Гауссовы пики

Стандартное отклонение а отвечает ширине пика в точке, расположенной на расстоянии 0,882/г от основания о,8я2> и может быть определено также из соотношений, справедливых для гауссовых пиков [c.213]

В количественном газохроматографическом анализе следует стремиться к получению хроматограмм с гауссовыми пиками. Обработка хроматограмм с асимметричными пиками, как правило, проводится с меньшей точностью. [c.213]

Рис. 111.22. Выполнение дополнительных по> строений на хроматограмме и намерение высоты и полуширины гауссова пика

Рис. 111,26. Совмещенный хроматографический пик, образованный наложением двух гауссовых пиков 1 и 2

Рнс. 8.11. Влияние интегрирующего цифрового фильтра ма спектр, состоящий из гауссова пика и фона с линейным наклоном. [c.117]

Специфические проблемы возникают в случае наложения плохо разрешенных пиков (что часто бывает, например, в колебательной спектроскопии или хроматографии). На рис. 12.3-7 изображена структура, представляющая собой наложение двух гауссовых пиков. Для их лучшего разделения можно вычесть из исходного сигнала его вторую производную (или ее долю, равную 1 — а) [c.484]

Симпсона для интегрирования гауссова пика. [c.492]

В идеальном случае хроматографический пик должен быть симметричен и иметь форму гауссова пика с ясно выраженными точками начала и конца и вершиной. Если форма пика не отвечает этим требованиям, то интерпретация его параметров (площади, высоты и времени удерживания) становится затруднительной (как при электронной, так и при ручной обработке) и, следовательно, возрастает вероятность ошибки. [c.100]

Как видно из этого выражения, определяется как коэффициент разделения, деленный на среднюю ширину пиков в основании. Поскольку ширина гауссова пика в основании равна 4а (где а — стандартное отклонение пика), то отсюда следует, что при Д/ , равном 4ст, равно 1, что соответствует всего 2%-ному перекрыванию пиков. При разделении бст , т. е. при = 1,5, наблюдается полное разделение пиков, тогда как при < 0,8 разделение уже неудовлетворительное. [c.50]

Рис. 1.5. Методы расчета числа теоретических тарелок N из измерений гауссова пика.

Идея метода демонстрируется на рис. 1.15 (см. также разд. 1.3.4 и рис. 1.7). На первом проходе может быть собрано с высокой степенью чистоты большее количество компонента 1, тогда как количество очищенного компонента 2, будет меньше, чем в идеальном случае, если компонент 1 присутствует в более высокой концентрации или его хвост значительно отличается от формы идеального гауссова пика. Величина хвостовой части пика будет зависеть от нагрузки и используемой ЖХ-системы (см. разд. 1.4.4). [c.46]

Дополнительные причины искажения формы гауссова пика [c.53]

Как было отмечено в начале разд. 1.4.4, на искажение формы гауссова пика помимо больших нагрузок могут влиять другие причины. Некоторые из них приведены на рис. 1.21, где представлены пики различной формы. Как указывалось выше, пик [c.53]

Ширина пика — проекция отрезка прямой, параллельной основанию пика, ограниченного точками пересечения с ветвями пика, на ось времени. Ширина пика может измеряться на разных уровнях (сечениях) высоты пика. Ширина пика измеряется в мм сек. Наиболее просто вручную измеряются и рассчитываются параметры так называемых гауссовых пиков (рис. 27). Контур этих пиков описывается уравнением [c.102]

Этот метод дает около 97% (96,8%) от площади гауссова пика. Недостатки этого метода состоят в необходимости дополнительных геометрических построений (проведение касательных), которые не всегда могут быть выполнены легко и с достаточной точностью. Особенно это касается узких пиков. При этом точка пересечения касательных может оказаться за пределами диаграммной ленты. [c.107]

Этим методом находят около 80% (79,8%) от площади гауссового пика. Здесь частично преодолеваются недостатки первого метода. [c.107]

Этим методом находят около 94% (93,9%) от площади гауссова пика. Точность измерения площади в методе Ь Ь зависит от формы и абсолютных размеров пика. Форму пика принято характеризовать отношением Ь/Ьо,5 Ошибка минимальна при Ь/Ьо,5 равна 5-6%. С повышением абсолютных размеров пика точность измерения площади пика возрастает. Форму и абсолютные размеры пика можно изменять, изменяя скорость протяжки диаграммной ленты и пределы измерения, подбирая их оптимальными для определяемых компонентов. [c.107]

Истинная же площадь гауссова пика может быть найдена по фор- [c.108]

Расчет полной площади гауссового пика [c.108]

Для полной площади гауссова пика в общем случае можно запи- [c.108]

Рассмотрим случай наложения двух гауссовых пиков, когда огибающая имеет минимум (рис. 32). При наложении двух пиков происходит искажение измеряемых параметров пика (высоты и ширины). При этом [c.109]

Площадь неразделенных пиков рассчитывается по обычной формуле для гауссовых пиков, например по формуле (73). [c.110]

Очевидно, из двух последних равенств, пользуясь экспериментальными значениями Rf, 1, Оу (как величинами полуширины гауссовых пиков на высоте С е- /.), можно определить время запаздывания — т [c.200]

Рис. Х1У.10. Зависимость точности определения площадей и высот перекрывающихся гауссовых пиков А а В с примерно одинаковыми дисперсиями (0л сгз) при соотношении площадей Ал Ав=1 2 от разрешающей способности йз=AIR/[2(0A- -0в)] [41].

Определение по уравнению (10) является точным. Площадь гауссова ника может быть определена как произведение высоты пика в максимуме на ширину пика на высоте/г /2 (хд/г). Полученная площадь составляет 0.84 истинной площади гауссова пика 5 [c.148]

Поскольку площадь, ограниченная гауссовым пиком, составляет 5=а/г /21г, то уравнение может быть записано в виде [c.302]

Хотя ширина гауссова пика на высоте, составляющей определенную долю от максимальной, не зависит от концентрации вещества в пятне, тем не менее величина хроматографического пятна, детектируемая с помощью прибора конечной чувствительности, например определяемая фотографически, будет зависеть от величины с . Покажем, почему это происходит. Если — минимальная [c.302]

Для точного выполнения количественного анализа, основанного на определении размеров пятен, необходимо соблюдать условия, обеспечивающие стандартную величину дисперсии гауссовых пиков, т. е. необходимо стандартизовать время анализа и величину i /, а также кинетические характеристики хроматографической системы (размер зерна и температуру опыта). В описанных выше методах подобная стандартизация достигается за счет нанесения определяемых и эталонных веществ на одну пластинку. В этом случае необходимо стандартизовать лишь два параметра чувствительность детектирующего устройства (фотопластинки) и величину стартового пятна. Нужно иметь в виду, что при нане- [c.304]

Некоторые характеристики гауссова пика приведены на рис. 1.4, из которого следует, что отклонение от истинной кривой Гаусса можно определить путем измерения ширины пика в некоторых фиксированных точках, соответствующих определенной высоте пика. Обычно точно измерить ширину пика у его основания очень трудно, поэтому в практических целях пользуются значением ширины пика на половине его высоты (1 1/2). Однако для большинства способов определения ширины пика характерны недостаточные точность и тщательность измерений. Обсуждение других способов характеристики формы хроматографического пика, его ширины и симметрии выходит за рамки данной книги. [c.17]

Рис. 1.4. Некоторые характеристики гауссова пика.

Rs можно выразить через основные хроматографические параметры [уравнение (4.2)] только для симметричных (гауссовых) пиков. В идеальном варианте все хроматографические пики имеют симметричную форму. Однако на практике в газовой и особенно в жидкостной хроматографии это обычно не так. [c.147]

Для определения принадлежности формы хроматографического пика к гауссовой удобно использовать отнесение ширины пика при основании к полуширине пика. Для истинно гауссовых пиков должно соблюдаться равенство (критерий Эттре) [c.213]

Предположим, что у нас есть три взаимно влияющих друг на друга гауссовых пика, отстоящих друг от друга на 125 эВ. Центры пиков расположены при энергиях 5875, 6000 и 6125 эВ соответственно, и пики имеют соответствующую ширину при регистрации их детекторов с разрешением 160 эВ на линии Мп с . Эти пики (штриховые линии) и их свертка (сплошная линия) показаны на рис. 8.13. Жирными линиями отмечены области,, представляющие интерес. Пусть центр интересуемой области для каждого пика расположен под центром пика и ее ширина состав1Ляет 100 эВ. Предположим, что при измерении на каждом чистом элементе и на неизвестном материале получаем такое количество импульсов в трех областях, которые приведены в [c.127]

Таким образом, мы используем хроматографическое разрешение Яз как характеристику всей системы. Для раздетшя двух гауссовых пиков А и В разрешение рассч1ггывается с использованием ширин пиков у основания (рис. 5.1-6) [c.241]

Если целью является просто увеличение концентрации компонентов 1 и 2 соответствующих фракций со сбором части элюируемого материала до точки В (см. рис. 1.7) и соответственно после точки В в отдельные сборники, то это позволит получить соединения с уровнем чистоты 88% (для гауссовых пиков). Для получения каждого компонента с высокой чистотой для отбора следует использовать точки А и С. Фракция смещанного образца между этими двумя точками может быть собрана и возвращена в ироцесс или подвергнута рециклу (см. разд. 1.4.3.4). С увеличением уровень чистоты при отборе до и после точки [c.26]

Все три определения от-пощений высота пика/глубина (высота) седловины очень сходны между собой. Согласно последнему определению, значение отноще-ния (Р ) высот седловины и пика определяется для каждого пика, а не для каждой пары пиков. Однако для двух гауссовых пиков равной высоты все три определения дают один и тот же результат. Даже если соответствующие высоты пиков изменяются, первые два определения все же дают сравнимые результаты. Согласно определению, значение Р, выше для большего пика и ниже для меньшего пика (пропорционально соответствующей высоте). [c.151]

Теоретически величина Р меняется при изменении соот-ветствуюи их высот (площадей) двух рассматриваемых пиков. Изучение смоделированных гауссовых пиков показывает, что это изменение мало для величин Р и но существенно для величины Ру. [c.152]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология