Выбор кристалла

Источник возбуждения спектров рентгеновская трубка с родиевым анодом, 4 кВт, до 5 фильтров первичного пучка, широкий выбор кристаллов-анализаторов. [c.182]

При использовании рассматриваемого метода фокусировки рентгеновских лучей, как это видно, например, из формулы (2), целесообразно употребление кристаллов с относительно малым радиусом кривизны. Это требование также часто является трудно выполнимым на практике. Оно ограничивает выбор кристаллов, пригодных для использования в приборе, и кладет практический предел его разрешающей способности. Если к этому прибавить, что вы- [c.14]

Как уже говорилось выше, метод НПВО позволяет получать ИК-спектры, аналогичные обычным спектрам ИК-поглощения, конечно, при условии соответствующего внимания к выбору кристалла. Для получения спектра НПВО первое, что необходимо сделать, это подобрать кристалл исходя из показателя преломления исследуемого образца. Отношение пх показателей преломления определит интервал углов, в пределах которых можно получить спектр НПВО. За пределами этого интервала спектр будет либо мало интенсивным, либо сильно искаженным из-за рефракции. [c.306]

При выборе кристалла для проведения требуемого анализа можно руководствоваться табл. 8. В эту таблицу включены наи- [c.131]

В зависимости от этого интервала находится и выбор кристалл-анализатора. [c.59]

Автоматические рентгено-флуоресцентные спектрометры, обсужденные в этом разделе, не дают полного представления о всех выпускаемых приборах. Тем не менее здесь отмечены наиболее важные особенности приборов этого типа. Все они являются сложными приборами, включающими блоки и механизмы, для производства которых необходимо высоко точное оборудование. Спектрометры являются весьма дорогими приборами их применение экономически оправдано в условиях, когда имеется большое число сходных образцов. Поэтому они в основном используются для контроля производственных процессов там, где необходим элементный анализ. В этом отношении рентгено-флюоресцентные спектрометры обладают несколькими важными преимуществами быстрота, высокая воспроизводимость, отсутствие разрушения образцов. При правильном выборе кристалла-анализатора, окошек и детекторов таким способом можно определять все элементы, за исключением самых легких,в широком диапазоне чувствительности от и выше). [c.229]

Кристаллы-анализаторы [9—11, 15, 17, 37]. Правильный выбор кристалла-анализатора в кристалл-дифракционном рентгенофлуоресцентном анализе в значительной степени определяет разрешающую способность метода и порог чувствительности. Основными характеристиками кристаллов-анализаторов являются межплоскостное расстояние d, определяющее рабочий [c.44]

Выбор кристалла-анализатора определяется интервалом длин волн, в котором проводится анализ, и разумным компромиссом между интенсивностью отражения и разрешающей способностью. Имеет значение также доступность кристалла и простота его обработки. [c.45]

Рекомендации по выбору кристаллов даны в табл. 1. [c.45]

Выбор кристалла для спектрального анализа определяется длинами волн исследуемых веществ. Так как межплоскостное расстояние кристалла-анализатора должно, во всяком случае, превосходить половину длины волны исследуемого излучения, для средних и коротких волн обычно пользуются каменной солью, кварцем и исландским шпатом, а для длинноволнового излучения — аквамарином и слюдой. [c.300]

Если р-излучение источника сопровождается у-излучением, то для уменьшения эффективности его регистрации используют органические кристаллы, размеры которых выбрфают равными экстраполированному пробегу исследуемых р-частиц. При таком выборе кристалла относительная эффективность регистрации у-излучения минимальна. [c.101]

Kri ta laufstei4ung f установка кристалла (выбор, кристалла-.. графических осей и единичной грани) [c.393]

Полученные результаты свидетельствуют о том, что рентгенофлуоресцентный метод позволяет сравнительно быстро и точно провести анализ Т1 в У0С1з с чувствительностью 1 10 вес. %. Для повышения чувствительности определения У в Т1С14 необходимо увеличение разрешающей способности прибора за счет выбора кристалла-анализатора с малыми межплоскостными расстояниями или же за счет регистрации спектров высоких порядков, чтобы проводить анализ по более интенсивной ЛГа-линии У. [c.210]

Выбор кристалла для регистрации спектра НПВО рекомендуется начинать с KRS-5, хотя бы из тех соображений, что он в сотни раз чаще применим для этой цели, чем Ag l. Вообще для исследования НПВО всех окрашенных материалов, пленок и красок следует подбирать кристалл, начиная с KRS-5. Для полистирола, напротив, более подходящим кристаллом оказывается Ag l. Подобрав кристалл, нужно выбрать оптимальный угол падения. В случае KRS-5 рекомендуется начинать с угла 45°. Варьируя углы, не следует добиваться максимальной энергии на выходе приставки, нет необходимости добиваться и максимального проникновения излучения в исследуемую среду. Исключение составляет Ti02. Если есть основание предполагать, что в анализируемом красителе имеется ТЮг, то максимум энергии следует искать в области 2000 см . Он всегда получается при углах, близких к 55°. [c.304]

Совершенно особое назначение приобрели тонкие пленки в оптическом приборостроении — обычно это прозрачные интерференционные пленки, изменяющие и регулирующие оптические свойства деталей из стекла, кварца, кристаллов и полупроводниковых материалов. Оптическая промышленность, выпуская большое количество разнообразнейших приборов (микроскопы биологические, металлографические, поляризационные, флюоресцентные) спектральных — для различных областей спектра, широкий ассортимент фотографических, киносъемочных и кинопроекционных аппаратов, требует и широкого ассортимента разнообразных по химическому составу стекол и других оптических материалов. Однако простым изменением химического состава стекол или выбором кристаллов различной природы далеко не всегда удается выполнить требования вычислителей и конструкторов оптических систем. При зтом часто получают стекла с плохой химической усгойчивостью, в результате чего они быстро портятся в условиях эксплуатации и не могут быть применены без специальных прозрачных защитных пленок. В других случаях необходимы стекла с высокими значениями показателей преломления, но они, как известно, обладают и высокой отражательной способностью. Поэтому и оптические детали из таких стекол пропускают значительно меньше света, чем мало преломляющие стекла. Уменьшение отражения света от полированных поверхностей оптических деталей достигается нанесением поверхностных интерференционных пленок определенной толщины и со строго определенными оптическими характеристиками. [c.9]

Возможности метода э. д. с. для изучения термодинамики твердофазных реакций ограничены прежде всего сравнительно малым выбором кристаллов, обладающих чисто ионной проводимостью в широком диапазоне химического потенциала составляющих его компонентов и температур. Помимо рассмотренных выше кисло-родпроводящих твердых электролитов в последнее время широкое применение нашли галогенпроводящие твердые электролиты, в первую очередь фториды кальция, магния, иттрия и редкоземельных элементов. Благодаря использованию этих электролитов открылась возможность исследовать методом э. д. с. обширную группу твердофазных реакций с участием углерода, бора, фосфора и других элементов. Рассмотрим в качестве примера взаимодействие [c.20]

Кроме этих обстоятельств также необходимо учит1)1вать и возможное поглощение иа частоте генерации как на ])абочем переходе, так и с метаста-бильного состояния на уровни выню лежаш,их мультиплетов активатора. Все перечисленные факты всегда следует иметь в виду при выборе кристалла д.тя 01 Г с модулированной добротностью. [c.80]

В табл. 19 приведены данные о свойствах монокристаллов различных соединений, применяемых в качестве плоских и изогнутых монохроматоров. Для облегчения выбора кристалла при исследовании различных специальных нросов приведены данные о характеристиках отражения, свойствах кри-лла и некоторых областях применения. Обозначения в графе интенсив-максимума сл. — слабая, ср.— средняя, с.— сильная, оч. с.— яфная. [c.62]

Исследование и изготовление образцов 1.1. Предварительное изучение и выбор кристаллов для рентгеновского исследования, в том числе его ориентировка, предварительная информация о структуре. 1.2. Иммерсионные жидкости для измерения коэффициента преломления. 1,3. Определение плотности твердых тел. 1.4. Методы ивготовления и установки образцов, в том числе установка поликристал-пических и монокристаллических образцов, кснтейнсры, типичные загрязняюшие примеси. 1.5. Рентгеновские методы установки кристаллов, в том числе относительно оси вращения, в прецессионной камере, использование камеры вращения [c.323]

Пьезоэлектрики применяются в массовом количестве в таких областях, как пьезотехника (высокостабильные резонаторы и фильтры, в том числе для производства часов, для стабилизапии частоты приемно-передающих устройств и компьютеров в качестве чувствительных элементов в датчиках давления, влажности, газового состава и др.), в устройствах акустоэлектроники (высокочастотные линии задержки, фильтры и резонаторы на поверхностных акустических волнах, сенсоры различного назначения), в качестве преобразователей акустического излучения в гидроакустике и для приборов медипинской акустики. При выборе кристаллов, помимо хорощих пьезоэлектрических свойств, часто принимают во внимание такие важные свойства, как малые потери на распространение акустических волн, а также наличие срезов и направлений с термостабильностью упругих свойств. [c.181]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология