Ангстрем

Ангстрем А — единица длины, равная одной стомиллионной сантиметра. [c.50]

Единица измерения ангстрем (А), равный 10 см. [c.116]

Искусственные молекулярные сита с порами диаметром от 4 до 5 ангстрем [c.263]

Ангстрем (А) Атмосфера физическая (атм) [c.254]

Для изготовления ядерных мембран представляется целесообразным использовать анизотропные или двухслойные пленки с очень тонким верхним слоем (1 мкм или менее). В этом случае можно получить мембраны с порами очень малого диаметра (порядка десятков ангстрем), которые можно использовать для различных процессов обратного осмоса. [c.57]

Толщина этой диффузной части двойного электрического слоя оценивается А. Н. Фрумкиным в чистой воде — до 1 мкм, для не очень низких концентраций растворов—в 10 —10 см, а в концентрированных растворах — в десятки или единицы ангстрем. [c.159]

Толщина этого слоя в растворе зависит от концентрации раствора, от заряда металла и от температуры. Она может различаться в довольно широких пределах (от нескольких ангстрем до микрона). Слой этот в растворе обладает диффузным строением, т. е. избыточная концентрация катионов и недостаток анио- [c.416]

В каждой плоской молекуле расположение атомов углерода в основном уже такое же, как и в элементарном слое графита, но среднее расстояние между плоскостями больше, чем 3,35 А в кристаллах графита из-за присутствия все еще значительного количества водорода. Для того чтобы дать представление о структуре полукокса из жирного угля, представим, что кристаллы графита имеют размер около 10 мкм. Изолируем друг от друга элементарные плоскости и заставим их слегка поворачиваться относительно вертикальной оси и, наконец, немного изогнем эти плоскости. В коксах из пламенных углей изображение будет в принципе подобным этому, но кристаллиты будут значительно меньшими (несколько десятков ангстрем) и параллельность плоскостей атомов углерода, вероятно, проявится только в одной части структуры. [c.124]

Под этим термином обычно понимают совокупность доступных пор с отверстиями, размеры которых составляют от 100 ангстрем до 10—20 мкм, и под термином микропористость понимают более мелкие поры с размерами ниже 50 или 100 А. [c.126]

Указанный метод состоит в том, что носитель (сорбент) растворяется в расплаве ванадатов щелочных металлов, меняя ири этом свою макроструктуру. Это было установлено при создании износоустойчивого ванадиевого катализатора КС для окисления сернистого ангидрида во взвешенном слое. Этот катализатор был получен путем пропитки носителя — алюмосиликатного катализатора крекинга — раствором солей ванадия с последующей его термической обработкой [89—94, 147—149, 153]. Как известно, алюмосиликатный катализатор крекинга — материал, имеющий вполне определенную, сформировавшуюся глобулярную пористую структуру [84, 122]. Радиус большинства иор составляет единицы и десятки ангстрем. При прокаливании пропитанного соединениями ванадия (например, КУОз) алюмосиликата, структура его изменяется следующим образом радиус иор увеличивается на 1—3 порядка при пропорциональном уменьшении удельной поверхности суммарный же объем изменяется очень незначительно. Результаты, свидетельствующие о трансформации структуры алюмосиликата, представлены на рис. 33. Данные отражают средние результаты многочисленных серий опытов. [c.86]

Рентгеновская дифракционная картина отражает состояние решетки в объеме образца, так как глубина проникновения рентгеновских лучей колеблется в га-висимости от природы образца и излучения от сотых до десятых долей миллиметра, а размеры элементарной ячейки, как правило, порядка нескольких ангстрем или десятков ангстрем (1 A = 10 м). Поэтому дифракционная картина поверхностного слоя практически полностью затемняется картиной от объема. [c.381]

Для выделения из газа бензина применяется также его адсорбция активированным углем. Способность адсорбции как у активированного угля, так и у других твердых веществ, служащих адсорбентами, характеризуется наличием у них множества мельчайших пор. Размеры этих пор исчисляются в ангстремах (1 ангстрем = 1 ЛО см). В активированных углях большинство пор имеет размер от нескольких ангстрем до нескольких десятков ангстрем. Так как число таких пор огромно, то общая их поверхность велика. На современных газобензиновых заводах применяются для адсорбции угли, [c.293]

В табл. 10 приведены размеры молекул некоторых веществ в ангстремах. Один ангстрем (А) — это 10" см. [c.311]

Между активностью катализатора и его удельной поверхностью имеется прямая связь чем больше удельная поверхность, тем выше активность. Диаметр пор может колебаться от единиц до нескольких сотен ангстрем. Следует подбирать катализаторы, структура которых допускает достаточно легкое проникновение молекул углеводородов. При этом надо иметь в виду, что чем больше размер частиц катализатора, тем длиннее путь молекул сырья внутрь катализатора. Правда, в последнее время многие исследователи полагают, что основная часть сырья крекируется на поверхности катализаторов, особенно цеолитсодержащих. [c.59]

В расчетной практике очень часто используются также некоторые и внесистемные единицы измерения микрон, ангстрем, тонна, минута, час, литр, бар, лопладииая сила, ватт-час, техническая атмосфера, миллиметр ртутного и водяного столба, моль и др. [c.8]

Трудность экспериментального обнаружения окисной пленки оказалась связанной с незначительной толщиной этой пленки, поэтому, в частности, рентгенографический метод, позволяющий вследствие высокой проникающей способности рентгеновских лучей рассмотреть кйртину поверхностного слоя толщиной в 100 и более ангстрем, оказался слишком грубым. [c.636]

П, Д. Данков применил более тонкий электронографический метод исследования. Благодаря тому, что электроны не проникают внутрь металла, а рассеиваются поверхностными слоями, этот метод позволяет получить представление о состоянии поверхностного слоя. Электронограммы показали явное различие между строением поверхностей активного и пассивного металлов. В частности, было установлено, что при пассивировании йикеля на нем образуется NiO, железа-у-РеаОз, алюминия — AI2O3. Толщина окисных слоев составляет всего несколько десятков ангстрем. [c.636]

Один ангстрем (А) равен 10 " метра (mj, или ш - сантиметра (см). Сведения о метрической системе единиц можно найти в приложении 1, где описана международная система Systeme Internationale (СИ), являющаяся упрощенным вариантом метричебкой системы, принятой учеными всего мира. Эта система используется и в данной книге. Относительно экспоненциальных обозначений см. приложение 4. [c.14]

В этой книге сделана еще одна уступка соображениям удобства. В системе СИ приставки для выражения более мелких дробных долей основных единиц, чем 10 используются лищь в тех случаях, когда показатель степени при 10 кратен трем, т.е. для 10 10 10 10 Однако типичные длины связей находятся в интервале Ы0 °-210 . Можно указывать, например, длину простой углерод-углеродной связи как 0,154 нанометра (нм), и именно так делается во многих учебниках. Однако представляется более удобным использовать с указанной целью единицу, более близкую к измеряемой величине, каковой является традиционная единица ангстрем (А), которая определяется как 10 ° м. Таким образом, длину простой углерод-углеродной связи можно выразить как 1,54 -10 м либо [c.445]

Квазигомогенная модель [55—58]. Для больших совокупностей промышленных катализаторов отдельные элементы их структуры имеют размеры от десяти до десятка тысяч ангстрем при радиусе гранулы порядка нескольких милиметров. Следовательно, одна гранула содержит от 10 до 10 таких элементов. Поэтому со статистической точки зрения гранула катализатора может рассматриваться как гомогенная среда, в которой происходят химические превращения реактантов. [c.144]

В промышленной мембране избежать микродефектов в селективном слое весьма затруднительно. Образуются они не только в процессе изготовления мембран, но и в результате сборки мембранных элементов, монтажа аппаратов, и представляют собой либо микротрещины, либо выходящие на поверхность мик-ропоры. Размеры дефектов — десятки, реже сотни ангстрем и они могут влиять на характеристики мембран — увеличивать производительность и снижать селективность — рис. 8.2 [79, 92]. Поэтому за1виоимость селективности от температуры в реальной мембране с микродефектами имеет максимум. [c.309]

Указанная теория объясняет пассивное состояние металлов возникновением тончайшей (порядка нескольких десятков или сотен ангстрем), часто невидимой защитной пленки продуктов взаимодействия металлов и окислителями. Чаще всего зта пленка представляет собой окислы (например, РвдО или Fe80 i на же- [c.306]

Селективный гидрокрекинг происходит на бифункциональных катализаторах, содержащих синтетический эронит. Избирательность действия это( о цеолита обусловлена тем, что через входные окна (диаметр 5 ангстрем) во внутренние полости могут свободно проходить и реагировать там молекулы н-парафинов (критический диаметр 4,9 ангстрем), а молекулы изопарафиновых и циклических углеводородов с критическим диаметром 5,5 ангстрем и выще туда не нроникают. В качестве гидрирующего компонента в катализаторе СГ-ЗП используется платина. [c.121]

А (один ангстрем) равен 1 10 см. Эта единица длины примерно от-Бечает размерам атомов. [c.40]

Мы видели, что перед затвердеванием большая часть атомов углерода входила в состав ароматических углеводородов с большой молекулярной массой и весьма поликонденсированной, в заметно плоскостной форме и что эти молекулы размещались параллельно друг другу. Когда такое упорядочение в благоприятных условиях осуществляется в объеме, достаточно просторном, происходит расслоение этой наиболее организованной части в форме шаровидных образований анизотропной фазы. В том случае, когда не происходит это расслоение, исследование рентгеновскими лучами показывает, что некоторое параллельное перестроение ароматических плоских молекул все же возникает в небольших зонах, размером несколько десятков ангстрем. [c.124]

Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [27], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. Этот метод является также полезным при исследовании процесса образования новых фаз, когда количество новой фазы незначительно и кристаллы имеют малые размеры. В этом случае интенсивность рентгеновских рефлексов ничтожно мала и они теряются на фоне рентгенограммы, в то время как электронограмма дает отчетливую картину. Определение фазового состава поликристаллических веществ методом дифракции электронов обычно проводится по их межплоскостным расстояниям, рассчитываемым в свою очередь по формуле Брэгга—Вульфа. Точность определения межплоскостных расстояний по электро-нограммам значительно меньше, чем рентгеновским методом. [c.381]

Если мысленно выделим в разбавленном растворе сильного электролита один центральный ион (например, катион), то ионы противоположного знака (анионы) будут чаще наблюдаться около него, чем ионы с одноименным зарядом. Такое статистическое распределение ионов вокруг выбранного центрального иона устанавливается под влиянием двух факторов 1) электростатических сил притяжения и отталкивания, которые стремятся расположить ионы упорядоченно, как в кристаллической решетке, и 2) теплового движения ионов, под влиянием которого ионы стремятся расположиться хаотически. В результате вокруг центрального иона устанавливается некоторсе промежуточное статистическое распределение ионов, так называемая ионная атмосфера. При этом около центрального иона в среднем во времени будет некоторая избыточная плотность зарядов противоположного знака, которая по мере удаления от центрального иона убывает и на бесконечно большом расстоянии стремится к нулю. Фактически уже на расстоянии нескольких ангстрем от иона величина этого избыточного заряда становится очень малой и может практически считаться равной нулю. [c.251]

Предполагается, что рост тонкой сплошной оксидной пленки определяется проникновением электронов из металла в оксид [7] или, в некоторых случаях, миграцией ионов металла в сильном электрическом поле, которое создается отрицательно заряжённым кислородом, адсорбированным на поверхности оксида [8]. Когда толщина сплошной оксидной пленки достигает нескольких тысяч ангстрем, диффузия ионов сквозь оксид становится определяющим скорость фактором. Такое цоложение существует до тех пор, пока оксидная пленка остается сплошной. В конце концов, при достижении критической толщины пленки возникшие в оксиде напряжения могут способствовать его растрескиванию и отслоению, при этом скорость окисления незакономерно возрастает. [c.191]

Учебник общей химии (1981) -- [ c.33 ]

Пособие по химии для поступающих в вузы 1972 (1972) -- [ c.30 ]

Прикладная ИК-спектроскопия (1982) -- [ c.14 ]

Кристаллохимия (1971) -- [ c.118 ]

Прикладная ИК-спектроскопия Основы, техника, аналитическое применение (1982) -- [ c.14 ]

Краткий курс физической химии Изд5 (1978) -- [ c.40 ]

Учебник физической химии (1952) -- [ c.68 ]

Общая химия и неорганическая химия издание 5 (1952) -- [ c.4 , c.28 , c.163 ]

Неорганическая химия (1979) -- [ c.48 ]

Техно-химические расчёты Издание 2 (1950) -- [ c.18 ]

Техно-химические расчёты Издание 4 (1966) -- [ c.11 ]

Учебник общей химии 1963 (0) -- [ c.35 ]

Введение в спектральный анализ (1946) -- [ c.18 ]

Органическая химия Издание 3 (1963) -- [ c.101 ]

Органическая химия (1956) -- [ c.93 ]

Краткий справочник химика Издание 6 (1963) -- [ c.546 ]

Химические волокна (1961) -- [ c.31 ]

Учебник физической химии (0) -- [ c.74 ]

Краткий курс физической химии Издание 3 (1963) -- [ c.41 ]

Краткий справочник химика Издание 4 (1955) -- [ c.485 ]

Основы общей химии Т 1 (1965) -- [ c.41 ]

Основы общей химии Том 2 Издание 3 (1973) -- [ c.41 ]

Краткий справочник химика Издание 7 (1964) -- [ c.546 ]

Физическая химия (1967) -- [ c.479 ]

Основы общей химии том №1 (1965) -- [ c.41 ]

Биохимия Т.3 Изд.2 (1985) -- [ c.34 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология