Качественный анализ с помощью спектропроектора ПС

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Работа 7.3. Качественный анализ с помощью спектропроектора ПС-18 [c.201]

При качественном анализе необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого нужно найти длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц определить ее принадлежность тому или иному элементу. Для рассмотрения увеличенного изображения спектра на фотографической пластинке и определения длины волны служат измерительные микроскопы, спектропроекторы и другие вспомогательные приборы. [c.8]

Затем при помощи спектропроектора ПС-18 (ДСП-1) или измерительного микроскопа МИР-12 производится качественный спектральный анализ. Для этого в спектрах образцов с неизвестным составом при помощи атласа спектральных линий железа отыскиваются последние линии того или другого элемента. [c.251]

Спектр, полученный для качественного анализа, с помощью атласа спектров железа обычно сравнивается со спектром железа, сфотографированным рядом с анализируемым спектром. Имеющиеся в продаже атласы спектров железа предназначены обычно для кварцевых спектрографов средней дисперсии [1—4]. На этих таблицах рядом с линиями железа помещена шкала длин волн и отмечены некоторые наиболее характерные для элементов аналитические линии. Вследствие различий между атомными и ионными спектрами выпускают отдельные атласы только для спектра при дуговом возбуждении и только для спектра при искровом возбуждении. На спектропроекторе (разд. 4.2.2 в [4а]), имеющем обычно 20-кратное увеличение, изучаемый спектр сравнивают со спектром атласа, полученным при том же увеличении. При этом сфотографированный на пластинке спектр железа сравнивают со спектром железа в атласе . После чего по местоположению отмеченных в атласе линий элементов можно установить наличие или отсутствие в спектре анализируемой пробы аналитических линий (разд. 5.2.1). [c.25]

Фотографический анализ. Спектр фотографируется на пластинку или пленку, которая затем для качественного определения состава рассматривается при помощи спектропроектора. Для количественного анализа спектр фотометрируется при помощи микрофотометров и полученные данные обрабатываются приемами фотографического фотометрирования. Связь с концентрациями устанавливается градуировкой при помощи специальной системы эталонов. [c.438]

Фотографический анализ. Спектр фотографируют на фотопластинку или пленку, которую затем в случае качественного анализа рассматривают на спектропроекторе, а при количественных определениях фотометрируют при помощи микрофотометров, причем устанавливают связь между относительными интенсивностями линий и концентрациями элементов в пробе. [c.141]

Расстояние между линиями можно измерить, например, с помощью измерительного микроскопа МИР-12 или компаратора. При проведении качественного спектрального анализа часто пользуются специальными планшетами, на которых нанесены аналитические линии. Совмещая изображение спектра пробы, полученное, например, с помощью спектропроектора ПС-18 с линиями планшета, сразу получают предварительную информацию о качественном составе образца. Однако определения длины волны или совмещения на планшете еще недостаточно, чтобы сделать однозначный вывод о принадлежности данной линии какому-либо элементу, — здесь необходимо дополнительное исследование по идентификации спектральной линии. [c.20]

По методу регистрации спектра различают несколько видов эмиссионного спектрального анализа. При визуальном анализе качественный состав определяют непосредственным наблюдением видимого спектра. Более точен фотографический анализ, по которому спектр фотографируют на фотопластинку, которую затем рассматривают на спектропроекторе при качественных определениях или фотометрируют с помощью микрофотометра при количественных определениях. На фотографической пластинке получают фиксированный ряд линий, соответствующих спектральным линиям исследуемого образца, степень почернения которых пропорциональна интенсивности этих линий. [c.180]

В стилоскопе, приборе для экспрессного качественного и полуколичественного анализа, спектр расс.матривается визуально через окуляр интенсивность линий измеряется с помощью оптического клина. В стилометре наблюдение ведется визуально, приборы снабжены фотометрическим устройством. В спектрографе спектр анализируемого вещества фотографируется иа фотопластинку, затем спектр просматривается на спектропроекторе или микроскопе, а интенсивность линий на пластинке измеряется микрофотометром. В спектрометре интенсивность спектральных линий измеряется непосредственно фотометром. Измерения проводятся по отношению к спектральным линиям элементов известных концентраций в анализируемом веществе или в спектре стандартного вещества. [c.224]

Основным процессом качественного спектрального анализа является идентификация неизвестных линий, обнаруживаемых на спектрограмме пробы. Для этого имеется ряд приемов. На щели спектрографа установлена специальная металлическая пластинка с прорезями (диафрагма Гартмана), которая позволяет фотографировать несколько спектров рядом один за другим, без перемещения кассеты. При этом положение спектров по вертикали не меняется, и если в пробах, спектры которых сняты рядом, имеются одина- Ковые элементы, их спектральные линии протянутся из одного спектра в другой без смещения. Элементы, присутствующие только в одной из проб, дадут линии только в одном из спектров, расположенные между общими линиями. Таким образом, если ставится задача определения примесей в пробе с известной основой (основой называется основной элемент—железо в железных сплавах, медь в медных сплавах, железо в железной руде и т. д.), то рядом со спектром пробы фотографируют спектр чистой основы (железо, медь и т. д.). Спектрограмму кладут на спектропроектор и проектируют на экран. Идентификацию линий спектра основы проводят с помощью атласов спектральных линий, сфотографированных на том же спектрографе и отпечатанных с таким же увеличением, с которым наблюдается изучаемая спектрограмма. Кроме ат- [c.204]

Опыт показывает, что для качественной расшифровки спектра сплавов и несложных геологических образцов опытный аналитик затрачивает несколько минут без применения какой-либо измерительной аппаратуры, кроме спектропроектора или лупы. Большую помощь при такой расшифровке оказывают атласы спектральных линий (литература, раздел 5) в которых, наряду со спектром железа, указаны положения ярких линий элементов, на которые приходится вести анализ. [c.137]

В методе появления и усиления линий пробы фотографируются, как обычно, в стык со спектром железа при помощи фигурной диафрагмы. Фотопластинки со спектрограммами просматривают на экране спектропроектора или в окуляре СТЛ. Сначала производится обычный качественный анализ по аналитическим линиям отдельных элементов, затем проводится полуколичественный анализ для элементов, которые были отмечены при качественном просмотре, с применением таблиц, составленных опытным путем для каждого элемента. По таблице в спектре сначала определяется аналитическая линия, соответствующая наименьщему содержанию элемента, а затем просматриваются поочередно все остальные линии в сторону увеличения содержания определяемого элемента. Когда проба содержит малое количество (0,01—0,001%) изучаемого элемента, в соответствующем ему спектре присутствует мало чувствительных линий этого элемента — обычно [c.139]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология