Нанометр

Домен - элемент структуры полимера размером в несколько нанометров, в пределах которого прослеживается ближний порядок во взаимном расположении цепей или их элементов. [c.399]

Удельную поверхность можно также определить на основе данных по абсорбции либо газов (метод БЭТ определения удельной поверхности [138]), либо красителей (в частности, метиленового голубого), или по теплоте смачивания поверхности [321]. Некоторые из этих методов позволяют найти полную удельную поверхность частиц, включая и внутреннюю поверхность, даже если размеры пор частиц не превышают нескольких нанометров. Применение этих методов для частиц с сильно развитой поверхностью (например частиц угля в дыме) может привести к неточности в определении удельной поверхности. [c.96]

Спектры, расположенные в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях длин волн, называются оптическими, и соответственно "методы анализа, основанные на использовании этих спектров, — оптическими. За единицу измерения длин волн спектральных линий в оптическом диапазоне принят нанометр (1 нм==10 м). [c.6]

Для медленных а-частиц, имеющих большие значения линейной передачи энергии, отдельные шпоры расположены на расстояниях порядка десятых долей нанометра и они сразу же после образования сливаются в одну цилиндрическую колонку. При больших мощностях поглощенной дозы (электронов или 7-излучения) шпоры вдоль отдельного трека отстоят достаточно далеко, но сами треки от отдельных частиц расположены столь близко, что реакционные зоны соседних треков перекрываются прежде, чем завершатся реакции радикалов одного с другим и с растворенными веществами. Указанные процессы во многом определяют величину радиолитического превращения растворенного вещества [17]. [c.194]

Большинство исследователей считают, что сажа образуется на предпламенных стадиях процесса сгорания в тех зонах камеры, где недостаточна концентрация кислорода. Здесь создаются условия для крекинга и дегидрогенизации углеводородов с образованием очень мелких (десятые доли нанометра) частичек сажи. При последующем развитии процесса сгорания часть сажи может выгореть, а несгоревшие частицы укрупнятся до размеров от единиц до десятков микрон. Для уменьшения дымности отработавших газов необходимо снизить образование сажистых частиц, ускорив их выгорание и предотвратив агломерацию в выпускном тракте. [c.176]

В этой главе мы будем иметь дело с миром малых величин. Напомним, что в системе СИ 1 м (метр) = 10 см (сантиметра) = 10 мм (миллиметра) = = 10" мкм (микрометра) = 10 нм (нанометра). Другие часто применяемые единицы — мк (микрон) и ммк (миллимикрон), причем 1 см = 10 мм = = 10< мк = 10 ммк. [c.305]

Размер мицелл находится в пределах 10—10 нм (нанометр), т. е. значительно меньще, чем размер диспергированных частиц в эмульсиях типа нефть в воде или вода в нефти (10 —10 нм). [c.186]

Однако рассмотренные выше абсорбенты не обладают упорядоченной кристаллической структурой к характеризуются неоднородной пористостью. Распределение пор по диаметрам у этих адсорбентов может быть как узким (2—5 нм), так и очень широким, как, например, у активных углей (от 2 до нескольких сот нанометров). Поры таких адсорбентов доступны для веществ, молекулы которых значительно различаются го объемам и форме. [c.72]

Ультрацентрифугирование нозволяет определять размеры частиц от единиц нанометров до долей микрона. [c.104]

Размеры молекул обычно составляют доли нанометра размеры частиц гетерогенных дисперсных систем могут достигать единиц нанометра. Таким образом, удельная поверхность может иметь значения, достигающие тысячи квадратных метров па кубический сантиметр или грамм дисперсной фазы. [c.22]

Отрицательная составляющая расклинивающего давления (сжатие пленки) обусловлена силами притяжения между атомами и молекулами как внутри каждой фазы, так н в разных фазах. Эти силы подразделяют на близкодействующие и дальнодействующие. К близкодействующим относятся в основном химические ковалентные силы притяжения. Радиус действия ковалентных сил не превышает нескольких десятых долей нанометра. Энергия связи этих сил может достигать 400 кДж/моль, а может быть и очень небольшой, например, около 1—4 кДж/моль. [c.274]

Был также введен новый способ образования кратных и дольных единиц - с помощью множителей, равных 10", и соответствующих им приставок. Кратной единицей называется единица величины, в целое число раз большая системной или внесистемной единицы. Например, единица длины 1 км = 10 м, т.е. кратная метру. Дольной единицей называется единица величины, в целое число раз меньшая системной или внесистемной единицы. Например, дольная единица длины 1 нм (нанометр) = 10 м является дольной от метра. Это нововведение упростило пересчет значений величин. Отпала необходимость в особых наименованиях для кратных и дольных единиц (например, ярд, фут, дюйм или фунт, унция, драхма) и составных именованных числах (например, 1 сажень 2 аршина 3 вершка), требующих выполнения дополнительных арифметических операций при умножении и делении. [c.188]

Получение из УФ-спектров данных о структуре молекулы связано с рядом трудностей. Пики поглощения в УФ-области для молекул в растворе, как правило, очень широкие (ширина пиков обычно порядка нескольких десятков нанометров), и поэтому спектры сильно искажаются примесями, поглощающими в той же области спектра. В УФ-области низкая специфичность поглощения, т. е. ПОЛОСЫ поглощения многих хромофоров перекрываются. В табл. 2 приведены спектральные характеристики некоторых простых хромофоров. [c.10]

Электронно-микроскопический анализ. Этот метод дает представление о строении кристаллических областей в асфальтенах и дает наглядную картину об их надмолекулярной организации. Исследования выполняются в просвечивающих и сканирующих (растровых)- электронных микроскопах [329, 330]. Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно получать как электронно-микроскопический снимок, так и электронограмму в области больших и малых углов. Разрешающая способность их составляет 15—2 нм, а для сканирующих микроскопов 3—5 нм. Пучок электронов вызывает значительный разогрев и даже плавление образцов, поэтому просвечивающая электронная микроскопия применяется для объектов, имеющих незначительную толщину,— несколько десятков нанометров. Для этого образцы специальным образом готовят получают либо тонкие пленки, либо с помощью ультрамикротомов готовят срезы толщиной 10—20 нм. Из косвенных методов для исследования структуры асфальтенов получил распространение метод реплик. Для исследования используют мелкодисперсные порошки асфальтенов [325] или растворы в бензоле [319]. В первом случае асфальтены помещают на угольную (аморфную) подложку на медной сетке. С целью определения фоновых микропримесей проводят контрольные съемки пустой подложки. Во втором случае бензольные 0,1 % растворы асфальтенов диспергируют на поверхность полированного стекла с частотой излучателя 35 кГц. Далее стекло.с пленкой асфальтенов помещают в вакуумный пост и растворитель откачивают в течение 20 мин. Для контроля сходимости результатов с поверхности пленки асфальтенов получают реплику двумя способами. Одноступенчатая реплика образовывается напылением угольной пленки, а двухступенчатая — чистого алюминия толщиной не менее 0,2 мм. Затем асфальтеновую пленку растворяют в бензоле и отдельную угольную реплику оттеняют платиной. Во втором случае на обратную сторону отдельной алюминиевой фольги напыляют платиноугольную реплику толщиной 20—30 нм, а алюминиевую фольгу затем растворяют в азотной кислоте [331]. [c.158]

X - ангстрем нм - нанометр р - микрон [c.272]

Электронномикроскопические исследования коалесцирован-ной мезофазы показывают, что пачки ориентированных слоев в коксе, полученном при 600 С, имеют малые размеры кристаллитов, Ьа и Ьс равны нескольким единицам нанометров. Образующиеся ленты параллельных слоев имеют многочисленные искривления (рис. 2-4, б). Обработка при 1250 С распрямляет их, и ЬаИ Ьс достигают нескольких десятков нанометров. При этом в коксах различного происхождения наблюдается неодинаковое распределение размеров пачек, от нескольких единиц до сотен нанометров [2-31]. [c.55]

Длина волны X измеряется в ангстремах (1 А = Ы0- см), микрометрах или микронах (1 мкм = 1 мк= 1-10- м), нанометрах или миллимикронах (1 нм = 1 ммк = 10 А = I 10" м), [c.177]

Уникальность методов рентгено- и фотоэлектронной спектроскопии — в возможности детального изучения тонких поверхностных слоев. При совместном использовании нескольких методов, включая применение оже-микрозонда, открывается возможность исключительно тонкого локального, а с ионным травлением — и профилированного послойного анализа твердых образцов с разрешением по поверхности 50—200 нм, а по глубине от 1 до нескольких нанометров. Уникальны также количественные энергетические характеристики, получаемые из фотоэлектронных спектров, и представляющие опорные данные для развития квантовой теории строения молекул и веществ. [c.165]

Синтетический латекс представляет собой коллоидную дисперсию типа масло в воде. Частицы каучука (масляная фаза) в латексе имеют обычно размеры от нескольких десятков до сотен нанометров (редко менее 10 и более 1000 нм). Как всякая дисперсная система с развитой поверхностью раздела, латексы термодинамически нестабильны. Для сохранения коллоидных свойств системы в течение длительного времени поверхность раздела следует гид-рофилизовать, что достигается введением в систему дифильных поверхностно-активных веществ (ПАВ), например солей карбоновых кислот различной природы и строения. Адсорбированные на поверхности раздела гидратированные молекулы и ионы ПАВ образуют защитные слои. Эффективная толщина таких слоев, оцененная по данным вискозиметрических [4, 5], дилатометрических [6], термографических [7] измерений, изменяется от нескольких единиц до десятков нанометров в зависимости от природы и количества образующего их эмульгатора, а также от степени заполнения поверхности частиц адсорбированным эмульгатором (так называемой адсорбционной насыщенности). Адсорбционная насыщенность синтетических латексов обычно лежит в диапазоне от [c.587]

Дисперсные частицы с размерами порядка десятков и сотен нанометров в последние годы принято называть наночастицами. Существенно, что многие свойства наночастиц обычно оказывается возможным описывать на языке термодинамики дисперсных фаз, не рассматривая атомную природу вещества. Лишь при размерах частиц в несколько нанометров и менее, когда наночастицы уже обычно называют кластерами атомов или молекул, при обсуждении физико-химических свойств становится необходимым учитывать квантовые эффекты. [c.263]

Размер мицелл очень мал — от единиц до сотен нанометров. Мицеллы могут рассматриваться как предельное состояние эмульсий, когда внутри капелек практически не остается жидкой фазы. [c.268]

Если давление определять в барах, величину о-в мН/м, а радиус — в нанометрах (нм), то с учетом числовых коэффициентов последнюю формулу можно записать н удобной для практических расчетов форме [c.271]

В случае прослоек, ограниченных гидрофильными поверхностями, ситуация меняется. Так, вблизи поверхности ионного кристалла Na l диполи воды ориентируются нормально к поверхности — главным образом за счет электростатического притяжения между ионами Na+ и отрицательно заряженными атомами кислорода воды [5]. Аналогичный вывод следует также из других численных экспериментов [6, 8]. В отличие от гидрофобных стенок, здесь имеет место некоторое повышение плотности воды и снижение тангенциальной подвижности ее молекул в слоях толщиной в несколько нанометров, что должно проявляться макроскопически как рост вязкости граничных слоев воды. [c.8]

Адсорбция дифильных молекул, вероятно, сказывается различным образом на зависимости энергии пленки от ее толщины h. При больших толщйнах диполь-дипольное взаимодействие молекул должно приводить к увеличению глубины вторичного минимума i/a min. При малых значениях h, сравнимых с удвоенным размером молекул ПАВ, следует ожидать противоположного влияния адсорбционных слоев на утончение пленки, поскольку последнее связано с необходимостью переориентации диполей на одной из границ раздела фаз. Возможность заметного изменения молекулярной компоненты расклинивающего давления при адсорбции ПАВ на межфазных поверхностях подтверждается результатами расчетов, выполненных уже сравнительно давно [551] в соответствии с микроскопической теорией молекулярного взаимодействия конденсированных сред и, более строго, в работе [550] на основе макроскопической теории. Такие изменения особенно значительны при значениях h порядка нескольких нанометров. [c.209]

Журков с сотрудниками предлагают две схемы строения ориен-тированных аморфно-кристаллических полимеров (рис. VI. 11, VI. 12) [16]. Модель, представленная на рис. VI. 1, лучше соответствует электронномикроскопическим данным. Методом электронной микроскопии сравнительно хорошо наблюдаются длинные фибриллы с поперечными размерами порядка десятков нанометров, внутреннее же строение фибрилл, т. е. большие периоды, просматриваются плохо. Другая модель (рис. VI. 12) ближе к рентге-нографическим данным. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния хорошо регистрирует чередование вдоль оси ориентации [c.199]

В этой книге сделана еще одна уступка соображениям удобства. В системе СИ приставки для выражения более мелких дробных долей основных единиц, чем 10 используются лищь в тех случаях, когда показатель степени при 10 кратен трем, т.е. для 10 10 10 10 Однако типичные длины связей находятся в интервале Ы0 °-210 . Можно указывать, например, длину простой углерод-углеродной связи как 0,154 нанометра (нм), и именно так делается во многих учебниках. Однако представляется более удобным использовать с указанной целью единицу, более близкую к измеряемой величине, каковой является традиционная единица ангстрем (А), которая определяется как 10 ° м. Таким образом, длину простой углерод-углеродной связи можно выразить как 1,54 -10 м либо [c.445]

Использование СИ приводит к появлению непривычных единиц лишь в двух случаях. Во-первых, в качестве единицы длины молекул применяют пм (пикометр, 10" м или 0,01 А) при этом размеры молекул и длины связей будут порядка 100 пм, что удобно, поскольку пропадают десятичные дроби, или нм (нанометр, 10 м или 10 А). Во-вторых, в качестве единицы объема используют дм (1000 см или 1 л) вместо см или м . Замена литра на дм может показаться не так уж необходимой, однако это упрощает числовые расчеты. [c.7]

Действительно, граничные слои жидкостей могут иметь различное происхождение. Граничные слои, сформированные водными растворами электролитов (двойным слоем адсорбированных ионов), чувствительны к изменению концентрации раствора, его состава и температуры. Граничные слои, возникщие под действием поверхностных сил твердого тела, по-видимому, не достигают значительной толщины (до 5,0—15,0 нм) и мало зависят от состава жидкости. Граничные слои растворов поверхностно-активных веществ (ПАВ) в углеводородных жидкостях могут иметь толщину порядка нескольких сот и более нанометров. Это связано с мицеллообразованием в объеме раствора. Толщина и механические свойства таких граничных слоев зависят от состава и концентрации ПАВ и природы растворителя, а их изучение обусловливает решение ряда технических задач [63, 189]. [c.65]

Алкилзаместители смещают спектр поглощения бензотиофена, на несколько нанометров в длинноволновую область. Величина этого смещения колеблется с изменением положения заместителя, но из-за недостатка материала трудно определить, есть ли разница в действии алкила на спектр, когда он присоединен к тиофеновому или бензольному кольцам. [c.184]

Встречающиеся в нефтяной практике НДС по дисперсности можно разделить на высоко- и грубодисиерсные. К высокодисперсным, коллоидно-дисперсным в традиционном понимании, относятся нефтяные системы, содержащие частицы с размерами от нескольких нанометров до долей микрона, удельная меж-фазная поверхность которых может составлять десятки, сотни, [c.11]

Наблюдение производится методом ядериого магнитного ре-.юнанса. Объект помещается в сильное магнитное поле. Спины ядер начинают прецессировать вокру вектора напряженности магнитного поля с определенной частотой. Затем подается слабое магнитное ноле, вектор напряженностн которого нерпендн-кулярен начальному вектору. Это поле меняется с некоторой частотой. Прн совпадении частот прецессии н слабого поля система начинает сильно поглощать энергию — наступает резонанс. Затем слабое поле выключается и система релаксирует к равновесному состоянию. По скоростям релаксации определяются значения Т , и То и затем рассчитываются времена корреляции броуновского движения. С помощью ядерной магнитной релаксации их можно измерять в широком диапазоне температур и частот. Измеренные времена корреляции позволяют определить размер частиц. Метод ядерной магнитной релаксации применим не всегда, поскольку нужно учитывать релаксацию молекул как дисперсной фазы, так и дисперсионной среды. Интерпретация результатов оказывается затруднительной. Метод применим для высокодисперсных систем с частицами от молекулярных размеров до десятков нанометров. Исследования нефтяных систем этим методом только начинаются [140]. Проведенные этим методом исследования дисперсности масляных фракций нефти и их фенольных растворов позволили установить, что размеры образующих их ССЕ составляют величины порядка 10 нм [141]. [c.99]

Получить информацию о размерах, форме и взаимном расположении частиц в веществе размером в десятки нанометров возможно применением малоуглового рассеивания рентгеновских лучей (в диапазоне углов от нескольких минут до одного-двух градусов при использовании излучения с длиной волны 0,1—0,2 нм). Исследования, проведенные в микродифракционном режиме, позволили получить микроэлектронограм ы практически с индивидуальных кристаллитов асфальтенов [325]. Это дает возможность более корректно определить размеры организованной кристаллоподобной структуры. [c.157]

Рассто пше а, Ь, с между центргши ближайших атомов в элементарной ячейке (рисунок 1.3.6) называется периодом решетки. Период решетки выражается в нанометрах, для большинства металлов он находятся в пределах 0,1-0,7 нм. [c.26]

В последнее время методом малоугловой рентгеновской дифракции в кристалличес ких и аморфных полимерах обнаружено возникновение в нагруженном образце множества субмикроскопи-ческих трещин [16, с. 286]. В кристаллических полимерах они возникают в аморфных прослойках. Субмикротрещины ориентированы перпендикулярно растяжению, их размеры порядка десятков нанометров. Установлено, что они образуются за счет протекания цепных свободно-радикальных реакций распада напряженных молекул. Образование субмикротрещин вызывает разгрузку в прилегающих к ним вдоль оси растяжения областях (порядка сотен нанометров) и повышение напряжения в боковых относительно трещин зонах, что проявляется в увеличении растяжения этих зон. Прослежена кинетика образования субмикротрещин вплоть до разрыва образца. С течением времени их размеры не увеличиваются, но растет их число. Скорость накопления субмйкротрещин растет с повышением напряжения. Когда субмикротрещин образуется достаточно много, они начинают сливаться, и в конце концов образуется магистральная трещина, которая, быстро прорастая, приводит к разрушению образца полимера. [c.216]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология