Растр

Визуализация полей дефектов в интроскопах с многоэлементными преобразователями позволяет получать количественную оценку параметров обнаруженных дефектов. Применение компьютерной техники и конструктивные особенности матричных преобразователей позволяют значительно упростить схемы селекции части растра, формирования ограничивающей рамки, измерения площади, протяженности, ширины и глубины дефекта. [c.197]

Некоторые конструкции рентгеновских микроанализаторов позволяют получать изображение распределения элементов на поверхности образца с помощью характеристических рентгеновских лучей. Для этого электронный зонд, падающий на образец, специальной электромагнитной системой отклоняется так, что пробегает по некоторой площади (метод сканирования). Время, затрачиваемое электронным зондом для пробега одного растра, равно 8 с, число строк — 400. Возможные увеличения 300, 600 , 1200 и 2400. Спектрометр прибора настраивается на характеристическую линию определенного элемента. Рентгеновские кванты, попадающие в спектрометр, преобразуются счетчиком в электрические импульсы, которые модулируют электронный луч телевизионной трубки. В результате каждому зарегистрированному кванту соответствует яркая точка на экране. Поскольку развертка электронного зонда синхронна с разверткой электронно-лучевой трубки, то светящиеся точки располагаются на экране в соответствии с характером распределения элементов на анализируемой площади. [c.153]

Цинк, кадмий и ртуть легко образуют сплавы как друг с другом, так н с другими металлами. Сплавы ртути с другими металлами — амальгамы —обычно жидки или тестообразны. Их можно получить растр ранием или даже простым перемешиванием металла со ртутью. Так, при растирании натрия со ртутью происходит экзотермический процесс образования амальгамы, в которой обнаружено не менее семи интерметаллических соединений. Амальгама кадмия представляет собой металлический раствор. На растворимости в ртути золота осноиан один из методов выделения его из руды. [c.633]

Третий, технически более сложный способ, основан на использовании растра — пластиковой пленки со множеством мельчайших линзочек, покрывающей цветное фотоизображение, снятое с помощью особой многообъективной камеры. При рассматривании такой фотографии не только получается впечатление объемности, но имеется возможность, меняя положение, как бы осматривать объемный предмет из разных позиций. Изображение получается цветным. [c.27]

Торцовое уплотнение состоит из двух колец — подвижного и неподвижного, которые прижимаются друг к другу по торцовой поверхности пружиной. Торцовые уплотнения имеют следующие достоинства 1) в отличие от сальников при нормальной работе пе требуется их постоянного обслуживания 2) правильно подобранные торцовые уплотнения отличаются большой износоустойчивостью и, следовательно, долговечностью 3) обладают высокой герметичностью. Самый ответственный элемент торцового уплотне-чия —пара трения. Качество уплотнения и надежность его работы. ависят в основном от материала и качества обработки поверхностей трущихся колец. Одно из колец изготовляют не менее твердого материала — графита, другое — из кислотостойкой стали, бронзы или твердой резины. Для колец торцовых уплотнений применяют также фторопласт — 4 и керамику. Керамические кольца обладают химической стойкостью и износоустойчивостью, их недостаток— склонность к растр-ескиванию. [c.244]

В приборе применена растровая система освещения щели, которая значительно уменьшает влияние смещения светового облака дуги или искры в процессе горения на воспроизводимость измерений. Она состоит из растров, линз с наклеенными на них тридцатью маленькими линзочками. Каждая линзочка первого растра дает промежуточное изображение источника света на соответствующие линзочки второго растра, а линза-насадка точно проецирует всю систему промежуточных изображений на щель спектрального прибора и дифракционную решетку. [c.692]

А1—ЗМо—IV было преимущественно межкристаллитным, в. то время как в Т1—5 А1—2,58п наблюдали смешанное растрескивание— меж- и транскристаллитное. Было показано, что растре- [c.381]

Для дикарбоновых кислот прежде всего характерна высокая кислотность. Вьппе уже о гмечалось, что они значительно сильнее одноосновных и лучше растр оряются в воде, В целом >5с для да- фС-юйых кислот присущи те же свойства, что для одноосновных, однаьо имеются и специфические реакции. [c.116]

Ббльшая или меньшая чувствительность к резким колебаниям темоера-туры зависит от сорта стекла. Так, стекла марок Б-2 и № 846, из которых в большинстве случаев приготовляется химическая посуда, выдерживают быстрое охлаждение от 120—140 °С до комнатной температуры. Стекло пирекс не растре-скгвается при резком охлаждении от 220—240 С до комнатной температуры. [c.44]

Предложено здание одноэтажное, заглубленное в грунт, включающее центральный цилиндрический толстостенный железобетонный блок, блоки с боковыми радиальными стенами в форме растров, в которых размещены емкости, технологическое оборудование, а также фундамент и покрытия в виде чаши, причем центральный цилиндрический толстостенный железобетонный блок и блоки с боковыми радиальными стенами в форме растров снабжены отдельными двухслойными, металлическими термостатирующими крышками для блоков, наружная цилиндрическая поверхность здания образована сплошной бетонной стеной, а стены-перегородки блоков имеют вмонтированные соединенные между собой трубы для охлаждения стен и термор уляции помещений блоков (см. рис. 20). [c.38]

В процессе контроля изменение выходных напряжений, снимаемых с резисторов, отражает изменение положения датчиков относительно поверхности изделия. При одновременном воздействИ1И этих напряжений перо диух-координатного самопишущего потенциометра вычерчивает на регистрирующей бумаге развертку изделия в виде растра. Если контроль проводят по затуханию ультразвукового сигнала в исследуемом материале, то на участке, имеющем дефект, уровень сигнала упадет ниже допустимого значения. В этот момент электромеханическая приставка отключает систему записи потенциометра и на растре появляются пропуски, соответствующие контуру дефекта (см. рис. 2,6). [c.239]

При сканировании электронного пучка, которое также осуществляется достаточно быстро (метод сканирующей оже-ми-кроскопии СОМ), получают данные о двухмерном распределении элементов по площади (растр), а сочетание с ионным травлением позволяет проводить трехмерный анализ поверхностного слоя образца. [c.151]

Простые растровые конденсоры представляют собой плссковыпук-лую линзу, на плоской стороне которой размещен растр — много небольших линзочек (рис. 83). Благодаря этому получается много небольших изображений источника света. Эти изображения обычным конденсором проектируются на объектив коллиматора. При перемещении источника происходит очень небольшое смещение каждого умень[пенного изображения. Это позволяет получать равномерное и постоянное во времени освещение спектральных линий. [c.116]

Для растрового конденсора начертите ход лучей, проходяишх по оптическим осям линзочек растра, и ход лучей, которые [ релом-ляются растром. [c.117]

Наиболее ценным преимуществом кварцевого стекла перед обычным является примерно в 15 раз меньший и почти не изменяющийся с температурой коэффициент термического расширения. Благодаря этому кварцевая посуда переносит без растре скивания весьма резкие изменения температуры ее можно, например, нагреть до красного каления и тотчас опустить в воду. С другой стороны, кварцевое стекло почти вовсе йе задерживает ультрафиолетовые лучи и поэтому применяется в аппаратах [c.597]

Сепарол Ш К-25 65%-ный раствор Жид- Светло- 65 1,0 Растр.о- Раство- плзм. 20Х не гидроли- [c.146]

Растр-оритель высушивают над дриеритом. затем подвергают осторожной фрагчцпонной ДИСТИЛЛЯЦИИ, Кроме того, рекомендуется перегонка или высушивание растворителя над натрием. [c.441]

Полипропилен 50 ж. 70 Растре- скивание образцов 4, 187 56 [c.222]

Совершенный прецизионный вискозиметр применен в лаборатории П. А. Ребиндера [34]. Диапазон скоростей его охватывает 10 порядков (от 7 -10 до 3,5-Ю с ). Крутильная головка обеспечивает измерения при постоянном градиенте скорости или при постоянном напряжении. Конечные интервалы, измеряемые каждым методом, перекрываются. Исследования могут производитья с через-вычайно малой скоростью внутреннего цилиндра. Высокую точность обеспечивает фиксация углов поворота с помош,ью кругового линейчатого растра со ступенчатым редуктором. Круговой растр используется также в качестве датчика угловых смеш ений внутреннего цилиндра, автоматически поддерживающего постоянство крутящего момента. Прибор снабжен фотоэлектронным умножителем с электронным усилителем и осциллографом или электронным самописцем. Специальные меры приняты для исключения вибраций. С помощью этого вискозиметра у бентонитовых суспензий были изучены область медленной ползучести (шведовская область) и переход от бингамовской текучести к ньютоновскому течению с минимальной вязкостью. [c.264]

Фотокамеры общего иазиаче- Через растр или слой микро- [c.168]

Хлорирование б адиенового каучука приводит к образованию продукта [С4НвС12] , содержащего до 48% хлора, бутадиен-стирольного каучука - продукта с содержанием 55-62% хлора. По термостойкости и стойкости к действию щелочей они уступают хлоркаучуку растр, в аромаггич. углеводородах и неполярных р-рителях используются в качестве компонентов резиновых клеев и для получения защитных покрытий (заливка швов, обмазка и др.). [c.287]

Растровая (сканирующая) микроскопия. В растровых электронных микроскопах (РЭМ рис. 2) электронный луч, сжатый магн. линзами в тонкий (1-10 нм) зонд, сканирует пов-сть образца, формируя на ней растр из неск. тыс. параллельных линий. Возникающее при электронной бомбардировке пов-сги вторичные излучения (вторичная эмиссия электронов, оже-электронная эмиссия и др.) регистрируются разл. детекторами и преобразуются в видеосигаалы, модулирующие электронный луч в ЭЛТ. Развертки лучей в колонне РЭМ и в ЭЛТ синхронны, поэтому на экране ЭЛТ появляется изображение, представляющее собой картину распределения интенсивности одного из вторичных излучений по сканируемой [c.440]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.29 ]

Физико-химические основы производства радиоэлектронной аппаратуры (1979) -- [ c.181 , c.184 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.29 ]

Рефрактометрические методы химии Издание 2 (1974) -- [ c.295 , c.301 , c.312 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология