Полиэтилентерефталат элементарная ячейка

И второго типа могут не совпадать. Например, для макромолекул со спиральной конформацией период элементарной ячейки равен или кратен шагу спирали, а на этой длине могут укладываться несколько мономерных звеньев. В частности, в кристаллах изотактического полипропилена на один шаг спирали приходятся 3, а полиэтилентерефталата — 13 или 15 мономерных звеньев. [c.170]

Характерным свойством полиэтилентерефталата является его способность к кристаллизации, т. е. к формированию областей концентраций макромолекул с высокой степенью геометрической упорядоченности. Элементарная ячейка пространственной решетки кристаллической части полиэтилентерефталата (рис. 5.3) имеет следующие параметры, определенные [151 по рентгенографическим данным [c.104]

При различных способах изготовления полимерных волокон и пленок обычно наблюдается определенная ориентация кристаллитов. Такие образцы могут быть затем растянуты при комнатной температуре при этом оси полимерных цепей ориентируются в направлении растяжения. Переход от ориентации кристаллитов к ориентации молекулярных цепей в определенных случаях должен приводить к инверсии инфракрасного дихроизма некоторых полос поглощения. Это явление наблюдалось для найлона-6,6 и полиэтилентерефталата [106], полиэтилена [107] и поливинилхлорида [108]. Поляризационные спектры в области частот вращательных колебаний группы СНг в полученной экструзией полиэтиленовой пленке, невытянутой и вытянутой иа 200% в направлении экструзии, приведены на рис. 42. Для невытянутого образца полоса при 13,70 р, параллельна, а полоса при 13,88 ц перпендикулярна направлению, в котором производилась экструзия (аналогичный результат был получен для образца полиэтилена с несовершенной кристаллической структурой [109]). После того как пленку вытянули на 200% в направлении экструзии, полоса при 13,70 р, также становится перпендикулярной этому направлению. Как отмечалось выше, полоса при 13,70 р относится к вращательным колебаниям группы СНг с моментом перехода, направленным вдоль оси а элементарной ячейки, тогда как полоса при 13,88 р относится к вращательным колебаниям СНг с моментом перехода, направленным вдоль оси b элементарной ячейки. Ясно, что в полученной экструзией пленке полиэтилена оси а кристаллитов ориентированы в основном параллельно направлению, в котором происходила экструзия. При растяжении пленки оси с кристаллитов или молекулярных цепей ориентируются параллельно направлению растяжения. [c.82]

В работе [2050] показано, что полибутилен-1,4-терефталат имеет конформацию цепи с подвижными дефектами, а элементарная кристаллическая ячейка обладает триклинной симметрией. Для композитных образцов, подвергнутых нагреванию до температуры плавления с последующим резким охлаждением, и для растворных образцов полиэтилентерефталата при помощи метода вычитания получены полосы поглощения в ИК-области, соответствующие кристаллическому и аморфному состояниям полимера [ 2051]. Показано, что для транс-структуры полосы аморфного полимера сдвинуты приблизительно на 1—Зсм по сравнению с полосами спектра кристаллического образца. [c.421]

При исследовании микродифракции малую площадь сферолита в тонкой пленке полимера обычно облучают тонко диафрагмированным пучком рентгеновских лучей или, в случае если сферолит находится в сверхтонкой пленке, пучком электронов. Облучаемую поверхность обычно выбирают на некотором расстоянии от центра сферолита, чтобы дифракционная картина получалась от пучка практически параллельных фибрилл. Из такой картины несложно вывести, какие кристаллографические оси решетки лежат преимущественно в направлениях радиусов сферолита и, следовательно, как ориентированы молекулярные цепи. Найдено, что во всех изученных до сих пор сферолитах цепи ориентированы более или менее перпендикулярно радиальному направлению. Во многих случаях оказалось, что они лежат строго перпендикулярно осям фибрилл, но иногда они наклонены к ним, хотя никогда угол наклона не бывает меньше 60°. Таким образом, в направлении любого радиуса молекулы расположены параллельно или почти параллельно соответствующей тангенциальной плоскости, и ориентацию молекул называют поэтому тангенциальной . В частном случае полиэтилена оси Ь элементарной ячейки лежат параллельно радиальному направлению [55] соответственно молекулы ориентированы вдоль направлений, перпендикулярных осям фибрилл. Подробности об ориентации молекул в сферолитах других полимеров читатель может найти в литературе к числу полимеров, для которых опубликованы экспериментальные данные, относятся полипропилен [53], полиэтилентерефталат [55], полиэтиленадипат [49], найлон-6,6 [55] и найлон-6,10 [55]. [c.451]

Более редко встречается др. тип текстуры, ко1да у всех кристаллитов совпадают направления двух разных осей,— двуосная, или плоскостная, текстура. Плоскостная текстура образуется, в частности, при прокатке и встречается в основном в полимерных пленках. Напр., в пленках полиэтилентерефталата осями текстуры являются ось макромолекулы, лежащая в плоскости пленки, и ось а элементарной ячейки, направленная по нормали к плоскости пленки. Плоскостная текстура также не обладает совершенством, обычно имеются значительные отклонения в ориентациях отдельных кристаллитов от средних положений, соответствующих идеальной текстуре. [c.593]

Исходя из размеров элементарной ячейки и числа звеньев макромолекулы, приходящихся на одну ячейку, находят плотность кристаллитов. Экспериментально определенная плотность полимера всегда меньше плотности кристаллитов, поскольку в образце имеются менее упорядоченные, аморфные участки, обладающие меньшей плотностью, а также поры и др. неоднороднр-сти. Напр., максимальная плотность кристаллитов полиэтилентерефталата 1,455 г/сл , плотность аморфных участков — 1,34 г/сл , а плотность образцов этого полимера находится обычно в пределах от 1,36 до 1,41 з/ел . [c.168]

Известно много полимеров (полиамиды, полиэфиры, полипропилен), которые в зависимости от условий кристаллизации образуют положительные или отрицательные сферолиты. Как правило, в обоих случаях молекулы оказываются расположенными тангенциально относительно радиуса сферолита, но другие кристаллографические оси элементарной ячейки ориентированы отличным образом. В ряде случаев, как, например, при кристаллизации полиэтилентерефталата (Keller A., J. Polymer Sei.. 17, 351, 1955), изменение знака сферолита на положительный связано с отклонением оси цепей от тангенциального приблизительно на 25°. [c.36]

В работе [2090] для идентификации кристаллической промежуточной и аморфной фаз в полиэтилентерефталате использовали метод дифракции рентгеновских лучей. При исследованиях морфологии кристаллизации полиэтилентерефталата из раствора применялось широкоугловое и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей [2091]. С помощью экспериментов по рассеянию под малыми углами была установлена корреляция между периодом складывания цепи п температурой кристаллизации полиэтилентерефталата [2092], а также его количественная морфологическая характеристика [2093]. На основании данных исследования пленок полиэтилентерефталата методом ЯМР, дифракции рентгеновских лучей и оптическим методом дано 2094] описание молекулярной ориентации в этих пленках. Ллотность кристаллической фазы полукристаллических полимеров типа полиэтилентерефталата была вычислена из размеров элементарной кристаллической ячейки, полученных методом дифракции рентгеновских лучей [2095]. [c.425]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология