Определение поверхности методом оптически

Одним из наиболее важных направлений использования методов определения удельной поверхности такого типа является пспользование их для оценки размеров частиц. О существовании обратного соотношения между этими двумя характеристиками уже упоминалось, а в следующем разделе оно будет рассмотрено более детально. Методы адсорбции особенно удобно применять к порошкам, имеющим частицы размером менее 1 мк, когда методы оптической микроскопии неприменимы. Если, как это обычно бывает, порошок состоит из частиц различного размера, измерение удельной поверхности непосредственно позволит определить средний размер частиц. В то же время методы оптической или электронно-оптической микроскопии требуют изучения большого количества частиц, входящих в данный образец, чтобы затем можно было рассчитать средний размер. [c.33]

Макропоры, эффективные радиусы которых превышают 1000—2000 А и лежат за пределами достигнутого в обычной адсорбционной аппаратуре заполнения пор по механизму капиллярной конденсации. Информация о параметрах макропористой структуры может быть получена на основании опытны к данных порометрии, а в ряде случаев и при помощи оптического микроскопа. Удельная поверхность макропор, определенная по методу БЭТ, не превышает 1—2 и не вносит существенных изменений в сорбционный процесс. Главная роль макропор связана с выполнением функции транспортных каналов, облегчающих диффузию адсорбирующихся или реагирующих молекул к внутренним слоям зерен пористого тела и отвод продуктов реакции в газовую или жидкую фазу. [c.208]

Помимо визуальных и адсорбционных методов поверхность может быть определена измерением скорости растворения, теплот смачивания, проницаемости и теплопроводности она может быть также оценена с помощью оптических методов и методом диффракции рентгеновских лучей. Эти методы кратко обсуждаются в настоящей главе. Литература об определении поверхности и размеров частиц столь обширна, что о подробном ее обсуждении и изложении здесь не может быть и речи. [c.368]

Определенное будущее принадлежит оптическим методам нагревания поверхностей и оплавления покрытий. Они реализуются в солнечных и электродуговых отражательных установках, которые концентрируют световые лучи и способны давать фокусное пятно с температурой до 4000 °С. Следует однако отметить, что в солнечных печах трудно нагревать материалы с большим коэффициентом отражения. Перспективны коротковолновые инфракрасные нагреватели, излучающие направленные тепловые лучи, температура внутри которых достигает 1300°С. [c.67]

Согласно Демкину [24 ], существует четыре группы методов для определения площади фактического контакта 1) электрические (по электропроводности в зоне контакта) 2) основанные на явлении переноса вещества 3) по измерению сближения поверхностей 4) оптические. Эти методы не являются прямыми, а дают лишь качественную или полуколичественную оценку площади фактического контакта. [c.223]

Электрические методы обладают серьезными недостатками, поэтому они не получили распространения. Методы, основанные на явлении переноса вещества (метод меченых атомов, люминесцентных красок и т. п.) обладают специфическими особенностями и находятся в стадии усовершенствования. Их принципиальный недостаток заключается в невозможности определения площади контакта движущихся поверхностей. Методы определения площади контакта по сближению детально рассмотрены в работах [2, 23, 24]. В области трения полимеров они применяются редко. Наиболее распространены оптические методы исследования. [c.223]

Поскольку скорости процессов сольватации, диссоциации и ассоциации весьма велики, то, по-видимому, процесс массопередачи для химически нереагирующих систем всегда протекает в диффузионной области. Так, скорость ассоциации ионов Н+ и СНзСОО" равна 4,5- 10 ° л моль-сек) [182]. Во всяком случае для определения скоростей данных процессов и степени отклонения от фазового равновесия на поверхности раздела фаз необходимо привлечь значительно более тонкие прямые методы (оптические, физикохимические и др.). [c.79]

Для определения поверхности контакта фаз при массовом барботаже могут быть использованы следующие методы 1) метод статистической обработки фотографий газожидкостного слоя 2) метод отражения светового потока 3) метод рассеяния света при прохождении лучей через барботажный слой 4) метод, исходящий из известной скорости химической реакции (химический метод) 5) метод, основанный на явлении деполяризации света на границах раздела сред, имеющих разную, оптическую плотность. Однако ни один из существую- [c.86]

Метод деполяризации света [212] основан на деполяризации поляризованного света на границах раздела сред с разной оптической плотностью. В отличие от метода 3 этот метод дает возможность измерения не только в пристеночном слое, но и определения поверхности для всей толщины слоя, через которую пропускается пучок света однако вследствие насту.пления полной деполяризации метод не пригоден для крупных моделей (с диаметром более 150 мм). [c.156]

Таким образом, методами электронной микроскопии была обнаружена сложность состава частиц, высокая степень разветвленности их поверхности и истинные их размеры. Отметим, что размеры отдельных частиц оказались намного меньше определенных некоторыми исследователями, которые пользовались методами оптической микроскопии. [c.132]

Оптический метод используют также для определения удельной поверхности раздела движущейся по трубопроводу пены. С этой целью на одном из участков трубы монтируют в плоскости, перпендикулярной потоку, две трубки на некотором расстоянии друг от друга. В одной из них помещают источник света, а во второй — фотоэлемент. Калибровку прибора проводят по пене с известной поверхностью раздела (определенной, например, методом. микрофотографирования). [c.97]

Оптический метод [112] определения пористости может быть использован для оценки пористости мембран из любого материала. По этому методу образец приводят в соприкосновение с поверхностью равнобедренной стеклянной призмы и позволяют смачивающей жидкости, поднимаясь по капиллярам мембраны, вступать в контакт со стеклом. Основание призмы представляет собой поверхность полного отражения. Пока поры образца не заполнены жидкостью, площадь контакта образца мембраны с этой поверхностью невелика и принимается за начальный уровень отсчета. По мере заполнения пор жидкостью растет доля площади основания призмы, на которой полное отражение нарушено. Автоматическая запись дает возможность получать кривые с выходом на плато, высота которого прямо пропорциональна пористости /о. [c.93]

С целью установления правильности геометрической формы деталей и узлов, отклонения их размеров от заданных чертежом и определения износа проводят измерения, которые подразделяют на прямые (абсолютные) и косвенные. При прямых измерениях искомое значение измеряемой величины определяют либо путем непосредственного сравнения ее с мерами, либо с помощью прибора, проградуированного в принятых единицах измерений. Косвенные измерения состоят в определении измеряемой величины по результатам прямых измерений одной или нескольких других величин, связанных с искомой величиной определенной функциональной зависимостью. Методы измерения и контроля подразделяют на контактные и бесконтактные. Контактные измерения выполняют путем контакта измерительного наконечника с поверхностью измеряемой детали, причем характер контакта может быть точечным, линейным или поверхностным. Бесконтактные измерения (оптические, пневматические и др.) выполняют без механического контакта между измерительным наконечником и измеряемой деталью. [c.470]

При сравнении различных методов измерения кислотности в приэлектродном слое возникает вопрос о соответствии экспериментально определенного значения истинному, которое должно быть подставлено в кинетическое уравнение. За истинную кислотность у поверхности электрода должна быть принята концентрация ионов водорода на границе двойного и диффузионного слоев. Оптические методы и методы отбора проб дают в приэлектродном слое достаточной толщины усредненное значение кислотности, которое отличается от истинного. Измерения, проведенные методом металл-водородного электрода и методом дискового электрода с кольцом должны давать истинные значения. [c.308]

В настоящее время оптические методы являются наиболее распространенными методами определения размера, формы и структуры коллоидных частиц. Это объясняется не только быстротой и удобством этих методов, но и точностью получаемых результатов. Грубые дисперсные системы (суспензии, эмульсии, пены, пыли) обычно исследуют с помощью светового микроскопа. К наиболее часто применяющимся методам исследования высокодисперсных коллоидных систем относятся ультрамикроскопия, электронная микроскопия, нефелометрия и турбидиметрия. Реже применяют метод, основанный на определении двойного лучепреломления в потоке, рентгенографию и электронографию для исследования внутренней структуры и характера внешней поверхности частиц коллоидной системы. [c.44]

Благодаря быстрому возникновению новых и усовершенствованию существуюш,их методов исследования и успехам в области физики и химии твердого тела наши сведения о катализаторах пополняются буквально с каждым днем. В настоящее время применение оптической спектроскопии, радиоспектроскопии и других физических методов позволяет более определенно, чем ранее, говорить об электронном строении, о химической природе активных центров и даже об их пространственной структуре. То же можно сказать и о первичных стадиях превращений катализируемых веществ. И здесь также оказалось возможным при помощи физических методов перейти от гипотетических схем к прямому наблюдению и создать достаточно определенное представление о состоянии реагирующих веществ на поверхности катализатора, как и об его участии в каталитической реакции. [c.175]

Отметим, что и в этой модели представление о а, как о силе упругой стягивающейся пленки, не имеет ясного физического истолкования, поскольку, проводя трехмерную аналогию, нам пришлось бы говорить о втягивающей силе вакуума, тогда как представление о молекулярных ударах, приводящее в подобной аналогии к обычному давлению, имеет совершенно определенный смысл. Это поверхностное давление совершенно реально, его можно из- мерить весьма точно, соединяя подвижный поплавок с динамометрическим устройством. На этом принципе основаны весы Лэнгмюра , которые позволяют измерять я с чувствительностью до 0,001 дин/см [6, с. 39]. На этих измерениях основаны механические методы исследования пленок. Пленки изменяют ке только механические, но и другие свойства поверхности раздела, в частности оптические и электрические. Соответственно существуют оптические и электрические методы исследования пленок. [c.98]

Первоначально сложилось представление об эффективных радиусах атомов, проявляющихся в их действиях, т.е. в химических соединениях. Эффективные радиусы определяли из экспериментальных данных по межъядерным расстояниям в молекулах и кристаллах. При этом предполагалось, что атомы представляют собой несжимаемые шары, которые соприкасаются своими поверхностями в соединениях. При определении значения эффективного радиуса из межъядерных расстояний в ковалентных молекулах подразумевали ковалентные радиусы, при вычислении их из данных для металлических кристаллов — металлические радиусы. Наконец, эффективные радиусы, рассчитанные для кристаллов с преимущественно ионной связью, назывались ионными радиусам[и. Для этого определяли радиус какого-нибудь иона, а затем вычисляли ионные радиусы других элементов из экспериментальных данных по межъядерным расстояниям в кристаллических решетках. Так, с помощью оптических методов, а затем расчетом был определен радиус аниона фтора, равный 0,11.3 нм. А расстояние между атомами Na и Г в решетке МаГ было установлено равным 0,231 нм. Отсюда радиус иона Ма равен 0,231 — 0,113 = 0,118 нм. Металлические радиусы получены делением пополам расстояния между центрами двух смежных атомов в кристаллических решетках металлов. Ковалентные радиусы неметаллов также вычислены как половина межъядерного расстояния в молекулах или кристаллах соответствующих простых веществ. Для одного и того же элемента эффективные радиусы (ковалентный, ионный, металлический) не совпадают между собой. Это свидетельствует о зависимости эффективных радиусов не только от природы атомов, но и от характера химической связи, координационного числа и других факторов (см. табл. 4). Изменение эффективных радиусов атомов носит периодический характер (рис. 22). В периодах по мере роста заряда ядра эффективные радиусы атомов уменьшаются, так как происходит стягивание электронных слоев к ядру (при постоянстве их числа для данного периода). Наибольшее уменьшение характерно для 5- и р-элементов. В больших периодах для и /-элементов наблюдается более плавное уменьшение эффективных радиусов, называемое соответственно г- и /сжатием. Эффективные радиусы атомов благородных газов, которыми заканчиваются периоды системы, значительно больше эффективных радиусов предшествующих им р-элементов. Значения эффективных радиусов благородных газов (см. табл. 4) получены из межъядерных расстояний в кристаллах этих веществ, существующих при низких температурах. А в кристаллах благородных газов действуют слабые силы Ван-дер-Ваальса в отличие, например, от молекул галогенов, в которых имеются прочные ковалентные связи. [c.52]

Метод определения условной удельной поверхности основан па измерении оптической плотности сажевой суспензии, приготовленной в специальных стандартных условиях. Для подсчета величины удельной поверхности применяются эмпирические формулы, отображающие математическую зависимость между оптической плотностью сажевых суспензий и средним радиусом сажевых частичек. [c.220]

Как видно из табл. 3, величина адсорбции, определенная оптическим методом значительно ниже величины адсорбции, найденной весовым методом. Как нами было установлено, это объясняется различием свойств асфальтенов, десорбированных с поверхности адсорбента, от свойств асфальтенов, по которым строится калибровочная кривая. [c.68]

Если в качестве базы используется тело болта, и возможен свободный доступ к его торцам, то контролю подлежит изменение его длины. В противном случае тело болта препарируют, в него помещают встроенные индикаторы (тензорезисторы либо металлические стержни с известными физико-механическими свойствами). Иногда для определения усилий затяжки контролируют деформацию шайб специальной конструкции (концентрических, индикаторных колец, пневмотензошайб). Могут быть использованы также специальные покрытия головки болта, цвет которых изменяется при изменении напряжения. Изучаются возможности контроля осевых усилий по деформации торцовой поверхности головки болта с помощью наклеенных на нее тензодатчиков или с применением методов оптической голографии. [c.181]

Применяя интерферометрический метод для определения относительной растворимости оптических стекол, Хабберд, Гамильтон и Финн [38] установили, что разрушение стекла 015 начинается при pH 8,5—9. Эти авторы исследовали разрушение прямоугольных образцов стекла, размером примерно 2x3 см, с достаточно плоской поверхностью, чтобы, помещая образец на оптическую плоскость плавленного кварца, можно было наблюдать интерференционные полосы. Каждый образец частично погружали в раствор на 6 ч при 80° С, а затем с помощью интерферометра Пульфриха наблюдали смещение полос, вызванное изменением поверхности. Разрушение характеризовалось числом полос. Результаты, приведенные на рис. X.4 (нижняя кривая), были получены в буферных растворах [c.267]

Существует другой оптический метод определения поверхности и величины частиц — нефелометрический метод. Он широко применяется в промышленности вследствие того, что дает правдоподобные данные для относительных поверхностей. Подробное обс> Ждение этого метояа можно найти у Швейера и Борка ["]. [c.420]

Грум-Гржимайло [105, 108] предложены приборы для исследования окраски кристаллов корунда и его оптических аномалий и ориентировки. Тем же автором совместно с Классен-Не-клюдовой [106] подведены итоги основным результатам всех лабораторных исследований корунда и обсуждено их использование при решении практических задач в производстве (анизотропия свойств кристаллов, рентгенографический метод при определении поверхности скола и др.). Антипова-Каратаева и Грум-Гржимайло [107] предлагают определять концентрацию хрома в корунде по изменениям относительной интенсивности люминесценции, которая при небольшом содержании хрома пропорциональна его концентрации. [c.299]

Материалы оптические. Методы анализа газов в пузырях. -Взамен РТМ 3—666—75 Стекло оптическое. Метод определения содержания окиси натрия и окиси калия. — Взамен РТМ 3—690—75 Стекло оптическое бесцветное. Метод определения удельного электрического сопротивления Поверхности оптические интерфекционные. Методы контроля отклонения от плоскостности Стекло оптическое бесцветное. Метод измерения интенсивности люминесценции Детали оптические с асферическими поверхностями. Метод контроля формы поверхности асферическими пробными стеклами [c.16]

И к- >1 КР-йпектроскопня. разд. 1 уже отмечалось, что медленные электроны активно взаимодействуют с атомами поверхности и поэтому могут служить источником информации о структуре приповерхностной области. Однако использование таких электронов весьма ограничено эксперименты можно проводить только в сверхвысоком вакууме и исследовать соответственно можно только небольише образцы. Помимо этого, поверхность образцов при таком исследовании может меняться. В 1954 г. Эйшенс предложил оптический метод исследования поверхности, основанный на применении низкой энергии возбуждения. При таком возбуждении структура поверхности и образца не меняется и измерения можно проводить в широком диапазоне давлений (от сверхвысокого вакуума до повышенного давления) в частности, этим методом можно исследовать практически очень важные процессы гетерогенного катализа. Метод оптической или ИК-спектроскопии имеет, однако, и ряд сушественных недостатков он мало чувствителен, дает дискретный сигнал детектора, в связи с чем для определения отношения S /N (сигнал/шум) и вычитания фона и т.д. необхрдимо использовать ЭВМ. Разработанный позднее метод инфракрасной фурье-спектро-скопии отличается значительно большей (на два порядка) чувствительностью. [c.65]

Природа складчатой поверхности ламеллярных кристаллитов является пока еще предметом исследова-НИЙ242,243,262 причем высказывземые по этому поводу предположения охватывают диапазон от кристаллографически определенного складывания до полностью неупорядоченного положения атомов. Однако исследование индивидуальных кристаллов прямыми методами оптической и электронной микроскопии подтверждают представление о регулярности складывания . [c.67]

Непосредственное определение толщины пленки оптическим методом было выполнено Джексоном и Бирджем [40]. Пучок поляризованного света направлялся на поверхность металла, часть которой была покрыта прозрачным мономолекулярным слоем стеарата бария. На другую часть наносился также прозрачный тримолекулярный слой того же вещества. Отраженные лучи проходили через пластинку в четверть волны и через ни-коль. Освещенности обоих полуполей выравнивались подбором соответствующего положения николя. При покрытии стеарата бария пленкой гелия II компенсация освещенностей нарушалась и могла быть восстановлена вращением николя на определенный угол, по которому и вычислялась толщина пленки. [c.518]

ИК-спектроскопия, наряду с другими методами оптической и радиоспектроскопии, получает в настоящее время все более широкое распространение в исследованиях поверхности катализаторов, хемосорбции и гетерогенных каталитических реакций. Основным достоинством этого метода, которое впервые было продемонстрировано в работах А. Н. Те-ренина с сотрудниками [1], является возможность непосредственно на поверхности катализатора детально исследовать структуру хемосорбированных соединений. В тех случаях, когда на поверхности одновременно образуется несколько различных форм соединений, ИК-спектроскопия позволяет оценивать количество и изучать поведение отдельно каждой из этих форм. Успехи ИК-снектроскопии, как метода исследования структуры и взаимодействия молекул, определяются высокой чувствительностью внутримолекулярных колебаний к изменениям электронной оболочки молекулы и возможностью связать эти изменения с отдельными структурными элементами молекулы. Несомненно, однако, что применение ИК-спектроскопии к изучению адсорбированного состояния молекул сопряжено с определенными трудностями, которые в некоторой степени ограничивают возможности метода. Эти ограничения связаны, прежде всего, с необходимостью получения спектра адсорбированных молекул на фоне сильного поглощения и рассеяния света самим адсорбентом. Следствием этого является относительно низкая концентрационная чувствительность ИК-спектроскопии, не позвЬляющая, как правило, изучать хемосорбцию нри очень низких заполнениях поверхности. Отметим, однако, что покрытие поверхности, необходимое для получения спектра адсорбированных молекул, сильно зависит от исследуемой системы адсорбент — адсорбат. В благоприятных случаях ИК-спектр может быть получен при весьма низких покрытиях, составляющих 0,1—0,01% [2, 3]. В этой связи хотелось бы указать, в частности, на опубликованные недавно работы по изучению методом ИК-спектров адсорбции молекулярного азота на никеле и некоторых других металлах [4], на которых сам факт адсорбции азота при комнатной температуре не был ранее однозначно установлен другими методами. [c.32]

Голографическая интерферометрия — высокочувствительный бесконтактный метод измерения перемещения поверхности детали или узла конструкции. Сущность его состоит в сравнении световых воли, отраженных поверхностью предмета в различных состояниях нагружения. Волны интерферируют и записываются голографически на специальной пленке, давая в зависимости от перемещения определенную картину полос. Этим методом можно исследовать динамические процессы, в частности вибрации. Для получения голограммы используют специальную оптическую схему, в состав которой входит лазер, как мощный источник когерентного освещения. [c.22]

Для исследования состава поверхностных слоев, определения функциональных групп на поверхности, межатомных и межмоле-кулярных связей широко используются традиционные оптические методы спектроскопия (инфракрасная, ультрафиолетовая, комбинационного рассеяния), рентгенография, электронография и др. Их применение для таких исследований отличается специфическими способами приготовления испытуемых образцов, поскольку информация должна поступать из очень тонкой области системы, тол-щиной порядка нескольких моноатомных или мономолекулярных слоев. Названные методы исследования достаточно подробно из лагаются в курсах физики и физической химии. [c.246]

В заключение остановимся на методе исследования больших плоских пенных пленок, образующихся при извлечении рамки из раствора детергента. Используя оптический контроль толщины пленок и другие остроумные приспособления, Майзельс, Овербек, Дуйвис и Ликлема обновили этот старый метод и сделали его перспективным. Как и все методы, основанные на использовании больших пленок, он ограничен применимостью только к очень устойчивым пленкам, в чем и состоит его главный недостаток. В то же время в мётоде используется модель, болеё адекватная реальным пенам, в которых пленки далеко не всегда бывают микроскопическими. С его помощью, как уже говорилось, можно установить наличие или отсутствие реологических процессов в пленке. Кроме того, метод позволяет наблюдать за взаимным перемещением тонких и толстых участков в пленке, а также за протекающими вблизи ее краевых утолщений весьма сложными процессами, играющими важную роль в общем поведении пленок. Используя большие пленки, Майзельс в своих очень элегантных опытах продемонстрировал явление отверждения пленки, которое возникает при определенном составе и поверхностной концентрации стабилизатора. Вводя в раствор вторую рамку, которая подымается и опускается, можно быстро изменять общую поверхность пленки и тем самым [c.239]

Первоначально сложилось представление об эффективных радиусах атомов, проявляющихся в их действиях, т. е. в химических соединениях. Эффективные радиусы определяли из экспериментальных данных по межъядерным расстояниям в молекулах и кристаллах. При этом предполагалось, что атомы представляют собой несжимаемые шары, которые соприкасаются своимн поверхностями в соединениях. При определении значения эффективного радиуса из межъядерных расстояний в ковалентных молекулах подразумевали ковалентные радиусы, при вычислении их из данных для металлических кристаллов — металлические радиусы. Наконец, эффективные радиусы, рассчитанные для кристаллов с преимущественно ионной связью назывались ионными радиусами. Для этого определяли радиус какого-нибудь иона, а затем вычисляли ионные радиусы других элементов из экспериментальных данных по межъядерным расстояниям в кристаллических решетках. Так, с помощью оптических методов, а затем расчетом был определен радиус аниона фтора, равный 0,113 нм. А расстояние между ядрами N3 и Р в решетке ЫаР было установлено равным 0,231 нм. Отсюда радиус иона Ыа+ 0,231—0,113 = 0,098 нм. Металлические радиусы получены делением пополам расстояния между центрами двух смежных атомов в кристаллических решетках металлов. Ковалентные радиусы неметаллов также вычислены как половина межъя-дерного расстояния в молекулах или кристаллах соответствующих [c.67]

С помощью эллиптического отверстия образуют струю в форме эллиптического цилиндра под действием сил поверхностного натяжения, стремящихся придать струе форму цилиндра с круговым сечением, и инерционных сил устанавливаются поперечные колебания струи— большая и малая оси эллипса поочередно меняются местами. Теория, развитая Рэлеем, а затем Бором и Сатерлендом, позволяет связать длину волны на поверхности струи, определяемую экспериментально оптическими методами, с поверхностным натяжением жидкости. Сопоставление полученных таким образом значений поверхностного натяжения с результатами определения их статическими или полустати-ческими методами позволяет сделать выводы о скорости установления равновесной структуры поверхностных слоев, кинетике адсорбции и т. д. [c.41]

Разрботана методика определения температуры поверхности работающего катализатора методом тепловизионной микроскопии изготовлена оптическая ячейка обеспечивающая напуск газов в широком диапо-зоне давлений (от 10 до 1000 мбар) с одновременным измерением температуры поверхности и ее топографии. Ячейка совмещена с тепловизионным микроскопом. На модельной реакции окисления пропана на никеле показано, что пространственное разрешение при определении температуры составляет Юмкм, точность пределения температуры 5 гр.С в диапазоне 600-800 С. [c.59]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология