Практическая разрешающая сила

Практическая разрешающая сила. [c.77]

В первую очередь к ним относятся конечная ширина щелей, дефекты оптики прибора и его фокусировки, зернистое строение фотоэмульсии, рассеяние света в ней. Поэтому кроме теоретической разрешающей способности вводят понятие практической разрешающей способности и критерий Рэлея при этом удобно обобщить таким образом, чтобы при любой форме инструментального контура считать две монохроматические линии равной интенсивности находящимися на пределе разрешения бА,ц, если провал яркости между ними составляет 20%. Определенная таким образом величина Лц называется практической разрешающей силой [c.77]

Иначе говоря, практическая разрешающая сила прямо пропорциональна линейной дисперсии прибора. [c.80]

Оценка практической разрешающей силы. Строгий учет всех факторов, влияющих на практическую разрешающую способность, обычно невозможен, поэтому ее обычно определяют опытным путем. [c.81]

Из выражения (34) следует, что в рассмотренном практически распространенном случае анализа, когда при переходе от одного спектрального прибора к другому почернения сплошного фона на спектрограммах сохраняются примерно постоянными, минимальная обнаружимая яркость излучения аналитической линии тем меньше, чем больше практическая разрешающая сила спектрографа. Так как 5д обычно пропорционально с, то и величина предела обнаружения элемента будет тоже уменьшаться с увеличением i np. [c.73]

В табл. 3 даны основные условия проведения экспериментов и полученные результаты. Изменения пределов обнаружения элементов, найденные экспериментально, удовлетворительно совпадают с расчетными Данными, вычисленными на основании формулы (34). Таким образом, подтверждается полученная выше обратно пропорциональная зависимость между значением относительного предела обнаружения элемента и практической разрешающей силой спектрографа. [c.76]

Из всех приведенных выше данных следует, что значения относительных пределов обнаружения элементов, как правило, обратно пропорциональны практической разрешающей силе спектрографа. Последняя, в свою очередь, зависит от ряда параметров прибора и изменяется вместе с ними. Поэтому целесообразно рассмотреть влияние наиболее важных характеристик спектрографа (например, угловой дисперсии, линейной дисперсии, ширины щели, фокусного расстояния коллиматорного объектива) на практическую разрешающую силу спектрографа и, следовательно, на величину относительных пределов обнаружения. [c.76]

Увеличение линейной дисперсии спектрографа в большинстве случаев ведет к снижению относительных пределов обнаружения элементов. Это связано с тем, что для многих спектральных приборов практическая разрешающая сила определяется не дифракционными явлениями, а разрешающей способностью используемых фотоматериалов. Для таких приборов, как это следует из выражения (32), увеличение линейной дисперсии ведет к росту практической разрешающей способности (например, при замене камеры с меньшим фокусным расстоянием на камеру с большим фокусным расстоянием в приборе ИСП-51). Но даже при использовании камеры с фокусным расстоянием / = 800 мм теоретическая разрешающая способность / теор прибора ИСП-51 не может быть использована ввиду недостаточной линейной дисперсии. Аналогичное явление наблюдается и для спектрографа СТЭ-1 со скрещенной дисперсией [788]. Несмотря на то, что теор этого прибора в ультрафиолетовой области спектра достигает 150 ООО, практическая разрешающая сила не превышает величины 60 000—70 ООО. [c.77]

Ширина щели влияет на величину фактора контрастности у фотоэмульсии [1494]. В ультрафиолетовой области этот эффект незначителен, в видимой области более существен. Однако использовать его, согласно выражению (34), для снижения предела обнаружения вряд ли возможно, так как величина у становится максимальной при некоторой оптимальной, большой ширине щели s SS so, при которой ухудшается практическая разрешающая сила спектрографа. Применение такой широкой щели может оказаться полезным для повышения точности анализа (см. 2.1,3 и 2.1.4). [c.79]

Наложение мешающей линии на аналитическую линию приводит к увеличению интенсивности последней. Две линии совпадают, если разность между их длинами волн (кк ) меньше величины АХ = которая характеризует практическую разрешающую силу прибора, диспергирующего свет, т. е. ДА,/ < Х1к. [c.261]

Меняя экспериментальные условия анализа одного и того же материала, можно изменять вероятность совпадения линий. Эта вероятность зависит главным образом от способа возбуждения, практической разрешающей силы и ширины щели используемого спектрографа. Чем уже спектральные линии, тем меньше различие в длинах волн соседних линий, которые еще не накладываются друг на друга. Поэтому в качественном спектральном анализе ширину щели спектрографа следует подбирать эмпирически (разд. 5.2.4 и разд. 3.3.2 в [1а]). [c.19]

Необходимую разрешающую силу фотометра можно рассчитать с помощью равенства (5.4.6.1). Например, для длины волны X = = 3000 А (==0,3 мкм) при использовании спектрографа с фокусным расстоянием f = 200 см и шириной дифракционной решетки / = 10 см /1 = 20) разрешающая сила фотометра должна равняться (0,3 X 20 = 6) 6 мкм. Практическая разрешающая сила фотометров обычно составляет 5 мкм. Это означает, что для полного сканирования спектрограммы длиной около 25 см необходимо произвести 50 ООО передвижений пластинки и замеров пропускания. При дисперсии 5 А/мм это составит измеряемую область длин волн 1250 А. [c.160]

Практическая разрешающая сила прибора = При [c.117]

Для короткофокусных призменных приборов, как правило, практическая разрешающая сила много меньше теоретической. Это, в частности, имеет место для широко распространенного спектрографа ИСП-51. У длиннофокусных приборов, например тина КСА, используется почти вся теоретическая разрешающая способность призмы. Уже упоминалось, что практическая разрешающая способность часто ограничивается дефектами призмы, которые, естественно, особенно сильно проявляются в длиннофокусных приборах. [c.67]

До недавнего времени только молекулярный анализ производился по спектрам поглощения. Применению метода поглощения для определения атомарного состава препятствовало два обстоятельства 1) для получения столба поглощающих атомов необходимо нагреть пары пробы до таких температур, когда значительная часть молекул диссоциирована как правило, для этого нужны температуры выше 2000°, и создание таких печей связано с существенными трудностями 2) если, как это обычно принято, пользоваться для наблюдения поглощения источником сплошного спектра, то для выявления слабых линий поглощения требуется значительная разрешающая способность прибора — разрешаемый им интервал длин волн дХ должен быть по крайней мере меньше собственной ширины наблюдаемых линий АХ. Так как при температурах 2000° и низких давлениях ширина линии поглощения, определяемая эффектом Доплера, составляет для элементов среднего атомного веса 2-10 то бХ должна быть по крайней мере 10 А, что определяет достаточно высокие требования к практической разрешающей силе прибора. Легко понять, что применение прибора с меньшей разрешающей способностью будет сразу приводить к уменьшению чувствительности определений, так как на линию поглощения будет накладываться непоглощенный свет из соседних с линией участков спектра. [c.284]

Практическая разрешающая сила. В предыдущих главах были подробно рассмотрены вопросы, связанные с разрешающей силой призмы и дифракционной решетки, и выведены соответствующие формулы (1.28) и (2.17). При этом предполагалось, что инструментальный контур определяется только явлением дифракции. В этом случае две линии равной яркости, различающиеся по длинам волн на величину бХ, удовлетворяющую критерию разрешения Рэлея, образуют суммарный инструментальный контур, ордината минимума которого составляет 80% от его максимума. [c.75]

Подбор оптимальных условий для получения спектров проводился на спектрографе ИСП-22. Изучение колебательной структуры, изотопных эффектов, исследо-. вание вращательной структуры проводилось с помощью спектрографа ДФС-3 с дисперсией 2 к мм я разрешающей силой 144 000 в первом порядке. Некоторые спектры были получены в 3-м порядке (дисперсия 0,67 к мм и практическая разрешающая сила 270000). Работы в вакуумной области были выполнены на спектрографе ДФС-5 с дисперсией 2,7 А1мм и разрешающей силой 144 ООО в первом порядке. [c.152]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология