Излучение параллельно расположенных

Основными частями спектрального прибора (рис. 3.7) являются входная ш,ель 5, освещаемая исследуемым излучением объектив коллиматора 0, в фокальной плоскости которого расположена входная щель 5 диспергирующее устройство О, работающее в параллельных пучках лучей фокусирующий объектив Ог, создающий в своей фокальной поверхности Р монохроматические изображения входной щели, совокупность которых и образует спектр. В качестве диспергирующего элемента, как правило, используют либо призмы, либо дифракционные решетки. [c.67]

Закон Кирхгофа. Соотношение между лучеиспускательной и поглощательной способностями тел устанавливается законом Кирхгофа. Это соотношение может быть получено пз рассмотрения процесса обмена лучистой энергии между двумя телами абсолютно черным п серым (рис. 6-2). Поверхности тел параллельны и расположены на расстоянии, при котором излучение каждого из тел попадает на другое. Левое — абсолютно черное тело имеет температуру лучеиспускательную способность Е(, и поглощательную Лд = 1, правое — серое тело соответственно Т, Е и А, при этом Г > Г д. Излучение Е попадает на абсолютно черное тело и целиком поглощается им. Излучение попадает на серое тело, при этом часть его, [c.128]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны X. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (рис. 1.77). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода 6 лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том случае, когда б равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.77, луч Si отраженный от плоскости атомов Ри проходит меньший путь, чем луч S , отраженный от соседней плоскости Р , разность этих путей равна сумме длин отрезков АВ и ВС, Поскольку АВ ВС = d sin ф, то 6 = 2d sin ф (где d — расстояние между плоскостями отражения, ф — угол, образуемый падающим лучом и плоскостью). Усиление отраженного излучения происходит при условии [c.142]

Рассеяние рентгеновских лучей электронами может быть когерентным (без изменения длины волны) и некогерентным. Во втором случае часть энергии рентгеновского кванта при упругом соударении передается электрону (эффект Комптона, который наблюдается в основном для жесткого рентгеновского излучения). Интерференция когерентно рассеянного излучения приводит к дифракционным эффектам. Поскольку длины волн рентгеновских лучей сравнимы с межплоскостными расстояниями в кристаллах, то кристаллы играют роль дифракционных решеток. Представим кристалл как комплекс параллельных плоскостей, на которых расположены атомы. Вследствие периодического строения расстоя- [c.12]

В электролизере (см. рис. 3) анод 1 и катод 2 расположены так, что их можно рассматривать как параллельные бесконечные плоскости. Поэтому независимо от влияния процессов электролиза на температурные поля между этими поверхностями происходит теплообмен излучением сквозь слой электролита и температуры их должны быть тем более близки, чем более прозрачен расплав для инфракрасной части спектра. Сказанное подтверждает и приведенный ранее рис. 50. [c.122]

Если в волокне молекулы расположены параллельно, то его спектр, полученный с применением поляризованного излучения, будет характеризоваться различной интенсивностью некоторых полос поглощения в зависимости от направления колебаний электриче- [c.90]

Исследуемый образец 2 (изображен в разрезе) (рис. 9.2) покоится на кварцевой опоре /, верхняя поверхность которой оптически плоская. На образце сверху располагается клиновидная кварцевая пластина 3. Нижняя поверхность клиновидной пластинки и верхняя поверхность опоры I расположены строго параллельно и образуют интерференционный зазор 6. Источником света является монохроматор 7, 8 или лазерный луч. Интерферометрическая картина, возникшая в зазоре б, а затем отраженная призмой 5 и полупрозрачным зеркалом 6, наблюдается в микроскопе 9. При изменении длины образца 2 (изменение зазора б) в поле зрения микроскопа наблюдается смещение интерферометрических полос. Смещение картины на одну полосу соответствует изменению длины образца на V2, где %—длина волны монохроматического излучения. [c.434]

Хе, At, Rn) длины волн первого перехода из основного состояния расположены в области "к < 200 нм. Лазеры на красителях в этой области неэффективны. Применение же источников УФ-излучения высокой мощности приводит к значительному ионному фону из-за параллельно протекающей нерезонансной многофотонной ионизации атомов и молекул матрицы, что делает определение перечисленных элементов затруднительным. [c.856]

Призмы. Один из простейших спектрографов, построенный на основе 60-градусной призмы, показан на рис. 5.1. Свет от источника фокусируется на щели 5, а затем, пройдя коллиматорную линзу Ll, превращается в пучок параллельных лучей и попадает на призму, где и преломляется. Фиолетовое излучение от его первоначального направления отклоняется больше, чем красное. Камерная линза /-2 собирает в фокусе на фотографической пластинке отдельно каждый пучок цветового слагающего. Таким образом, в последовательно расположенных точках Р, Р и т. д. на пластинке получаются перекрывающие друг друга изображения щели, соответствующие цветовым составляющим известной спектральной последовательности красный, оранжевый, желтый, зеленый, голубой и фиолетовый. Пластинка должна быть расположена наклонно к оси камеры ввиду того, что фокусирование монохроматических пучков линзой 2 неодинаково, например фиолетовый пучок фокусируется ближе, чем красный. Наклонное расположение пластинки имеет большое практическое значение, так как дает возможность распределять спектр на более длинной пластинке, чем в случае ахроматической линзы, т. е. увеличивает эффективную дисперсию прибора. [c.85]

При работе от компрессора блока питания сжатый воздух поступает в регулятор давления 1 и затем в распылитель горелки S. Вырываясь из камеры распыления в камеру смешения, воздух вызывает разрежение в капиллярной трубке, раствор засасывается в нее из стаканчика, а при выходе из капилляра распыляется в аэрозоль. В камере смешения получившийся высокодисперсный аэрозоль перемешивается с горючим газом, необходимое давление которого поддерживается регулятором 4 с помощью водяного манометра 5. Проходя через отверстия в колпачке горелки, смесь аэрозоля с горючим газом поступает в пламя, где и сгорает. Под действием энергии пламени атомы определяемого элемента переходят в возбужденное состояние, выделяют энергию в виде характерного излучения. Световой поток направляется рефлектором 8 в фокус конденсора 9, пройдя параллельным пучком через светофильтр Юм собирательную линзу 1J, попадает на фотоэлемент 12. Помимо этого между пламенем и конденсором расположена еще диафрагма, рукоятка 13 которой может перемещаться в положения "1", "2" или "3" (в последнем положении диафрагма полностью перекрывает световой поток). Плавное регулирование интенсивности [c.376]

Если, как это сделал Лауэ, направить на кристалл белое рентгеновское излучение, то в этом пучке всегда найдутся лучи с такими длинами волн, для которых будет удовлетворяться условие (1), и именно для расстояний между разули чными плоскостями решетки, например в кубической решетке — для ее плоскостей, параллельных граням куба, параллельных граням октаэдра, параллельных граням ромбододекаэдра и т. д. Так как отражение может происходить только от атомов, то естественно, что от данной плоскости получается тем более интенсивное отражение,, чем большее число атомов расположено на ней. Это число оказывается достаточно большим, чтобы вызвать заметное почернение фотографической пластинки в местах, соответствующих только наиболее важным в кристаллографическом отношении плоскостям кристалла. Поэтому на пластинке получаются пятна лишь в тех местах, которые соответствуют именно этим плоскостям. По относительной интенсивности пятен можно затем определить, о какой из этих плоскостей в данном случае идет речь. [c.233]

Съемка неподвижного монокристалла с использованием сплошного спектра рентгеновского излучения проводится для определения ориентировки кристалла, т. е. установления взаимного расположения интересующих кристаллографических направлений относительно внешних осей, одна из которых (г) параллельна направлению первичного пучка, а две другие х и у) расположены в плоскости фотопленки. Кроме того, метод позволяет изучать качество (дефектность) монокристаллов, а также [c.223]

Для определения направления валентных связей в полимере с длинной цепью приготавливают волокно или пленку, в которых ось цепи расположена приблизительно параллельно оси волокна. Затем снимается инфракрасный спектр, причем Е-вектор излучения направляется вначале параллельно, а затем перпендикулярно к оси волокна. Если полоса поглощения более интенсивна в том случае, когда вектор параллелен оси волокна, то это означает, что валентная связь расположена приблизительно параллельно этой оси. Если же полоса поглощения интенсивнее при перпендикулярности вектора к оси волокна, то валентные связи приблизительно перпендикулярны к этой оси. [c.297]

В качестве конструкционного материала для форм пригодны сталь и легкие металлы. Но толщина стенок, по возможности, должна быть небольшой. Однако, чем меньше плотность материала форм, тем меньше он поглощает энергию 7-лучей и, следовательно, тем полнее она используется. Поэтому легкому металлу отдается предпочтение по сравнению со сталью. Во время облучения форма и ее содержимое нагреваются в результате поглощения 7-лучей до 150° С и выше. Источник излучения целесообразно изготовлять в виде двух параллельных плоскостей, благодаря чему создается достаточно равномерное поле. Если такие плоскости расположены в виде квадрата, то потери энергии минимальные. [c.373]

Система автоматического регулирования дает возможность поддерживать заданное соотношение скоростей между валками. Обычно на медленно вращающихся валках 6 предварительно нагреваются заготовки, а окончательно — электронагревателем 7 инфракрасного излучения, установленным между валками. Мощность и спектр излучения нагревателя регулируют изменением напряжения тока, а ширину обогреваемой области и место ее расположения — смещением нагревателя. Выход продольно ориентированной пленки осуществляется направляющими валками 8. Основным рабочим элементом установки для поперечной ориентации являются две бесконечные цепи, на которых закреплены специальные зажимы — клуппы. Цепи расположены в горизонтальной плоскости симметрично оси машины и приводятся в синхронное движение от одного электропривода. Установка состоит из четырех участков. На первом участке, в зоне предварительного подогрева, для предотвращения провисания пленки при нагреве и для улучшения захвата пленки ветви цепей перемещаются параллельно или расходятся под небольшим углом. На этом участке одноосно ориентированная пленка захватывается по краям клуппами и нагревается до температуры стеклования. На втором участке, в зоне ориентации, ветви цепей расходятся под небольшим углом (до 10°), в результате чего пленка растягивается в поперечном направлении. На третьем участке, в зоне термофиксации, пленка нагревается до температуры значительно выше температуры стеклования, при которой происходит рекристаллизация — снятие внутренних напряжений. На четвертом участке при параллельном движении ветвей цепей, т. е. в конце зоны охлаждения, клуппы принудительно открываются и пленка освобождается. [c.198]

Второй поляроид или николь, помещенный на пути светового пучка, будет аналогично пропускать только одно из слагающих пучка, то, которое колеблется параллельно его оптической оси ввиду того что свет уже поляризован, т. е. его колебания совершаются только в одном направлении, при повороте второго поляризатора (называемого анализатором) на 90° мощность светового пучка упадет до нуля. Схема поляризации иллюстрируется рис. 239. Излучение от лампы направляется в линзу-коллиматор, выйдя откуда в виде пучка параллельных лучей, поляризуется поляроидом А, оптическая ось которого расположена вертикально. Поляроид В, также с вертикальной осью, не оказывает влияния на пучок, но поляроид С, ось которого ориентирована горизонтально, совершенно гасит луч. При повороте поляроида С в его плоскости мощность пропускаемого излучения изменяется с изменением синуса угла поворота. О двух поляроидах или НИКОЛЯХ, помещенных один за другим, говорят, что они [c.301]

Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны Л (рис. 1.71). Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается от плоскостей, в которых расположены атомы, составляющие кристаллическую решетку (атомные плоскости рь Pi, Рз, Ра). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода O лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление излучения происходит в том случае, когда 8 равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны находятся в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.71, луч Si, [c.151]

В детекторе этого сканирующего устройства — газового проточного счетчика — анодная проволока расположена параллельно плоскости хроматограммы на расстоянии 4 м.ч от нее. Это обеспечивает однородную чувствительность по отношению ко всей площади диафрагмы. В случае измерения трития используют пе.)око-шечный вариант детектора, так как даже тончайшая пленка полностью задерживает излучение трития. [c.136]

Отдельно взятый инфракрасный источник дает на облучаемой плоскости, расположенной параллельно поверхности насадки, некоторое неравномерное распределение энергии, падающей на единицу площади поверхности. Задача определения оптимального расположения горелок состоит в том, чтобы при наличии достаточного количества идентичных источников расположить их таким образом, чтобы суммарное поле излучения энергии было распределено по облучаемой плоской поверхности нагрева наиболее равномерно. [c.50]

В рассматриваемом случае требуется расположить источники я А, так, чтобы суммарная кривая излучения / максимально приблизилась к определенной прямой, параллельной оси абсцисс, т. е. линия совпала с прямой / = (рис. 27). — максимальное значение плотности излучения от отдельно взятого источника. [c.52]

Спектрометр является гармоническим анализатором, разлагающим непрерывное излучение на монохроматические составляющие. В современных моделях инфракрасных спектрометров широкое применение получил призменный монохроматор Литтрова и двухлучевая оптическая система, делающая возможным применение усилителей переменного тока для регистрации инфракрасных спектров. Упрощенная схема такого инфракрасного спектрометра изображена на рис. 14. Спектрометр состоит из осветителя, монохроматора, приемника излучения и системы регистрации спектров. С помощью сферических зеркал 2 и плоского зеркала 3 изображение источника непрерывного излучения 1 проецируется на входную щель 5 монохроматора. Вращающееся зеркало-модулятор 4 попеременно освещает выходную щель пучками лучей, проходящими через кювету с образцом К и эталонную кювету /Са. Входная щель 5 расположена в фокальной плоскости коллиматорного параболического зеркала 6, которое преобразует сходящийся пучок лучей в параллельный и направляет его через призму 7 на плоское поворотное зеркало 8 (зеркало Литтрова). Лучи, отраженные зеркалом, второй раз проходят через призму и коллиматор и в фокальной плоскости параболического зеркала 6 дают изображение входной щели, совмещенное с выходной щелью 10. С помощью плоского зеркала И и сферического 12 изображение входной щели фокусируется на входном отверстии приемника 13. В качестве приемников обычно применяются болометры или термоэлементы. [c.38]

Высокими энергетическими характеристиками обладают также преобразователи с пластиной, настроенной на изгибные колебания, например ПМС-38. Пакеты этого преобразователя расположены в два ряда на расстоянии друг от друга, параллельно большой стороне излучающей пластины, которая работает на изгиб и создает интенсивное поле излучения в виде двух полос, параллельных большой стороне излучателя. Преобразователь имеет острую резонансную характеристику. [c.145]

На рис. 1У-7 изображен случай рассеяния под углом 90°. Принимают, что рассеивающий атом, ион или молекула расположены в начале системы декартовых координат и, кроме того, что ось высшей симметрии молекулы параллельна оси г. Падающий луч распространяется вдоль оси у, электрический вектор может быть параллелен оси г или оси х. Индуцированными моментами, представляющими интерес, являются моменты и Му, если рассеянный свет наблюдается вдоль оси г. Однако если релеевское излучение и комбинационное рассеяние наблюдаются вдоль оси х, то в рассеянный свет дают вклад моменты Мг и Му. Полное излучение на единицу телесного угла в направлении х, согласно уравнению (1,5-24), равно [c.142]

Дифрактометрия поликристалличесних порошковых образцов обычно имеет целью идентификацию фазового состава твердых веществ. Главное требование к подготовке образцов для дифрактометрических исследований — формирование гладкой плоской поверхности. Как правило, материал для исследования подвергают тонкому измельчению до получения порошка с размером частиц 2-5 мкм. После измельчения порошок засыпают в форму-держатель и прессуют, формируя ровную плоскую поверхность. Идеальный образец должен быть однороден по составу со случайным распределением кристаллитов по объему, т.е. в идеальном случае в образце складывается случайное распределение всех возможных плоскостей h, к, I. Вклад в формирование пучка отраженного излучения дают только те кристаллиты, в которых отражающие плоскости /z, к, I расположены параллельно поверхности образца. Если распределение всристаллитов в образце действительно случайно, то в формировании каждого луча, образованного отражением от плоскостей с данной комбинацией индексов h, к, I будет участвовать равное число кристаллитов. Для получения полной дифрактограммы достаточно перемещать образец в пределах угла падения пучка первичного рентгеновского излучения. [c.47]

Устройство датчика плотностемера изображено на рис. 93. Источник 7-излучения (Со активностью 72 мг-экв Ка) и детектор измерительного канала 5 (три счетчика СТС-1, включенных параллельно) расположены на оси измерительного колена трубопровода 4. Источник 1 помеш,ен в свинцовую защитную упаковку (контейнер 2), ослабляющую интенсивность излучения примерно в 15 раз. Рабочий пучок излучения проходит через подстроечный клин 3 (перекрывающий коллиматорное отверстие контейнера), стенки трубопровода и слой жидкости толщиной 300 мм. Подстроечный клин применяют для корректировки (контроля нуля) плотностемера. Компенсационный источник (Со активностью 0,8 мг-экв Ка) и детектор компенсационного канала расположены в электронном блоке. [c.192]

Пучок излучения от лампы с устройством для выделения длины волны направляется на фотохимически активную реакционную смесь. В случае количественных измерений реакционная смесь обычно находится в кювете с двумя параллельными плоскими окнами, расположенными перпендикулярно падающему пучку света. Если сам пучок близок к параллельному, то свет поглощается равномерно по всему объему образца. Непоглощенный свет выходит через заднее окно кюветы. В стан-дарной экспериментальной установке прошедшее кювету излучение попадает на детектор, измеряющий его интенсивность (см. ниже). На рис. 7.1 показано одно общепринятое расположение элементов оптической схемы установки для фотохимических экспериментов в ближней УФ-области. Обратите внимание элементы расположены так, что световой пучок почти параллелен (возможно слегка расходится) и поэтому почти полностью, но все же не совсем, освещает переднюю стенку реакционной кюветы. [c.185]

Схема спектрометра с ВД приведена на рис. 8.3-10. Щелевой коллиматор обеспечивает попадание на кристалл параллельного пучка флуоресцентного рентгеновского излучения, выходящего из пробы, под углом в. Детектор размещен под углом 26 по отношению к падающему пучку, так что измеряет ди-фрагирова1шые на кристалле под углом в рентгеновские лучи. Коллиматор размещен также перед детектором. Кристалл и детектор расположены на гониометре так, что поворот кристалла на угол в приводит к смещению детектора по кругу на угол 2в. Минимальная и максимальная длины волн, которые [c.72]

Оптическая схема монохроматора представлена на фиг. 1. РТзлучение источника И концентрируется зеркалом С] (/ = = 200 мм, диаметр 80 мм) на входной щели Щ. Прошедшие через щель расходящиеся пучки превращаются коллиматор ным зеркалом К в параллельны , проходят призму П (из НаС1, 60°, 110X90 мм), отражаются от плоского зеркала Л и проходят призму в обратном направлении. Призма разлагает излучение в спектр, который фокусируется коллиматорным зеркалом К (параболоид 7° вне оси, / = 830 мм, диаметр 135 мм) в плоскости выходной щели Щ (щели высотой 26 мм расположены одна над другой и на фиг. 1 совпадают). Излучение, прошедшее через выходную щель, отражаясь от плоских поворотных зеркал З1 и З2, попадает на сферическое зеркало Са последнее фокусирует излучение на приемную площадку термоэлемента ТЭ. Под действием излучения ТЭ Нагревается и в его цепи возникает ток, пропорциональный мощности излучения. Призма П и зеркало Л [c.212]

В связи с тем, что характеристические лучи К-, L- и отчасти Л1-серий возникают при переходах электронов на внутренних уровнях атома, энергия электронов на которых практически не зависит от степени ионизации атомов, длины волн характеристического спектра практически одинаковы независимо от того, какие соединения данный атом образует. Поэтому, если разложить в спектр характеристическое рентгеновское излучение, образующееся при возбуждении мишени, состоящей из атомов разного сорта, то по наличию спектральных линий тех или инЫх элементов можно определить качественный, а по их интенсивности количественный элементный состав мишени. Всего проще спектр можно получить, направляя на монокристалл, у которого параллельно поверхности расположены плоскости (hkl) с межплоскостным расстоянием dhhi, полихроматическое излучение, которое отражается от монокристалла в соответствии с законом Вульфа—Брэгга (см. гл. 6) 2dhhtsinu= = пХ, где — угол, под которым на кристалл падает рентгеновское излучение. Поворачивая кристалл (меняя ), можно добиться отражения излучения с разной длиной волны. [c.146]

Гартманн и Димик [94] разработали гелиевый ионизационный детектор, который в настоящее время можно рассматривать как наиболее чувствительный к неорганическим газам детектор. В детекторе, схема которого показана на рис. VI.52, электроды расположены параллельно, а эффективный объем равен 160 мкл. Попп и Опперман [95] описали неоновый ионизационный детектор с осевой симметрией и -источником излучения, работающий на очищенном техническом неоне в качестве газа-носителя. [c.460]

Оптическая схема этого спектрофотометра показана на рис. 4.12а. Световой поток излучения источника 1 с помощью зеркал 2 я 3 через кювету 4 направляется на входную щель 5, которая расположена в фокусе параболоидного отражателя 6. Вышедший из щели поток зеркалом 9 направляется на параболоидный отражатель. Сформированный параллельный световой пучок диспергируется призмой 7 и падает на плоское зеркало Литтрова 8. Зеркалом Литтрова пучок снова через призму возвращается иа отражатель, отражается от него и через выходную щель 10 попадает на зеркало 12. Затем световой поток проецируется на один из приемников //. Усиленные усилителем 13 сигналы приемника поступают на вход двухлучевого осциллографа 14. [c.157]

Если неоднородности (ориентированные параллельно друг другу в случае их несферично-сти) расположены достаточно редко в пространстве (на расстояниях больших, чем нх собственные размеры, и немалых по сравнению с длиной волны излучения), а также нерегулярно, то рассеяние от совокупности таких неоднородностей имеет индикатрису, совпадающую по форме с индикатрисой от одной [c.288]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология