Возбуждение вещества и интенсивность спектральных линий

Молекулярный анализ по спектрам комбинационного рассеяния света во многом аналогичен эмиссионному спектральному анализу, основанному на изучении спектров испускания атомов. В принципе он даже проще, так как сложный вопрос о влиянии условий возбуждения на интенсивности спектральных линий, составляющий одну из главных трудностей при проведении эмиссионного спектрального анализа, здесь не встает, ибо интенсивности линий комбинационного рассеяния определяются в первую очередь структурой рассеивающих молекул. Правда, на интенсивность линий влияют геометрические и светотехнические параметры установки. Однако условия опыта могут быть выбраны и стандартизированы так, чтобы эти влияния были исключены. Точно так же зависимость интенсивности спектральных линий от концентрации в спектрах комбинационного рассеяния, как правило, проще, чем в спектрах испускания при отсутствии значительных межмолекулярных взаимодействий интенсивность линий комбинационного рассеяния каждого компонента смеси I пропорциональна его концентрации С. /=/юоС, где /юо —интенсивность чистого (стопроцентного) вещества. Трудности анализа по спектрам комбинационного рассеяния связаны со слабой интенсивностью линий, которые часто маскируются сплощным фоном. Это значительно снижает точность и чувствительность этого метода анализа по сравнению с эмиссионным анализом. Основная же трудность состоит в огромном многообразии анализируемых соединений. Это многообразие, а также трудность и дороговизна синтеза и очистки больщинства индивидуальных веществ делают совершенно неперспективными методы анализа, в которых в качестве сравнения или для составления калибровочных смесей применяются индивидуальные вещества. Громадное большинство индивидуальных веществ, встречающихся в анализируемых смесях, доступны только весьма ограниченному числу наиболее крупных лабораторий, да и то в очень небольших количествах некоторые же из них вообще уникальны. Поэтому в высшей степени актуальна задача разработки методов анализа, основанных на использовании табличных данных, которые и получаются с помощью этих дорогостоящих и редких индивидуальных веществ. [c.299]

Количественный анализ ио спектрам рассеяния имеет ряд особенностей по сравнению с количественным анализом атомов ио эмиссионным спектрам. В некоторых отношениях он принципиально гораздо более прост. Сложный вопрос о влиянии условий возбуждений на интенсивность спектральных линий,— влияний, представляющих одну из главных трудностей при проведении эмиссионного спектрального анализа, в данном случае получает простое разрешение. Интенсивность линий рассеяния данного вещества определяется геометрическими и светотехническими условиями установки, которые могут быть без труда стандартизированы и воспроизводимы. Точно так же зависимость интенсивности спектральных [c.160]

Возбуждение вещества и интенсивность спектральных линий [c.48]

Рассмотрим это явление. Фотон, излучаемый атомом, прежде чем покинуть источник света, может быть поглощен другим атомом того же вещества, который переходит на более высокий энергетический уровень. Чем больше концентрация вен ества в источнике света, тем чаще происходит такое поглощение. Общее время жизни возбужденных атомов увеличивается, что приводит к росту числа гасящих соударений. В результате рост интенсивности спектральной линии np[i увеличении концентрации замедляется. [c.53]

В пламени всегда устанавливается тепловое равновесие, поэтому к нему применимы все соображения о возбуждении веществ и интенсивности спектральных линий, которые были сделаны выше. Из-за относительно низкой температуры пламени в нем возбуждаются и имеют большую интенсивность спектральные линии с низкими потенциалами возбуждения. Ионизация даже щелочных металлов в пламени не велика, а других металлов — совсем незначительна. Поэтому многие легко возбудимые линии в пламени имеют очень большую интенсивность и высокую чувствительность. [c.80]

Зависимость между интенсивностью спектральной линии и концентрацией вещества в источнике света была подробно рассмотрена в 3 и математически выражена в формулах (12) и (13). Но для аналитических целей важно установить связь между интенсивностью линий и концентрацией определяемого элемента в образце. Сложные химические и физические процессы, протекающие при введении вещества в источник света и его возбуждении, не позволяют теоретически найти эту связь. Однако, если считать, как это обычно имеет место, что в процессе введения вещества в источник света и его возбуждении устанавливается равновесие, при котором концентрация определяемого элемента в источнике света пропорциональна его концентрации в однотипных образцах, то найденная ранее зависимость сохранится [c.258]

Прн эмиссионном спектральном анализе исследуемую пробу испаряют или сжигают, если это жидкое или твердое вещество, затем подвергают действию высокой температуры или электрического разряда для перевода атомов в возбужденное состояние и регистрируют спектр. Качественный эмиссионный анализ сводится к расшифровке линий в спектре анализируемого образца. Количественный анализ основан на сравнении интенсивности спектральных линий образца с интенсивностью линий в спектре стандартного образца, содержание определяемого элемента в котором известно. [c.242]

С увеличением концентрацин вещества в зоне возбуждения (пламени, дуги, искры) растет и число возбужденных атомов, а также и излучаемых ими фотонов, что приводит, следовательно, к увеличению интенсивности спектральных линий. Эта связь между концентрацией и интенсивностью испускаемого света представляет собой основу эмиссионного количественного спектрального анализа. Раздел эмиссионного количественного спектрального анализа, который использует в качестве источника возбуждения высокотемпературное пламя, называется пламенной фотометрией. [c.157]

Эмиссионная спектроскопия. Используется в основном для анализа металлов и твердых веществ, но применима также для анализа жидкостей и газов. Состав образца, термически возбужденного бомбардировкой ионами и электронами в электрической дуге или в искре, определяется по числу и характеру длин волн в спектре испускания (эмиссионном спектре), а по интенсивности спектральных линий определяется количественное содержание элемента (элементов). [c.408]

Для более рационального использования вещества, которое попадает в зону возбуждения спектра, предложено добавлять к пробе соли щелочных металлов, которые, снижая эффективный ионизационный потенциал, повышают интенсивность спектральных линий. Этим методом была повышена чувствительность определения примесей РЬ, Си, В1, Т1 и некоторых других элементов в селене [21]. [c.447]

Состав и структура анализируемой пробы влияют на условия поступления вещества в источник света и на его возбуждение. Если бы такого влияния не было, то можно было бы один раз найти связь между интенсивностью спектральной линии и. концентрацией вещества, а затем проводить количественный анализ самых разнообразных проб все время, пока источник света работает стабильно. К сожалению, на самом деле это не так. [c.264]

Формула (2), связывающая интенсивность спектральных линий с концентрацией атомов в плазме, во многих случаях требует уточнений и дополнений соотношений, учитывающих процессы в источнике света при испарении вещества и влияющих на интенсивность линий [4]. К таким соотношениям относится уравнение баланса числа атомов элемента. Если общее число атомов элемента N в зоне возбуждения спектра меняется в зависимости от скоростей поступления их в зону и выхода из нее, то [c.7]

Изучено влияние макрокомпонентов плазмы разряда высоковольтной конденсированной искры между угольными электродами на интенсивность нейтральных и ионизированных атомов редкоземельных элементов (РЗЭ) [244]. В (качестве макрокомпонентов использовали иттрий и гадолиний, а определяемых — иттербий и лютеций. Вещества в искровой разряд подавали в виде аэрозоля из электрода с пористым дном. Установлено, что с ростом концентрации иттрия и гадолиния плотность почернения (табл. 2.7) спектральных линий нейтральных и ионизированных атомов иттербия и лютеция и разности почернения их (рис. 2.16) снижается. Наблюдаемая закономерность в значительной степени обусловлена тем, что энергия ионизации иттрия и гадолиния сравнительно невысока и рост концентрации их в плазме искрового разряда, та же жак и в случае дуги, ведет к снил<ению температуры плазмы и изменению условий возбуждения. Об этом свидетельствует характер изменения относительной интенсивности спектральных линий ионизированных и нейт- [c.67]

Используя дуговой разряд в газах с различными физическими и химическими свойствами, можно существенно изменять условия испарения веществ и возбуждения их спектров. Пространственная стабилизация-дугового разряда улучшает воспроизводимость количественных определений, а в некоторых случаях способствует усилению интенсивности спектральных линий и снижению пределов обнаружения элементов [111, 166, 169, 258]. Анализ многочисленных публикаций показал, что замена воздуха в межэлектродном промежутке инертным газом изменяет характер и скорость поступления вещества в разряд, возбуждение и ионизацию атомов, скорость выхода атомов из плазмы разряда она изменяет условия протекания химических реакций, в результате которых меняется летучесть определяемых элементов и основы, а также их концентрация в плазме разряда. [c.75]

Введение органических веществ (спирты, кетоны) в водные растворы приводит к значительному увеличению интенсивности спектральных линий элементов с малыми потенциалами ионизации (А1, Ва, 5г и т. п.), изменяет температуру возбуждения, анодный и сеточный токи генератора. Стабилизацией анодного тока генератора, а также изменением анодного напряжения показано, что изменения параметров генератора не могут вызвать столь значительного изменения интенсивности спектральных линий. [c.142]

В большинстве источников одновременно проис. одит испарение твердых и жидких образцов, распад молекул на атомы, ионизация и возбуждение атомов и ионов, испускание частицами вещества электромагнитного излучения. Все эти процессы, наряду со многими другими, протекают во взаимодействии друг с другом и определяют интенсивность спектральных линий. При данной концентрации элемента в пробе интенсивность его линий зависит от того, как много его атомов в результате испарения и атомизации окажется в зоне возбуждения и будет возбуждено. Иначе говоря, интенсивность спектральных линий помимо концентрации определяется условиями испарения, атомизации и возбуждения. Рассчитать для всех случаев зависимость интенсивности линии от концентрации с учетом влияния условий атомизации и возбуждения невозможно, [c.45]

Зависимость интенсивности спектральных линий от условий поступления анализируемого вещества в зону разряда и от условий возбуждения [c.38]

В ряде работ показано, что интенсивность спектральных линий определяется не только температурными и ионизационными факторами, но и параметрами, учитывающими условия испарения и переноса вещества в источнике возбуждения спектра. Подробно эти вопросы рассматривались в начале главы 1. [c.48]

Возможность проведения количественного элементарного анализа вещества по рентгеновским спектрам испускания основана на предположении, что интенсивность спектральных линий пропорциональна числу атомов элементов, входящих в состав исследуемой пробы. При использовании первичного метода возбуждения спектра это предположение хорошо оправдывается экспериментально. Это открывает возможность проведения прямого определения элементарного состава веществ по абсолютным интенсивностям спектральных линий. Однако практически зависимость интенсивности линий от большого числа трудно контролируемых и не всегда поддающихся теоретическому расчету факторов заставляет отказаться от этого пути. Все современные методы количественного рентгеноспектрального анализа основаны поэтому на сопоставлении относительных интенсивностей линий, одна из которых принадлежит определяемому элементу, а другая— элементу сравнения, вводимого в тех или иных количествах в анализируемый образец. Фотографические методы определения относительных интенсивностей линий, представляющие собой важнейший элемент анализа, подробно изложены в предыдущей главе. Здесь обратимся к рассмотрению других вопросов. [c.102]

Выражения (1,9) и (1.10) дают аналитическую зависимость, лежащую в основе количественного спектрального анализа. Величина а (иная, чем в (1,5)) зависит от условий возбуждения в разряде (температуры разряда) и от условий выхода вещества из электрода. Величина Ь сохраняла при всех изложенных выше рассуждениях свое значение углового коэффициента касательной кривой роста и зависит от самопоглощения в зоне разряда. Наибольшее значение Ь = 1 имеет место для таких малых концентраций и слабых спектральных линий, для которых не наблюдается самопоглощения. При больших концентрациях и интенсивных линиях значение величины Ь понижается и доходит до 6 = 0,5. Можно считать, что величина Ь есть функция концентрации атомов примеси в пробе или просто интенсивности спектральной линии, поскольку между интенсивностью линии и концентрацией в пробе существует однозначная зависимость. Если разнообразие линий в спектре примеси велико, то можно почти всегда выбрать такую линию, для которой величина Ь будет мало отличаться от единицы, и зависимость интенсивности от концентрации будет определяться начальным прямолинейным участком кривой роста. [c.30]

В раскаленном веществе в возбужденных атомах электроны внешней орбиты, так называемые оптические, переходят из одного состояния в другое, с олее высоким уровнем энергии. Каждая линия спектра соответствует переходу электрона с одного (возбужденного) уровня энергии на другой — более низкий уровень. Интенсивность спектральной линии, характеризующая энергию вызывающей ее световой волны, связана с концентрацией элемента. Зависимость между ними выражается уравнением, аналогичным уравнению, применяемому в колориметрии [c.507]

На основании изучения химизма процессов, происходящих при испарении анализируемых твердых веществ непосредственно или в смеси с другими химическими активными веществами в газовых пламенах и электрических дугах, и исследования влияния химической природы соединений на интенсивность спектральных линий при возбуждении в разряде высоковольтной конденсированной искры были предложены общие методы анализа, в которых влияние состава на результаты определения ряда элементов либо устранено, либо значительно ограничено. Для повышения чувствительности определения в некоторых случаях спектральному анализу предпосылают сравнительно несложные химические операции обогащения, в процессе которых одновременно достигается или отделение некоторых мешающих элементов, или переведение всех компонентов в общую химическую форму. [c.75]

Помимо величины длины волны спектральная линия имеет еще одну очень важную для спектрального анализа характеристику — интенсивность. Интенсивность спектра испускания связана с энергией, испускаемой возбужденными атомами (молекулами) в источниках излучения, а спектров поглощения — с энергией, поглощаемой атомами (молекулами) вещества. Интенсивности спектров зависят от вероятностей переходов и от заселенностей уровней, начальных для этих переходов. [c.7]

Возбуждение. Раньше мы рассмотрели процесс возбуждения атомов и ионов и нашли связь между интенсивностью спектральных линий и концентрацией свободных атомов в плазме. Но целью спектрального анализа является определение концентрации в анализируемом образце, а не в источнике света. Очевидно, что из-за сложности и многообразия процессов, протекающих при введении веществ, концентрации отдельных компонентов пробы по отношению друг к другу в плазме и в исходном образце могут сильно различаться. Эта разница еще больше увеличивается из-за различного поведения атомов в самом источнике света. Пары одних элементов равномерно заполняют все светящееся облако источника, а пары других — лишь попадают в его определенную часть (рис. 137). Вследствие конвекционных потоков в плазме и отличной скорости диффузии различных атомов (нз горячей зоны источника в окружающее пространство) времяпребывания паров в светящемся облаке для каждого элемента оказывается различным. [c.237]

Состав и структура анализируемой пробы влияют на условия поступления вещества в источник света и на его возбуждение. Если бы такого влияния не было, то можно было бы один раз найти связь между интенсивностью спектральной линии и концентрацией вещества, а затем проводить количественный анализ самых разнооб- [c.237]

Влияние третьих элементов, В практике часто приходится встречаться с изменением концентрации третьих элементов и даже их качественного состава от образца к образцу, Даже разные образцы металла одной марки и то обычно отличаются количественным содержанием третьих элементов, Влияние третьих элементов проявляется на разных стадиях введения и возбуждения вещества. Так третьи элементы с низкими потенциалами ионизации сильно влияют на температуру разряда. Поэтому в зависимости от их концентрации возбуждение определяемого элемента будет происходить при разных температурах, что приводит к изменению нитенсивности аналитических линий. Третьи элементы могут образовывать с определяемым различные химические соединения как в расплаве, так и в самом источнике света. В зависимости от свойств получающихся соединений поступление и возбуждение анализируемого элемента оказывается облегченным или, наоборот, затрудненным. Например, в пробах, содержащих фтор, он образует с некоторыми металламитруднодиссоциированные сседи-нения, что приводит к снижению точности анализа, так как концентрация фтора меняется произвольным образом от образца к образцу. Фтор также уменьшает чувствительность анализа. Третьи элементы могут препятствовать или, наоборот, облегчать химические реакции определяемого элемента с воздухом и материалами электрода. Например, при анализе металлов состав расплава по сравнению с составом образца оказывается обогащенным элементами, которые окисляются наиболее энергично, В присутствии третьих элементов, которые окисляются сильнее, чем анализируемый, его окисление и поступление в разряд будет замедленно, В этом одна из главных причин влияния третьих элементов на относительную интенсивность спектральных линий и точность анализа металлов. [c.239]

В атомно-абсорбционном анализе анализируемое вещество под действием тепловой энергии разлагается на атомы. Этот процесс называют атомиза-цией, т. е. переведением вещества в парообразное состояние, при котором определяемые элементы находятся в виде свободных атомов, способных к поглощению света. Излучение и поглощение света под воздействием внешней энергии связаны с процессами перехода атомов из одного стационарного состояния (/, ,) в другое (к, Возбуждаясь, атомы переходят в стациотарное состояние к с энергией и затем, возвращаясь в исходное основное (невозбужденное) состояние I с энергией испускают свет с частотой /1.. Излучательные переходы осуществляются спонтанно без какого-либо внешнего воздействия. Повышение температуры излучающего облака в значительной степени сказывается на увеличении в нем концентрации возбужденных атомов, на интенсивности спектральных линий и, следовательно, на чувствительности атомно-эмиссионного спектрального анализа. [c.698]

Спектральный анализ (эмиссионный) — физический метод качественного и количественного анализа состава вещества на основе изучения спектров. Оптический С. а. характеризуется относительной простотой выполнения, экспрессностью, отсутствием сложной подготовки проб к анализу, незначительным количеством вещества (10—30 мг), необходимого для анализа на большое число элементов. Спектры эмиссии получают переведением вещества в парообразное состояние и возбуждением атомов элементов нагреванием вещества до 1000—10 000°С. В качестве источников возбуждения спектров прп анализе материалов, проводящих ток, применяют искру, дугу переменного тока. Пробу помещают в кратер одного из угольных электродов. Для анализа растворов широко используют пламя различных газов. Качественный н полуколичественныйС. а. сводятся к установлению наличия или отсутствия в спектре характерных линий и оценки по их интенсивностям содержания искомых элементов. Количественное определение содержания элемента основано на Эмпирической зависимости (при малых содержаниях) интенсивности спектральных линий от концентрации элемента в пробе. С. а.— чувствительный метод и широко применяется в химии, астрофизике, металлургии, машиностроении, геологической разведке и др- МетодС. а. был предложен в 1859 г. Г. Кирхгофом и Р. Бунзеном. С его помощью гелий был открыт на Солнце ранее, чем на Земле. Спектроскопия инфракрасная — см. Ифракрасная спектроскопия. Спектрофотометрия (абсорбционная)—физико-химический метод исследования растворов и твердых веществ, основанный на изучении спектров поглощения в ультрафиолетовой (200—iOO нм), видимой (400—760 нм) и инфракрасной (>760 нм) областях спектра. Основная зависимость, изучаемая в С.,— зависимость интенсивности поглощения падающего света от длины волны. С. широко применяется при изучении строения и состава различных соединений (комплексов, красителей, аналитических реагентов и др.), для качественного и количественного определения веществ (определения следов элементов в металлах, сплавах, технических объектах). Приборы С.—спектрофотометры. [c.125]

Интенсивность спектральной линии. Для получения эмиссионного спектра частицам анализируемого вещества необходимо придать дополнительную энергию. С этой целью анализируемую пробу вводят в источник возбуждения, где она нагревается и испаряется, а попавшие в газовую фазу молекулы диссоциируют на атомы, которые при столкновениях с электронами переходят в возбужденное состояние, в возбужденном состоянии атомы могут находиться только в течение очень короткого времени (10" -10 с). Самопроизвольно возвращаясь в нормальное иши промежуточное состояние, они испускают гобыточную энергию в виде квантов света. [c.359]

Источниками возбуждающего наиряжения служат генераторы дуги пост, тока, активизированнои дуги перемен. тока (нанр., тина ДГ 2), высоковольтной конденсированной искры (наир., типа ИГ-3), генераторы с электронным управлением разряда (напр., типа ГЭУ-2). Для испарения вещества и возбуждения его атомов, ионов и молекул используют также лазер и пламя. Различают эмиссионный С. а. качественный и количественный. Качественный эмиссионный анализ не требует предварительных операций, с к-рыми обычно связан анализ химический. Для полного качественного эмиссионного анализа небольшую навеску вещества возбуждают дугой или искрой, одновременно фотографируя ее спектр. Каждый хим. элемент излучает характерный для него спектр — известный набор спектральных линий, длины волн к-рых сведены в таблицы и атласы. Чтобы установить наличие элемента в пробе, достаточно даже в очень сложном спектре обнаружить несколько его линш . Качественный эмиссионный анализ дает возможность не только устанавливать наличие, но часто и определять приблизительное содержание элемента в пробе. С этой целью используют т. н. последние линии — линии, к-рые при уменьшении содержания элемента в пробе исчезают в спектре в последнюю очередь. Выбор приборов для качественного эмиссионного анализа определяется областью спектра, где расположены самые чувствительные линии элемента, а также дисперсией и разрешающей способностью прибора. Для расшифровки спектрограмм применяют снектропроекторы (напр., типов ПС-18, ДСП-1), таблицы и атласы спектральных линий. В основу количественного эмиссионного анализа положена зависимость мензду интенсивностью спектральной линии определяемого элемента и концентрацией его атомов и ионов в облаке разряда [c.422]

Показано [49], что при увеличении скорости парообразования анализируемых веществ, т. е. при образовании струйности в движении этих паров, происходит увеличение доли паров, попадающих в зону возбуждения это вызывает соответствующее увеличение интенсивности спектральных линий. Создание струй паров йода, увлекающих пары анализируемых элементов в специально сконструированном электроде, позволило увеличить чувствительность определения примесей N1, Си, Мп, Сг, Со в окислах редкоземельных элементов в 3—5 раз, а в комбинации с использованием в качестве носителя ОагОз на 1,5—2 порядка. [c.141]

Исследовано влияние различных факторов (сила тока дуги, продолжительность возбуждения спектра, пористость графита, размеры электрода, навеска пробы, носитель) на интенсивность спектральных линий определяемых элементов. Связь между интенсивностью спектральных линий и внутренним диаметром камерного электрода (а следовательно, аналитической навеской пробы) носит экстремальный характер при силе тока 30 А для большинства элементов наблюдается максимум при 04 мм (навеска пробы угольного порошка 0,4 г). На основании полученных данных разработаны методики спектрального определения микропримесей в угольном порошке и ТеОг. Пределы обнаружения (в скобках даны цифры для обычного метода) в случае анализа ТеОг для ряда элементов составили (%) В1 М0 (3-10- ) Сг 3-10- (Ы0- ) 1п 3-10-ЧЫО ) Мп М0-б(1.1О-4) Оа ЫО-е(МО- ) N1 8-10- (5-10- ) РЬ 1-10-5(5-10- ) V 3-10-б(5-10-4). На уровне концентрации 3-10" % относительное стандартное отклонение ряда единичных определений 5—10%. Метод использован для анализа угольного порошка, ТеОг, соединений щелочных металлов, а также органических веществ. [c.161]

В 1951 г. Кастэн [264] опубликовал результаты исследований, показавших возможность переделки электронного микроскопа в рентгеновский спектрограф для проведения рентгеноспектрального анализа микронных объектов. Переделка эта требует установки добавочной электростатической линзы для получения остро сфокусированного электронного пучка, возбуждающего рентгеновское излучение. Кроме того, добавляется рентгеновский спектрометр, предназначенный для анализа спектра и измерения интенсивностей спектральных линий. Выдающейся особенностью этого метода является возможность работать с ничтожными объемами вещества (порядка 1 мк ) и отсутствие резко вы ра,женных эффектов поглощения и возбуждения, которое характерно для электронного возбуждения (см. 7.10). Кастэн [c.275]

Спектры излучения атомов наблюдают на специальных оптических приборах, сжигая исследуемые пробы при высоких температурах в таких источниках энергии, как газовое пламя, электрическая дуга постоянного или переменного тока, высоковольтная искра и т. п. При сжигании проб происходит испарение и диссоциация исследуемых веществ на атомы и ионы, которые, находясь в возбужденном состоянии, дают спектры излучения. Каждый элемент обладает специфичным спектром излучения, с характерными линиями опре.делениой длины волны. Установление этих линий в спектре проб позволяет определять их качественный состав, т. е. провести качественный спектральный анализ. Сравнивая интенсивность спектральных линий элементов в пробе с интенсивностью тех же линий в спектре эталонов (стандартов) с известной концентрацией определяемых элементов, производят количественные измерения состава проб. [c.141]

Все это способствует концентрированию атомов примесей в разряде и в конечном счете приводит к увеличению интенсивности их спектральных линий [52, 55—58]. Вайнштейн и Беляев [54] исследовали с помощью радиоактивных изотопов пространственное распределение паров различных элементов в столбе разряда дуги постоянного тока. Благоприятное действие носителя на интенсивность спектральных линий примесей по их данным вызвано тем, что для веществ, применяемых в качестве носителей, характерно симметричное куполообразное распределение атомов в столбе разряда с резким максимумом в центре столба дуги. Такое распределение носителя приводит к принудительному сосредоточению примесей в центральной области дуги и к уменьшению уноса примесей из зоны возбуждения. Изменение формы облака вещества в дуговом промежутке, как показали Райхбаум и Малых [53], связано с уменьше- [c.41]

Уп, напряжении на трубке, интенсивиость рентгеновских линий возрастает. Причина этого роста — главным образом увеличение глубины проникновения потока электронов в тело антикатода и связанное с этим возрастание числа излучающих атомов. В меньшей мере это связано с возрастанием вероятности возбуждения атомов вещества анода под действием электронов возрастающей энергии, которая не очень велика. Однако при увеличении напряжения на рентгеновской трубке все более значительную роль играет поглощение лучей при их выходе из тела анода и уменьшается вероятность возбуждения атомов вещества анода электронами этих энергий. Это приводит к гюстепенному уменьшению интенсивности спектральных линий по сравнению с достигнутыми ранее значениями [76, 77]. Сказанное выше может быть проиллюстрировано кривой, представленной на рис. 60. Как видно, возрастание интенсивности линий в зависимости от напряжения наблюдается вплоть до напряжений, в 10—11 раз превосходящих потенциал возбуждения. При больших напряжениях интенсивность линий начинает уменьшаться. Ход экспериментальной кривой (//) довольно хорошо согласуется с выводами теории (кривая /). [c.103]

Так, М. Славин (3]ау1п, 1938) считает, что интенсивность спектральной линии не всегда является вполне удовлетворительным критерием концентрации элемента, так как не найдено необходимое соотношение между концентрацией и скоростью испарения вещества. Он полагает, что полное число квантов света, создающих спектральную линию, должно быть пропорционально числу атомов рассматриваемого элемента. Славин считает, что величина энергии излучения, приходящаяся на единицу веса данного элемента при жестких условиях испарения и возбуждения спектра может не зависеть от природы и количества сопровождающих веществ в случае, если образец испаряется полностью энергия данной линии спектра элемента зависит только от массы элемента, израсходованной при испарении. [c.103]

Резонансное поглощение. Вследствие пространственного расширения возбужденной плазмы и существующего в ней градиента температур внутри плазмы может происходить обратное поглощение спектральных линий (закон инверсии испускания и поглощения Кирхгофа). Это явление самопогло-щения наблюдается преимущественно для резонансных линий и искажает связь между интенсивностью и числом частиц. Так как во внешних более холодных зонах плазмы допплеровское уширение меньше, чем в более горячей центральной зоне, то поглощаются преимущественно центры линий. В предельном случае интенсивность центра линий становится пренебрежимо малой по сравнению с интенсивностью обоих крыльев линии (самообраш -ние линий). Линии, отличающиеся склонностью к самопоглощению и само-обращению, в спектральных атласах приводят с индексом R (от reversal — обратный ход). Наблюдая резонансное поглощение в сложном спектре, можно найти, какие линии соответствуют переходам на основной уровень. Резонансное поглощение наблюдается также в случае прохождения резонансной линии от внешнего источника излучения через диссоциированный до атомов пар соответствующего простого вещества. Интенсивность первичного светового потока ослабляется при этом соответственно уравнению [c.186]