Поверхность показателей преломления

Численные значения свойств, определяемые векторами, обычно сравнительно мало отличаются друг от друга. Например, экстремальные значения показателей преломления кварца Ле = 1,553, По = 1,544. Отсюда уравнение поверхности показателей преломления имеет вид 1,544 + 1. [c.69]

Для двуосных кристаллов также возможно выполнение фазового синхронизма. Однако и для тех и для других кристаллов само по себе наличие анизотропии показателя преломления недостаточно. Необходимо, чтобы соответствующие поверхности показателей преломления для исходной длины волны и ее гармоники по крайней мере касались друг друга, т. е. чтобы анизотропия была достаточно большой. [c.780]

Синхронизм называется критическим, если направление фазового синхронизма О отличается от 90°, и некритическим, если О == 90°. В первом случае поверхности показателей преломления для исходной волны и ее гармоники пересекаются, что соответствует различию в направлениях для групповых скоростей (векторов Пойнтинга) обыкновенной и необыкновенной воли. Во втором — направления групповых скоростей кол-линеарны (поверхности показателей преломления касаются). Переход от критического синхронизма к некритическому можно осуществить с помощью выбора температуры кристалла. [c.780]

Сечения поверхностей показателей преломления для кристаллов КПД на основной частоте и на частоте второй гармоники излучения рубинового лазера [c.235]

Здесь показано сечение поверхностей показателей преломления (аналогичных волновым поверхностям, см. табл. 34) для кристалла дигидрофосфата калия (так называемого КДП) сферы для обыкновенной волны (Пд) и эллипсоида для необыкновенной волны (га ). Как видно, в этом кристалле осуществляется редкий случай, когда для света от рубинового лазера (Я = 0,69 мкм) показатель преломления обыкновенной волны п о на основной частоте (о равен показателю преломления необыкновенной волны на частоте 2а>, т. е. на второй гармонике основной частоты. Поэтому в направлении ОР под углом Ф к оптической оси окружность пересекается с эллипсом, т. е. п е". Это и есть направление волнового синхронизма. Вдоль этого нанравления равны [c.236]

Число необходимых смесей зависит от сложности контура поверхности показателей преломления и требуемой точности. Минимальное число экспериментальных точек и их расположение соответствует так называемым симплексным решеткам, используемым для нахождения эмпирических формул, описывающих свойства многокомпонентных систем [10—12]. [c.36]

Любое вещество имеет определенный показатель преломления луча света, падающего на это вещество под углом к поверхности. Показатель преломления определяется скоростью распространения света в данной среде. Вещества аморфной структуры — стекло или жидкости, например вода, обладают постоянным показателем преломления независимо от того, в каком направлении проходит луч света. Кубические кристаллы также имеют одинаковые свойства во всех направлениях, т. е. являются изотропными. Показатель преломления их — также величина постоянная. Однако кристаллы других форм, например игольчатые, характеризуются наличием двух показателей преломления, и луч света, проходя через кристалл, разделяется на два луча, распространяющиеся в кристалле с различной скоростью. Оптическое сопротивление кристалла различно в различных направлениях в одном направлении оно больше, в другом — меньше. [c.58]

Основная задача прикладной оптики — получение изображения предмета на приемнике световой энергии (глаз, фотопленка и т. д.) за счет перераспределения светового потока при преломлении и отражении его на поверхности оптических деталей (линз, зеркал и т. д.). Идеальная оптическая система должна давать резкое увеличенное или уменьшенное изображение предмета без искажения его формы. В реальной оптической системе неизбежны искажения (аберрации) изображения, основные из которых сферическая, хроматическая аберрации, кома, астигматизм и дисторсия [3, 1321. Устранить все аберрации системы невозможно. Главная задача расчета оптических систем (вычислительной оптики) состоит обычно в сведении к минимуму аберраций, особенно тех из них, которые, в зависимости от назначения прибора, наиболее вредны. Все аберрации тем или иным образом связаны с кривизной поверхности, показателем преломления и дисперсией отдельных линз, составляющих систему. Показатель преломления Пц и коэффициент дисперсии V (см. 1.2) являются для вычислительной оптики основными оптическими постоянными материала. Для использования в линзовой оптике необходим прежде всего ассортимент полимеров с различными показателями преломления и дисперсией. [c.94]

Положение волновой нормали относительно луча представлено на рис. 50. Теперь мы рассмотрим двойные поверхности показателей преломления для двух групп анизотропных кристаллов. [c.244]

Одноосные кристаллы-. Для кристаллов, принадлежащих к тригональ-ной, квадратной и гексагональной системам, одна из двух поверхностей показателей преломления является шаром, как в изотропной среде, другая поверхность представляет собой эллипсоид вращения, который соприкасается со сферой на полюсах (в точках пересечения с осью вращения). Экваториальный диаметр эллипсоида может быть либо больше, либо меньше диаметра шара в соответствии с этим кристаллы называются либо положительными, либо отрицательными (рис. 51). Волна, дающая шаровую поверхность, называется обыкновенным лучом, так как этот луч подчиняется обычному закону преломления (закон Снеллиуса) таким образом, радиус шаровой поверхности — поверхности показателей преломления — есть не что иное, как показатель преломления обыкновенного [c.244]

Двуосные кристаллы. Поверхность показателей преломления для двуосного кристалла значительно сложнее, чем для кристалла одноосного. Эта поверхность схематически представлена на рис. 52, который рекомендуется перенести на кальку, вырезать и согнуть, в результате чего получается один из октантов трехмерной системы координат. Сложенная [c.245]

Рис. 51. Поверхности показателей преломления для положительных и отрицательных одноосных кристаллов.

Рис. 52. Поверхность показателей преломления двуосных кристаллов.

Если в плоскости Хг вместо сечения поверхности показатель преломления—волновая нормаль построить кривую зависимости волновой скорости в этой плоскости от направления луча, то мы получим окружность [c.246]

Рис. 53. Поверхность показателей преломления двуосных кристаллов (сложенная диаграмма).

Рие. 54. Плоскость поверхности показателей преломления, содержащая первичные оптические оси двуосного кристалла. [c.247]

Зависимость между углом V и главными показателями преломления можно очень просто вывести, если рассмотреть сечение поверхности показателей преломления на рис. 54. Представленная на этом рисунке эллиптическая кривая отвечает следующему уравнению в полярных координатах [c.248]

На рис. V. 41,а для примера приведена зависимость показателя преломления от состава тройной системы (7, р= onst). Проекция поверхности показателей преломления представлена на рис. V. 41,6 кривые этого рисунка являются геометрическим местом точек составов растворов, имеющих один и тот же показатель преломления. Они носят название изорефракт. [c.317]

Сечения волновой поверхности (а) и указательной поверхности показателей преломления (б) одноосных кристаллов Слева кристалл одноосный полокителыгый, справа — одноосный отрицательный [c.225]

В наиболее общем случае монохроматический свет, падающий на пластинку поглощающего кристалла, разлагается на два эллиптически поляризованных луча. Как отношения больших осей к малым, так и направления вращения одинаковы для обоих эллипсов, но их большие оси взаимно перпендикулярны. Однако свет, колеблющийся вдоль направления колебания кристаллической пластинки, проходит плоскополяризованным и поэтому может быть погашен скрещенным анализатором. Сечение кристалла обладает показателями преломления щ и Па и показателями поглощения и К.2 соответственно для двух его направлений погасания. Различно ориентированные сечения одного и того же кристалла обладают различными значениями 1, 2- 1 и 2. Эти значения меняются с изменением длины волны, причем особенно чувствительны показатели преломления. Можно построить поверхность показателей поглощения так же, как мы строим поверхность показателей преломления, чтобы дать наглядное представление о природе двойного лучепреломления в кристалле. Для идеально прозрачного кристалла эта поверхность сведется к геометрической точке, в то время как для оптически изотропного (поглощающего) кристалла она будет сферой радиуса 1. Поверхность показателя поглощения для обыкновенного луча в одноосном кристалле образует сферу радиусом а для необыкновенного луча — овалоид, меняющийся от 7. вдо ь оптической оси и до перпендикулярно к ней. Обычно у положительных кристаллов а у отрицательных кристаллов Это эквивалентно утверждению, что большее светопреломление сопровождается обычно и большим поглощением. Для двуосных ромбических веществ поверхность поглощения подобна поверхности показателей преломления, т. е. имеется два направления, для которых показатели поглощения одинаковы. За случайными исключениями, эти направления не совпадают с оптическими осями и не имеют определенных обозначений. Ваягно, однако, отметить то обстоятельство, что главные оси поверхности поглощения ромбического кристалла совпадают с осями X, Г, 2 поверхности показателей преломления, которые, в свою очередь, совпадают с кристаллографическими осями. В моноклинных кристаллах только одна из главных осей поглощения, совпадающая с кристаллографической осью Ь, совпадает также с осью поверхности показателя преломления. Асимметрия кристаллов триклинной системы сказывается также и на поверхности поглощения главные оси поглощения, за случайными исключениями, не совпадают с главными осями колебаний. [c.303]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология