Ангстрем, определение

Уже давно исследователи стремились создать ионообменные смолы, по пористости не уступающие лучшим сортам активных углей. Сейчас такие смолы созданы и получили название макропористых ионообменных смол. Они имеют поры, соответствующие переходной пористости, и настоящие макропоры с радиусами в несколько тысяч ангстрем, определение размера которых возможно только с помощью ртутной порометрии [c.315]

Указанный метод состоит в том, что носитель (сорбент) растворяется в расплаве ванадатов щелочных металлов, меняя ири этом свою макроструктуру. Это было установлено при создании износоустойчивого ванадиевого катализатора КС для окисления сернистого ангидрида во взвешенном слое. Этот катализатор был получен путем пропитки носителя — алюмосиликатного катализатора крекинга — раствором солей ванадия с последующей его термической обработкой [89—94, 147—149, 153]. Как известно, алюмосиликатный катализатор крекинга — материал, имеющий вполне определенную, сформировавшуюся глобулярную пористую структуру [84, 122]. Радиус большинства иор составляет единицы и десятки ангстрем. При прокаливании пропитанного соединениями ванадия (например, КУОз) алюмосиликата, структура его изменяется следующим образом радиус иор увеличивается на 1—3 порядка при пропорциональном уменьшении удельной поверхности суммарный же объем изменяется очень незначительно. Результаты, свидетельствующие о трансформации структуры алюмосиликата, представлены на рис. 33. Данные отражают средние результаты многочисленных серий опытов. [c.86]

Сродство поверхности кремния к кислороду и связанная с этим склонность к формированию тонких оксидных пассивирующих покрытий позволяют при определенных условиях сместить процесс, протекающий на границе кремний—электролит в сторону образования более толстого слоя оксида. Это обычно достигается подачей на кремниевый электрод высокого положительного потенциала. Катодом при этом может служить любой инертный в данном электролите металл (платина, тантал,и т. п.). На практике невозможно получить анодные окисные пленки толще нескольких тысяч ангстрем. Это обусловлено тем, что предельный потенциал, достигаемый в процессе анодного окисления кремния, определяется электрической прочностью оксида. Кроме того, задаваемая величина тока, определяющая скорость роста оксида, также должна быть ограничена, поскольку в противном случае возможен сильный разогрев электролита, кремниевого анода, что делает процесс неуправляемым и сильно ухудшает качество образующейся пленки. [c.116]

Единицы длины— I мкм (микрометр)— о,дна тысячная доля миллиметра I А (ангстрем)= 10 см — одна стомиллионная доля сантиметра. Зародышеобразование — первоначальное зарождение мелких кристаллов в определенной среде, где происходит рост кристаллов. [c.154]

Для изучения субмикроскопических трещин Журков с сотр. > применяли оптические методы (снятие индикатрисы светорассеяния, измерение угловой зависимости поляризации рассеянного света, измерение прозрачности). Эти исследования позволили установить, что помутнение деформированных образцов обусловлено образованием в них неоднородностей (микрообластей с другим показателем преломления, чем в остальном материале) с размерами порядка сотен ангстрем. Из сравнения экспериментальных индикатрис с расчетными можно сделать вывод о том, что субмикроскопические трещины лежат в плоскости, перпендикулярной направлению растяжения, и имеют форму, близкую к форме диска. Для определения размеров и формы неоднородностей использовался также метод рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами. Все эти методы оказались эффективными для изучения дефектов (трещин) при небольших напряжениях. [c.21]

Трудно переоценить ту меру воздействия, которое метод БЭТ оказал на области физической химии (гетерогенный катализ, адсорбция и определение размеров частиц), связанные с изучением свойств мелкозернистых и пористых твердых тел. В повседневном обиходе прочно бытует фраза удельная поверхность БЭТ . Но именно столь широкое использование метода, видимо, послужило причиной недостаточного понимания его существа. Допущения, которые лежат в его основе, а также условия, при которых следует или не следует ожидать получения надежных результатов, приводят к тому, что полученные этим методом данные без должных оговорок часто принимаются в качестве не вызывающего сомнений критерия. В частности, это относится к твердым телам, которые содержат очень тонкие поры и дают изотермы типа Ленгмюра в этом случае метод БЭТ может дать совершенно ошибочные значения удельной поверхности. Для несколько более крупных пор, шириной от десятков до сотен ангстрем, распределение пор по размерам может быть рассчитано по изотерме адсорбции с помощью уравнения Кельвина. В последнее время предложен ряд конкретных методов расчета. Однако во всех них очень часто либо недостаточно подчеркивались, либо вовсе упускались из рассмотрения все те ограничения, которые накладываются на область применимости результатов, и те трудности, которые связаны со свойствами реального твердого тела. Так, в хорошо зарекомендовавшем себя методе определения удельной поверхности с помощью измере- [c.7]

Титрование раствором роданида аммония успешно применено Ю. Г. Титовой [126] для определения серебра в тончайших пленках (порядка нескольких ангстрем), нанесенных катодным распылением на кварцевую или стеклянную пластинку. [c.145]

При рассматривании пленок кристаллических полимеров в световом микроскопе со скрещенными поляризаторами или в электронном микроскопе часто удается наблюдать сложные образования — сферолиты,— пронизывающие всю массу пленки. Размеры сферолитов зависят от скорости кристаллизации и других причин и колеблются от нескольких сотен ангстрем до нескольких сотен микрон. Присутствие сферолитов оказывает влияние на ряд свойств полимеров, и поэтому они были предметом многочисленных исследований. Например, непрозрачность полиэтилена, найлона и других кристаллических полимеров объясняют наличием не кристалликов, размеры которых меньше длины световой волны, а сферолитов, образовавшихся на основе этих кристалликов, причем для образования сферолитов необходима определенная длина цени. Так, в полиэтилене сферолиты образуются лишь тогда, если его молекулы содержат в среднем не менее 300 атомов углерода. Сферолиты могут образовываться из неразветвленных молекул из раствора или из расплава. [c.258]

На фото 88 приведена микрофотография пленки полиэтилена, предварительно высушенной и растянутой. Здесь отчетливо виден резкий переход от изотропной к высокоориентированной части полимера, в которой сферолиты совершенно отсутствуют. Особенно удобны для наблюдения тонкие нити, образующиеся при разрыве ориентированных и, несомненно, кристаллических полупрозрачных участков. Нити представляются не однородными, но как бы узловатыми, содержащими образования размером в несколько сотен ангстрем. Так как эти образования являлись единственными неоднородностями, которые удается заметить в кристаллической пленке, то это дало авторам основание предположить, что они представляют собой элементарные кристаллики полиэтилена. Во всяком случае размер элементарных кристалликов не может превышать размеры обнаруженных неоднородностей. Следует добавить, что, вероятно, более определенные сведения по этому вопросу дало бы применение темнопольного метода и, в особенности, микродифракции. Для растяжения же пленок целесообразно применять устройства, позволяющие проводить эту операцию непосредственно в микроскопе [60, 61]. [c.260]

Сферолиты, состоящие из плотно упакованных пластинчатых фибрилл, найдены, как было сказано выше, у полиэтилена, а также у поликарбоната, приготовленного из бисфенола А [46], полиэтиленоксида [106], политетрафторэтилена [13], политрифторхлорэтилена [130] и полипропилена, закристаллизованного в гексагональной сингонии [106]. Во всех этих случаях размеры фибрилл оценить трудно. Довольно определенно можно сказать, что они имеют толщину в несколько сот ангстрем и простираются радиально в виде сцепленных друг с другом кристаллитов [c.456]

Предложенная методика прецизионного определения формы двойника, несмотря на использование оптического метода наблюдения, позволяет исследовать ее с микроскопической точностью, поскольку расстояния между соседними дислокациями в направлении, перпендикулярном плоскости двойникования, составляет несколько ангстрем. [c.103]

Другие современные методы также позволяют получать прямую информацию о поверхностях и адсорбированных слоях. Один из таких методов —эмиссионная микроскопия. Образцу придают форму иглы с заостренным концом (радиусом несколько сот ангстрем) и помещают в центре баллона, внутри которого находится флуоресцирующий экран. Под действием электрического поля электроны вырываются из иглы и движутся в радиальных направлениях наблюдаемая картина отражает различие в эффективности эмиссии электронов с различных участков поверхности. Увеличение равно соотношению радиусов баллона и острия иглы. Эмиссия в любой точке поверхности зависит от величины работы выхода, которая в свою очередь определяется особенностями кристаллической поверхности как исходной, так и видоизмененной за счет адсорбции газа. Выбирая ту или иную ориентацию кристаллической иглы и замечая, что все простые грани кристалла экспонируются в равных и контролируемых условиях в определенных точках, окружающих вершину иглы, можно трактовать систему пятен на экране с точки зрения изменения работы выхода для различных граней кристалла. Одновременно становится возможным изучать адсорбцию на разных гранях, так как в результате адсорбции работа выхода изменяется. Максимальное разрешение составляет 20 А, поэтому можно наблюдать не отдельные атомы, а только их агрегаты. [c.187]

Определение длины волны. На предметное стекло помещают спектрограмму (эмульсией вверх) и зеркалом регулируют освещение, добиваясь его равномерности. Для определения длины волны неизвестной спектральной линии выбирают поблизости от нее (в пределах нескольких ангстрем) две линии же.теза, длины волн которых точно известны. [c.173]

Кинетика увеличения толщины пленок определяется технологическими параметрами процесса. Толщина покрытия во времени растет линейно до толщин порядка 1 мкм, в то же время скорость роста практически не зависит от продолжительности облучения и может составлять от долей ангстрема в секунду при малых плотностях тока электронов до нескольких ангстрем в секунду при больших. Установлено [66], что зависимость скорости увеличения толщины покрытия от плотности тока электронов имеет нелинейный характер, достигая насыщения при определенных значениях тока. С повыщением давления паров органических веществ насыщение достигается при больших значениях плотности тока электронов. На скорость роста толщины пленки существенное влияние оказывает также температура подложки. С повышением температуры скорость роста снижается. В некоторых случаях аналогичная, картина наблюдается при понижении температуры. [c.161]

Тонкое измельчение также имеет предел активирования. В тонкораздробленном состоянии свободная энтальпия порошка сильно повышается, вследствие этого возникает неустойчивое состояние. Поэтому частицы имеют тенденцию к слипанию, так как при этом достигается состояние с меньшим уровнем энергии. При определенных условиях обработки получается равновесный помол (Хюттиг) с определенной величиной зерна. Равновесность выражается в том, что с повышением степени дисперсности отдельные зерна приобретают тенденцию к слипанию, которая противодействует процессу измельчения. Поэтому в условиях обычной механической обработки даже при длительном измельчении нельзя превзойти определенную величину зерна. Только благодаря особым техническим устройствам (применение струйных мельниц) можно нарушить состояние равновесного помола и путем отделения высокоактивных частиц в момент их возникновения получить зерна величиной в несколько ангстрем. [c.447]

Таким образом, если эластомерный блок мал по сравнению со стеклообразным, то образуются однородные сферические частицы диаметром в несколько сотен ангстрем, распределенные в полистирольной матрице. С возрастанием длины эластомерного блока сферические частицы не увеличиваются в диаметре, а трансформируются в однородные цилиндрические структуры. При определенной, еще более высокой доле эластомерного компонента, цилиндры превращаются в ламелярные образования. Композиции, содержащие 40—60% каждого компонента, состоят из чередующихся слоев стирола и бутадиена. При дальнейшем увеличении содержания эластомерный компонент (на рис. 4.3 не показано) становится непрерывной фазой, при этом структура доменов жесткой фазы претерпевает аналогичные изменения, но в обратной последовательности. Соотношение компонентов, при котором домены жесткой полистирольной фазы превращаются в короткие цилиндры или сферы, соответствует появлению нового класса эластомерных материалов (см. разд. 4.4). Можно обнаружить значительное сходство в структуре фаз, приведенных на рис. 4.3, и структуре сплавов металлов (см. приложение I к гл. 2). [c.119]

Объектами исследования преимущественно служили анизотропные волокна. Рулаид и сотр. 18, 28—30], применяя для изучения высокопрочных высокомодульпых волокон обычный и малоугловой рентгеновский и другие методы, а также электронный микроскоп высокой разрешающей способности, предложили следующую модель углеродного волокна. Основу углеродного волокна составляют плоские длинные узкие ленты поликонденсированного ароматического углерода с преимущественной ориентацией вдоль оси волокна. Ленты имеют ширину около 60—100 А и длину несколько тысяч ангстрем. Определенное число пачек углеродных лент [c.32]

Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [27], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. Этот метод является также полезным при исследовании процесса образования новых фаз, когда количество новой фазы незначительно и кристаллы имеют малые размеры. В этом случае интенсивность рентгеновских рефлексов ничтожно мала и они теряются на фоне рентгенограммы, в то время как электронограмма дает отчетливую картину. Определение фазового состава поликристаллических веществ методом дифракции электронов обычно проводится по их межплоскостным расстояниям, рассчитываемым в свою очередь по формуле Брэгга—Вульфа. Точность определения межплоскостных расстояний по электро-нограммам значительно меньше, чем рентгеновским методом. [c.381]

В дальнейшей разработке учения о двойном слое особенно важное значение имели работы Штерна, Мюллера и глубокие исследования по определению емкости потенциала нулевого заряда и по адсорбционным процессам, проведенные Фрумки-ным и его школой. Было установлено, что в общем случае для не сильно разбавленных растворов двойной слой состоит из двух частей внутренней — плотной и внешней — диффузной. На рис. 33 показано г — распределение зарядов, д — изменение потенциала, е — выравнивание эквивалентных концентраций катионов Ск и анионов Са с увеличением расстояния х от стенки. Внухренняя часть двойного слоя, по теорин Штерна состоит из двух рядов ионов, близко располТ55[<ен 1х друг от друга на некотором постоянном расстоянии бо порядка нескольких ангстрем. [c.83]

Расстояние между атомом водорода и атомом кислорода в молекуле воды выражено в пикометрах (пм). Пикометр — современная единица длины, используемая при определении размеров молекул она равна 10- м. Еще недавно в научной литературе использовали единицу длины ангстрем (А). Ангстрем равен 10" ° м, т. е. 1А=100 им. [c.30]

За редким исключением, дифракционная картина природных по-лиюмпонешных парафиновых смесей существенно беднее в сравнении с индивидуапып>1ми н-парафинами и их синтетическими бинарными смесями. Как правило, даже рефлексов типа 00/ удается зарегистрировать не более трех-пяти, очень часто не более двух-трех, а иногда только один. Из-за больших п аметров с н-парафинов (десятки ангстрем) пики типа 00/ располагаются в области очень малых углов скольжения 2Ь. Отсюда большая ошибка в определении меж-плоскосгных расстояний 1 и соотвегственно величины параметра с. [c.246]

Обычно кристаллический полимер представляют в виде поликристаллического тела, размеры отдельных кристаллитов в котором колеблются в пределах от нескольких десятков до нескольких сотен ангстрем. Участки полимера между кристаллитами не имеют упорядоченного строения и находятся в аморфном состоянии Беспорядочно расположенные кристаллические области и аморфные участки позволяют рассматривать полимер как кристаллическое тело с большим количеством дефектов кристаллической решетки. Степень общей упорядоченности звеньев цепных молекул в полимере (степень кристалличности) играет большую роль в определении свойств кристаллического полимера Благодаря правильной укладке участков цепных молекул в кристаллите невозможен переход цепных молекул из одной конформации в другую, в результате чего гибкость цепных молекул не проявляется и закристаллизованный полимер приобретает значительно ббльшую жесткость, чем жесткость данного полимера в аморфном состоянии . [c.136]

При определении размеров таких -.малых частиц, какими являются молекулы, ионы И.1)И коллоидные частицы, принято обычно пользоваться тремя единк ца.ми, которые во много раз меньше миллиметра, а н.меино микрон, милли.микрок и ангстре.м [c.80]

Флуоресценция—еще одно свойство, которое помогает специалистам при диагностике камней. Проверяемый камень облучают ультрафиолетовым светом, при этом некоторые материалы обладают свойством трансформировать невидимое излучение в видимый свет. Длины волн видимого излучения и, следовательно, цвет камня под ультрафиолетовыми лампами обычно бывают двух типов короткие волны длиной 2537 А и более длинные — 3660 А (I ангстрем — одна стомиллионная доля сантиметра). В заключение следует перечислить наиболее важные приборы, используемые специалистами по исследованию драгоценных камней весы для определения удельной массы, рефрактометр, полярископ, лупа и (или) микроскоп и спектроскоп, Дихро-скоп, ультрафиолетовая лампа и фильтры также являются обычным оборудованием лабораторий по проверке драгоценных камней. Определение твердости камней следует использовать только как самое последнее средство. [c.148]

Любому кристаллическому материалу соответствует определенная совокупность пар значений (4, , т. е. дифракционный спектр, свойственный только этому веществу и не зависящий от присутствия других веществ. Это значит, что рентгенограмма чистого вещества может рассматриваться как отпечатки пальцев этого вещества, а рентгеновский дифракционный анализ является идеальным методом идентификации и исследования поликристаллических фаз. Чем больше линий зарегистрировано в РД-спектре и чем точнее определены их положения, тем более однозначной будет идентификация фаз. Совремсршая рентгенодифракционная техника позволяет получать значения с точностью до 10 А диапазон представления обычно определяется как 0,5-10 А (хотя возможны и значения с/ порядка нескольких десятков ангстрем). [c.46]

Экстраполируем, следуя авторам [11, 12], линейные участки кривых до пересечения с осью абсцисс. Если бы толщина нерастворяюще-го слоя в этих системах равнялась нулю, точка пересечения, согласно формуле (25), совпала бы со значением ст 1, В действительности экстраполированные прямые отсекают на оси абсцисс некий отрезок, который, согласно формуле (25), следует отождествить с величиной отношения Н/2Нт. Если учесть конкретные значения величин этих отрезков и известные данные об Я, то получатся слишком большие величины толщин нерастворяющего слоя порядка нескольких сотен ангстрем. Это не вызывает удивления, так как модель порового пространства пасты не позволяет получить строгое количественное описание эффекта на основе полученной формулы (25). Однако влияние нерастворяющего слоя в ней качественно учтено, и ее сопоставление о экспериментальными данными [11, 12] позволяет сделать вывод о существовании нерастворяющего слоя, не претендуя на определение его толщины. К такому же выводу приходят и авторы работы [11], но исходят при этом из других соображений, которые не представляются нам убедительными из-за использования в них допущения о гидродинамической неподвижности нерастворяющего слоя. При отсутствии [c.104]

Существуют достаточно убедительные указания на то, что на всех доступных изучению уровнях надмолекулярной морфологии развиваются вполне определенные и хорошо различимые, хотя и не до конца расшифрованные, организованные структуры. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей выявляет дискретные структуры с линейными размерами до сотен ангстрем [26, 27]. Типичная картина рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами от высо-коориентированиого волокна из линейного полиэтилена показана на рис. 7. В этом образце разрешаются несколько диффракционных порядков, соответствующих большому периоду 410 20 А. При малых углах, кроме дискретного максимума, появляется еще и диффузное рассеяние. Рассеяние света от тонких пленок кристаллических полимеров также выявляет наличие структурных элементов с размерами порядка тысяч ангстрем [28]. [c.27]

Таким образом, методы исследования локальной конформации полимерных цепей оказываются практически идентичными тем которые применяются для исследования молекулярной структура низкомолекулярных соединений. В то же время методы изучени. конформации макромолекулы как целого в определенной степеш могут считаться специфическими для полимерных объектов. Одниг, tr из таких методов является рассеяние света, измерение которог о Дебай предложил использовать для характеристики размеров поли-, мерных цепей, размеры которых сравнимы с длиной волны Я. Анало- гичный подход использовался также в методе ренртеновской дифракции под малыми углами, что дало возможность исследовать микроструктуру полимеров на уровне элементов размерами порядка сотен ангстрем. В табл. III.1 дан перечень методов исследования структуры полимеров. Естественно, в определенных случаях удается получать косвенную информацию о конформации полимерной цепи в целом по результатам исследования локальной структуры макромолекулы на уровне сегментов. Следует также заметить, что методы исследования свойств растворов полимеров, служащие для характеристики конформации макромолекулы в целом, а также методы исследования набухания, динамических свойств и т. п., позволя- [c.162]

Определение изотопного состава углерода. Изотопный анализ углерода проводится по молекулярным спектрам, где изотопное смещение достигает нескольких ангстрем. Бройда и Фергусон превращали углерод в ацетилен и возбуждали свечение в ацетиленовом пламени. Анализ [c.237]

Более точный способ, пригодный для весьма тонких пленок, основан на применении поляризованного монохроматического света.. Отражение такого света от чистой металлической поверхности приводит к некоторому нарушению поляризации (так называемая эллиптическая поляризация). Если же поверхность покрыта слоем окисла, нарушение поляризации увеличивается тем сильнее, чем толще слой окисла. Это нарушение зависит от угла падения и от оптических свойств пленки и поверхности металла. Если известны угол падения и оптические свойства среды, можно рассчитать толщину пленки. Метод этот разработан Друде и Фойгтом, а применен к определению толщины тонких пленок на металлах Л. Тронстадом [24—26]. Преимущество метода заключается в том, что он дает возможность исследовать поверхность не только в газовой среде, но и в жидкостях, например, в растворах электролитов. Л. Тронстад мог определять толщину пленок от нескольких ангстрем до —200 А. [c.89]

Многие исследователи склонны объяснять пассивность образованием фазового окисла. Для этого имеются веские причины 1) на многих металлах можно обнаружить, даже после воздействия кислорода воздуха, наличие окисных пленок, обладающих кристаллической решеткой, отличной от металла (гл. И, 12) 2) определение толщины пленок на металлах часто дает величины в несколько десятков ангстрем и больше, что не может соответствовать слою хемисорбированного кислорода. [c.208]

В настоящее время принята международная система физических единиц СИ (от Systeme International). Она основана на метрической системе и составлена так, чтобы достигался максимум внутренней логичности. Однако при ее введении в практику приходится отказываться от многих привычных единиц и численных значений постоянных и заменять их новыми. Этот процесс требует времени. В данной книге авторы придерживаются определенной середины. Они применили некоторые единицы СИ, например заменили калорию на джоуль, но наряду с этим использовали еще единицы, не относящиеся к системе СИ, такие, как ангстрем. [c.9]

Коэффициент диффузии зависит от размера пор, если средний свободный путь, который обычно равен нескольким сотням ангстрем, больше размера пор. Так как удельная поверхность также связана с разхмером пор, должна суш,ествовать возможность ее определения по измерению диффузии в условиях кнудсенов-ского потока [47, 77, 201]. Вейс [206] вывел такое уравнение для модели однородной структуры, состоящей из беспорядочно расположенных точечных ядер. [c.92]

Единицами измерения длины приняты метр (л) — в системах MkGS И MTS и сантиметр (см)—в системе QS. Кроме того, мерой длины в технических расчетах иногда служат миллиметр (мм), дециметр (дм) и километр (км). При определении размеров коллоидных частиц, молекул, атомов и т. п. в расчетной практике обычно служат малые меры длины, как то микрон ( г), миллимикрон (тц) и ангстрем [c.18]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология