Динамическая фокусировка

Для фокусировки акустического поля с помощью фазированной решетки увеличивают запаздывание фазы на элементах, по мере удаления их от центра решетки. Изменяя запаздывание фазы, меняют положение фокуса (динамическая фокусировка). Для подавления боковых лепестков сигналы на все элементы подают в одной фазе, но амплитуды возбуждаемых и принимаемых сигналов уменьшают от центрального элемента к периферийным. [c.90]

Рис. 4.12. Схематическая иллюстрация метода динамической фокусировки.

Рис. 4.13. Изображение сетки, соответствующее ситуации, представленной на рис. 4.12, а(а), изображение с динамической фокусировкой (б).

Если освещать фотопластину соответствующими варьируемыми во времени эталонами света (например, в форме зонной пластины Френеля), то, очевидно, получится приемо-передающий преобразователь ультразвука с управляемым во времени и пространстве распределением звукового давления или чувствительности (динамическая фокусировка, травление направленностью акустической оси). [c.295]

Наряду с развитием приборостроения в области классической масс-спектрометрии , начиная с 1950 г., предложен ряд оригинальных методов разделения ионов и осуществлено создание большого числа типов приборов, относимых обычно к так называемым динамическим масс-спектрометрам. В динамическом масс-спектрометре с циклоидальной фокусировкой применяются скрещенные электрическое и магнитное поля. Развертка спектра осуществляется путем изменения величины одного из полей [7]. [c.7]

На рис. 10.3-10 приведено схематической изображение прибора для динамического варианта МСВИ на основе масс-спектрометра с двойной фокусировкой. [c.360]

К этому же типу испарителей относят электроннолучевые, в которых путем статических и динамических методов электрической и магнитной фокусировки пучок электронов с энергией несколько килоэлектронвольт направляется на геттер. Локальный нагрев геттера пучком электронов позволяет вести интенсивное испарение активного металла из расплавленной капли, осуществляя жидкофазное испарение. [c.54]

Разделение и регистрация ионов осуществляются несколькими путями. Использование для регистрации фотопластинок отличает масс-спектрограф от масс-спектрометров, в которых ионные токи измеряются электрическими методами. Масс-спектрографы применяют для точного определения относительных атомных масс (Астон, 1919). Широкое использование в химии имеют масс-спектрометры, так как позволяют с большей точностью определять отношение ионных токов. Используются два класса масс-спектрометров статические и динамические. В первом типе масс-спектрометров для разделения и фокусировки ионов применяют статические электрические или магнитные поля, а во втором типе — переменные электрические поля. [c.28]

По типу ионно-оптической системы течеискатели делятся на статические (с постоянными электрическими и магнитными полями) и на динамические (с переменными электрическими полями). Отечественная промышленность выпускает статические масс-спектрометрические течеискатели ПТИ-4 и ПТИ-6 со 180-градус-ной фокусировкой, которые обладают собственной вакуумной системой и весьма универсальны в эксплуатации. [c.243]

Дополнительным устройством, которое имеется в некоторых РЭМ, является приставка для динамической фокусировки , которую не следует путать с коррекцией наклона . Прн динамической фокусировке (рис. 4.12) изменяется оптическая сила линзы в зависимости от положения пучка при сканировании для того, чтобы скомпенсировать изменение его размера из-за изменения рабочего расстояния. При наблюдении сильно наклоненного плоского образца оптическая сила линзы увеличивается при сканировании верхней части поля зрения и ослабляется по мере прохождения растра вниз по объекту, сохраняя, таким образом, все время пучок в положении оптимальной фокусировки. Сильно наклоненный объект останется в фокусе, даже если его вертикальное смещение превышает глубину поля зрения, как показано на рис. 4.13. Отметим, однако, что динамическая фокусировка зависит от выполнения простого и известного соотношения между положением пучка и рабочим расстоянием. Динамическая фокусировка не может применяться к шероховатым, нерегулярным объектам, ее можно использовать лишь для гладких, плоскпх объектов. [c.116]

Механическое сканирование одним искателем может быть заменено секционированным излучателем (разделы 10.4.1 и 10.4.2). Линейный секционированный излучатель имитирует простое перемещение искателя, а излучатель с фазовым управлением также и поворот, причем одновременно возможна фокусировка, в том числе и варьируемая во времени (динамическая фокусировка). Это сделало возможным изображение движущихся структур в реальном масщтабе времени, например в медицине [766]. Однако применение такого способа при контроле материалов ограничивается наличием неровных поверхностей (волнистых, шероховатых), поскольку при этом звуковые поля отдельных секций секционированного излучателя искажаются. [c.308]

Прием цифровых данных продолжается около 10 мс один-элемент системы секций за другим активируется вначале в качестве излучателя, а затем сразу же в качестве приемника чтобы можно было зарегистрировать возможные возвращающиеся эхо-импульсы. Эти эхо-импульсы дигитализируются (превращаются в цифровую форму) и вводятся Б память. Затем то же самое повторяется со следующим элементом секционированной системы. После завершения приема цифровых данных начинается синтетическая динамическая фокусировка для получения двумерной развертки типа Б. Изображение формируется по точкам (растр). Эхо-импульсам для каждой точки растра расчетным путем придается такой сдвиг фаз (изменение времени прохождения), как если бы они получались от отражателя, расположенного в этой точке затем они накладываются друг на друга. Этот процесс эквивалентен использованию одного преобразователя, соответствующего по размерам системе секций, с одной линзой перед ним, фокусированной в данную точку.. Следовательно, преобразователь и линза имитируются или синтезируются. Отсюда и взялось название синтетическаяз [c.310]

С помощью ЛСМ можно формировать изображения с более высокими разрешениями и большей глубиной резкости, чем в традиционной микроскопии, в частности, с использованием различных специфических методов типа динамической фокусировки. Кроме того, методы лазерного сканирования позволяют регистрировать свет, диффузно рассеиваемый малыми деталями поверхности, размеры которых гораздо меньше поперечного сечения падающего сканирующего лазерного пучка (например, с помощью сканирующего пучка лазерного излучения, сфокусированного в пятно размером 50. .. 100 мкм, можно обнаружить микрометровые дефекты на поверхности контролируемых изделий). [c.518]

В разд. 9.4 были описаны масс-спектрометры различных типов. Ограничимся характеристикой особенностей, относящихся к газовой хромато-масс-спектрометрии, таких, как чувствительность, линейный динамический диапазон, разрешение, диапазон масс и скорость сканирования. Скорость сканирования масс-спектрометра—это время, необходимое для сканирования одного порядка на шкале масс (например, от т/г 50 до 500). В газовой хромато-масс-спектрометрии с капиллярными колонками благодаря небольшой ширине пика необходима высокая скорость сканирования (< 1 с/порядок), чтобы получить по крайней мере 3-5 спектров для пика в режиме полного сканирования. Ограниченный диапазон масс некоторых масс-анализаторов не является проблемой, поскольку молекулярная масса соединений, поддающихся газохроматографическому разделению, обычно меньше 600. Различные типы масс-спектрометров значительно различаются разрешающей способностью. Разрешение Д —мера способности масс-спектрометра разрешать два пика иона с различными т/г, она определяется как К = т/Ат. Способность масс-спектрометра разрешать два пика с различающимися на единицу массами называется единичным массовым разрешением. С едичичным массовым разрешением обычно работают квадрупольные приборы. Приборы же с двойной фокусировкой достигают высокого массового разрешения (Д > 10 ООО). Это важно, поскольку из точной массы иона фрагмента часто можно непосредственно получить элементный состав. Для разделения ионов С5Н11О2 и 4HllN20 (табл. 14.2-1) с Дт = 0,01123 требуется разрешение по крайней мере К = 9172. [c.603]

Для того чтобы изображение можно было легко ин-герпретировать как изображение кристаллической структуры, кроме указанного выше главного условия необходимо выполнение еще ряда условий. К этим условиям относятся толщина образца, ориентировка образца, ускоряющее напряжение, апература объективной линзы, коэффициент сферической аберрации объективной линзы, условие фокусировки. Выбор этих условий возможен на основе сопоставления экспериментальных изображений и теоретических изображений, рассчитанных с помощью динамической теории. Из расчетов, в частности, следует, что при ускоряющем напряжении 100 кВ структурный контраст может быть непосредственно интерпретирован как проекция распределения электрического потенциала только нри условии, если [c.542]

Хайтс и Биманн [30] описали динамическую систему сбора и обработки данных, в которой используется масс-спектрометр с однократной фокусировкой с непрерывной периодической магнитной разверткой. Длительность прямого хода развертки (3 с для диапазона масс 20—500) приемлема для регистрации масс-спектров большинства выходящих из колонки соединений, а длительность обратного хода (1с) достаточна для полного восстановления магнитного поля. Непрерывный сигнал с выхода электронного умножителя можно подавать на любое из трех измерительных и регистрирующих устройств (или сразу на все три) осциллограф с послесвечением, шлейфовый осциллограф и аналого-цифровой преобразователь (А/Ц) для записи на магнитную ленту. Преобразователь автоматически обрабатывает сигнал с электронного умножителя со скоростью 3000 шагов квантования в 1 с. Для того чтобы привязать шкалу масс к оси времени, систему регистрации с достаточной точностью синхронизуют с периодом развертки. После юстировки масс-спектрометра регистрируют известный масс-спектр стандартного соединения и градуируют временную ось в единицах массы. [c.222]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология