Интенсивность линий измеряемая

Методика атомно-абсорбционного спектрального анализа заключается в том, что исследуемое вещество вводят в газовое пламя, одновременно пламя освещают светом с непрерывным спектром, например от лампы накаливания или от трубки с полым катодом (газоразрядная трубка, в спектре которой наблюдаются линии элементов, входящие в состав материала катода). В полученном спектре интенсивность света в области характеристических частот будет меньше интенсивности ближайших соседних участков спектра. Ослабление интенсивности в области характеристических частот измеряют при помощи фотоэлектрической установки. Между ослаблением интенсивности линии, характерной для данного элемента, и концентрацией этого элемента в исследуемой пробе наблюдается линейная зависимость. [c.244]

Принципиальная схема атомно-абсорбционного спектрофотометра показана иа рис. 17. С помощью распылителя 1 аэрозоль исследуемого раство )а в смеси с горючим газом подается в пламя щелевой горелки 2. Прошедшее через пламя излучение от лампы с полым катодом 3 попадает на входную щель монохроматора 4. Интенсивность резонансной линии измеряют фотоэлектрическим методом (фотоумно житель 5, усилитель 7). Интенсивность линии от источника света, прошедшей через поглощающий слой атомов элемента в пламени, измеряют, принимая интенсивность неослабленной линии за 100%. и регистрируют с помощью отсчетного устройства 9 или самописца. [c.40]

Линейная зависимость фототока от интенсивности падающего света существенно упрощает градуировку измерительной системы и позволяет получать результаты прямо в единицах спектральной яркости или пропорциональной ей величины (при фотографических измерениях интенсивность линии может измеряться только после проявления и фотометрической обработки спектрограммы). Кроме того, фотоэлектрические измерения характеризуются довольно высокой воспроизводимостью. В определенных условиях принципиально возможно снижение погрешности относительных измерений до 0,1 %, а погрешность около [c.80]

Относительная интенсивность линии измеряется непосредственно при фотографической фотометрии спектра, когда используют метод фотометрического интерполирования или метод с использованием характеристической кривой. Непосредственное измерение логарифма относительной интенсивности спектральных линий возможно также при использовании некоторых установок с фотоэлектрической регистрацией спектра. Во всех этих случаях удобно пользоваться постоянным графиком, построенным в координатах lg / -lg С. [c.268]

Интенсивность линий измеряют с помощью фотографической пластинки. Коэффициенты а п Ь определяют из двух уравнений с известными концентрациями двух образцов, сфотографированных при одинаковых условиях на одной пластинке. Для спектра образца с неизвестной концентрацией примесного элемента Сх, сфотографированного на той лее пластинке, измеряют и находят неизвестную концентрацию по формуле [c.44]

Интенсивность спектральных линий растет с увеличением концентрации элемента в пробе. Поэтому для проведения количественного анализа нужно найти интенсивность одной спектральной линии определяемого элемента. Интенсивность линии измеряют или по ее почернению на фотографии спектра (спектрограмме) или сразу по величине светового потока, выходящего из спектрального аппарата. Величину почернения линий на спектрограмме определяют на микрофотометрах. [c.8]

Отношение интенсивностей двух линий, принадлежащих двум фазам, пропорционально процентному содержанию этих фаз. На этом свойстве рентгеновских лучей основан количественный фазовый анализ. Интенсивность линий измеряют путем фотометрирования, или используя ионизационные методы регистрации рентгеновских лучей. В некоторых специальных случаях интенсивность определяют на глаз. Построив экспериментально градуировочную- кривую зависимости процентного отношения интенсивностей фаз от их процентного содержания, можно с большей или меньшей точностью определить количественный состав катализатора. Ошибка анализа колеблется п пределах 1—30% от содержания фазы в зависимости от исследуемых образцов и методики. Более подробно различные методики анализа фазового состава изложены в работах [1, 3, 8, 9]. [c.388]

В стилоскопе, приборе для экспрессного качественного и полуколичественного анализа, спектр расс.матривается визуально через окуляр интенсивность линий измеряется с помощью оптического клина. В стилометре наблюдение ведется визуально, приборы снабжены фотометрическим устройством. В спектрографе спектр анализируемого вещества фотографируется иа фотопластинку, затем спектр просматривается на спектропроекторе или микроскопе, а интенсивность линий на пластинке измеряется микрофотометром. В спектрометре интенсивность спектральных линий измеряется непосредственно фотометром. Измерения проводятся по отношению к спектральным линиям элементов известных концентраций в анализируемом веществе или в спектре стандартного вещества. [c.224]

В протонном магнитном резонансе (ПМР) в качестве эталонного вещества используют тетраметилсилан или ТМС (Si( Ha)4), относительно очень узкой и интенсивной линии которого измеряют химические сдвиги [c.19]

Монохроматическое излучение испускается пробой в виде фотонов, энергия каждого из которых является функцией длины волны. Интенсивность линии измеряется скоростью эмиссии фотонов. Детектор превращает каждый фотон в электрический импульс в уже указанных пределах, так что измерение линейной интенсивности сводится к измерению скорости, при которой получается импульс с детектора. Это может быть выполнено несколькими методами, из которых наиболее широко применяются два следующих. [c.229]

Спектр сканируется и скорость импульсов регистрируется самописцем, так что получается непрерывная запись спектра, как показано на рис. 68. Интенсивность линий измеряется по высоте ников. [c.229]

В фотометрах с одним фотометрическим клином интенсивность линий измеряется методом гашения . Показание шкалы клина, соответствующее полному исчезновению линии в поле зрения окуляра, дает интенсивность этой линии в условных единицах т (пропускание фотометрического клина). [c.212]

В последние годы измерения оптических функций возбуждения были проведены рядом авторов [ > -98] улучшенными экспериментальными средствами. Возбуждающие пучки электронов получались гораздо более однородными по скоростям. Интенсивность линий измерялась фотоэлектрическим методом, позволявшим получать значительно большее число точек на кривых, чем в прежних работах методами фотографической фотометрии. Тщательнее соблюдались условия, при которых возбуждение атомов происходит только за счет соударений с электронами и отсутствуют вторичные явления (реабсорбция света, удары 2-го рода и т. д.). Эти работы показали, что оптические функции возбуждения имеют в ряде случаев по несколько тесно расположенных максимумов. [c.446]

Значительное развитие, особенно в связи с появлением ИСП-источника, получили сканирующие спектрометры. В приборах этого типа один из детекторов излучения находится в фиксированном положении и измеряет интенсивность линии элемента сравнения, а другой перемещается вдоль спектра и измеряет интенсивность линий, заданных аналитической программой. Применение новых электромеханических средств и микропроцессорного управления придали необходимую гибкость и оперативность системам сканирования, обеспечивающим быстрое перемещение от одной спектральной линии к другой и автоматическую остановку выходной щели на заданных аналитических линиях. [c.72]

Измеряют плотности почернений этих линий, соответствующих им участков в спектре ленточной лампы, а также линий в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. Построив характеристические кривые для всех исследуемых линий, определяют отношение их интенсивностей к интенсивности соответствующих участков сплошного спектра и по формуле (а) — см. выше — рассчитывают относительную интенсивность линий внутри триплета цинка и дублета бария. [c.130]

Очевидна связь интенсивности линии с числом возбужденных атомов (молекул). Следовательно, чем больше число возбужденных атомов (молекул), тем более интенсивна спектральная линия. Поэтому, измеряя интенсивность спектральной линии, можно определить число возбужденных атомов, т. е. решить задачу количественного анализа. [c.7]

Для анализа смеси элементов, близких по химическим свойствам, применяют рентген-спектральный метод. Исследуемое вещество наносят на поверхность антикатода рентгеновской трубки, создают вакуум, облучают антикатод потоком электронов и измеряют положение и интенсивность линий возбужденного рентгеновского спектра. Метод особенно ценен для анализа, например, смеси редкоземельных металлов или циркония и гафния. [c.19]

Расшифровку масс-спектра обычно начинают с установления химического состава всех наблюдаемых ионов. Для этого измеряют массы ионов и получают экспериментальное распределение интенсивностей линий масс-спектра, по которым рассчитывают относительные распространенности изотопов в каждом ионе и сравнивают их с теоретическим расчетом. [c.59]

Специальные области применения. Применяя специальные рентгеновские трубки, можно получать узкие пучки лучей диаметром. 100 мкм. В связи с этим в сплавах и рудах можно качественно и количественно анализировать отдельные фазы и включения без разрушения образцов. В случае когда необходимо измерить очень малую интенсивность линий флуоресценции, можно даже отказаться от разложения излучения в спектр кристалл-анализа-тором и определять элементы по энергии соответствующих квантов при помощи амплитудного анализатора. [c.217]

Число линий в спектрах. В настоящее время измерены длины волн многих спектральных линий всех доступных элементов — несколько сотен тысяч линий, В таблицах обычно приводят только часть известных линий, с которыми приходится встречаться в лабораторной практике. Так, в таблицах спектральных линий (см. список литературы), которыми обычно пользуются спектроскописты в нашей стране, приведено около 60 ООО линий. Кроме того, там дан список последних и других наиболее интенсивных линий всех элементов и потенциалы возбуждения для многих спектральных линий. [c.41]

По любому направлению от источника света распространяются лучи разных длин волн. Это излучение надо разложить в спектр, т. е. отделить в пространстве лучи разных длин волн друг от друга. После этого легко зарегистрировать и измерить интенсивность линий или полос. Спектральные аппараты и предназначены для разложения электромагнитного излучения в спектр. [c.83]

Логарифм относительной интенсивности спектральных линий пропорционален разности (или, что то же, алгебраической сумме) показаний шкал, по которым измеряют перемещение клиньев. Это легко доказать. Пусть до фотометра интенсивность линий была и /2-После ослабления интенсивности обеих линий стали равны Оптические плотности клиньев пропорциональны показаниям шкал (О = /га) под оптической плотностью О какого-нибудь тела, поглощающего свет, понимается логарифм отношения интенсивности света [c.156]

При фотографировании спектра экспозицию выбирают так, чтобы почернение более слабой линии без ослабления попадало в область нормальных почернений. Сильная линия в неослабленной части спектра попадает при этом в область передержек, но измеряя ее почернение в той части линии, которая ослаблена одной из ступенек, можно и с ней работать в области нормальных почернений. Для вычисления относительной интенсивности линий надо учесть пропускание ступенек. Так, если почернение аналитической линии измерено для первой ступеньки (100%), а линии сравнения для второй (50% пропускания) [c.163]

У стилометра на выходе каждого фотоэлемента после предварительного усилителя имеется накопительный конденсатор. Во время экспозиций показывающий прибор подключен к каналу неразложенного света. Экспозиция продолжается до тех пор, пока напряжение на этом конденсаторе не достигнет заранее заданной величины. После этого автоматически отключается генератор, а усилитель подключается к конденсатору канала аналитической линии и измеряет напряжение на нем. Эти показания прибора пропорциональны относительной интенсивности спектральной линии по сравнению с неразложенным светом источника. Прибор позволяет измерять и абсолютные интенсивности аналитических линий. В этом случае отключают канал неразложенного света и выдержку автоматически отмеряют с помощью реле времени. Интенсивность линии определяют по напряжению на накопительном конденсаторе, измеренному показывающим прибором. [c.198]

Если интенсивность линий измеряют при помощи визуальных фотометров, то по оси абсцисс откладывают значение концентрации или логарифма концентрации элемента в эталонах, а по оси ординат показания прибора. Вид градуировочного графика зависит от кони.ентрационной чувствительности линии определяемого элемента, а также и от характеристики фотометрических клиньев. В области малых концентраций вид графика зависит от соотношения интенсивности аналитической линии и мешающего фона. [c.219]

Для построения аналитических графиков были изготовлены эталонные образцы. Жидкие У0С1з и Т1С14 смешивали в известном соотношении, полученную смесь гидролизовали и выпаривали, получая тем самым хорошо перемешанную смесь окислов Т10а и УзОз- Излучатели готовили насыпанием порошков в жидкостные кюветы. Предварительно были оценены предельные толщины, отвечающие насыщенным слоям. Интенсивности линий измеряли в одноканальном режиме счета на проточном пропорциональном [c.209]

Предположим, например, что объектом анализа является кусок керамики. Положим, что в течение 5 мин проба перетирается в механической шаровой ударной мельнице из карбида вольфрама для получения однородного порошка. Определенное количество пробы должно быть отвешено, смешано 1 небольшом смесителе с равным количеством смеси графита и карбоната лития. Полученную смесь помещают в графитовый электрод диаметром 6 мм и сжигают в дуге (10 а) до полного выгорания. Эту операцию повторяют два раза. Интенсивность линий измеряют на нерегистрирующем микрофотометре без учета фона, концентрации отсчитывают по градуировочному графику, построенному заранее. Для проверки на смещение градуировочного графика снимают вместе с пробой спектр одного или двух стандартов, предполагая, что наклон графика остается неизменным. Из этого гипотетического примера ясно видны многие упрощения технологии проведения анализа. Проба не была отвешена в электрод. Градуировка весьма далека от тщательной. Двух измерений может оказаться недостаточно для обнаружения выбросов . Кроме того, не учитывался фон спектра. И тем не менее такая схема анализа обеспечивает довольно надежные результаты с учетом стоимо- [c.164]

Основное требование, предъявляемое к микрофотометру, это способность точно измерять свет, поглощенный изображением спектральной линии на спектрограмме. Щель микрофотометра сканируется по линии при помощи моторного привода. Ширина щели составляет 2— /з ширины линии. Попадая на приемник, свет преобразуется в электрическую энергию, и интенсивность линии измеряется при помощи показывающего прибора или записывается самописцем. Вследствие сложности спектра и трудностей идентифика- [c.174]

Очень точные измерения pH проводятся с помощью спектрофотометра. Этот прибор позволяет оценивать интенсивность спектральных линий. Перед на шлом работы измеряют интенсивность линий спектров обеих форм какого-либо индикатора, затем снимают спектр раствора, подкрашенного тем же индикатором, и путем сопоставления этого спектра со спектрами обеих форм ин. 1икатора определяют отношение между концентрациями обеих форм в изучаемом растворе, зная которое можно рассчитать pH. [c.497]

Измеряют плотности почернений заданных линий, а также -линии в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. По линии железа строят характеристическую кривую и определяют с ее помощью относительную интенсивность группы линий марганца. По почернениям линий алюминия, снятых через ступенчатый ослабитель, строят две характеристические кривые и по ним определяют относительную интенсивность линий. Полученные результаты сравнивают с теоретическимк отношениями интенсивностей, [c.129]

Как уже упоминалось, из интенсивности линий на рентге-ногралолах порошка далеко не всегда можно рассчитать значения структурных факторов как из-за случайных совпадений линий с разными индексами, так и вследствие того, что в кубической, тетрагональной и гексагональной сингониях есть дифракционные классы, для которых множители повторяемости меньше максимально возможных для данной сингонии (т.е. измеряется суммарная интенсивность нескольких линий). Начиная с ромбической сингонии, такой проблемы нет, но возрастает число случайных совпадений. Это приводит к тому, что методы структурного анализа, разработанные в расчете на монокристалльные данные, оказываются малопригодными для обработки рентгенограм порошка. Поэтому основная область применения порошковых методов [c.186]

Измеряя относительные интенсивности линий, можно оценить число ядер, находя щихся в различных химических группировках или соединениях. Поскольку ширины линий могут отличаться, лучше определять площади сигналов, что в современных спектрометрах ЯМР производится путем интегральной записи интенсивности — площадь 1аписывается как высота прямоугольного участка интегральной кривой, соответствующей данному сигналу (рис. 6.42). [c.296]

Контролировать только электрические параметры разряда, как правило, недостаточно. Поэтому при выборе режима и периодически при последующей работе проверяют температуру разряда. Достаточно убедиться в ее постоянстве, измеряя относительную интенсивность линий фикспары. [c.78]

При стилометрическом анализе относительную интенсивность измеряют ослаблением той линии аналитической пары, которая более интенсивна до тех пор, пока интенсивности линий не станут равны. Зная, во сколько раз пришлось ослабить линию, тем самым находят относительную интенсивность аналитической пары. Так, если аналитическая линия была в два раза ярче линии сравнения, то ее надо ослабить в два раза, чтобы интенсивности обеих линий сравнялись. Равенство интенсивностей устанавливается визуальным наблюдением. Чем точнее удается определить равенство интенсивностей линии, тем больше точность определения относительной интенсивности. [c.156]

Для всех этих целей нет необходимости измерять абсолютные значения количества освещения, которое попало на то или иное место фотографической пластинки. Вполне достаточно знать, во сколько раз количество освещения в одном месте больше, чем в другом. Следовательно, при постоянной выдержке необходимо иметь строго определенные относительные интенсивности линий, так называемые марки интенсивности. [c.179]

Стилоскопический метод. При стилоскопическом анализе вообще обходятся без фотометров, при этом не измеряют количественно относительную интенсивность линий, а только устанавливают равенство интенсивностей двух линий или определяют, какая из линий ярче. Например, на рис. 147,а приведена аналитическая пара линий, которую используют для определения никеля в сталях. При концентрации никеля 1,5% они имеют одинаковую интенсивность. В зависимости от концентраций интенсивность линии никеля может быть больше или меньше интенсивности линии сравнения. К установлению этого факта и сводится сопоставление интенсивностей линий. Таким образом, с помощью одной аналитической пары линии можно установить только, равна ли концентрация никеля в анализируемом образце 1,5%, больше или меньше этой величины. [c.264]

Стилометрический метод. При стилометрическом анализе достаточно использовать только одну аналитическую пару линий. Относительную интенсивность измеряют ослаблением той линии аналитической пары, которая более интенсивна до тех пор, пока интенсивности линий не станут равны. Чем точнее удается определить равенство интенсивностей линий, тем больше точность определения относительной интенсивности. [c.265]