенсивностью и основных лпнин спектра п общего фона. Так как основная серия опытов, о которых речь будет итти ниже, проводилась в течение нескольких лет, то было необходимо выяснить, не появляется ли, по мере увеличения за время опытов интенсивности окраски кристалла, систематическая ошибка в измерениях. [c.55]

Наибольший объем внедрения новой технологии достигнут для германия. Отработана промышленная технология получения кристаллов в виде лент, пластин, труб, стержней круглого сечения, в том числе технология группового выращивания. Развита методика выращивания крупногабаритных цилиндрических монокристаллов с диаметром до 300 мм. Изучено влияние технологических факторов и легирования на форму, структуру, особенности распределения примесей и электрические свойства профилированных кристаллов. Для контроля электрических свойств профилированных кристаллов потребовалось разработать специальные методы измерени удельного сопротивления и коэффициента Холла. Установлено, что структура и свойства выращиваемых в промышленных условиях профилированных монокристаллов германия обеснечивают возможность их применения для изготовления высокочастотных транзисторов, тензорезисторов, монохроматоров и анализаторов рентгеновского излучения, подложек эпитаксиальных структур, для инфракрасной оптики и оптоэлектроники, в качестве подложек для термического разложения моногермана. Для дальнейшего совершенствования структуры и свойств профилированных кристаллов германия необходимы более детальные исследования распределения в них легирующих примесей в процессе кристаллизации способом Степанова. [c.255]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология