Коэффициент амплитудного распределения

Это можно учесть введением поправочного коэффициента ц, называемого коэффициентом амплитудного распределения [c.123]

Зависимость коэффициента амплитудного распределения от геометрической формы датчика, давления и состава газа описывается довольно сложной формулой. В частных случаях (при Я =0,5 О и Н =0) эту формулу можно записать иначе [c.141]

Коэффициенты и определяются амплитудным распределением исходного возмущения и зависят от волно- [c.176]

При регистрации - -излучения коэффициент г, для сцинтилляционного счетчика равен в среднем 1,2 это означает, что в данном случае за счет амплитудного распределения импульсов флуктуация увеличивается на 20%. При использовании в качестве детекторов счетчиков Гейгера, амплитудное распределение выходных импульсов невелико и значение -ц практически можно считать равным единице. [c.123]

После преобразования или усиления электрических сигналов они могут быть обработаны, и кратность превышения сигналом заданного порогового уровня может быть подсчитана, причем величина порогового уровня принята за единицу измерения. Чем больше сигнал акустического излучения, тем выше число единиц для данного события. Таким образом, число единиц, отмечаемое при пересечении, есть приближенная мера энергии или серьезности события. Иначе, можно подсчитывать события, не определяя степень превышения порогового уровня, но в этом случае игнорируется серьезность событий, являющихся источниками излучений, что ограничивает полезность данного приема. Другие вычисления, относящиеся к анализу нарушений в работе, включают спектральный анализ, определение коэффициента взаимной корреляции и амплитудного распределения. [c.271]

Диаметр отверстия. Диапазон размеров частиц. Диаметр отверстия датчика выбирают в зависимости от среднего диаметра исследуемых частиц, коэффициента вариации распределения и допустимой величины ошибки при определении параметров распределения. Максимальный размер частиц ограничивается нелинейностью амплитудной характеристики датчика и увеличением вероятности засорения отверстия. Экспериментально показано, что вероятность засорения велика, если средний диаметр частиц больше половины диаметра отверстия [520]. Минимальный размер частиц ограничивается уровнем шумов прибора. [c.120]

II коэффициент пропускания дискриминатора (верхняя шкала). По оси ординат отложены величины критерия качества рентгенограммы. Кривая 1 соответствует случаю, когда дифракционная линия накладывается на характеристический фон, т. е. амплитуды импульсов распределены по нормальному закону. Кривая 3 соответствует случаю наложения дифракционной линии на равномерно распределенный фон (белое излучение), кривая 2 соответствует промежуточному случаю. Из графика видно, что изменение ширины канала от 1 до 2 (в единицах полуширины кривой амплитудного распределения) практически не влияет на критерий качества рентгенограммы. Выбор ширины канала определяется также допустимой величиной нестабильности. Обычно ширина канала устанавливается равной 1,5, что соответствует приблизительно 90% пропускания характеристического излучения. [c.61]

Обостренные распределения — аналоги распределения межатомной функции или электронной плотности, полученные суммированием рядов Фурье, в которых в качестве коэффициентов используются не F(hkl) [или, соответственно, F(hkl)], а a F(hkl) [или F hkl)] с такими дополнительными множителями а (и 3), которые полностью или частично ликвидируют постепенное уменьшение средних значений амплитудных коэффициентов по мере увеличения sin ОД. Такая модификация ряда Фурье эквивалентна ликвидации (или уменьшению) тепловых колебаний атомов и (или) переходу к точечным атомам, что делает максимумы распределения более острыми и повышает разрешающую способность распределения. [c.145]

Функции w(A) и п(А) можно оценить по экспериментальным данным, построив гистограмму распределения импульсов по амплитуде. С точностью до постоянного коэффициента w A) может быть определена с помощью амплитудного анализатора. Часто используют функцию распределения амплитуд [c.165]

На энергетическое разрешение сцинтилляционного спектрометра влияют искажения, вносимые электронной аппаратурой собственные шумы электронной схемы, нестабильность порогов дискриминации в зависимости от скорости счета импульсов в диапазоне регистрируемых амплитуд, нелинейность коэффициента усиления импульсного усилителя и др. Следует отметить, что искажения распределений амплитуд электрических импульсов резко увеличиваются, когда исследуемая область спектра занимает малое число каналов амплитудного дискриминатора. Поэтому для получения лучшего разрешения необходимо исследуе- [c.79]

Кривые распределения частиц пыльцы по объемам были зарегистрированы на установке с кондуктометрическим датчиком и многоканальным амплитудным анализатором. Математическая обработка этих кривых дала среднее значение коэффициента вариации объемов, равное Оуч = 11,8%. Дисперсия любой экспериментальной кривой [832] [c.112]

В счетном режиме могут использоваться все детекторы, отмеченные выше. Однако у многих из иих аАшлитуда импульса Ушш пропорциональна энергии Еизл, потерянной зарегистрированной частицей (квантом) в рабочем объеме детектора, т, е. имеет место зависимость 1 мп = пзл, где к — коэффициент пропорциональности. Поэтому амплитудное распределение импульсов от так1, х детекторов содержит в себе информацию об энергетическом спектре регистрируемого излучения. Анализ таких распределений проводят с помощью дискриминаторов и анализаторов. [c.31]

Амплитудные распределения можно получить более непосредственно и точно с помощью одноканального анализатора. Этот прибор состоит из двух дискриминаторов и схемы антисовпадений, пропускающей импульс лишь в том случае, если его амплитуда попадает в интервал между двумя уровнями дискриминации. Дискриминаторы могут регулироваться раздельно или, что делается чаще, уровни дискриминации могут увеличиваться или уменьшаться одновременно при постоянной ширине канала ( окна ). Обычно интервал импульсов охватывает область от О до 50 в или от О до 100 в в ламповых анализаторах и от О до 10 е — в транзистиро-ванных. Соответствующим выбором коэффициента усиления различные участки амплитудного спектра приводятся к указанной области. Часто используются ширины каналов от 0,5 до 10% полного интервала. Необходима также высокая стабильность дискриминаторов, усилителя и источника высокого напряжения. [c.161]

Определение дифракционной картины для разностной ртутной решетки представляется непростым делом. Нельзя обойтись простым вычитанием интенсивностей пятен комбинированной рентгенограммы белок—ртуть и рентгенограммы чистого белка. Складываются не интенсивности F а сами амплитудные коэффициенты. Последние определяются модулем и фазой. Это, как говорилось выше, комплексные числа они складываются как векторы на плоскости F j., = Г д к F — амплитудный коэффициент, создаваемый решеткой ртутного деривата,, — амплитудный коэффициент, создаваемый решеткой белка, f — амплитудный коэффициент, создаваемый решеткой атомов ртути. Так как фазы Г и нам неизвестны, то для решения задачи нахождения, не достает данных. Здесь выход из затруднения дает совместное решение векторных уравнений, полученных для нескольких различных соединений тяжелого атома с белком, в частности большую помощь оказывают двойные дериваты, содержащие два разных тяжелых атома в двух точках макромолекулы. Большое облегчение в структурном анализе оказывает наличие оси симметрии кристалла 2-го порядка. Если рассматривать плоскости решетки h, к, I как нормальные к оси симметрии, то в них распределение материи будет иметь центр симметрии. Вращение вокруг оси симметрии на угол 7г, 2г., Зтг и т. д. приводит к повторению всех структурных коэффициентов Отсюда следует, что соответствующие амплитудные коэффициенты дифракционной картины, могут иметь фазы только О и ir. Для этих коэффициентов, разница фаз сводится к разнице знаков амплитудных коэффициентов, так как os 0=1, osn = —1. [c.98]

Не останавливаясь на деталях, напомним, что ртутная решетка, хотя элементарная ячейка остается моноклинной, все же примитивна, так как содержит в каждой ячейке немного атомов. Поэтому ее полный рентгеноструктурный анализ осуществляется все же просто н без принципиальных затруднений. А тогда оказывается возможньш вычислить ретроспективно значения всех амплитудных коэффициентов Д для любых плоскостей /г, к, I, причем вычислить их полностью, т. е. определить амплитуды и фазы. Знание всей пространственной картины как в прямом, так и в обратном пространстве для ртутной решетки мы используем для решения основной задачи — нахождения фаз амплитудных коэффициентов белка Опять же для цептросимметричных сечений проблема решается просто, пбо различия в фазах сводятся к различиям в знаках 1, к, 1 к г Ь к 1- Поэтому анализ распределения электронной плотности вдоль оси симметрии кристалла (т. е. суммарной электронной плотности в сечениях, нормальных к оси) был проделан раньше всего и с наименьшей затратой труда. [c.99]

Рис. 18. Зависимость коэффициента пропускания амплитудного дискриминатора Р от взаимного смещения гауссовой кривой распределения и канала Л (в единицах а) и от отношевия ширины канала g к полуширине кривой распределения а.

Волны типа (2.66) будут амплитудно-модулированными по фронту по закону созк созк г и они неоднородны, так как в плоскостях, параллельных оси х, возникает стационарное распределение амплитуд в виде стоячих волн. Член с коэффициентом В(х) в уравнении (2.66) соответствует значениям = О и к = к. Потенциал скорости в этом случае приобретает вид фоо = и определяет ту часть волнового движения, которое распространяется в виде плоской волны по оси X. [c.62]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология