Эмиссионная спектрография. Качественный анализ

Работа 11. Эмиссионная спектрография. Качественный анализ [c.326]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

За интенсивным внедрением спектрофотометрических методов в анализ силикатных пород последовало внедрение и других инструментальных методов. Эмиссионная спектрография, известная также как оптическая и ранее широко применявшаяся для качественного анализа минералов, стала ценным добавочным средством во многих лабораториях, занятых анализом пород. В некоторых нз них перед химическим анализом практикуют количественную проверку всех силикатных пород спектральным методом. Такой прием служит для идентификации интересующих элементов, которые затем определяют другими методами. Это дает также аналитику представление о порядке величин, с которыми он может встретиться в ходе анализа. Эмиссионная спектрография удовлетворила мечту геолога о большом количестве быстрых, дешевых анализов — по крайней мере для второстепенных и следовых компонентов силикатов. Попытки использовать спектральные данные для получения полных анализов широкого распространения не получили [3]. [c.10]

Наша промышленность выпускает серийную аппаратуру для получения спектров комбинационного рассеяния. Спектрограф ИСП-51 выпускается с комплектами для эмиссионного анализа и для анализа по спектрам комбинационного рассеяния. В его комплект входят осветитель с ртутно-кварцевыми лампами и системой охлаждения, набор кювет, светофильтры и другие приспособления. Для получения спектров используются светосильные короткофокусные камеры (/ , = 120 мм и 2= 270 мм). Для качественного и количественного анализа по спектрам комбинационного рассеяния необходимо также иметь измерительный микроскоп МИР-12 или лучше компаратор ИЗА-2, кроме того, нужен микрофотометр, причем более удобен регистрирующий микрофотометр МФ-4. [c.341]

Кварцевый спектрограф ИСП-30 предназначен для количественного и качественного спектрального эмиссионного анализа и для других спектроскопических исследований. Он является некоторой модификацией прибора ИСП-28. Прибор [c.282]

Спектрограф состоит из входного коллиматора, диспергирующего узла и фотокамеры (выходной объектив с кассетной частью). Служит как для качественного, так и для точного количественного эмиссионного спектрального анализа со специальными принадлежностями может применяться и для абсорбционного анализа. Штатив для крепления электродов при эмиссионном анализе [c.17]

Прибор для фотографирования спектров [29, 30]. Описанные в настоящем пособии практические работы по эмиссионному спектрографическому анализу могут быть выполнены с помощью наиболее распространенных типов спектрографов ИСП-30, ИСП-28 или ИСП-22. Эти спектрографы относятся к оптическим приборам средней разрешающей способности. Они предназначены для качественного и коли- [c.29]

Назначение. Кварцевый спектрограф ИСП-28 служит для получения эмиссионных спектров в интервале длин волн 2000—6000 А и используется для качественного и количественного анализа металлов, сплавов, руд, минералов и других объектов. [c.141]

Спектрографы — приборы с фотографической регистрацией спектра, предназначенные для качественного и количественного эмиссионного анализа самых разнообразных проб металлов и их сплавов, порошков и растворов, смеси газов. Спектрографы предназначены для регистрации спектров в видимой, ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях. Для длинноволновой части ИК нет чувствительных фотоматериалов, что и определяет невозможность ее регистрации. Для регистрации спектров в дальнем УФ используются вакуумные спектрографы с отражательной оптикой и специальными фотографическими пластинками. Но в аналитической практике применение этих спектрографов ограничено. [c.137]

В настоящее время для определения химического состава металлов широко используют методы спектрального анализа, а также начинают применять методы рентгено-спектрального анализа. Для качественного и количественного спектрального анализа применяют метод линейчатых эмиссионных спектров, позволяющий определять ничтожные количества примесей. При проведении спектрального анализа металл превращают в пары при помощи вольтовой дуги или ацетиленового пламени и наблюдают или фотографируют получаемый спектр в специальных приборах (спектрографах). Каждый металл имеет в спектре свою характерную для него линию, измеряя интенсивность которой, определяют качество и количество металла. [c.120]

Книга содержит систематизированный перечень физико-химических методов, применяемых при проведении геохимических исследований. Авторы детально рассматривают проблемы анализа горных пород и минералов, определения основных и второстепенных химических элементов. Из аналитических методов представлены качественный и количественный химический анализы, эмиссионная спектрография, фотометрия пламени, рентгеновская спектрография и дифракция, флуоримегрия, хроматография. [c.4]

Для определения количественного и качественного состава отложеиий волокнистого углерод1гого вещества на различных катализаторах применяли эмиссионный спектральный анализ с использованием германского спектрографа РС8-2 с плоской дифракционной решеткой (650 штрихов на 1 мм, уюл поворота решетки 6, диапазон съемки 235-410 нм). [c.32]