Материалы для оптических систем ИК-приборов

Следовательно, материал для оптической системы должен обладать высокой прозрачностью в ИК-области спектра для линзовых систем и хорошей отражательной способностью в этой области для зеркальных систем. Кроме того, материал должен быть достаточно прочен, хорошо обрабатываться, быть относительно недорогим и достаточно стабильным по своим свойствам. Для приборов, работающих вне помещения, материал оптической системы должен быть также стойким к климатическим воздействиям (изменению температуры, влажности и т. д.). [c.147]

На рис. 19 показано расположение оптических осей измерительной системы прибора (диагональное положение образца материала) для положительного значения оптической анизотропии пленки. Положения всех оптических частей в соответствии с приведенной схемой могут быть заранее отмечены на приборе. [c.31]

Было показано, что контролируемый рубиновый лазер [3] подходит для испарения различных стекол. Оптимальные размеры кратера (с учетом свойств анализируемого материала) можно подобрать, регулируя- либо работу ячейки Керра (разд. 2.9.2 в [За]), либо значение коэффициента поглощения света управляющего раствора путем изменения его концентрации. В случае контролируемого лазера предел обнаружения можно снизить в 5—10 раз применением подходящей вспомогательной искры. Для улучшения воспроизводимости количественного анализа [4] необходимо особое внимание уделять температуре юстировки оптической системы и оптимальной настройке всех функциональных элементов прибора. В этом случае микронеоднородность анализируемых проб может быть установлена с большей надежностью. [c.149]

Одной из основных особенностей твердофазных систем (в сравнении с газами и жидкими растворами) является их пространственная неоднородность, обусловливающая времена релаксации большие (а часто — много большие), чем характерное время эксперимента. В связи с этим исключительно важное значение в исследовании твердофазных систем имеют методы прямого изучения геометрической организации системы. Невооруженный человеческий глаз способен (в среднем) различать детали, находящиеся на минимальном расстоянии около 0,1 мм. Этого, как правило, недостаточно для решения задач химии твердого тела. Простейшие оптические приборы (лупы), состоящие из одной или нескольких линз, дают увеличение до 20х, которого для исследования морфологии твердофазных систем также оказывается недостаточно. Существенно большее увеличение и разрешение обеспечивают более сложные приборы — микроскопы. Так, оптические микроскопы могут давать увеличение до 2000х, а просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения — увеличение в несколько миллионов крат с разрешением около 0,1 нм, что позволяет наблюдать атомное строение исследуемого материала. [c.243]

Основная задача прикладной оптики — получение изображения предмета на приемнике световой энергии (глаз, фотопленка и т. д.) за счет перераспределения светового потока при преломлении и отражении его на поверхности оптических деталей (линз, зеркал и т. д.). Идеальная оптическая система должна давать резкое увеличенное или уменьшенное изображение предмета без искажения его формы. В реальной оптической системе неизбежны искажения (аберрации) изображения, основные из которых сферическая, хроматическая аберрации, кома, астигматизм и дисторсия [3, 1321. Устранить все аберрации системы невозможно. Главная задача расчета оптических систем (вычислительной оптики) состоит обычно в сведении к минимуму аберраций, особенно тех из них, которые, в зависимости от назначения прибора, наиболее вредны. Все аберрации тем или иным образом связаны с кривизной поверхности, показателем преломления и дисперсией отдельных линз, составляющих систему. Показатель преломления Пц и коэффициент дисперсии V (см. 1.2) являются для вычислительной оптики основными оптическими постоянными материала. Для использования в линзовой оптике необходим прежде всего ассортимент полимеров с различными показателями преломления и дисперсией. [c.94]

Приборы ПТС-1 и ПСС-2 предназначены для контроля толщины прозрачных и полупрозрачных покрытий (до 320 и 40 мкм соответственно) методом светового свечения [1]. Осветительная система этих приборов проектирует на контролируемое изделие изображение в виде светлой или темной черты, сформированное маской или оптической щелью. Часть света отражается от поверхности покрытия, а часть проходит внутрь материала покрытия, преломляется, отражается от основания изделия и выходит затем наружу со смещением относительно первого отраженного луча (см. 4.6). Угол падения 6 часто берут близким к 45°, что обеспечивает хорошие условия измерений и уменьшает в силу ортогональности падающего и отраженного лучей прямое прохождение света от осветителя в окуляр. Оператор, таким образом, наблюдает два смещенных изображения световых линий. Измерив расстояние между ними с помощью измерительной сетки и зная коэффициент прелом- [c.245]

Эта оболочка нервного волокна — загадочная штука. Она представляет собой, очевидно, самую тонкую и самую важную часть нервной клетки, активно участвующую в передаче сигналов по волокну. Обнаружить и доказать ее наличие непосредственно оптическими средствами невозможно. Видимо, это очень тонкий поверхностный слой (толщиной всего в 1—2 молекулы), настолько тонкий, что даже с помощью самых мощных оптических приборов обнаружить его не удается. Однако некоторые физические свойства оболочки были изучены, и большинство нейрофизиологов считают ее вполне реальным образованием, определяющим природу активности нервной системы точно так же, как невидимые атомы и электроны определяют свойства материи. [c.243]

Прибор для подобного анализа изображен на рис. 12. От электродвигателя 6 вращение передается ротору 5, изготовленному из оргстекла, который запЬлняют седи-ментационной жидкостью. Исследуемую пробу СМ суспендируют в небольшом количестве седиментационной жидкости и вводят в центральное отверстие вращающе-. гося ротора. При таком способе введения материала частицы одновременно начинают движение под воздействием центробежных сил. В это время через стабил1 затор напряжения 7 подают ток в лампу 8, световые лучи которой фокусируются оптической системой 9 и направляются через ротор к фотоэлементу 1, регистрирующему частицы. [c.31]

Физические методы измерения напряжений основаны на зависимости физических свойств материала от внутренних напряжений. Поскольку к наличию внутренних напряжений чувствительны многие свойства тел (оптические, электрические, магнитные, размеры кристаллической решетки, внутреннее трение, твердость), эта группа методов весьма обширна. Широко применяется оптический метод, основанный на эффекте искусственного двойного лучепреломления, возникающего под действием напряжений. При освещении таких оптически активных материалов поляризованным светом появляется окраска или картина чередующихся полос интерференции, но которым рассчитывают внутренние напряжения [243—253]. Метод оказывается весьма удобным для материалов, обладающих оптической активностью (кристаллов, неорганических стекол, некоторых полимеров). Метод широко применяется для измерения напряжений в различных (стеклянных) деталях электровакуумных приборов [254—260]. В случае слоистых пластиков и стеклопластиков напряжения в связующем также могут быть измерены по двойному лучепреломлению света [261, 263—266]. Поляризационно-оптический метод может быть применен для тонких оптически чувствительных покрытий на непрозрачной подложке, например для электроизоляционных пленок на металлах [206, 262, 267, 270], для которых обнаружено хорошее совпадение значений напряжений с результатами, полученными консольными методами [206]. Иногда, применяя ноляризационно-онтический [221, 271] метод, удается измерять внутренние напряжения в реальных клеевых системах, например в конструкциях из оргстекла, оптического стекла. [c.236]

Дифракционные решетки были впервые применены для получения инфракрасных спектров еще в 1910 г., однако вплоть до настоящего времени в большинстве спектрометров в качестве диспергирующей системы использовались призмы. Таким образом, доступный спектральный интервал естественно ограничивался оптическими свойствами материала призм. Поскольку в большинстве приборов применяется оптика из хлористого натрия или бромистого калия с пределами пропускания 650 и 400 см соответственно, область частот ниже 400 см получила название дальней , или длинноволновой , инфракрасной области. С применением в монохроматорах призм из бромистого или иодистого цезия высокочастотная граница дальней инфракрасной области отодвинулась до 200 см Ч Ее низкочастотным пределом считают обычно 10 см далее располагается спектральный интервал, который исследуется с помощью микроюлно-вых методов. [c.8]

Газовая смазка применяется при высоких (800 °С) и низких (13 К) температурах. В отличие от смазочных масел химические свойства и агрегатное состояние большинства газов остаются без изменений в очень широком температурном диапазоне. Применение газовой смазки, в отличие от смазочных масел, ограничивается конструкцией подшипника. Газовая смазка имеет дополнительные преимущества для воздуходувок и турбинных двигателей, в которых транспортируемый материал может служить смазочным материалом, что исключает необходимость герметичного уплотнения узлов смазки. Благодаря низкому внутреннему трению газов широкое применение получили подшипники, смазываемые воздухом, даже для высокооборотных прецизионных механических приборов, оптических и измерительных приборов, а также в направляющих системах и гироскопах. Применение инертных газов вместо смазочных масел или пластичных смазок исключает опасность забивки и загрязнения подшипников смазочным материалом. Это имеет исключительное значение для оборудования пищевой промышленности, для прядильных станков и специального оборудования в химической промышленности [8.2]. Кроме того, газовые подшипники применяют в электронных вычислительных машинах, прецизионных шлифовальных станках, ядерных реакторах, рефрижераторах и газовых турбинах с замкнутыми контурами [8.3]. Накопленный опыт в применении газовой смазки позволил разработать полностью закрытые насосы и компрессоры с газосмазываемыми подшипниками, предназначенные для химической, фармацевтической и пищевой промышленности. [c.180]

Исследование проводилось на приборе [1] по методике, уже описанной в литературе [2]. Дифторид бария, марки "ч,д,а," испарялся из эф/рузионных ячеек. Материал контейнера - молибден с вкладышем из платины и графита с пироуглеродным покрытием. Нагрев ячеек осуществляется электронной бомбар >-дировкой. Температ "ра камеры контролировалась термопарой класса ПП-1 и оптическим пирометром, В качестве регистрирующей системы ионных токов использовался счетчик ионов СИ-03, Средняя систематическая ошибка в измерении температуры не превышала +22 (определено методом полного изотермического испарения серебра). [c.25]

В некоторых случаях мутность (оптическую плотность) осветленной воды как параметр регулирования процесса коагуляции удается использовать при обработке высокомутных сточных вод, не ожидая полного осветления в отстойниках. Так, например, система автоматизированной подачи коагулянта по этому параметру в опытном порядке бьша создана лабораторией автоматизации ВНИИ ВОДГЕО на Невинномысской шерстомойной фабрике [16]. Сточные воды содержали 4000 - 5000 мг/л хорошо коагулирующихся взвешенных веществ. Скорость осветления сточных вод измерялась в плоской кювете из прозрачного материала, представляющей собой модель отстойника. Кювета бьша охвачена датчиком фотоэлектрического прибора СУФ42. Сигнал об отклонении от заданной продолжительности осветления поступал на привод дозирующего устройства (дозатор типа ДИМБА), которое изменяло дозу реагента в сторону компенсации отклонения. [c.53]