Амплитудное разрешение спектрометра

Амплитудное разрешение спектрометра [c.96]

Для эффективной регистрации гамма-излучения необходимы детекторы, рабочее вещество которых обладает высокой плотностью и достаточно большим зарядом ядра 2. К ним прежде всего относятся неорганические сцинтиллятора кристаллы NaI(Tl) и Сз1(Т1). В больших кристаллах Ка1(Т1) с колодцем эффективность регистрации гамма-излучения может превышать 90%. Одновременно стальная оболочка сцинтиллятора препятствует регистрации альфа- и бета-излучения. Время высвечивания неорганических кристаллов составляет 250 4-400 не, что примерно на 3 порядка меньше мёртвого времени газоразрядных счётчиков. Следует, однако, отметить, что сцинтилляционные гамма-спектрометры с кристаллами Ка1(Т1) имеют невысокое амплитудное разрешение (около 10%) и применяются только для идентификация радионуклидов, предварительно отделённых от других гамма-излуча-телей. [c.106]

На энергетическое разрешение сцинтилляционного спектрометра влияют искажения, вносимые электронной аппаратурой собственные шумы электронной схемы, нестабильность порогов дискриминации в зависимости от скорости счета импульсов в диапазоне регистрируемых амплитуд, нелинейность коэффициента усиления импульсного усилителя и др. Следует отметить, что искажения распределений амплитуд электрических импульсов резко увеличиваются, когда исследуемая область спектра занимает малое число каналов амплитудного дискриминатора. Поэтому для получения лучшего разрешения необходимо исследуе- [c.79]

В развитии спектроскопии высокого разрешения наметилось несколько путей для преодоления этих трудностей. Один из них — увеличение геометрического фактора оно осуществляется в спектрометрах с интерференционной селективной амплитудной модуляцией (сисам), в растровых спектрометрах. Другой путь состоит в увеличении числа одновременно регистрируемых спектральных элементов (адамар-спектрометры). Фурье-спектрометры и адамар-спектрометры с двойным кодированием соединяют в себе и то, и другое. Новые возможности открыли перестраиваемые лазеры. [c.166]

Рассмотрим фурье-спектрометр с такой же схемой регистрации излучения иа выходе, как и у сканирующего дифракционного спектрометра (см. рис. 6). Регистрируемый поток излучения Ф( ) теперь не повторяет форму спектра, как в сканирующем приборе, а воспроизводит, как мы видели в 6.1, функцию автокорреляции исследуемого излучения. Если изменения Ф(i) достаточно медленные (в фурье-спектрометрах высокого разрешения осуществляется, как правило, медленное сканирование), то требуется модуляция потока. Это может быть амплитудная модуляция, как и в сканирующих приборах, или модуляция разностью хода, которая более [c.184]

Спектрометр антисовпадений. Ранее было отмечено, что серьезные затруднения при обработке спектров, полученных с одним детектором, часто вызывает непрерывное амплитудное распределение. Поэтому конструкции спектрометров, позволяющие уменьшить этот эффект при сохранении энергетического разрешения и эффективности регистрации, представляют большой интерес [246]. Наибольшее распространение получили системы с основны.м детектором, установленным внутри вспомогательного. [c.206]

Обычно применяемые в радиометрическом анализе у-спектральные мето- ды с многоканальным амплитудным анализатором не уступают существенно в чувствительности аналогичным приборам интегрального счета. Однако для определения содержания отдельного радиоизотопа на фоне сопутствую- ощих излучателей, особенно при малой его концентрации, требуется большое разрешение спектрометра. Разрешающая способность у-спектрометров обычного однокристального типа лимитируется наличием сплошного ком-птоновского фона. Это особенно существенно при измерении малой примеси изотопа на большом фоне излучения примесей. [c.17]

Ппк полного поглощения ндтеет фундаментальное значение для у-спектрометрического анализа. Положение максимума пика полного поглощения определяет энергию регистрируемого у-излучения, а его площадь или высота служат мерой интенсивности излучения данной энергии. Ширина пика полного поглощения, которая определяется энергетическим разрешением спектрометра, также представляет важную характеристику амплитудного распределения. Данные рис. 47 показывают изменение разрешающей способности сцпнтилляционного и полупроводникового спектрометров с энергией регистрируемого у-излучения [195]. Значительное превосходство Ое (Ь1)-детекторов, особенно планарных, в энергетическом разрешении перед кристаллами Ыа1(Т1) совершенно очевидно. [c.165]

В спектрометрах с высоким разрешением необходимо учитывать явление наложения импульсов. Поскольку распределение во времени поступающих импульсов носит случайный характер, всегда существует вероятность наложения одного импульса на другой, например импульс Ь попадает на отрицательный выброс импульса а. Такие два импульса воспрршимаются амплитудным анализатором как один импульс меньшей амплитуды, который регистрируется в канале с меньшим номером, чем неналоженные импульсы. Возможно наложение последующего импульса Ь непосредственно и на положительную часть предыдущего импульса а. Такие два импульса воспринимаются анализатором как один, но с большей амплитудой. В результате таких наложений спектральная линия получается шире, чем при отсутствии наложений. [c.97]

Наиболее существенным достижением за последние годы несомненно явилось интенсивное развитие у-спектрометрии для анализа смесей у-излучающих радиоизотопов с использованием детекторов NaI(Tl) или Се(ЬО в сочетании с многоканальными амплитудными анализаторами. Интерпретация, в частности количественная, у-спек-тра смеси радиоизотопов может быть очень сложной и трудоемкой. Каждый у-излучатель характеризуется фотопиком определенной энергии и непрерывным комптоновским спектром более низкой энергии. Сигналы у-излучателей с более низкой энергией могут накладываться на непрерывный комптоновский спектр у-излучателей с более высокой энергией. Кроме того, могут иметься пики, связанные с аннигиляцией пар позитрон - электрон и с наличием резонансного захвата. Поэтому для количественного определения отдельных у-излуча-телей во всех случаях, за исключением простейших, требуется сложная математическая обработка, позволяющая выделить вклад каждого у-излучателя в суммарную активность. Такие расчеты трудоемки, и не удивительно, что использование ЭВМ в этой области стало совершенно необходимым. Основными применяемыми приемами являются обращение матриц с известными активностями компонентов и разложение спектра. Последнее включает последовательный подбор спектра по энергии и интенсивности с помощью ряда у-спектров,, чистых радиоактивных веществ, каждый из которых вносит вклад в общую активность. После подбора каждый компонент вычитается из сложного спектра до тех пор, пока последний не будет полностью разрешен. Точность метода вычитания зависит от различных факторов, прежде всего от совершенства счетного оборудования, например от наличия средств улучшения отношения амплитуды пика к уровню фона, от чистоты стандартов радиоизотопов и от количества отдельных изотопов в образце. Для опеределения очень малых количеств радиоизотопов в образцах лунного грунта применяли счетную систему со схемой антисовпадений, включающую два больших NaI(Tl)-дeтeктopa, ориентированных относительно образца под углом 180° и окруженных 22 фотоумножителями. Были приложены максимальные усилия для снижения вклада активности фона [14]. Система сбэра данных включала [c.220]

Спектрометры антнсовпадений сохраняют основные характеристики спектрометра с одним детекторол[ — разрешение и эффективность. Уменьшение фона и непрерывного амплитудного [c.210]

По причинам, отмеченным ранее, многоэлементный инструментальный анализ возможен только с помощью гамма-снек-тро.метров высокого разрешения. Напомним, что спектрометры с Ое( .1)-детекторами, как правило, имеют энергетическое разрешение 3—5 кэв в области 1 Мэв, а точность определения энергии достигает 0,5 кэв. Что же дают такие характеристики для инструментального нейтронноактивационного анализа сложных объектов Однако прежде всего следует отметить, что в этих случаях инструментальный подход сталкивается с затруднениями двух типов 1) наложением линий близких энергий и наличием непрерывного амплитудного распределения 2) значительными различиями в уровне наведенной активности компонентов. Роль первого фактора уже была обсуждена и не требует дополнительных комментариев. Второй фактор связан с величиной временного разрешения и допустимой загрузкой [c.313]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология