Дифракция порядок

В. Ф. Киселев (1961 г.) получил надежные опытные доказательства и дал теоретическое обоснование строгого подчинения процесса хемосорбции закономерности стехиометрии. Совместно с сотрудниками им было установлено, что величины и теплоты сорбции на графите обусловлены количеством и характером межатомных связей, возникающих между атомами сорбата и атомами поверхности сорбента. Он отмечает, что хемосорбция на атомарно чистой поверхности приводит к насыщению разорванных на поверхности химических связей. Происходит восстановление нормальной гибридизации орбиталей поверхностных атомов благодаря их связи с хемосорбированными атомами. Исследование поверхности полупроводников со структурой алмаза, а именно монокристаллов германия и кремния методом дифракции медленных электронов, показало, что при сорбции на них кислорода, иода, брома, воды и атомов некоторых металлов действительно восстанавливается порядок в расположении атомов на поверхности, что и позволяет восстанавливать нормальную гибридизацию. [c.199]

Длина волны рентгеновских лучей X известна (определяется материалом анода рентгеновской трубки, см. Приложение XXV), а углы 0 могут быть вычислены по рентгенограмме. Неизвестными остаются межплоскостные расстояния, деленные на порядок дифракции п. [c.360]

Можно ввести новые индексы — /У/(L-индексы — дифракции, характеризующие как ориентацию атомных плоскостей, так и порядок дифракции рентгеновских лучей. Эти индексы получают умножением порядка дифракции на значения кристаллографических индексов [c.360]

Из последнего утверждения следует, что волновыми свойствами, наряду со свойствами корпускулярными, должны обладать и макротела, поскольк все они построены из микрочастиц. В связи с этим может возникнуть вопрос почему волновые свойства окружающих нас тел никак не проявляются Это связано с тем, что движущимся телам большой массы соответствует чрезвычайно малая длина волны, так как в уравнении де Бройля масса тела входит в знаменатель. Даже для пылинки с массой 0,01 мг, движущейся со скоростью 1 мм/с, длина волны составляет примерно 10 см. Следовательно, волновые свойства такой пылинки могли бы проявиться, например, при взаимодействии с дифракционной решеткой, ширина щелей которой имеет порядок 10 см. Но такое расстояние значительно меньше размеров атома (10 см) и даже атомного ядра (10 —см), так что при взаимодействии с реальными объектами волновые свойства пылинки никак не смогут проявиться. Между тем, электрону с массой около 9 10 г, движущемуся со скоростью 1000 км/с, соответствует длина волны 7,3 10 см дифракция такой волны может наблюдаться при взаимодействии электронов с атомами в кристаллах. [c.46]

В отличие от кристаллов, в жидкостях при практически той же средней плотности распределения вещества дальний порядок отсутствует. Есть только ближний порядок, т. е. правильность расположения молекул или атомов в непосредственной близости от данной центральной молекулы, резко нарушающаяся с расстоянием. Такой ближний порядок, как и дальний порядок в кристаллах, может быть количественно изучен с помощью современных методов структурного анализа — по дифракции рентгеновских лучей или электронных пучков с длиной волны, соизмеримой с межмолекулярными расстояниями. [c.171]

Например, для определения длины волны в спектре, полученном с помощью дифракционного прибора, можно воспользоваться формулой (17) (стр. 90). Зная постоянную решетки и дифракционный порядок и измерив угол дифракции для данной линии, можно вычислить длину ее волны. Определение угла дифракции при этом должно быть выполнено с очень большой точностью, что представляет значительные трудности. [c.204]

Дифракция характерна для очень медленных, тепловых нейтронов, поскольку длина волны их имеет порядок межатомных рассто яний в веществе. Для наблюдения дифракционной картины требуются нейтронные пучки большой интенсивности. Такие пучки нейтронов высокой интенсивности получаются в ядерных реакторах. Поэтому прогресс в реакторостроении в настоящее время опре- [c.197]

В настоящее время известно много методов изучения поверхности в сверхвысоком вакууме [5—7]. Один из самых прямых методов — дифракция медленных электронов. Электроны с энергиями 10—200 эВ обладают очень низкой проникающей способностью, и их длины волн имеют тот же порядок, что и межатомные расстояния в металле, поэтому они дифрагируют на решетке, образованной атомами поверхностного слоя. Дифракция электронов на флуоресцирующем экране указывает расположение атомов в поверхностных слоях. [c.446]

Дифракционные картины отраженных электронов позволяют определить межатомные расстояния верхнего монослоя [10-5]. Для двумерного атомного слоя с межмолекулярными расстояниями а и Ь дифракционные условия для обоих расстояний, принимая во внимание только первый порядок дифракции, выполняются, если [c.328]

Дифракция определяется тем, что межатомные расстояния й в решетке (0,1—0,4 нм) имеют тот же порядок, что и длины воли [c.130]

Ориентационный порядок на надмолекулярном уровне можно исследовать методом дифракции рентгеновских лучей под малыми и большими углами. Каждое зерно в поликристаллическом или частично упорядоченном образце, как правило, имеет кристаллографическую ориентацию, отличную от ориентации соседних зерен. В целом ориентация всех зерен может быть распределена статистически относительно некоторой выбранной системы отсчета. В таком случае рентгенограмма представляет собой однородные кольца, расположенные вокруг начала координат. Однако если ориентация зерен имеет тенденцию сгущаться в большей или меньшей степени вокруг какой-то определенной ориентации или ориентаций, то вместо колец рентгенограмма содержит дуги или даже дифракционные пятна. По форме и положению этих дуг или пятен на рентгенограмме можно судить о типе и степени ориентации. Таким образом, ориентационный порядок, характерный для жидкокристаллических текстур, может быть исследован методами дифракции рентгеновских лучей. [c.26]

Однако исследования ближнего порядка методами дифракции электронов и рентгеновских лучей, изучение ориентационного порядка методами светорассеяния и магнитного двойного лучепреломления, исследования морфологии методами светорассеяния и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей, а также изучение конформации цепи в аморфной фазе методом малоуглового рассеяния нейтронов показали, что клубкообразная модель согласуется со всеми экспериментальными данными. В случае пачечной модели это не так [39]. В соответствии с этим конформация цепи, очевидно, тождественна конформации цепи в 0-растворителе Ориентационный порядок определяется только корреляцией между последовательно повторяющимися звеньями цепи. Такая упорядоченность может быть объяснена с помощью теории вращательной изомерии [40]. В остальном аморфная фаза однородна и сходна с обычной жидкостью. Таким образом, эти результаты показывают, что гибкоцепные полимеры в некристаллическом состоя- [c.30]

N - порядок дифракции Л/д — ЧИСЛО Авогадро [c.461]

При помощи дифракции рентгеновских лучей было исследовано и установлено не только строение граничной пленки, но также отношение ее к изменению температуры. Как и следовало ожидать, повышение температуры, усиливая тепловое движение молекул, нарушает порядок ориентированных молекул и более всего в слоях, далеко отстоящих 0т металлической поверхности. Наличие в масло высоконолярных молекул повышает сопротивляемость ориентированного слоя дезорганизующему действию теплового движения. [c.150]

Длины волн рентгеновских лучей имеют тот же порядок, что и расстояние между атомами или ионами в кристаллах и молекулах (10- см). Благодаря этому при дифракции рентгеновских лучей от граней кристалла можно обнаружить особенности в расположении частиц в кристалле, определить расстояние между ними. Существуют различные способы получения рентгенограмм. В основе всех методов рентгеновского анализа лежит дифракцион- [c.56]

Дифракция электронов четко обнаруживается, если для них дебройлевская длина волны соизмерима с межатомным расстоянием в кристалле, служащим дифракционной решеткой, т. е. имеет порядок 0,1 нм. Чему равна длина волны де Бройля для электрона, движущегося а) со скоростью 7,2-10 км/с и б) со скоростью, в 100 раз меньшей скорости света Дадут ли эти электроны дифракционную картину Ответ а) 0,101 нм, да б) 0,242 нм, нет, [c.81]

Исследование пористости стеклоуглерода методами малоугловой рентгеновской дифракции показывает (см. табл. 38), что по мере повышения температуры обработки макропористость (открытая) По, значительная в материале, обработанном при 1000 °С, существенно уменьшается. При этом размер внутриглобулярных — структурных пор /р и величина структурной пористости е растут. Количество структурных пор Мп до 2000 °С несколько увеличивается по сравнению с их содержанием в материале, обработанном при 1000 °С. Для стеклоуглерода на основе бакелита "А" после обработки при температуре от 2000-3000 °С число пор вначале резко, а затем медленно уменьшается. Для ФМ-2 характер изменения Л/п аналогичен, однако величина /Ур на порядок ниже (соответственно параметры /с и /р - больше) и ее характерный скачок приходится на температуру 2800 °С. Вместе с тем плотность углеродной матрицы и степень ее упорядочения растут, на что указывает соответствующий рост параметров [c.214]

Рентгеновские лу ти представляют собой электромагнитные БОЛИН длиной порядка нескольк их ангстрем. Если n , 40K таких лучей направить на монокристалл, то произойдет дифракция и, помимо первичного пучка лучей, иаправле1[[Юго на кристалл, возникнет ряд дифрагированных лучен. ЛтомЬ[ и молекулы располагаются а кристалле строго закономерно, образуя трехмерную пространственную решетку. Наименьший кирпич , из которого строится пространственная ре1нетка, называется элементарной ячейкой кристалла. Размеры элементарной ячейки имеют тот же порядок величин, что н длина волны рентгеновских лучей. Это дает возможность наблюдать дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах и использовать это явление лпя изучения их Структуры. [c.99]

Рентгеновские лучи рассеиваются в результате взаимодействия с электронными оболочками атомов в-ва, нейтроны — с ядрами и маш. моментами атомов, электроны — с электростатич. потенциалом, создаваемым электронами и ядрами. Отношения интенсивностей рассеянного и падающего излучения для рентгеновских лучей и для нейтронов соотв. в W и 10 раз меньше, чем для электронов. Слабо рассеивающиеся рентгеновские лучи и нейтроны использ. в осн. для изучения монокристаллов размером 0,1—1 мм, электронные пучки — для изучения молекул в газовой фазе, поликристаллич., жидких и аморфных пленок толщиной 10 —10" см, монокристаллов размером ок. 0,1 мкм, а также поверхностей кристаллич. в-в. Дифракц. картина от монокристаллов — это система четких максимумов интенсивности, что позволяет рассчитать координаты атомов. Для аморфных в-в, к-рые, как и газы, дают размытую дифракц. картину в виде концентрич. колец, определяют лишь ближ-нии порядок атомов (расстояния между ближайшими атомами и координац. число Дифракция электронов на относительно простых молекулах газа (пара) позволяет определять межатомные расстояния в молекуле. [c.186]

Различными физико-химическими методами (дифракция рентгеновских лучей и нейтронов под большими и малыми углами, электронная. микроскопия и др.) было показано, что в аморфных полимерах существуют области с локальной упорядоченностью звеньев, которая сохраняется на расстоянии нескольких нанометров (т е ближний порядок), причем между упорядоченными и неупорядоченными йбластями нет четких границ, [c.52]

Рентгеновские лучи способны к дифракции (рассешию), а кристаллы служат естественной дифракционной решеткой. Расстояния между плоскостями трехмерной кристаллической решетки (определяющие параметры элементарной ячейки) имеют такой же порядок, как и длина волны рентгеновского излучения, поэтому кристаллическая решетка и ведет себя подобно дифракционной решетке. Если монохроматический пучок рентгеновских лучей направить на кристалл, рентгеновские лучи рассеиваются когерентно, т е. при сохранении во времени постоянства соотношения между фазами волн и, следовательно, длины волны. Это создает возможность интерференции (сложения амплитуд волн) дифрагированного (вторичного) излучения, возникающего при взаимодействии первичного излучения с электронными орбиталями атомов кристаллической решетки. Получаемая дифракционная картина отражает трехмерную периодичности распределения электронных плотностей в кристаллической решетке, характеризующих расположение атомов. [c.145]

Дифракция рентгеновских лучей на кристаллах происходит потому, что периоды рещетки, межатомные расстояния й в рещетке (1—4 А) имеют тот же порядок величин , что и длины волн (чаще всего пользуются /Са-излучением Си с X = 1,54 А). [c.265]

Ароматические углеводородные системы образуют жидкие кристаллы неметаллического типа (рис. 90). Они образуются дискообразными молекулами высококонденсированных ароматических соединений плоского строения (рис. 91) или длинными молекулами в виде стержней с ароматическими фрагментами. В нематике возникают области до сотен нанометров с одинаково ориентированными молекулами. Центры тяжести нематической фазы расположены случайно, поэтому в ней не существует дальнего координационного порядка. Оси всех частиц нематики ориентированы в определенном направлении. Методами дифракции рентгеновских лучей может быть исследован ориентационный порядок, характерный длн жидкокристаллических структур. [c.168]

Оксид диазота S 0. Эта молекула линейна, и электрпческпп дипольный момент ее лишь немного отличен от нуля (0,17 Д). Из-за близости рассеивающей способности атомов азота и кислорода невозможно на основе электронной дифракции сделать выбор между двумя возможными структурами NNO и NON, но первая из них подтверждается еще спектроскопически. Рентгенографические данные по кристаллическому N2O [1] (который изоструктурен СО2) согласуются лишь с моделью произвольно ориентированных молекул NNO. Этой неупорядоченностью может быть объяснена остаточная энтропия 1,14 э. е., близкая к теоретической величине (2 1п 2=1,377 э.е.). Центральны атом азота может быть описан как атом, образующий дне лр-связи и дополнительную л-связь, что дает общий порядок гвязи приблизительно [c.567]

А. Если пучок рентгеновашх лучей падает на кристалл, линейные размеры которого имеют тот же порядок величины, что и длина волны, то в этом случае возможна дифракция. [c.35]

Бон и др. [45] сообщили, что структура атактического поли-акрилонитрила очень сходна со структурой поливинилкарбазола. Образование характерной структуры, обладающей только поперечным порядкам, было приписано дипольным внутримолекулярным Отталкиваниям, приводящим к более жесткой цепи. Цепь можно моделировать жестким стержнем диаметром около 6 А. Поперечный порядок и продольная неупорядоченность системы изучались методом дифракции рентгенавских лучей на ориентированных образцах. Наблюдались острые экваториальные рефлексы линии, соответствующие слоистой структуре, отсутствовали, а вместо них наблюдалось интенсивное диффузное рассеяние на экваторе. Установлено, что для нолиакрилонитрила не существует аморфного гало. Диаграмма малоуглового рассеяния характеризовалась диффузным рассеянием, относившимся к микропустотам вещества. Полимер было предложено считать на 100% поперечно упорядоченным веществом. Сообщалось, что упорядоченный полимер имел температуру стеклования в той же области температур, что и аморфный полимер. [c.32]

МИ или их сегментами, а большими надмолекулярным доменами различных составов и концентраций растворителя. Из-за размеров доменов структуры исследовались методами электронной микроскопии и малоугловой дифракции рентгеновских лучей. Были определены величина и форма структур и расположение в них доменов, Установлено, что возможны ламеллярная, гексагональная и кубическая упаковки. Истинная природа надмолекулярного жидкокристаллического порядка определяется составом сополимера и концентрацией полимерного раствора. К числу изученных систем относятся сополимеры стирола и бутадиена, стирола и полиокси-этилена, стирола и диена, бутадиена и у ензил-Ь-глутамата. Жидкокристаллический порядок в блок-сополимерах подробно описан в гл, 6. [c.52]

Рентгенограммы кристаллических полимеров неизменно содержат широкое гало, соответствующее брэгговскому периоду в области 3—5 А. Наличие гало может, в принципе, объясняться рассеянием как от аморфных областей, так и от нарушений порядка в кристалле. Поэтому, используя только рентгенографические данные и отбрасывая обширную и ценную информацию, полученную другими методами, довольно трудно установить молекулярную природу этого диффузного рассеяния.. Однако очень тщательный анализ Руланда [36] как диффузной, так и дискретной дифракции на полипропилене показывает, что-гало обусловлено именно наличием аморфных областей, в которых отсутствует какой-либо структурный порядок. [c.293]