Спектропроектор

Рис. 133. Двойной спектропроектор ДСП-1 а — внешний вид б — оптическая схема

Изучение спектра железа. Полученную спектрограмму помещают эмульсией вверх на предметный столик спектропроектора так, чтобы длинноволновая часть спектра находилась справа. Фокусировкой объектива добиваются резкого изображения линий спектра на экране. Расшифровку спектра целесообразно на- [c.110]

Спектропроектор ПС-18 предназначен для изучения спектрограмм и их расшифровки. На экране спектропроектора получают резкое изображение снятых на фотопластинке спектров. Затем находят планшет атласа спектральных линий, соответствующий нужной области спектра, и совмещают спектры железа на изображении фотопластинки и на планшете. При этом фотопластинку помещают, на предметный столик, а планшет ла экран спектропроектора. На планшете длинными штрихами указаны положения спектральных линий элементов относительно спектра л елеза и их длины волн. При совмещении спектров железа в атласе и на пластинке искомая спектральная линия в спектре пробы должна находиться точно под штрихом на планшете. Аналогично идентифицируют еще 2—3 наиболее чувствительные линии элемента и только после этого делают вывод о его присутствии в пробе. [c.28]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Спектр стали расшифровывают при помощи спектропроектора ПС-18. Для этого необходимо проделать следующие операции. [c.31]

Получить резкое изображение спектров на экране спектропроектора. [c.31]

Проецируют спектрограмму пробы со снятым встык дуговым спектром железа на экран спектропроектора и фокусируют изображение спектра вращением рукоятки 4. [c.201]

Идентифицируют при помощи спектропроектора ПС-18 аналитические пары спектральных линий, а также несколько близлежащих линий железа и метят их. [c.34]

Лекция 7. Качественный, полуколичественный и количественный анализ. Схема и работа спектропроектора и микрофотометра. [c.205]

Выбрав нужный планшет атласа, накладывают его на экран спектропроектора так, чтобы линии железа в проекции спектра совпали с линиями атласа. При этом следует учитывать, что на экране спектропроектора полное совмещение линий достигается только в центре экрана, на участке длиной 6 см. Последовательно используя другие планшеты, отождествляют наиболее характерные линии и группы линий, переходя от одной области спектра к другой. [c.111]

Спектр пробы фотографируют встык со спектром железа, используя для этого диафрагму Гартмана. Расшифровку спектрограммы производят на спектропроекторе с помощью атласов спектральных линий элементов. О присутствии элемента в пробе судят по появлению его наиболее чувствительных линий в спектрограмме. [c.111]

Проявляют, закрепляют, промывают и высушивают пластинку. Сухую пластинку устанавливают на предметный столик спектропроектора. Вращением объектива фокусируют изображение спектра на экране. [c.114]

После проявления и высушивания фотопластинку рассматривают под лупой или с помощью спектропроектора. Если аналитические линии, например бериллия, наблюдаются в спектре проб и отсутствуют в спектре угольных электродов, то в пробах содержится бериллий. Точно так же обнаруживают барий или другой элемент. [c.117]

Фотопластинку проявляют, фиксируют, промывают и высушивают. Полученную спектрограмму помещают на столик спектропроектора и при помощи атласа спектральных линий отыскивают гомологические пары линий одного из элементов, указанных в табл. 3.4. Визуально оценивают их почернения и определяют примерное содержание элементов, пользуясь указаниями табл. ЗА. При желании в порядке самоконтроля можно попытаться более точно оценить почернения гомологических пар линий при помощи микрофотометра. [c.119]

Нахождение в спектре пробы линий заданного элемента. Выписывают из таблицы спектральных линий (см. приложение 1) наиболее чувствительные ( последние ) линии искомого элемента. С помощью дисперсионной кривой и планшетов спектральных линий на спектропроекторе находят в спектре железа те линии, между которыми должны располагаться выписанные последние линии. Измеряют [c.203]

Основное достоинство метода фотометрического интерполирования заключается в том, что получаемый с его помощью градуировочный график должен быть прямолинеен, а его параметры не должны зависеть от свойств применяемой фотоэмульсии. Это обстоятельство позволяет при работе пользоваться постоянным градуировочным графиком, что существенно ускоряет анализ, особенно, если учесть, что все оценки относительной интенсивности линий выполняются визуально, при просмотре спектрограмм на экране спектропроектора. Возможно также применение метода в варианте, предусматривающем измерение почернений на микрофотометре. Производительность метода при этом, естественно, снижается, однако точность результатов возрастает. [c.120]

С помощью спектропроектора удобно ориентироваться в спектрах, особенно в спектре железа, так как многие атласы с его спектром получены на спектропроекторе ПС-18. Поэтому спектр железа при рассматривании его на спектропроекторе совпадает с его изображением [c.209]

Отснятую пластинку проявляют, фиксируют, промывают и высушивают. С помощью спектропроектора находят и отмечают спектральные линии [c.129]

В. К. Прокофьев. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Гостехиздат, 1951, ч. 1, (368 стр.), ч. 2 (327 стр.). В первой части рассматриваются свойства призменных спектрографов, конструкции наиболее употребительных образцов спектрографов, источники света, электроды для спектрального анализа, микрофотометры и спектропроекторы. Вторая часть посвящена описанию методов количественного спектрального анализа. В приложении даны таблицы аналитических пар линий, применяемых при количественном спектральном анализе различных сплавов сталей, чугунов, магниевых и алюминиевых сплавов, бронз, баббитов и др., а также чистых металлов. В конце книги приведен большой список литературы. [c.488]

Включают спектропроектор в сеть через понижающий трансформатор и реостат. [c.193]

Если же последние линии не обнаружены или соотношение интенсивностей рассматриваемых линий не соответствует табличным данным, то из специального справочника спектральных линий следует выписать все элементы, линии которых совпадают или близки к исследуемой линии в пределах разрешающей способности спектрального прибора, т.е. в пределах 0,05 нм. Из всех выписанных элементов следует исключить такие, которые заведомо не могут присутствовать в исследуемой пробе (например, газы), а также элементы, линии которых практически не появляются в выбранном источнике возбуждения (т.е. в дуге). Оставшиеся в списке элементы отождествляют при помощи соответствующих последних линий. Во втором случае, т.е. когда на планшете нет линии исследуемого спектра, прибегают к определению длины волны исследуемой линии и ее отождествлению. Для этого выбирают в спектре железа по обе стороны от исследуемой линии две линии железа, которые различаются между собой длинами волн не более чем на 1 им. Выписывают длины волн в спектре железа из атласа (Х и Х2), затем линейкой или миллиметровой бумагой измеряют расстояние на экране спектропроектора (в мм) между исследуемой линией и обеими линиями железа (соответственно Д и Ог). Длину волны иссле- [c.202]

Работа 7.3. Качественный анализ с помощью спектропроектора ПС-18 [c.201]

Сущность работы. Спектрограмма сплава или другого образца, полученная на спектрографе ИСП-28, качественно расшифровывается с помощью спектропроектора ПС-18. Расшифровка сводится к определению основы сплава (т.е. главного элемента сплава) или примесей, а также к нахождению в сплаве заданных элементов. [c.201]

Определяют область спектра, в которой расположена исследуемая линия спектра пробы (с помощью дисперсионной кривой прибора и миллиметровой шкалы). Отыскивают в атласе спектральных линий планшет, содержащий соответствующий участок спектра железа. Кладут планшет на экран спектропроектора так, чтобы линии одинаковой длины волны в спектре железа на экране и на планшете совпадали. [c.201]

В фотографическом методе спектр исследуе.мой пробы снимают на фотографическую пластинку при помощи спектрографа, обычно с кварцевой оптикой, потому что последние линии большинства элементов расположены в ультрафиолетовой части спектра. Одновременно снимают спектр железа (спектр этого элемента содержит очень большое число линий), который служит шкалой длин волн для идентификации линий в спектре исследуемого элемента. Для расшифровки спектра пользуются спектропроектором, с помощью которого проектируют на экран небольшой участок спектра (т. е. фотографии спектра), увеличенный примерно в 20 раз. [c.225]

Качественный спектральный анализ основан на индивидуальности эмиссионных спектров каждого элемента и сводится, как правило, к определению длин волн линий в спектре и установлению принадлежности этих линий тому или иному элементу. Расшифровка спектров осуществляется либо на стилоскопе (визуально), либо, чаще всего, на спектропроекторе или микроскопе после фотофафирования спектров на фотопластинку. [c.189]

Определение железа. Аналитические линии железа (в ультрафиолетовой части спектра) /. = 3020,6 /. = 3581,2 и >. = 3720,0 А. Пластинку вставляют в рамку спектропроектора ПС-18 и совмещают изображение спектра железа со спектром железа на планшете № 15 спектрального атласа (см. стр. 237). Затем, как указано в 13, в спектре эталонов и в спектре образца цинка отыскивают линию железа Х = = 3020,6 А. Несколько левее этой линии расположена линия цинка Я = 3018,4 А. Визуально оценивают интенсивность линии железа I. = = 3020,6 А в спектрах эталонов и в спектре образца цинка. Концентрация железа в исследуемом образце цинка примерно совпадает с концентрацией железа в эталоне, когда интенсивность линии железа % = = 3020,6 А в спектре образца цинка и в спектре эталона примерно одинакова. Таким же образом в спектре исследуемого образца цинка отыскивают линию железа I = 3581,2 А и линию X = 3720,0 А, пользуясь планшетом № 18. Интенсивность этих линий в спектре исследуемого образца цинка сравнивают с интенсивностью тех л е линий в спектре эталонов. [c.240]

Рассматривая спектр с помощью спектропроектора или лупы, можно визуально найти, какая нз ступеней линий анализируемого элемента равна по почернению какой-либо ступени линии стандарта. Например, если = то [c.103]

При качественном анализе необходимо определить, к излучению какого элемента относится та или иная линия в спектре анализируемой пробы. Для этого нужно найти длину волны линии по ее положению в спектре, а затем с помощью таблиц определить ее принадлежность тому или иному элементу. Для рассмотрения увеличенного изображения спектра на фотографической пластинке и определения длины волны служат измерительные микроскопы, спектропроекторы и другие вспомогательные приборы. [c.8]

Очень удобно рассматривать спектры с помощью с п е к т р о-проекторов. Спектропроектор типа ПС-18 показан на рис. 132. Фотографическая пластинка устанавливается на предметном столике эмульсией вниз в сторону объектива, который строит увеличенное (20 ) изображение небольшого участка спектра на экране. Спектрограмма освещается через конденсорную систему лампочкой накали вания. Изображение спектра на экране могут одновременно рассмат ривать несколько человек, что особенно удобно для учебных целей Расстояние между линиями на экране измеряют с помощью линейки Точность измерения ниже, чем при работе с измерительным микро скопом. [c.209]

Ориентироваться в дуговом спектре железа удобно по группам характерных линий, расположенных в разных участках спектра. Находят эти группы в спектре и в атласе, совмещают их друг с другом на экране спектропроектора, а затем переходят к соседним участкам [c.210]

Аппаратура и принадлежности. Спектропроектор ПС-18. Дисперсионная кривая. Таблица спектральных линий. Планшеты с изображением спектра железа. Спектрофамма с исследуемым спектром. [c.201]

Сравнение двух спектров, сфотографированных на разных фотографических пластинках, удобно проводить с помощью двойного спектропроектора ДСП- 1 фис. 133). Увеличенное изображение небольших участков спектра с обеих спектрограмм проектируется на экран. Нужные участки спектра с обеих спектрограмм можно совместить друг с другом, закрыв остальную часть изображения шторками 5. Небольшим перемещением призмы с зеркальными гранями можно устранить разницу в линейной дисперсии обоих спектров. [c.210]

Полная расшифровка спектра и идентификация всех его линий или даже поиск и отождествление последних тиний всех элементов требуют большого труда и затрат времени. Очень часто основной состав анализируемого образца приблизительно известен и требуется установить присутствие или отсутствие нескольких заданных элементов. Такую задачу проще всего решить путем сравнения спектра пробы не со спектром железа, а со спектрами искомых элементов (рис. 3.22). При этом нет необходимости фотографировать спектр чистого элемента при каждом анализе. Достаточно иметь стандартную спектрограмму чистого элемента. Тогда при наличии двойного спектропроектора рабочий спектр можно непосредственно сравнить со стандартным. Если двойного спектропроектора нет, то нужные участки спектрограммы чистого элемента можно либо сфотографировать на фотобумаге, либо зарисовать. Далее этими фотографиями или рисунками можно пользоваться так же, как и обычными планшетами атласа спектра железа. [c.115]

Спектропроектор ПС-18. Спектропроектор является вспомогательным прибором при проведении спектроаналитических работ. Он дает возможность получать на экране увеличенные в 20 раз небольшие участки спектров. Внешний вид спектропроектора ПС-18 приведен на рис. 17.3. [c.193]

Эту же задачу - определение в спектре пробы заранее заданных элементов - можно решить также с помошью атласа. Для этого разыскивают в атласе последние линии этих элементов и совмещают соответствующие планшеты с изображением спектра пробы на экране спектропроектора. При обнаружении в спектре пробы нескольких последних линий элемента с соотношением интенсивностей, указанным в атласе или таблице, можно считать, что данный элемент присутствует в пробе. Последние линии приведены в приложении 1. [c.204]

Часто применяют метод определения относительной интенсивности линий без помощи микрофотометра — фотометрическое интерполирование. Для этого каждый спектр фотографируется через девятиступенчатый ослабитель, соблюдая при этом все предосторожности, указанные выше. Рассматривая увеличенное изображение спектра с помон1ью микроскопа или спектропроектора, выбирают такие [c.182]

Практикум по физической химии изд3 (1964) -- [ c.18 , c.90 ]

Физико-химические методы анализа Изд4 (1964) -- [ c.200 ]

Техника и практика спектроскопии (1976) -- [ c.288 ]

Эмиссионный спектральный анализ Том 2 (1982) -- [ c.2 , c.25 , c.34 ]

Физико-химичемкие методы анализа (1964) -- [ c.18 , c.144 ]

Инструментальные методы химического анализа (1960) -- [ c.18 , c.141 , c.142 ]

Физико-химические методы анализа Издание 3 (1960) -- [ c.207 , c.208 ]

Физико-химические методы анализа Издание 4 (1964) -- [ c.200 ]

Физико-химические методы анализа Издание 2 (1971) -- [ c.18 , c.158 ]

Физико-химические методы анализа (1964) -- [ c.18 , c.144 ]

Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов (1960) -- [ c.25 ]

Техника и практика спектроскопии (1972) -- [ c.284 ]

Практикум по физической химии Изд 3 (1964) -- [ c.18 , c.90 ]

Практикум по физической химии Изд 4 (1975) -- [ c.18 , c.86 ]

Физико-химические методы анализа (1971) -- [ c.18 , c.158 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология