Практические работы по спектральным приборам

Предлагаемая книга А. Смита весьма своевременна по следующим причинам. Во-первых, она содержит очень ценные практические сведения, необходимые в повседневной работе на спектральных приборах, а также обширную, хорошо классифицированную библиографию по ИК-спектроскопии. Во-вторых, она имеет подчеркнуто аналитическую направленность. В-третьих, книга на конкретных примерах знакомит читателя с теми возможностями и перспективами исследования вещества, которые связаны с появлением нового поколения спектральных приборов, в том числе и лазерных спектрометров, серийно выпускаемых зарубежными фирмами. И наконец, все разделы проникнуты идеей оптимизации исследований с аргументированным обоснованием того, что может ИК-спектроскопия и в чем состоит ее ограниченность. Согласно этой идее, тщательный подбор режимов работы спектрального прибора и продуманный выбор методики позволяют даже на спектрофотометрах среднего класса получать удовлетворительные результаты. [c.6]

Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента аппроксимирована прямой линией лишь для сравнительно узкого интервала концентраций, который в большой степени зависит от параметров прибора и типа пламени. В практической работе необходимо установить линейность между силой фототока и концентрацией элемента в растворе для этого используют эталонные растворы. [c.15]

Учебное пособие знакомит читателя с теоретическими основами работы современных спектральных приборов для эмиссионной спектроскопии,Тс их конструктивными особенностями, дает практические навыки работы, освещает основные приемы юстировки оптических схем и методы измерения количественных характеристик прибора. [c.2]

Во втором издании в отличие от первого (1963 г.) дополнены некоторые вопросы теории, показаны пути развития новейших спектральных приборов, несколько расширен круг практических работ, в которых используются приборы с фотоэлектрической регистрацией спектра. [c.2]

Разнообразие задач, решаемых в настоящее время с помощью спектральных приборов, настолько велико, что знание их, умение выбрать нужный прибор для данной конкретной задачи, умение юстировать прибор, определить его характеристики — все это необходимо спектроскописту любого профиля. Поэтому в данном пособии, кроме теории вопроса, приводится цикл практических работ по прикладной эмиссионной спектроскопии. Цикл работ дан в такой последовательности, чтобы от сравнительно простой техники эксперимента переходить к более сложным экспериментальным задачам. Авторами использован сравн ительно большой учебный опыт лаборатории спектроскопии Ленинградского института точной механики и оптики [c.3]

В книге даны примеры конкретного использования спектральных приборов, работаюш,их в видимой и ультрафиолетовой областях спектра, а также практические работы, относящиеся к эмиссионной спектроскопии. [c.3]

ПРАКТИЧЕСКИЕ РАБОТЫ ПО СПЕКТРАЛЬНЫМ ПРИБОРАМ [c.54]

Среди неметаллов наибольший интерес при анализе нефтепродуктов представляют углерод, водород, кислород, азот, сера, фосфор и галогены. Эти элементы объединяют в самостоятельную группу некоторые их особенности, затрудняющие анализ. Следует отметить высокую энергию ионизации всех перечисленных элементов (10,36—17,42 эВ). Это ограничивает выбор источника излучения. Кроме того, резонансные линии этих элементов расположены в вакуумной ультрафиолетовой области спектра, не доступной для работы с обычными спектральными приборами. Для их регистрации требуется весьма сложная вакуумная аппаратура. Поэтому эти линии не являются последними в обычном для спектрального анализа смысле. При работе на обычных приборах приходится пользоваться более трудновозбудимыми слабыми линиями. Трудности возникают также из-за высокой летучести перечисленных элементов и большинства их соединений. Следует еще учитывать практическую невозможность обогащения пробы определяемыми элементами, так [c.243]

В первую очередь спектральные приборы характеризуются угловой и линейной дисперсией, реальной светосилой, практической разрешающей способностью и областью пропускания. Ряд других второстепенных характеристик также играет большую роль при работе с прибором. К ним относятся геометрические размеры, положение и форма фокальной поверхности, увеличение, астигматизм и кривизна спектральных линий. Сначала мы рас- [c.68]

Поскольку паша промышленность пока практически не выпускает спектральных приборов с временным разрешением, представляет интерес сочленение обычных спектральных приборов со скоростными фоторегистраторами с целью получения временных разверток. Одна из таких установок описана в работе [7.18]. В установке использован стандартный спектрограф ИСП-51 и скоростной фоторегистратор СФР, которым заменена камерная часть спектрографа. Спектр пробегает мимо щели, установленной в фокальной поверхности фоторегистратора за щелью стоит фотоумножитель. Установка предназначена для скоростной регистрации контуров линий. С ее помощью осуществлена запись со скоростью 15 А мксек. Она может быть доведена до 300—400 А/мксек при использовании более ярких источников света, что позволит увеличить скорость вращения зеркала до предельной. [c.196]

PGS-2 с дифракционной решеткой и при использовании различных фотопластинок (рис. 24). Вместо ожидаемого падения отношения освещенностей л/ ф при s So снижение его начиналось практически для всех исследованных фотоматериалов при ширине щели, превышавшей нормальную ширину примерно в два раза. Отсюда следует, что в связи с эффектом светорассеяния в эмульсионном слое разрешающая способность фотоматериалов, очевидно, ниже приводимой обычно в справочных данных. Кроме Того, при необходимости достижения максимальной разрешающей способности практически не имеет смысла работать со щелями спектрографа шириной менее 2so. В сравнении с рекомендуемой Для определения малых содержаний элементов нормальной шириной щели это ведет к выигрышу в светосиле используемого спектрального прибора без потери в эффективной разрешающей способности. [c.79]

Дисперсионную полуширину Ь и контур изолированной вращательной спектральной линии нри наличии прибора с достаточно высоким разрешением можно получить непосредственно [1—5]. Измерения подобного рода (см. в гл. 9 подробности относительно исследования инфракрасных коле-бательно-вращательных полос) могут быть выполнены без затруднений в микроволновом диапазоне спектра, но в болыпинстве случаев в отношении разрешающей силы они находятся за пределами возможностей обычных инфракрасных приборов. По этой причине, а также потому, что в практической работе с излучательной способностью газа обычно имеют дело со средним значением Ь для целой колебательно-вращательной полосы, будет подробно описана косвенная методика инфракрасных измерений иолу-ширин. [c.164]

Можно показать, что фактор добротности пропорционален mQ, где Q = иН, II — геометрический фактор прибора [45], откуда следует, что прогресс в технике спектрального приборостроения связывается с увеличением значений т и Q. Тем самым оценка спектральных приборов сводится к исследованию зависимости величины произведения геометрического фактора на разрешающую силу от разрешающей силы. Результаты экспериментального анализа этой зависимости для приборов различных классов представлены в работе [46], основные выводы из которой могут быть сформулированы следующим образом многие приборы работают на практике с разрешающей силой, часто существенно ниже теоретической, причем в этом случае произведение Q для данного прибора представляет собой практически постоянную величину. [c.135]

Д. С. Рождественский [14] показал, что способ освещения предмета, изображаемого любой оптической системой, однозначно определяется отношением с апертур конденсора и объектива, которое он назвал коэффициентом некогерентности. Предельный случай, когда с = О, соответствует освещению щели спектрального прибора точечным источником света тогда освещение является полностью когерентным-, разность фаз световых колебаний в любой паре точек щели остается постоянной. Второй граничный случай полностью некогерентного освещения имеет место при с =оо фазы колебаний в различных точках щели независимы друг от друга, и щель можно считать самосветящейся. При изменении с от О до сх) происходит плавный переход от когерентного освещения к некогерентному. При этом случай изображения источника света на щели с помощью конденсора эквивалентен освещению щели без конденсора протяженным источником, видимым из щели под тем же углом, что и линза конденсора. Как правило, условия работы на спектральных приборах таковы, что при равенстве апертур конденсора и коллиматорного объектива (с = 1) освещение щели оказывается практически некогерентным. Тогда освещенность в каждой точке изображения может быть получена сложением значений освещенности, создаваемой в данной точке различными точками щели. [c.16]

В практической работе, когда используют один и тот же спектральный прибор и притом с конкретным приемником излучения (когда их спектральные свойства будут неизменными) можно сравнивать и линии, далекие по длинам волн. Оцениваться будет не действительное отношение интенсивностей этих линий, а величина, отличающаяся от него на некоторый множитель (не единица ). Аналогично рассуждают и в случае построения графиков, когда сравнивают интенсивности линий, измерен- [c.171]

Используя методы молекулярного анализа, наши ученые и практические работники непрерывно совершенствуют старые и находят новые методики проведения анализа, разрабатывают новые спектральные приборы, необходимые для его проведения. Количество работ, проведенных методом молекулярного анализа, огромно, поэтому составление какого-либо полного их обзора не представляется возможным. Они публикуются в периодических изданиях, таких, например, как журнал АН СССР Оптика и спектроскопия , а также публикуются в сборниках трудов конференций по спектроскопии, которые проводятся регулярно как в нашей стране, так и за границей. Вместе с тем наша литература бедна пособиями по рассматриваемому вопросу. [c.3]

Книга является руководством к практическим работам по оптической молекулярной спектроскопии. Она включает работы, посвященные знакомству со спектральными приборами, их настройке и регулировке, методикам получения и обработки соответствующих спектров, применению полученных спектральных данных для целей качественного и количественного анализа, а также при решении специальных физико-химических задач. В книге приводятся необходимые теоретические сведения. [c.2]

Для практического применения описываемого метода построения характеристической кривой нет необходимости полного воспроизведения контура исследуемой спектральной линии. При использовании микрофотометра (например, типа МФ-2) необходимые для построения кривой экспериментальные данные могут быть получены гораздо проще и точнее, если придерживаться следующей методики измерения. После проверки параллельности линии на рассматриваемой спектрограмме и щели фотометра измеряют величину Г, характеризующую ее неискаженный профиль в шкале интенсивности. Для этого можно воспользоваться, например, линией спин-дублета (или одним из других, изложенных выше методов) и найти ширину /С 1-линии как разность двух показаний нониуса микро метрического винта, осуществляющего перемещение каретки фотометра, несущей спектрограммы. Измерение ширины линии проводится на том уровне почернения, который соответствует почернению пика /(аг-линии. При работе с приборами обычной дисперсии эта величина оказывается порядка 0,1—0,2 мм и может быть измерена на фотометре с точностью 2—3%, Как показывает опыт, изменение ширины прецизионной щели фотометра в пределах 0,2—0,5 мм не приводит к заметным изменениям результатов измерения. Поэтому имеет смысл пользоваться более широкими щелями, использование которых делает результаты фотометрирования мало зависящими от неравномерности распределения зерен фотоэмульсии. В наших опытах применялась щель шириной 0,4 мм при увеличении р двадцать раз. [c.53]

Вначале исключают искажающее влияние конечной ширины щели спектрографа (или щелей спектрометра). Затем учитывают влияние спектрального аппарата (вместе с фотопластинкой) и линии возбуждающего света. При этом практически бывает удобно влияние спектрального прибора и возбуждающей линии учитывать вместе в виде наблюдаемого контура возбуждающей линии, зарегистрированной с весьма узкой щелью спектрографа (или щелями спектрометра). Естественно, что при работе с приборами высокой разрешающей силы (эталон Фабри — Перо) вопрос о влиянии щели спектрографа отпадает. При обработке фотографической спектрограммы на микрофотометре необходимо также учитывать искажающее влияние ширины щели микрофотометра, если она не составляет малой доли от ширины линии. [c.309]

В первую очередь спектральные приборы характеризуются угловой и линейной дисперсией, реальной светосилой, практической разрешающей способностью и областью пропускания. Ряд других второстепенных характеристик также играет большую роль при работе с прибором. К ним относятся геометрические размеры, положение и форма фокальной поверхности, увеличение, астигматизм и кривизна спектральных линий. Сначала мы рассмотрим менее важные характеристики, без анализа которых нельзя разобрать наиболее важные свойства прибора. [c.66]

Увеличение разрешающей способности приборов позволяет работать со все более сложными спектрами. Где же лежит предел повышения разрешающей способности приборов Практически она обычно ограничена их размерами и стоимостью. Теоретический предел разрешения дает ширина спектральных линий, определяемая источником света и собственной шириной линии, которую до сих пор не учитывали, считая, что она значительно меньше геометрической и дифракционной ширины. Если разность длин волн двух линий, излучаемых источником света, меньше, чем ширина каждой из них, то добиться разрешения нельзя ни при каких параметрах спектрального аппарата. [c.107]

Название фотоэлектрические колориметры, или, как иногда говорят, фотоэлектрические трехцветные колориметры, сохраняется обычно за приборами, спектральная чувствительность приемников которых прямо пропорциональна функциям сложения стандартного наблюдателя МКО. Большой эффект от использования таких приборов для контроля цвета в промышленности совершенно очевиден. Большинство серийно выпускаемых колориметров обладает достаточной воспроизводимостью результатов измерений и простотой в работе измерение на них занимает достаточно мало времени — за день можно измерить множество образцов. Однако многие из этих колориметров недостаточно точны, т. е. измеренные на них координаты цвета обычно расходятся с координатами, полученными путем расчета по спектральным данным относительно стандартного наблюдателя. К счастью, этот недостаток не означает, что такой прибор совершенно бесполезен. Как вскоре будет показано, существует множество практических случаев, когда вполне пригодны менее точные приборы при условии хорошей воспроизводимости измерений. [c.237]

Медь является элементом, наиболее легко определяемым с помощью атомной абсорбции. Очень часто медь используют для проверки работы атомно-абсорбционных спектрофотометров, так как изменение характеристик прибора почти не влияет на результаты анализа меди. Чувствительность определения практически не зависит от тока лампы, а градуировочный график достаточно линеен вплоть до больших значений оптической плотности. Изготовление медных ламп со спектром, свободным от примесей, также не представляет затруднений. Влияние спектральной ширины щели на абсорбцию основной линии меди весьма незначительно вплоть до значений спектральной ширины щели 20 А. [c.102]

Качественный учет влияния всех процессов в пламени — задача практически неразрешимая. Поэтому непосредственно по измеренной величине интенсивности спектральной линии определить концентрацию элемента в растворе нельзя. Однако при достаточно стабильных условиях работы пламенно-фотометрической установки можно с помощью эталонов установить зависимость между величиной отсчета на приборе, который пропорционален интенсивности спектральной линии, и концентрацией элемента в растворе, . е. произвести градуировку прибора. [c.148]

Перелом в этом отношении начался в 1926—27 гг. с появлением работ Герлаха. Герлах предложил приём, сводивший к минимуму влияние самого опасного врага количественного спектрального анализа — влияние непроизвольных вариаций условий возбуждения спектра — и позволивший использовать интенсивность спектральных линий в качестве меры количественного содержания элемента в пробе. С момента появления работ Герлаха и его сотрудников началось широкое применение спектрально-аналитических методов для различных аналитических задач и дальнейшее развитие и усовершенствование этих методов. Были найдены приёмы стабилизации условий возбуждения спектра, разработана аппаратура и методы для наблюдения и фотометрирования спектра, доведшие технику практического спектрального анализа до высокой степени совершенства. Большой размах приняло и изготовление спектральной аппаратуры — спектральных аппаратов и вспомогательных приборов, сочетающих в себе высокие качества спектра с простотой юстировки и измерений. [c.12]

От интегральной чувствительности фотоэлемента зависит практическая разрешающая способность фотоэлектрического прибора, так как при малочувствительных фотоэлементах приходится работать с широкими выходными щелями. Чувствительность фотоэлемента изменяется в зависимости от длины волны. Поэтому каждый фотоэлемент характеризуется еще спектральной чувствительностью т] (рис. 100, в). Длинноволновая граница чувствительности определяется в основном составом и некоторыми свойствами фотокатода (табл. 9), от которых зависит его работа выхода. [c.152]

Вся область, занимаемая электронными полосами, условно подразделяется на ближнюю инфракрасную (1200—750 нм), видимую (750—400 нм), ближнюю ультрафиолетовую (400—300 нм), среднюю ультрафиолетовую (300—200 нм) и далекую ультрафиолетовую (вакуумную) области спектра. Каждая спектральная область характеризуется своей техникой эксперимента — источниками и приемниками света, материалом оптических деталей и т. д. Наиболее высокочастотные полосы лежат в далекой ультрафиолетовой области. Здесь расположены переходы, обусловленные возбуждением наиболее прочно связанных а-электронов. Такие переходы имеются у всех молекул, содержащих простые связи. Поэтому в этой области практически невозможно подобрать прозрачное вещество, которое можно было бы использовать в качестве растворителя, и приходится исследовать молекулы в газообразном состоянии. Кроме того, начиная с 200 нм, коротковолновое излучение поглощает молекулярный кислород, содержащийся в атмосфере, а начиная с 160 нм, — атмосферный азот. Следовательно, приборы, предназначенные для работы в далекой ультрафиолетовой области, должны быть вакуумированы, поэтому далекая ультрафиолетовая область спектра называется иначе вакуумной ультрафиолетовой областью. [c.67]

При наличии в поглощающем слое неселективного поглощения происходит одинаковое ослабление обоих световых потоков, и поэтому прибор его не регистрирует. Однако при введении в поглощающий слой определяемого элемента возникает поглощение на длине волны аналитической линии, вследствие чего ее интенсивность уменьшается. Но так как спектральная ширина щели намного больше ширины линии, на интенсивность света дейтериевой лампы это практически не влияет. Таким образом, возникающий сигнал разбаланса соответствует реальному содержанию определяемого элемента в пробе, а дополнительное поглощение неселективного характера компенсируется. Следует учесть, что в описанном случае прибор работает фактически как однолучевой, а погрешность определяется не только флуктуациями светового потока основного источника, но также и потока дейтериевой лампы. Однако в последних моделях спектрофотометров используют схемы, позволяющие скомпенсировать флуктуации обоих источников света (см. разд. 3.7). [c.106]

Напомним, что практически все атомно-абсорб-ционные спектрофотометры могут так ке работать и в эмиссионном варианте, т. е. измерять интенсивность спектральных линий, излучаемых пламенем. В этом случае, естественно, ЛПК или другой источник света выключают. При работе в эмиссионном варианте используют специальный обтюратор, модулирующий излучаемый пламенем световой поток. При переходе к эмиссионным измерениям показания выходных приборов пропорциональны интенсивности излучения и выражены, таким образом, в произвольных единицах. Усилительно-регистрирующее устройство работает в этом случае как линейный усилитель. Такая возможность предусмотрена конструкцией схемы. [c.142]

Практические применения масс-спектрометрии весьма многообразны. Большую роль сыграли измерения масс-спектров при изучении изотопного состава различных веществ. Основные знания о стабильных изотопах фактически получены с помощью этого прибора. Одним из достоинств масс-спектрального анализа является возможность одновременного определения нескольких элементов и использование в работе небольших навесок (I мг и меньше). Метод применим для анализа металлов, полупроводников и других неорганических и органических веществ. Он позволяет определять примеси на поверхности и по всему объему пробы. Концентрационная чувствительность большинства элементов составляет величину порядка 10 %. Большие перспективы открывает метод, сочетающий хроматографическое разделение и масс-спектрометрическое определение полученных продуктов. [c.176]

Для увеличения линейной дисперсии можно увеличить либо фокусное расстояние камерного объектива, либо угловую дисперсию. Практически используются оба способа, так как увеличение дисперсии только за счет увеличения фокусного расстояния связано с рядом неудобств, как и использование большой угловой дисперсии при малых фокусных расстояниях. Заметим, что уменьшение угла г приводит к увеличению дисперсии, поэтому сейчас часто отказываются от ахромагизации оптики спектральных приборов, даже там, где это доступно, так как увеличение до 90° не вносит каких-либо существенных улучшений в работу спектрального прибора, уменьшая в то же время дисперсию. [c.105]

Переход а- а требует самой большой энергии и может быть возбужден квантами дальнего (180—230 нм) и вакуумного (ниже 180 нм) УФ. Практическое получение спектров в этих областях сопряжено с определенными техническими трудностями. Для вакуумного УФ практически нет прозрачных материалов, его поглощает даже воздух, так как а-связь есть в молекулах любого соединения. Поэтому все детали спектрального прибора должны быть отражательными и воздух из прибора откачан. Приборы для работы в вакуумном УФ дорогостоящие и дефицитные. В основном их используют для тонких научных исследований. На обычных же приборах с кварцевой оптикой соединения с ординарными связями, в которых возможен только о->-(т -переход, не анализируются. [c.278]

Приборы высокой разрешающей силы только начинают входить в практику спектрального анализа, в особенности изотопного. По этой причине в прежних руководствах по спектральному анализу приборам такого класса вообще не уделялось внимания. Поэтому мы сочли целесообразным изложить принципы работы этих приборов несколько более детально. Конечно, наше изложение, по необходимости сжатое, затрагивает только те вопросы, которые тесно связаны с излагаемыми во 2-й и 3-й ча-сгях книги методами анализа. В частности, для эмиссионного спектрального анализа несущественно состояние поляризации света и поэтому поляризующее действие прибора мы практически рассматривать не будем. Из рассмотрения выпадают также приборы для инфракрасной и вакуумной ультрафиолетовой областей спектра, поскольку для эмиссионного спектрального анализа обычно используются линии и полосы, расположенные [c.102]

Объективы. Наряду с диспергирующим элементом практическую разрешающую способность прибора определяет конструкция и качество объективов. Требования к объективам спектральных приборов отличаются от требований к большинству объективов других оптических приборов. Так, папример, устранение хроматической аберрации в спектральных приборах не обязательно, как не обязательно добиваться абсолютно плоского поля зрения небольшие искривления фокальной поверхности допустимы, а в спектрографах, рассчитанных для работы с пленкой, кривая фокальная поверхность представляет существенные преимущества при конструировании прибора, так как позволяет удобнее совмещать пленку с фокальной поверхностью. Только в приборах с большим относительным отверстием (1 5 и больше) приходится употреблять сложные мпоголинзовые объективы. В большинстве приборов для спектрального анализа удается обходиться объективами из одной-двух линз, иногда употребляется зеркальная оптика. [c.63]

Несмотря на указанное выше, ширина и форма линий являются наименее изученными параметрами в спектрах комбинационного рассеяния света, что, очевидно, связано с большими экспериментальными трудностями измерения этих величин. В принципе для подобных измерений пригодны обычные методы, применяемые при изучении ширины и формы эмиссионных спектральных лииий. Однако практически здесь возникают весьма существенные трудности. Во-первых, линии комбинационного рассеяния весьма слабы, вследствие чего при работе с обычными спектральными аппаратами с большой дисперсией и разрешающей способностью приходится применять очень большие экспозиции (десятки часов даже для наиболее сильных линий комбинационного рассеяния). Применение подобных экспозиций, не говоря уже о больших неудобствах работы, создает дополнительные осложнения, так как приходится тщательно следить за постоянством температуры и давления в течение всего времени съемки и т. п. Во-вторых, линии комбинационного,рассеяния значительно шире обычных эмиссионных линий, поэтому спектральные приборы с высокой разрешающей силой, но с небольшой областью дисперсии оказываются мало пригодными для изучения этих линий. Наконец,на измеряемую ширину линий комбинационного рассеяния оказывает существенное влияние, наряду с аппаратной функцией применяемого спектрального прибора, также ширина возбуждающей линии. Необходимость учета этого фактора для получения истинной ширины линий комбинационного рас- [c.61]

Спектроскопия ЯМР высокого разрешения как наиболее информативный и мощный метод структурных и дагаамических исследований столь глубоко пронизывает все химические дисциплины, что без овладения ее основами нельзя рассчитывать на успех в работе в любой области химии. Поразительная особенность этого метода необычайно быстрое его развитие на протяжении всех последних 45 лет с момента открытия ЯМР в 1945 г. События последних 10 лет завершились полным обновлением методического арсенала и аппаратуры ЯМР. Основу приборного парка сейчас составляют спектрометры, оснащенные мощными сверхпроводящими соленоидальными магнитами, позволяющими создавать постоянные и очень однородные поля напряженностью до 14,1 Т. Каждый из таких приборов представляет собой сложный измерительно-вычислительный комплекс, содержащий помимо магнита и радиоэлектронных блоков одрш или дна компьютера, обладающие высоким быстродействием, большими объемами оперативной памяти и дисками огромной емкости. Импульсные методики возбуждения и регистрации сигналов с последующим быстрым фурье-преобразованием окончательно вытеснили режим непрерывной развертки, доминировавший в ЯМР до конца 70-х годов. Как правило, получаемая спектральная информащ1я перед ее отображением в виде стандартного спектра подвергается сложной математической обработке. На несколько порядков возросла чувствительность приборов. Методы двумерной спектроскопии и другие методики, реализующие сложные импульсные последовательности при возбуждении систем магнитных ядер, кардинально изменили весь методический арсенал исследователей и открыли перед ЯМР новые области применений. Эти новые и новейшие достижения уже нашли свое отражение в нескольких монографиях, появившихся за рубежом и в переводах на русский язык. Но они рассчитаны иа специалистов с хорошей физико-математической подготовкой. Между тем подавляющее большинство химиков-экспериментаторов ие обладают такой подготовкой. Более того, для практического приложения современного ЯМР вполне достаточно ясного понимания лишь основных физических пришдапов поведения ансамблей магнитных ядер при воздействии радиочастотных полей. Это понимание обеспечивает химику правильный выбор метода [c.5]

Академией наук УССР разработан спектральный экспресс-метод определения содержания масла в парафинах, однако практического применения на заводах он пока еще не получил из-за сложности настройки прибора — опытного инфракрасного спектроскопа ВИКС-4. Проводятся также работы по применению для указанной цели ультразвука. [c.128]

Очень несложный прибор Р. Мезробяна и А. Тобольского (рис. 29) позволил получить сравнительные данные о скорости ноглощения кислорода различными полимерами при освещении лампой солнечного света с применением стеклянного свето-фильтра . К сожалению, в цитированной работе, как и в ряде других ранних исследований по фотоокислению, спектральная характеристика и интенсивность облучения не определялись, хотя эти показатели имеют очень большое значение для практических испытаний. [c.172]

Гониометрический круг прибора расположен горизонтально. Поэтому несмотря на значительный вес всех приспособлений, смонтированных на нем, практически отсутствует риск нарущить установку гониометра при замене образца или каких-либо приспособлений. Любое значение угла 2 6 устанавливается надежно и быстро. Прибор надежно работает в широкой области скоростей сканирования (нормальные скорости составляют 0,2 или 2° в минуту), которые можно выбирать в интервале от 0,006 до 5° в минуту использованием специальных моторов. Измерения одинаково легко воспроизводимы в любых областях углов 2 0. Кристаллы-анализаторы имеют достаточную длину (до 9 см), что позволяет проводить спектральные измерения и при малых значениях 2 6. [c.263]

Для определения равенства окрасок можно пользоваться фотоэлементом. Из методов, указанных на стр. 57, в фотоколориметрии применяются второй и третий методы. В литературе описан фотоколориметр, построенный по принципу колориметра Дюбоска для визуального наблюдения . Если преодолеть оптические трудности в конструировании подобных приборов, то применение их, несомненно, будет полезным. Теоретически такие приборы лучше, чем фотоэлектрические фильтрфотометры, работающие при постоянной толщине слоя они лучше в том отношении, что гетерохроматичность света не будет вызывать кажу-, щихся отклонений от закона Бера. Практически это будет верно лишь в том случае, если оба фотоэлемента имеют одинаковую спектральную чувствительность. Так как для выделения ограниченной полосы длин волн обычно применяют светофильтры, это условие не должно создавать каких-либо серьезных препятствий. Фильтрфотометр с двумя фотоэлементами можно применить в качестве фотоколориметра, как это описано на стр. 69, и такой способ работы иногда представляет некоторые преимущества при определении следов веществ. [c.64]

Спектры люминесценции могут быть зарегистрированы либо фотографически с помощью спектрографа, либо фотоэлектрически путем пропускания излучения через фильтры или монохроматор с последующим попаданием на соответствующий приемник (фотоэлемент или фотоумножитель). Фотографическая регистрация имеет преимущество, заключающееся в интегрирующем эффекте метода, и этим методом может быть зарегистрирована очень слабая люминесценция путем увеличения экспозиции до нескольких часов. Это особенно важно для ближней инфракрасной области спектра, где чувствительность фотокатодов быстро падает. Фотографические эмульсии также малочувствительны, но чтобы компенсировать этот недостаток, можно увеличить время экспозиции. Сведения о спектральной чувствительности и других характеристиках фотографических эмульсий опубликованы в литературе [120]. Для исследовательской работы, когда область длин волн люминесценции неизвестна, большое значение имеет применение спектрографа, так как за одну экспозицию может быть охвачена широкая область спектра. Однако в настоящее время стали доступными спектральные флуоресцентные приставки для ряда промышленных спектрофотометров, таких, как Кэри и Бекман серии ОК. С их помощью полный спектр люминесценции может быть зарегистрирован практически за несколько минут при использовании источника, имеющего достаточную интенсивность. Недавно появился промышленный спектрофосфориметр фирмы Америкен инструмент компани . В этом приборе используются два независимых монохроматора с изменяющимися длинами волн и цилиндрический фосфороскоп. [c.88]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология