Волны отраженные

Диафрагма частично пропускает волну давления, частично ее отражает. Эффект применения диафрагмы зависит от места ее установки и получается наибольшим, если волны, отраженные от диафрагмы и от конца трубопровода, взаимно смещены на половину периода. Установка дроссельной диафрагмы с отверстием, обычно составляющим 0,25 площади сечения трубопровода, приводит к значительному (иногда пятикратному), но не всегда достаточному ослаблению колебания. Диафрагмы целесообразно выполнять с эксцентричным отверстием, смещенным до касания с отверстием трубопровода. Такие диафрагмы лучше отражают акустическую волну и при установке на горизонтальном участке трубопровода не препятствуют стоку конденсата и масла. Устанавливают их в разъемах между фланцами и, вследствие простоты такого устройства, часто применяют для устранения резонансных колебаний, обнаруженных при пробном пуске компрессора. [c.274]

Во всех дисперсных системах наблюдается светорассеяние, В грубодисперсных системах это явление объясняется отражением света от поверхности дисперсных частиц. При этом длина волны отраженного света соответствует длине волны света, поступающего от осветителя, т. е. окраска облучаемой системы та же, что и окраска луча света, исходящего от осветителя. [c.275]

Выбор угла наклона преобразователя для возбуждения поперечных и продольных волн определяется полнотой прозвучивания контролируемого объема, например, наплавленного металла сварного соединения. При этом следует учитывать возможность использования волн, отраженных от поверхности изделия противоположной поверхности ввода. Лучше всего применять в этом случае поперечные волны, падающие на отражающую поверхность под углом больше третьего критического, чтобы не возникала трансформация волн. [c.186]

Для уяснения физической сущности волн в пластинах рассмотрим вопрос образования нормальных волн в жидком слое. Пусть на слой толщиной h (рис. 1.4) падает извне плоская продольная волна под углом р. Линия AD показывает фронт падающей волны. В результате преломления на границе в слое возникает волна с фронтом СВ, распространяющаяся под углом а н претерпевающая многократные отражения в слое. При определенном угле падения волна, отраженная от нижней поверхности, совпадает по фазе с прямой волной, идущей от верхней поверхности. Определим углы р (или а sin p/ i = sin a/ j, где i и С2 — скорости звука в средах), при которых происходит такое явление. [c.26]

Уравнение Шредингера для стационарных состояний сходно с уравнением для колебания струны, закрепленной с двух концов. Состояние колеблющейся системы в этом случае представляет собой картину так называемых стоячих волн . Их можно получить, если, например, встряхнуть прикрепленную к стене веревку за свободный конец. Распределение амплитуд приобретает постоянный характер в результате сложения волны, бегущей от руки к стене, с волной, отраженной от стены. Возникает система узлов , в которых амплитуда равна нулю, и пучностей , в которых она достигает максимальной величины. [c.59]

Как отмечалось в 1.1, пучок параллельных лучей получить невозможно, в реальных условиях возникают расходящиеся пучки лучей. Рассмотрим такой пучок, состоящий из лучей продольной волны. Отражение и преломление каждого луча происходит по тем же законам, что и для плоской волны, однако для каждого луча имеется своя плоскость падения. [c.41]

Используют дельта-метод, который состоит в регистрации волн, трансформированных на дефекте. Применяют два преобразователя (рис. 3.5), один из кото- Дельта-метод рых А излучает поперечную волну, а другой В принимает продольную, возникшую на дефекте, а также продольные волны, отраженные от дна изделия. Возможно изменение функций преобразователей на обратные, использование поперечной волны, отраженной от дна изделия, и другие варианты. [c.197]

Теперь рассмотрим две волны, отраженные от атомов, находящихся в двух соседних плоскостях кристаллической решетки. Как видно из рис. 70, волна, рассеянная атомом нижней плоскости, у [c.183]

Вращая последний, можно изменять угол 0 и, следовательно, длину волны отраженных лучей. [c.784]

По уравнению (33.6) легко подсчитать, что если, например, пользоваться кристаллом из фторида лития (2i/ = 0,4026 нм) и изменять посредством поворота кристалла угол 0 в пределах от 10 до 80°, то длины волн отраженных лучей будут находиться в пределах [c.784]

Известно [102], что при прохождении светового луча из оптически менее плотной среды в более плотную фаза световой волны, отраженной от поверхности раздела сред, изменяется скачком на величину я. Наоборот, при прохождении светового луча из более плотной среды в менее плотную фаза отраженной световой волны остается неизменной. Так как разность фаз между лучами А ж В [она определяется путем, пройденным лучом В в пленке, и равна I = 2л А 00 В — О А) 2п1% Пх Н os фх] незначительно отличается от я, то лучи А ж В практически гасят друг друга, т. е. оптическая отражаемость таких пленок очень мала. Вследствие этого в отраженном свете на светлом фоне такая пленка выглядит черной (оптически прозрачной), отсюда они и получили название черных . [c.110]

Дальнейшее изучение рис. 19.12 показывает, что плоскости (Ш), которые пересекают по диагонали решетку хлористого натрия, содержат только ионы натрия или только ионы хлора. Таким образом, плоскости (111)—чередующиеся плоскости, состоящие из ионов натрия и ионов хлора. Следз ет напомнить, что максимальное отражение рентгеновских лучей происходит под таким углом, когда их пути мел<ду последовательными слоями ионов равны длине волны отраженного-излучения. Если лучи отражаются от этих плоскостей под таким углом, что лучи от последовательных плоскостей с ионами хлора отличаются по длине пути на длину волны, то лучи, идущие от последовательных плоскостей с ионами натрия, расположенных на равных расстояниях, будут отличаться на половину длины волны и вызывать интерференцию. Интерференция была бы полной, если бы не тот факт, что ионы хлора имеют больше электронов, чем ионы натрия, и рассеивают рентгеновские лучи сильнее. Однако в случае плоскостей (222) лучи, отраженные от плоскостей хлора, отличаются от лучей, отраженных от плоскостей натрия, на целую длину волны таким образом, интерференция не наблюдается и отражение (222) является интенсивным. Отражение (333) вновь соответствует разнице в половину длины волны между двумя рядами отражающих плоскостей, поэтому интерференция, а также тот факт, что спектр третьего порядка, естественно, слабее, обусловливают очень слабое отражение. [c.578]

Чтобы найти распределение электронной плотности в элементарной ячейке кристалла, необходимо найти фазы рентгеновских волн, отраженных кристаллом в различных направлениях. Для определения фаз рентгеновских отражений применяются специальные методы. Если удается определить фазы всех рентгеновских отражений, можно достаточно точно определить картину распределения электронной плотности в кристалле. Если удается найти фазы лишь некоторой части рентгеновских отражений, то картина распределения электронной плотности будет довольно размытой и нечеткой. Мы будем иметь нечто подобное изображению предмета, рассматриваемого в микроскоп при плохой фокусировке. [c.545]

Допустим, что на решетку (а) падают лучи под таким углом 0, что происходит отражение от серии плоскостей с межплоскостным расстоянием д,. В сложной структуре (б) под таким же углом 0 также будет происходить отражение, там как этот угол зависит только от величины межплоскостного расстояния й (одинакового для случаев а и б). Разница будет заключаться в следующем. Для всех плоскостей одной системы (например, А) отраженные лучи будут находиться в одинаковой фазе друг с другом. То же, конечно, будет и в отношении системы В плоскостей. Однако отражения от системы А и системы В, в общем случае не будут находиться в одинаковой фазе, гак что общая амплитуда волн, отраженных от обеих систем плоскостей, будет меньше, чем в том случае, если бы атомы А и В располагались в одних и тех же плоскостях в испытуемом направлении, т. е. если бы величина X была равна 0. Если величина х будет равна 72 , то отражения четного порядка от плоскостей А и В будут иметь одинаковую фазу, а отражения нечетного порядка будут иметь противоположные фазы и поэтому будут погашены, т. е. пятна на рентгенограмме будут отсутствовать, если А и В — атомы одного и того же элемента. Если атомы А и В принадлежат разным элементам, то такие отражения будут максимально ослаб- [c.113]

Для возбуждения волны Лэмба наклонным преобразователем необходимо, чтобы возникала интерференция прямой волны и волны, отраженной от донной поверхности пластины. Этот вопрос будет рассмотрен далее. [c.27]

При изменении угла наклонного преобразователя эти импульсы будут перемещаться по линии развертки. Когда угол падения совпадет со значением, соответствующим возбуждению одной из мод нормальной волны, прямая волна и волна, отраженная от донной поверхности пластины, совпадут по фазе и в результате их интерференции сигналы группы сольются в один сигнал с большой амплитудой. Время прихода максимума амплитуды этого сигнала будет отвечать групповой скорости для соответствующей моды. [c.29]

Возможна также диагностика состояния поверхности, основанная на повышенных нелинейностях контакта двух шероховатых твердых тел. В экспериментах регистрировалась вторая гармоника волны, отраженной от зоны контакта. При отражении от свободной шероховатой поверхности амплитуда гармоники была пренебрежимо малой. Если же к поверхности прилагалась хорошо отполированная пластинка и прижималась давлением Рст, вторая гармоника уверенно регистрировалась. Наличие прижимающего усилия вызывало появление и рост сигнала на частоте 2со. Зависимость амплитуды этого сигнала от давления Р(Рст) имела характерный максимум. При больших Р , формировался хороший акустический контакт [c.127]

Метод основан на использовании дифракции на дефекте 3 (рис. 2.79, а) поперечной волны от преобразователя 1 с трансформацией в продольную и приемом ее преобразователем 2. Принимают как продольную волну, возникшую непосредственно в результате дифракции на дефекте, так и волну, отраженную от дна ОК. Возможен обратный вариант излучение продольной волны преобразователем 2 с трансформацией ее в поперечную на дефекте и приемом преобразователем I. На рис. 2.79, а показан основной вариант. [c.251]

В случае плоскостного дефекта (слева) оба сигнала возникают в результате дифракции волн на краях дефекта и их амплитуды приблизительно равны. Правда, амплитуда эхосигналов продольной волны, принятой непосредственно после дифракции на дефекте, больше, чем волны, отраженной после дифракции от дна изделия, поскольку последняя проходит больший путь. [c.365]

То же явление можно объяснить тем, что волны Лэмба обусловлены резонансными процессами в слое - интерференцией волн, отраженных от обеих его границ (см. разд. 1.1.2), - а резонансы всегда сопровождаются резким уменьшением мо- [c.493]

После третьего отражения продольной волны наблюдается появление эхо-сигнала С поперечной волны. Это объясняется тем, что, несмотря на применение фокусировки, продольная волна расходится и после нескольких многократных отражений падает на внутреннюю поверхность трубы под достаточно большим углом. В результате отражения она расщепляется на продольную и поперечную волны. Отраженные волны проходят тот же путь в обратном направлении с трансформацией на внутренней поверхности поперечной волны в продольную. [c.790]

С длиной волны. Вогнутое зеркало лучше выполнять массивным, например из стали или свинца, с потерями 10—25%- Поглощающий материал типа свинца благоприятен тем, что он не допускает возвращения прошедших волн, отраженных от других границ. Параболические зеркала выгоднее сферических, так как у них даже и краевые лучи попадают в фокус. Линзы без аберрации должны иметь форму эллипсоида. [c.71]

Совмещенные искатели могут выполняться и наклонными. У наклонных искателей с одним излучателем для продольных волн ввиду сравнительно малого угла клина особенно неблагоприятно проявляется проблема мешающих отражений от поверхности контакта, поскольку эти отражения снова попадают в излучатель. Напротив, у совмещенного искателя для продольных волн разрешающая способность в ближнем поле может быть существенно лучшей, чем у искателей с одним излучателем, так как звуковые волны, отраженные во входном участке излучателя, не попадают на приемник. Головные волны могут применяться только при совмещенных искателях. [c.244]

Затухание упругих волн в твердых телах обусловлено истинным поглощением, связанным с переходом механической энергии в тепловую, и рассеянием волн на границах кристаллитов, в результате которого волна дополнительно ослабляется в направлении распространения за счет возникновения множества волн, отраженных от границ во всех направлениях. Коэффициент затухания соответственно может быть представлен двумя слагаемыми [c.44]

В практике УЗ-контроля давно было замечено ослабление донного сигнала трещиной, параллельной направлению распространения УЗ-волны. Оно связано с образованием волн дифракции. При распространении волны вдоль трещины часть энергии волны в результате взаимодействия с берегами трещины расходуется на излучение двух волн под углом 56,5° к трещине (для стали). Волна, отраженная от дна, также порождает дифракционные волны. Амплитуды этих волн возрастают с увеличением высоты трещины и для крупных трещин могут превышать амплитуду донного сигнала. Часть энергии дифракционных волн, отраженных от вершины трещины, регистрирует указанный преобразователь. [c.146]

Дельта-способ (способ 4) применяют в том случае, если приемник продольных волн расположен над дефектом (при контроле сварных соединений - над выпуклостью сварного шва, которую обычно защищают). Для плоскостного дефекта амплитуда эхо-сигналов продольной волны, принятой непосредственно после дифракции на дефекте, больше, чем волны, отраженной после дифракции от дна изделия. [c.248]

На свободной поверхности уровня при механическом воздействии возникают поперечные волны [103, 247], особенно отчетливо заметные в случае спокойного псевдоожижения. Образование, распространение и затухание волн, отражение их от стенок сосуда и интерференция аналогичны соответствующим явлениям на поверхности капельной жидкости. [c.366]

В свете этого рассмотрим падение сферической волны от источника О на границу раздела сред (рис. 1.13). На большом расстоянии от источника каждый луч можно приближенно рассматривать как плоскую волну и применять к нему полученные выше закономерности отражения и преломления для плоской волньг. Для лучей ОА и ОВ, угол падения которых меньше критического, происходит обычное отражение и преломление волн. Отраженные лучи как бы распространяются из мнимого источника О. [c.38]

Волну, отраженную от дефекта, можно представить в виде интеграла Фурье по волновому вектору к. Такое представление означает, что, зная спектральный состав волн, отраженных по всем направлениям от дефекта, можно построить точное изображение дефекта. Для достаточно полного представления образа дефекта необходимо изучить спектр частот отраженного сигнала в диапазоне /тах//тш=3. .. 5 при изменении углов отражения от дефектов в пределах 90... 120°. Практическая реализация этого направления изучения формы дефекта идет пока по двум путям изучение зависимости амплитуды сигнала от направления рассеяния (инди-катриссы рассеяния) и изучение спектрального состава сигнала. Первое направление прорабатывается более широко, так как не требует создания специальной широкополосной аппаратуры. [c.197]

Таким образом, каждое семейство атомных плоскостей будет давать ряд отражений в зависимости от того, какие значения принимает п (1, 2, 3 и т. д.), чтобы sin0 не превышал единицы. Соотношение (V.5), называемое уравнением Вульфа — Бреггов, является основным расчетным уравнением рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Зная межплоскостные расстояния и углы скольжения, можно по уравнению (V.5) вычислить длины волн отраженного рентгеновского излучения (рентгеноспектральный анализ). А зная длину волны монохроматического или характеристического рентгеновских излучений и углы скольжения, можно вычислить межплоскостные расстояния (рентгеноструктурный анализ). [c.114]

Теперь рассмотрим две волны, отраженные от атомов, находящихся в двух соседних плоскостях кристаллической решетки. Как видно из рис. 67, волна, рассеянная атомом нижней плоскости к моменту формирования фронта волны, пройдет дополнительное расстояние 2iisin9, т. е. между волнами, рассеянными атомами разных плоскостей, будет существовать разность хода и тем самым смещение по фазе. В общем случае, поскольку рассеяние происходит от большого числа плоскостей, это приведет к взаимному гашению волн, и отражение наблюдаться не будет. Однако если эта разность хода окажется кратной длине волны рентгеновского излучения, то волны, рассеянные атомами разных плоскостей, будут отставать друг от друга на целое [c.161]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет dl2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия на величину i/sinS. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 43,52 , чем под тремя остальными углами. Расстояние от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. [c.163]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет //2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия, на величину 51п0. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 48,52°, чем под тремя остальными углами. Рассеивание от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и нуклеиновые кислоты. [c.185]

Такая структура в различной степени отражает свет разных длин волн. Если отраженный свет относится к видимой области, то холестерические жидкие кристаллы будут казаться окрагпенными. Длина волны отраженного света пропорциональна шагу спирали. Отраженный свет является дополнительным к прошедшему, это проявляется в красивой радужной окраске таких жидких кристаллов. При изменении температуры изменяется щаг спирали, меняется и цвет отраженного света поэтому холестерические жидкие кристаллы можно использовать в качестве температурных сенсоров ( чувствителей ) . Смена окраски, охватывающая всю область видимого спектра, от фиолетового цвета до красного, у [c.143]

Голографическая интерферометрия — высокочувствительный бесконтактный метод измерения перемещения поверхности детали или узла конструкции. Сущность его состоит в сравнении световых волн, отраженных поверхностью предмета в различных состояниях нагружения. Волны интерферируют и записываются голографически на специальной пленке, давая в зависимости от перемещения определенную картину полос. Этим методом можно исследовать динамические процессы, в частности вибрации. Для получения голограммы используют специальную оптическую схему, в состав которой входит лазер, как мощный источник когерентного освещения. [c.22]

При рассмотрении вопроса об отражении рентгеновских лучей от поверхности кристаллов (стр. 26) предполагалось, что длины волн отраженных лучей совпадают с исходными. Однако Комитон [32], изучая рассеяние рентгеновских лучей твердыми телами, нашел, что в отраженном луче появляется излучение с длинами воли, большими чем в падающем пучке. Это явление, необъяснимое с точки зрения волновой теории света, было вскоре объяснено самим Комптоном с помощью квантовой теории. Поскольку энергия кванта рентгеновского излучения (/гv) очень велика по сравнению с энергией связи электрона в рассеивающем твердом теле, эффект Комптона обычно рассматривается как явление соударения падающих фотонов и свободных электронов. Электрон, рассеивающий рентгеновское излучение, получает энергию отдачи , достаточную для его вылета из твердого тела. [c.126]

Первый рентгеновский спектрометр был построен Брэггами в начале XX века. Рентгеновские лучи от источника проходят через последовательно расположенные входные щели. Далее пучок уже параллельных лучей попадает на кристаллическую пластинку под углом ф. Кристалл может вращаться вокруг некоторой оси так, что при его повороте угол падения излучения на кристалл меняется. При различных углах ф от кристалла будут отражаться рентгеновские лучи с различной длиной волн отраженные лучи попадают далее на фотопленку или в счетчик рентгеновских квантов [26]. [c.168]

Для наклонного преобразователя действует еще один фактор, уменьшающий мертвую зону. В хорошо сконструированном преобразователе волны, отраженные от границы призма - ОК, не возвращаются на излучающе-принимающую пьезопластину. У такого преобразователя мертвая зона уменьшается почти до нуля. Однако полностью устранить влияние отраженной волны на принимающую пластину, как правило, не удается. [c.234]

В теле с параллельными граничными поверхностями получают не только одно отражение (эхо) от задней стенки, но при достаточно большом диапазоне измереиий светящегося экрана целую серию многократных отражений с одинаковыми промежутками (рис. 10.4). Такие отражения получаются потому, что волна, отраженная один раз от задней стенки, при ее подходе к передней стенке отдает искателю только небольшую часть своей Энергии. Следовательно, она при отражении от передней стенки з гухает лишь слабо и проходит в контролируемый образец йо второй раз и т. д. Тот факт, что многократные отражения йОслсдаватёльно уменьшаются по высоте, объясняется тем, что энергия.отводится не только искателем, но и теряется при зату- [c.198]

Если боковые границы раздела не плоские, а, например, цилиндрические, как при продольном контроле пруткового материала, то под их влиянием происходит еще и фокусировка боковых отраженных волн. Фокусировка проявляется особенно сильно, если прозвучиваиие ведется в направлении оси цилиндра. Волна, отраженная от цилиндрической поверхности, иногда создает на оси гораздо более высокие звуковые давления, чем прямая волна, так [c.343]

Падающая под углом поперечная волна в алюминии дает отраженную под /глом I поперечную волну, отраженную под углом aJ продольную волну и прошедшую под углом а продольную волну в воде (константы приведены на рис. П.2> [c.668]

В технологических агрегатах, использующих газовые струи, дутьевое устройство (сопло) часто имеет торец, который является экраном, отражающим собственное акустическое излучение струи. Эффект акустической обратной связи [1, 2] оказывает воздействие на динамические характеристики струй [3, 4], которое прп определенных условиях [5] может быть существенным. В настоящей работе. являющейся развитием работы [6], из.тагаются допо.тнитель-ные результаты экспериментального исследования влияния на течение в турбулентном дозвуковом следе струи резонансного самовозбуждения струи звуковыми волнами, отраженными от торца соила. [c.59]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология