Монохроматические рентгеновские

На рис. V, 1 изображена зависимость от угла интенсивности рассеивания монохроматического рентгеновского излучения жидким аргоном, являющимся примером простейшей одноатомной жидкости. Кривая рассеяния имеет экстремумы и повторяет в размытом виде кривую рассеяния для твердого аргона. [c.161]

Пусть на кристалл падает пучок монохроматических рентгеновских лучей, образуя угол О с одним из семейств атомных плоскостей (рис, 63, а). Луч 5 , попадая на атомную плоскость Р , отразится от нее в направлении 5. Второй луч 8о, пройдя первую атомную плоскость (на основании свойства рентгеновских лучей проникать через вещество), отразится от плоскости Р, и также выйдет в направлении 5 и т. п. Отраженные параллельными атомными плоскостями лучи будут интерферировать между собой и в зависимости от их фазового соот- [c.112]

Пусть некоторое семейство плоскостей в кристалле образует с падающим пучком монохроматических рентгеновских лучей угол 6, удовлетворяющий уравнению Вульфа — [c.113]

Пусть узкий пучок монохроматических рентгеновских лучей с длиной волны % падает на совокупность большого числа кристалликов. Каждый из них может быть охарактеризован набором семейств параллельных плоскостей с определенными межплоскостными расстояниями (рис. XXX. 5). При взаимодействии рентгеновских лучей с кристаллическим веществом возникает дифракционная картина, максимумы интенсивности которой удовлетворяют уравнению Брэгга [c.356]

Метод вращения монокристалла. При этом методе объектом съемки в монохроматическом рентгеновском излучении является образец в виде монокристалла размером обычно 0,2— [c.78]

Более полную информацию о структуре кристаллов можно получить, пользуясь методом вращения. Суть его состоит в том, что монокристалл, помещенный на пути монохроматического рентгеновского луча, равномерно вращается вокруг оси, совпадающей с одним из наиболее важных кристаллографических направлений в кристалле, и перпендикулярно к правлению луча (рис. [c.119]

Дифракционные методы связаны с изучением углового распределения рассеянного без потери энергии излучения. С помощьк> дифракционных методов, использующих в качестве излучения монохроматические рентгеновские лучи (рентгеноструктурный анализ), нейтроны (нейтронография), электроны (газовая электронография), определяют зависящее от геометрии молекул угловое распределение интенсивности рассеяния данных видов излучения. [c.127]

При прохождении света через узкую щель происходит дифракция световых лучей, при которой они способны интерферировать, т. е. усиливать или поглощать друг друга. При этом между длиной волны излучения, углом падения лучей и постоянной дифракционной решетки существуют простые соотношения, вытекающие из волновой теории света. Именно эти закономерности и лежат в основе так называемых дифракционных методов изучения структуры кристаллов. В настоящее время применяют два основных метода получения дифракционных рентгенограмм кристаллов порошковый и метод вращения кристалла. И в том и в другом методе используют монохроматическое рентгеновское излучение. Анализ получаемых рентгенограмм не всегда прост, тем не менее удается определить не только размеры и форму элементарной ячейки, но и число частиц, входящих в ее состав. Так, ориентируя кристалл определенным образом, можно установить постоянные решетки,а следовательно, и размеры элементарной ячейки. Зная плотность кристалла, можно рассчитать массу эле- [c.91]

В методе вращения кристалла пользуются монохроматическими рентгеновскими лучами (т. е. с определенной длиной волн). Монохроматический луч падает на плоскость кристалла, вращаю- [c.57]

На рис. 22, а изображен ряд одинаковых равноотстоящих (точечных) атомов. На него направлен пучок монохроматических рентгеновских лучей. Рассмотрим суммарный эффект рассеяния лучей атомами в разных направлениях. Вдоль направления, продолжающего первичный пучок Л о, путь от источника в точку наблюдения через любой атом одинаков лучи, рассеянные атомами, совпадают по фазе. Лучи, рассеянные атомами в других направлениях (. ], N2 и т. д.), проходят различный путь и поэтому не совпадают ио фазе. Если разность фаз лучей, рассеянных соседними атомами, в некотором направлении Л г составляет б (рис. 22, б), то луч, рассеянный в том же наиравлении каждым последующим атомом, отличается дополнительным сдвигом по фазе на 6, 26, 36 и т, д., и если ряд практически бесконечен (в миллиметровом кристалле более миллиона атомов в каждом на- [c.49]

На рис. 24, а изображен ряд одинаковых равноотстоящих (точечных) атомов. На него направлен пучок монохроматических рентгеновских лучей. Рассмотрим суммарный эффект рассеяния лучей атомами в разных направлениях. Вдоль направления, продолжающего первичный пучок N0, путь от источника в точку наблюдения [c.51]

Предположим, что на свободный электрон направлен пучок параллельных монохроматических рентгеновских лучей, интенсивность которых [c.26]

Более полную информацию о структуре кристалла получают методом вращения. С помощью этого метода определяют параметры элементарной ячейки. Монохроматическое рентгеновское излучение взаимодействует с монокристаллом, равномерно вращающимся вокруг оси симметрии (определенной методом Лауэ). Переменной величиной в методе вращения является угол 0. Съемка производится на широкую пленку, закрепленную в цилиндрической кассете, ось которого совпадает с осью вращения кристалла (рис. 98). Дифрагированные лучи на фотопленке образуют линии, состоящие из отдельных пятен. Эти линии называются слоевыми. По расстояниям между этими линиями рассчитывают параметр решетки в направлении его оси вращения. [c.197]

Пусть параллельный пучок монохроматических рентгеновских лучей, длина волны которых X, падает на слой одноатомной жидкости. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов по всем возможным направлениям. Рассеянное излучение подразделяется иа когерентное и некогерентное. Когерентно рассеянное рентгеновское излучение имеет ту же длину волны, что и лучи, падающие на слой жидкости. Когерентно рассеянные лучи, по определению, имеют постоянные фазовые соотношения, зависящие от положений рассеивающих частиц жидкости, поэтому они интерферируют. [c.115]

Такой метод, ири котором на монокристалл направляют монохроматические рентгеновские лучи (получаемые при падении катодных лу- [c.629]

Рис. 33.2. Схема процессов, происходящих при взаимодействии монохроматического рентгеновского излучения с анализируемым веществом

Наиболее широко используется для определения структуры метод вращения кристалла. В этом методе используется монохроматическое рентгеновское излучение, а в качестве исследуемого образца [c.170]

Для исследования поликристаллических материалов, к которым относятся практически все кристаллизующиеся полимеры, используется метод Дебая-Шеррера (метод порошка). Если на поли-кристаллический образец падает пучок монохроматического рентгеновского излучения, то в образце всегда найдутся кристаллы, которые будут находиться в условиях, когда выполняется формула Вульфа-Брэгга. Так как эти кристаллы ориентированы в образце хаотически, то при отражении от каждой системы параллельных плоскостей внутри таких кристаллов возникнет конус дифрагированных рентгеновских лучей. Ось этого конуса совпадает с направлением первичного пучка лучей. Поставив за образцом перпендикулярно лучу кассету с плоской фотопленкой, получают на пленке систему колец. [c.171]

Такой подход возможен только для полимеров, у которых можно выделить интегральную интенсивность аморфного гало. При п ом следует использовать монохроматическое рентгеновское излуче- [c.361]

Аналитическая сущность этого закона проста. Известно, что значения энергий электронов в атоме индивидуальны для каждого элемента. Поэтому, если для возбуждения фотоэмиссии использовать монохроматическое рентгеновское излучение, то кинетические энергии фотоэлектронов окажутся характеристичными. [c.261]

При использовании монохроматического рентгеновского луча Применяют такие методы, как рентгенографирование в расходящемся луче, когда точечным источником монохроматического излучения освеш,ают монокристалл, или метод враш,ения и колебания монокристалла. В последнем случае для получения рентгенограммы вращения небольшой монокристалл освещается параллельным монохроматическим лучом, а кристалл при этом вращается вокруг оси, перпендикулярной к первичному пучку. Измерив интегральную интенсивность отражений и определив Набор структурных амплитуд, можно расшифровать атомную структуру кристалла. [c.153]

Здесь имеются в виду методы, которые основываются на явлениях фотоэффекта, получаемого при использовании монохроматического электромагнитного излучения, и вторичной электронной эмиссии. Собственно фотоэлектронной спектроскопией (ФЭС) называют метод, в котором вещество облучают в вакуумной УФ области электромагнитного спектра. Приоритет открытия явления эмиссии фотоэлектронов в газах под действием УФ облучения, положившего начало развитию метода ФЭС, принадлежит Ф. И. Вилесову (СССР). В рентгеноэлектронной спектроскопии (РЭС, или ЭСХА, что означает электронная спектроскопия для химического анализа) используют монохроматическое рентгеновское излучение. Создателем этого метода применительно к изучению поверхности твердых тел является шведский ученый К. Зигбан. Для возбуждения эмисии электропов может использоваться также электронный пучок, тогда говорят о методе индуцированной электронной эмиссии спектроскопии . [c.134]

Метод порощка (метод Дебая — Шерера). Съемка рентгенограмм (дебаеграмм) ведется в камерах с использованием монохроматического рентгеновского излучения и поликристаллических образцов из тонкого порошка в виде цилиндрического столбика (диаметр обычно 0,5—0,8 мм, высота 5—6 мм), плоского щлифа или порошка, наклеенного на подложку. Регистрация рентгеновского излучения осуществляется на узкой полоске фотопленки, свернутой в цилиндр. Рентгеновские лучи отражаются от поликристаллического образца, кристаллы которого расположены хаотически. Причем некоторые из них ориентированы в направлении, удовлетворяющем уравнению Вульфа — Брегга. Рентгеновские лучи, отраженные от этих кристаллов, образуют в пространстве сплошные конические поверхности, в результате пересечения которых с узкой пленкой, свернутой в цилиндр, экспонируются линии, имеющие форму дуг. Для увеличения числа кристаллов, участвующих в отражении, и получения более четкой дифракционной картины образец во время съемки может подвергаться вращению. [c.78]

В методе порошка, или дсбаеграмм, используют монохроматическое рентгеновское излучение. Поликристаллический образец помещают на пути узкого рентгеновского луча (рис. 5.7, а). Поскольку в порошке имеются кристаллы любой ориентации по отношению к лучу, всегда найдутся такие кристаллы, положение которых отвечает условию Вульфа — Брегга. В конечном итоге все те кристаллики в порошке, которые имеют соответствуюище межплоскостные расстояния ( 1, 2, 3,. ..,d , попадают по отношению к падающему лучу в отражающее (но не гасящее) положение. Отраженные лучи образуют конус со строго определенным углом расхождения. [c.118]

Такой метод, при котором на монокристалл направляют монохроматические рентгеновские лучи (получаемые при падении катодных лучей на металлический антикатод), был предложен У. Л. Бреггом и У. Г. Бреггом. В их первоначальных опытах кристалл был неподвижным и для варьирования угла вращалась регистрирующая отраженные лучи ионизационная камера. Вместо этого можно поворачивать кристаллическую плоскость в определенных пределах. Отраженные лучи при этом будут регистрироваться камерой или фотографироваться на пленке. [c.495]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка монохроматических рентгеновских лучей с длиной волны X. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Однако некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (рис. 127). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 8 лучей, отраженных от параллельных плоскостей. Усиление происходит в том случае, когда 8 равно целому числу длин волн тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 127, луч 5 1, отраженный от плоскости атомов Р 1, проходит. меньший путь, чем луч 82, отраженный от соседней плоскости Рг разность этих путей 8 равна сумме длин отрезков АВ и ВС. Поскольку АВ = ВС = йз1п ф, то 8 = 2йзт ф (где с1 — расстояние между плоскостями отражения, а ф — угол, образуемый падающим лучом и плоскостью) усиление отраженного излучения происходит при условии, что [c.250]

Метод Дебая — Шеррера. Данный метод позволяет выполнять ренггеноструктурные исследования с порошкообразным веществом. Пусть некоторое семейство плоскостей в кристалле образует с падающим пучком монохроматического рентгеновского излучения угол 0, удовлетворяющий уравнению Вульфа — Бреггов (рис. 57). Не меняя угла скольжения (т. е. сохраняя условие Вульфа — Брег-га), будем вращать кристалл вокруг оси первичного пучка. Отраженный пучок излучения опишет в пространстве конус с углом при вершине, равным 40. Другое семейство плоскостей этого же кристалла даст такой же конус, но уже с иным углом при вершине и т. п. Если на пути отраженных пучков излучения перпендикулярно первичному пучку поставить фотопластинку, то на ней зафиксируется ряд концентрических колец по числу семейств атомных плоскостей, отражающих рентгеновское излучение. [c.114]

Экспериментальное осуществление-ФЭ- и РЭ-спектроскопии довольно несложно. На рис. 86 показана схема установки для РЭ-сиектроскоиии (РЭ-сиектрометр). Рентгеновские кванты Нл- из анода рентгеновской трубки 1 попадают на исследуемый образец 2, выбивая электроны от атомов, входящих в состав образца. Разложение электронов в спектр и фокусировка их по энергиям кин производится с помощью магнитного или электростатического поля сферического конденсатора 3. При некоторой напряженности поля электроны, имеющие определенную кинетическую энергию, отклоняются по дуге и попадают в счетчик. Последний сортирует испускаемые веществом электроны по их кинетическим энергиям Енин- Таким образом, зная энергию источника облучения (монохроматическое рентгеновское излучение с энергией Ьу) и экспериментально определяя кин, легко найти Есв по (VI. 13). В ФЭ-спектрометре вместо источника рентгеновских квантов (рентгеновская трубка) применяется источник монохроматического ультрафиолетового излучения. [c.184]

В методе Дебая — Шеррера монохроматическое рентгеновское излучение вазимодействует с полпкристаллическим образцом исследуемого вещества. Переменным параметром в этом методе, называемом также методом порошка, является угол падения 0, так как в поликристаллическом порошковом образце присутствуют кристаллики любой ориентации относительно первичного пучка. При этом вместо отдельных пятен на рентгенограмме получаются концентри- [c.196]

Эллипсомегрия Поверхность образца освещают плоскополяризован-ным светом. Параметры эллиптической поляризации отраженного света зависят от толщины поверхностного слоя. Метод применим и к образцам, находящимся в жидкости Дифракция Монохроматический рентгеновский луч проходит рентгеновских через образец. Образующаяся дифракционная [c.151]

Рентгеновские лучи рассеиваются в кристаллах электронами, поэтому их можно считать источником рентгеновских лучей при дифракции. Брэгг ввел предположение, согласно которому рентгеновские лучи отражаются от набора плоскостей в кристалле. Для данного набора плоскостей hkl) отражение пучка монохроматического излучения происходит только под определенным углом, который определяется длиной волны рентгеновских лучей и расстоянием между плоскостями в кристалле. Эти переменные связаны уравнением Брэгга, которое можно вывести, воспользовавшись рис. 19.7, где горизонтальные линии представляют собой набор плоскостей в кристалле, разделенных расстоянием d. Плоскость AB перпендикулярна пучку падающих параллельно монохроматических рентгеновских лучей, а плоскость LMN — отраженным лучам. По мере изменения угла падения 0 отражение будет наблюдаться только тогда, когда волны находятся в фазе у плоскости LMN, т. е. когда разность расстояний между плоскостями AB и LAIN, измеренная вдоль лучей, отраженных от различных плоскостей, есть целое число, кратное длине волны. Это происходит, когда [c.572]

Во втором случае используютс>. монохроматические рентгеновские лучи, но кристалл медленно и равномерно вращается вокруг оси, совпадающей с каким-либо кристаллографическим направлением метод вращающегося кристалла). Тогда при каких-то особых положениях, при особых углах, удовлетворяюнщх сразу трем уравнениям (4), возникает кратковременная вспышка дифрагированный луч, оставляющий на реитгеиограмме след в виде темного пятиа. Этот метод не имеет того недостатка, которым обладает метод Лауэ. Поэтому он используется в рентгеноструктурном анализе гораздо шире. Метод Лауэ обычно используется только для определения симметрии кристалла или для ориентировки неограненного кристал шческого осколка. [c.109]

Германе и Вейдингер [59], занимаясь количественной оценкой монохроматических рентгеновских снимков диффракцин аморфных полимеров, нашли, что интегрированная интенсивность свя- [c.230]

При прохождении пучка монохроматических рентгеновских лучей через тонкоизмельченный образец кристаллического веш ества некоторое количество мельчайших кристаллов всегда будет ориентировано таким образом, что даст все возможные брегговские рефлексы. Порошковая диаграмма легко может быть получена при наличии всего 1 мг веш ества. Этот метод является уникальным для изучения кристаллов и служит чувствительным тестом при установлении идентичности двух кристаллических веществ [44]. [c.29]

Здесь ц (л-, у, 2) - ограниченное по протяженности распределение ЛКО используемого монохроматического рентгеновского излучения по объему контролируемого изделия 1о(В) - интенсивность излучения, которую измерил бы этот детектор в отсутствие объекта. Интеграл в соотношении (1) вычисляется вдоль прямой, проходящей через излучатель и детектор. Соотношение (1) является основным в математическом описании процесса просвечивания контролируемого объекта рентгеновским излучением в трансмиссионной ПРВТ. [c.115]