Бреггит

Уравнение Вульфа—Брегга. Русский физик Г. В. Вульф дал наглядное объяснение отклонению рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллическое вещество. Он показал, что рассеивание рентгеновских лучей атомами можно рассматривать как отражение рентгеновских лучей от параллельных атомных плоскостей кристалла. [c.112]

Брегга (рис. 64). Не меняя угла скольжения (т. е. сохраняя условие Вульфа— [c.113]

Если известен диаметр цилиндрической пленки и расстояние между симметричными линиями на ней, то определяют углы скольжения. Значения межплоскостных расстояний определяют по уравнению Вул ьфа—Брегга. [c.115]

Межплоскостные расстояния d вычисляют по уравнению Вульфа—Брегга, переписав его следующим образом [c.127]

Внутренняя структура кристаллов и аморфных твердых гел стала доступной для экспериментального изучения благодаря использованию для этой цели рентгеновских лучей (метод Вульфа — Брегга, 1912). [c.19]

Испытания во всех случаях проводили на смеси бензол — дихлор )тан, число теоретических тарелок определяли при помощи номограммы Брегга (см. рис. X. 41). [c.208]

Измерение ШРР ориентированных поликристаллических образцов позволяет не только определить степень ориентации главной цепи, но также и ориентацию двух других кристаллографических осей. Пусть монокристалл состоит из кристаллических ячеек с кристаллографическими осями а, Ь VI с (будем считать для простоты, что эти оси взаимно перпендикулярны, как в орторомбической решетке полиэтилена). Можно считать, что плоскости образованы вершинами кристаллической решетки, которые играют роль отражателей импульсного рентгеновского излучения. Результирующий эффект взаимного усиления отраженных импульсов от последовательных плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d, зависит в соответствии с законом Брегга от угла 0, под которым рентгеновское излучение попадает на отражающую кристаллографическую плоскость [c.72]

Брегга), будем вращать кристалл вокруг оси первичного пучка. Отраженный луч, очевидно, опишет в пространстве конус с углом при вершине, равном 40. Другое семейство плоскостей этого же кристалла даст такой же конус, но уже с иным углом при вершине и т. п. Если на пути отраженных лучей перпендикулярно первичному пучку поставить фотопластинку, то на ней зафиксируется ряд концентрических колец по числу семейств атомных плоскостей, отражающих рентгеновские [c.113]

При замене монокристалла поликристаллическим веществом из-за беспорядочного расположения отдельных кристаллов всегда найдутся такие, у которых рассматриваемое семейство плоскостей будет удовлетворять уравнению Вульфа—Брегга. [c.113]

В основе рентгенографического анализа лежит уравнение Вульфа— Брегга, связывающее угол 0 падения или отражения на атомную плоскость рентгеновского луча с его длиной волны л и величиной межплоскостного расстояния й [c.74]

Из квадратичной формы для кубической лы (3) Вульфа — Брегга следует [c.94]

Число и характер пространственного распределения разрещенных направлений рассеяния (дифрагирование) рентгеновских лучей определяются законом Ю. Вульфа и У. Брегга (1913), который выражается соотношением [c.116]

Для получения спектра рентгеновских лучей в рентгеноспектральном анализе используют их дифракцию на кристаллах (или на штриховых дифракционных решетках) при таких малых углах 0 (1 —12°), что рентгеновские лучи испытывают отражения, как бы скользя по поверхности отражающего кристалла. Угол 0, образованный падающим или отраженным лучом и поверхностью кристалла (или дифракционной решетки), назван углом скольжения. Отраженные лучи, как и рассеянные, дифрагируют на структуре отражающей поверхности, и получившаяся дифракционная картина подчиняется закону Вульфа — Брегга (см. уравнение (4.3)]. [c.124]

На рис. 5.12 приведена принципиальная схема рентгеновского спектрометра с изогнутым кристаллом. Как видно из рисунка, первичные рентгеновские лучи из источника падают на исследуемый образец, вызывая вторичное флуоресцентное излучение. Часть излучения через диафрагму подается под малым углом на поверхность изогнутого кристалла и под углом скольжения отражается от него. Поскольку этот угол в соответствии с уравнением Вульфа— Брегга должен быть различным для компонентов излучения с разными длинами волн X, отраженные от изогнутого кристалла лучи, будучи сфокусированными на кольцевой экран (см. пунктирную окружность), образуют на нем спектр (см. точки а, б, в). Этот [c.125]

Оценки показывают, что показатель преломления рентгеновских лучей меньше единицы и отличается от единицы на несколько миллионных. Проведенный расчет относится к кристаллу и аморфному веществу того же состава и плотности. При возникновении селективных отражений нужно учитывать их взаимодействие с первичным пучком, что приводит к небольшим отклонениям от простой формулы Вульфа — Брегга. [c.93]

Многие направления развития экспериментальных методов структурных исследований были намечены уже в первых работах М. Лауэ, В. Л. Брегга, П. Дебая и других исследователей, однако эта область физики твердого тела непрерывно развивается и совершенствуется. [c.111]

Почти одноиремемпо с Вулы[)ОМ к такому же выводу пришли английские физики отец и сын Брегги. [c.112]

Рис. 1.77. Схема, поясняюшая вывод уравнения Брегга — Вульфа.

Уравнение (1.66), выведенное одновременно и независимо в 1913 г. Бреггом (Англия) и Ю. В. Вульфом (Россия), является основным соотношением, используемым для определения строения кристаллов. [c.142]

Число теоретических тарелок можно определять также по упрощенной номограмме (рис. X. 41), составленной Бреггом [64] для смеси бензол — дихлорэтан. При помощи этой диаграммы число теоретических тарелок находится как разность значений коэффициентов рефракции или плотностей проб соответственно из колбы и конденсатора. [c.205]

С помощью данных, полученных методом дифракции рентгеновских лучей, Сикка получил среднее брегговское расстояние бре1т 0,48 нм для неутомленных пленок ПС, которое на 0,01 нм больше, чем для утомленного образца (2500 циклов воздействия). Этот отрицательный сдвиг брегг. по-видимому, был надежно определен. Его связали с уменьшением внутри-фенильных и межфенильных расстояний. Усталость по истечении 2500 циклов нагружения также обнаруживалась по изменению динамических механических потерь [144]. На рис. 8.42 [c.296]

Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

По найденным для каждого пика значениям 0 и известной длине волны Я применяемого рентгеновского излучения определяют величины межплбскостного расстояния <1, используя уравнение Вульфа— Брегга (величина п — порядок отражения, принимается в этом случае равной 1) или чаще соответствующие справочные таб- [c.83]

Если исследуемый кристалл, помещенный на пути монохроматического (Я= onst) рентгеновского луча, поворачивать вокруг перпендикулярной к лучу оси и, таким образом, ставить поочередно систему плоскостей кристалла в отражающее положение, то наблюдается полная картина рассеяния. Дифракционную картину можно получить и без вращения образца, используя источник с непрерывным спектром рентгеновского излучения. В этом случае для всех систем плоскостей кристалла в непрерывном спектре обязательно найдется длина волны Я, удовлетворяющая закону Вульфа — Брегга. [c.116]

В методе порошка, или дсбаеграмм, используют монохроматическое рентгеновское излучение. Поликристаллический образец помещают на пути узкого рентгеновского луча (рис. 5.7, а). Поскольку в порошке имеются кристаллы любой ориентации по отношению к лучу, всегда найдутся такие кристаллы, положение которых отвечает условию Вульфа — Брегга. В конечном итоге все те кристаллики в порошке, которые имеют соответствуюище межплоскостные расстояния ( 1, 2, 3,. ..,d , попадают по отношению к падающему лучу в отражающее (но не гасящее) положение. Отраженные лучи образуют конус со строго определенным углом расхождения. [c.118]

Селективный дифракционный максимум для кангдого семейства плоскостей (/ / 2 3) кристалла представляет собой острый пик. При угле падения — до, где Оо — угол, удовлетворяющий формуле Вульфа — Брегга, все отраженные волны находятся в фазе. Амплитуды отраженных волн складываются, и интенсивность в максимуме пика пропорциональна квадрату числа частиц кристалла. Измерить интенсивность в максимуме пика экспериментально чрезвычайно трудно, так как при небольшом отклонении угла О = Оо -- е от брегговского угла Од будет регистрироваться интенсивность на крутом склоне пика, которая значительно меньше максимальной. При измерении интенсивности отражения от [c.83]

Если di — угол отражения, соответствующий видоизмененному за счет преломления закону Вульфа — Брегга (см. н. 2), то Msindi = тл — до- Вычитая это выражение из (IV.22), получим [c.95]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология