Дифракции угол и длина волны для

Ф — угол падения и отражения луча п — целое число, определяющее порядок дифракции к — длина волны рентгеновских лучей. [c.541]

Опалесценция в коллоидных растворах объясняется дифракцией света. Суть ее состоит в том, что лучи света, огибая коллоидные частицы, изменяют свое направление — рассеиваются. Причем, чем меньше длина волны луча света, тем больше угол его отклонения. Поэтому при появлении солнечных лучей после дождя наблюдается радуга. [c.276]

Например, для определения длины волны в спектре, полученном с помощью дифракционного прибора, можно воспользоваться формулой (17) (стр. 90). Зная постоянную решетки и дифракционный порядок и измерив угол дифракции для данной линии, можно вычислить длину ее волны. Определение угла дифракции при этом должно быть выполнено с очень большой точностью, что представляет значительные трудности. [c.204]

Это выражение известно как закон Брэгга для дифракции рентгеновских лучей от кристаллов, где длина волны рентгеновских лучей, расстояние между атомными слоями и 0/2-угол, под которым рентгеновские лучи падают на эти слои. [c.398]

Какова плотность штрихов решетки, для которой угол падения 60°, угол дифракции 21° и длина волны 340 нм в первом порядке [c.38]

Чтобы завершить рассмотрение особенностей метода, отметим его основные недостатки. Они обусловлены тем, что значения длин волн электронов, получаемые в современных электронографах с ускоряющим напряжением в несколько десятков киловольт, составляют сотые доли ангстрема, что меньше длин волн, применяемых рентгеновских лучей. Поэтому углы дифракции, определяемые по уравнению Вульфа - Брэгга, очень малы. Например, для межплоскостного расстояния 0,1 нм при длине волны 0,005 нм (ускоряющее напряжение порядка 50 кВ) угол дифракции составляет всего около 1,5 град. Вследствие этого разрешающая способность по этому методу ниже и меньше точность определения меж-плоскостных расстояний, чем при использовании рентгенографии. [c.23]

Дискретное рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами есть частный случай дифракции на кристаллах малый угол, под которым наблюдаются интерференции, соответствует периодам решетки, значительно большим длины волны. [c.281]

Рнс. 8.18. Дифракция света на звуковой волне iXn — угол отклонения Д — длина волны звука [c.182]

Условимся падающий на решетку луч определять относительно внутренней нормали, дифрагированные лучи — относительно внешней условимся также положительными считать углы в том случае, если переход от нормали к лучу совершается против часовой стрелки. В соответствии с этим на рис. 11 падающий на решетку луч АО (его продолжение) делает с внутренней нормалью положительный угол Легко видеть, что отрезок ОВ оси ОХ равен sin "ф. Поставим себе задачу по данному углу падения г 5 для решетки с постоянной d найти графически все углы ф дифракции (или все sin ф) для длины волны X. [c.23]

При использовании высоких порядков спектра для заданной длины волны допустимая ширина решетки уменьшается, так как при этом увеличивается угол дифракции ф. [c.119]

Установка нормального падения для вакуумной области спектра. Участок спектра короче 1850 к (вакуумная область спектра) располагается близко к нулевому порядку решетки. В целях компактности всей установки и облегчения поддержания вакуума в ней угол падения (i[3 = 5ч-10°) выбирается малым (рис. 79). При малом угле падения для коротких длин волн в первом порядке и угол дифракции получится малым. [c.126]

В вакуумной области спектра при длинах волн короче 400 А применяются стеклянные вогнутые решетки без металлических покрытий со скользящим падением луча. Угол падения составляет 80—89° и даже более. Дисперсия прибора растет по мере увеличения угла падения. При увеличении размеров решетки разрешающая сила сначала растет, достигает максимума, затем начинает падать вследствие увеличения аберраций. Оптимальная ширина т решетки зависит от углов падения а и дифракции р и от радиуса кривизны решетки [14] [c.158]

Монохроматический пучок света с длиной волны к, отличающейся от Яд, после дифракции от решетки пойдет под некоторым углом е к оптической оси так же, как если бы он отразился от зеркала, поставленного под углом е/2. Найдем зависимость е от Я. При автоколлимации угол падения лучей на каждую из решеток равен а = Ра- Из основного уравнения дифракционной решетки следует [c.333]

Определить угол дифракции для лучей с длиной волны [c.101]

Например, для определения длины волны в спектре, полученном с помощью дифракционного прибора, можно воспользоваться формулой (18). Зная постоянную решетки и дифракционный порядок и измерив угол дифракции для данной линии, [c.226]

Из (5) и (6) видно, что для заданной длины волны угловая дисперсия является функцией только углов падения и дифракция и не зависит от частоты штрихов. Для получения больших значений дисперсии выгодно увеличивать угол дифракции, как, например, в случае решеток-эшелле, которые работают при углах дифракции больше 60°. [c.31]

На рис. 2, а дана схема хода лучей для отражательной решетки ступенчатого профиля. Отражающие плоскости штрихов, наклоненные к поверхности под углом 0, в приближении геометрической оптики можно рассматривать как систему зеркал, которые отражают свет определенной длины волны в направлении соответствующего порядка дифракции, определяемого формулой (1). Этот угол у современных решеток изменяется обычно от 2 до 70°. [c.33]

В автоколлимации, т. е. для а = р, зеркальное отражение наблюдается при нормальном падении пучка па рабочую плоскость штриха. Угол дифракции, равный в этом случае углу наклона рабочей грани штриха, называют углом блеска. Длина волны, удовлетворяющая этому условию, может быть получена из уравнения (3) при а = р = 0. [c.33]

Как известно, повышение чувствительности и точности спектрального анализа в основном достигается увеличением разрешающей способности и светосилы спектрального прибора [1], применением фотоэлектрических методов регистрации спектра. Так как величины спектральной ширины щелей и измеряемого потока с увеличением разрешения прибора уменьшаются, то вопросы повышения светосилы приобретают особую актуальность. Показано [2], что благодаря более высокой дисперсии дифракционные приборы с профилированными решетками в видимой и инфракрасной областях спектра имеют многократное преимущество перед призменными по светосиле. Однако это справедливо только для отдельных участков спектра, так как обычные дифракционные приборы не обеспечивают высокого и постоянного пропускания в широкой спектральной области. Распределение интенсивности выделяемого излучения разных длин волн определяется функцией, описывающей дифракцию на отдельной ступени решетки. Приемлемое для работы пропускание прибор Дает в диапазоне углов дифракции ф, соответствующих части угловой ширины главного максимума этой функции. Часто область использования решетки ограничивают диапазоном длин волн, для которых интенсивность больше 0,4 от максимальной [3]. Этому условному критерию соответствует максимальная разность фаз лучей от крайних элементов отражающей поверхности ступени решетки,.равная л, что упрощает расчет углов эффективного использования решетки. Для наиболее часто употребляемой автоколлилшционной установки, когда угол падения равен углу дифракции ф, длина волны излучения, [c.112]

Определить угол дифракции для лучей с длиной волны 6707,8 А (яркая красная линия лития) во втором порядке плоской дифракционной решетки, которая имеет 600 штр1мм. Лучи падают перпендикулярно к поверхности решетки. [c.93]

Эффективность решетки это отношение мощности дифрагированного спектрального излучения к падающей мощности для данных диапазона длин волн и порядка. Если угол в равен нулю, то эффективность максимальна для нулевого порядка, т. е. решетка работает как зеркало и энергия дифрагированного света уменьшается до минимума. Угол в задается относительным расположением поверхности штриха и плоскости решетки. Эффективность решетки обычно оценивают по оптической схеме. Литтрова, в которой и угол падения, и угол дифракции равны в (рис.8.1-9). Уравнение решетки принимает следующий вид [c.28]

При рассмотрении внутренней дифракции подвижных валентных электронов на кристаллической решетке твердого тела было найдено, что условия возникновения дифракции накла-дынают ряд ограничении на длину волны, энергию и свободу перемещения электронов. Более конкретно — запрещается, чтобы на любой стадии движения свободных электронов выполнялся бы закоР Брэгга, Свободные электроны в металлах или полупроводпиках имеют различную энергию и. следовательно, различную длину волны. При оценке возможности дифракции электронов необходимо учитывать длину волны л, угол дифракции 6 и межплоскостное расстояние d. [c.68]

Рис. 8.1-9. Схема Литтрова, в которой и угол падения а, и угол дифракции /3 равны углу в (углу блеска) между нормалью к грани штриха и нормалью к поверхности решетки, для определения длины волны блеска по соотношению 251п0 = кпХ.

Варианты установки решетки на круге Роуланда. Нормальный спектр (Р 0) обладает практически одинаковой дисперсией для всех длин волн, что в свое время являлось очень ценным для определения длин волн неизвестных линий. Для получения нормального спектра при различных спектральных диапазонах необходимо входную щель перемещать по окружности. Это очень неудобно, а иногда и невозможно. Роуланд для видимой и ультрафиолетовой области спектра предложил конструкцию, позволяющую передвигать решетку и кассету относительно неподвижной входной щели. По двум рельсам, скрепленным между собою под прямым углом, движутся две каретки, связанные стальной трубой, длина которой равна радиусу кривизны решетки одна каретка несет решетку, другая — кассету с фотопластинкой или фотопленкой. Щель установлена в месте соединение, ельс. При перемещении кареток угол дифракции р все время остается равным нулю, изменяется только угол падения а (рис. 10.6). Дисперсия практически постоянна и равна kNlR астигматизм быстро возрастает с увеличением длины волны (увеличивается г ) [c.89]

Надо сказать, что по толщине кристаллы довольно однородны, причем, как видно из последнего рисунка, наблюдаются отражения до второго порядка, хотя известны случаи, когда были обнаружены отражения до четырех порядков. По положению максимумов на кривых интенсивности дифракции (угол отражения 20) с помощью уравнения Брегга пЯ = 2/з1п0 (где п — порядок отражения, Я, — длина волны рентгеновского излучения, I — большой период) можно определить величину так называемого большого периода, которая соответствует толщине кристалла. Исходя из того, что [c.172]

Здесь t — суммарная ширина прозрачного и непрозрачногс участка решотр<и (постоянная решетки), ф — угол дифракции, i) — угол падения, к — целое число. Аналогичная формула получается и для отражающей решетки. Формула (2.1) позволяет установить ряд важных свойств решетки. Из нее видно, что угол дифракции зависит от длины волны, именно это дает возможность применять решетку в качестве диспергирующего элемента. [c.47]

Смотреть страницы где упоминается термин Дифракции угол и длина волны для: [c.175] [c.24] [c.26] [c.356] [c.27] [c.191] [c.654] [c.128] [c.642] [c.242] [c.28] [c.108] [c.255] [c.495] [c.271] [c.368] [c.115] [c.20] [c.358] [c.81] [c.22] [c.65] [c.30]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология