Расчет структурных амплитуд

Все эти выражения обычно применяются для расчета структурных амплитуд при сопоставлении с [c.393]

Теоретически рассчитанная плотность такой структуры составляет р = 1,492 г см , а угол внутреннего вращения ф = 76°21 вместо 77°23, принятых ранее. Расчет структурных амплитуд рассеяния для всех слоевых линий спирали 29/16 дал результаты, практически не отличающиеся от полученных ранее для спирали 9/5 (с учетом различия в индексах слоевых линий). [c.169]

Расчет структурной амплитуды рефлекса кк1 сложной решетки имеет задачей установить, во сколько раз амплитуда колебаний лучей, отраженных какой-либо атомной плоскостью кМ) кристалла со слож- [c.199]

РАСЧЕТ СТРУКТУРНЫХ АМПЛИТУД [c.237]

При программировании расчетов структурных амплитуд возникает ряд вопросов. Прежде всего, для вычисления F (hkl) машина должна уметь вычислять значения функций os и sin для данного аргумента. Однако использование соответствующих специальных программ требует много машинного времени и поэтому неэкономично. Вместо этого в кристаллографических программах применяются приближенные формулы [18, 34], которые дают значение функций os и sin с точностью для четвертого десятичного знака, или используются таблицы, предварительно введенные в память машины. [c.238]

Структурный множитель. 4-9. Вспомогательная таблица для вычисления структурных множителей. 4-10. Номограмма для расчета структурных амплитуд. 4-11. Расположение атомов в некоторых типах кристаллических структур. 4-12. Структурные группы для некоторых типов структур кубической системы. 4-13. Структурные амплитуды для некоторых пространственных групп кубической системы. [c.321]

Расчет структурных амплитуд отражений для заданной структуры является одной из основных и в то же время одной из самых трудоемких вычислительных задач, возникающих в процессе изучения атомного строения кристалла. [c.111]

Отсюда понятно, насколько важен рациональный подход к расчету структурных амплитуд, включающий в себя как максимальное упрощение самой формулы расчета, так и использование различного рода технических приспособлений в процессе вычисления. [c.111]

Рис. 48. Графический метод расчета структурных амплитуд при помощи транспортира. Случай вещественной амплитуды

В частности, для вычисления структурных амплитуд могут быть приспособлены и крупногабаритные машины общего назначения, например счетно-аналитические машины (табуляторы) и электронные вычислительные машины. Применение счетно-аналитических машин для задач структурного анализа получило довольно широкое распространение за границей, особенно в Англии. Однако в целом этот метод (особенно для расчета структурных амплитуд) нельзя признать вполне удачным. Давая сравнительно небольшой выигрыш времени по [c.142]

Рис. 53. Машина Брегга для расчета структурных амплитуд а—отдельный элемент б—общий вид

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФУРЬЕ-СИНТЕЗА К РАСЧЕТУ СТРУКТУРНЫХ АМПЛИТУД [c.415]

При наличии центра инверсии из теоретического расчета структурных амплитуд по формуле [c.504]

Наиболее гибкой машиной, удобной для такого рода расчетов, является (универсальная или специализированная) электронная цифровая вычислительная машина, вычисления на которой не связаны с использованием штрипсов. Применение универсальной электронной машины имеет и ряд других преимуществ. Эта машина может одинаково успешно решать обе основные вычислительные задачи и задачу расчета структурных амплитуд по координатам атомов, и задачу суммирования рядов Фурье. Поэтому имеется возможность объединить обе операции в один непрерывный цикл вычислений. [c.555]

Механизация рентгеноструктурных расчетов-142, 403, 554, 591 Механизмы для расчета структурных амплитуд—139 и сл. [c.622]

Начальных фаз проблема—180 и сл., 229, 243, 316, 502 Неоднозначности максимумы—473 Неоднозначность анализа межатомной функции—447, 470, 496 Неравенства для структурных амплитуд—262 и сл., 270, 275 и сл. Неравенств метод—182, 244, 257, 531, 618 Нечетная межатомная функция—437 Номограммы для расчета структурных амплитуд—123 и сл. [c.622]

Трансформация Фурье, метод расчета структурных амплитуд—135 Трансформация Фурье, метод расчета электронной плотности—410 Тригонометрических функций кривые— 227 [c.624]

Применение метода Фурье-синтеза к расчету структурных амплитуд [c.631]

Расчеты в Р. с. а. проводят с помощью ЭВМ. Благодаря прецизионной обработке эксперим. данных (как при измерении интенсивности отражений в дифрактометрах, тах и при введении поправок в расчетах структурных амплитуд) можно исследовать распределение электронной плотности между атомами. Для этого строят т. наз. ф-цию деформац. электронной плотности 5р(г), описывающую перераспределение электронов в атомах при образовании хим. связи между ними. Анализ ф-ции 5р(г) позволяет установить степень переноса заряда, ковалентность связи, пространств, расположение неподеленных пар электронов и т.д. [c.241]

При расчете структурных амплитуд с помощью уравнения (8.2) для групп атомов (8.7) следовало бы выписать сумму, состоящую из 8 членов. Однако по формулам Лонсдейл для группы Реет можно сразу написать [c.237]

Из этой работы можно сделать интересный вывод, что электронные облака групп СНг далеки от сферической формы и расположены в плоскостях связей С — Н (плоскости, перпендикулярные к оси цепи, см. рис. 14). Это явление отчасти, вероятно, обусловлено анизотропными тепловыми колебаниями в кристалле — тепловые колебания много больше в направлениях, нормальных к осям цепей, чем вдоль цепи. Но ясно, что это явление нельзя объяснить полностью анизотропией тепловых колебаний или комбинированным действием тепловых колебаний и искажений решетки кристалла (которые влияют на интенсивности так же, как и тепловые колебания) отчасти это явление обусловливается действительным искажением электроннаго облака СНг-группы. Магнитные свойства кристаллов цепных соединений под тверждают эту точку зрения [55]. С точки зрения структурных исследований выеокополимеров значение такого состояния заключается в том, что кажущаяся диф-фракционная способность групп СНг для кристаллической плоскости, параллельной плоскости трех этих ядер, больше, чем для всех других плоскостей. В полимерных кристаллах, в которых все группы СНг параллельны друг другу и перпендикулярны к оси цепи (так что тепловые эффекты складываются с эффектами действительного, реального, искажения групп СНг,), кажущаяся диффракционная способность примерно в два раза больше для плоскости, параллельной этим трем ядрам, чем для плоскостей, перпендикулярных плоскости трех ядер при расчете структурных амплитуд это обстоятельство нужно учитывать. Для полимерных кристаллов, у которых не все плоскости групп СНг параллельны друг другу, этот эффект учесть гораздо труднее. И до сих пор, кажется, еще не пытались это сделать. Однако для многих кристаллических плоскостей эффекты различных групп СНг частично нейтрализуются друг от друга, и тепловые эффекты не могут целикол быть объединены с эффектом искажения электронного облака. Следовательно, эффект усложнения соотношения [c.174]

Сетки для расчета структурных амплитуд проекций, содержащих оси третьего, четвертого и шестого порядков, значительно сложнее. Приготовление полного набора сеток (до к и k, равных 20) для всех плоских групп симметрии при соблюдении необходимой точности является большой, кропотливой работой. Можно, однако, ограничиться сетками для функций типа (кх- -ку) и сов2-к.кх.о.о 2 пку, соот- [c.129]

Дополнением к основной машине X—RA служат две самостоятельные установки S—FA и R—РАС. S—FA является устройством для считывания и передачи на цифровые счетчики значений структурных амплитуд в узлах обратной решетки (или, если желательно, значений электронной плотности в заданных точках координатной сетки). Машина, следовательно, может применяться с удобством и для расчета структурных амплитуд. R— РАС является устройством памяти . Наличие такого устройства позволяет объединять расчеты электронной плотности и структурных амплитуд в непрерывные циклы и делает машину Пепинского почти столь же гибкой, как и униве]зсальные вычислительные машины. Она может решать разнообразные структурные задачи начиная от суммирования рядов и кончая минимализацией межатомной функции (см. ниже, стр. 488). [c.414]

Допустим, что истинное распределение электронной плотности характеризуется кривой 1 с максимумом в точке О (рис. 165,а). На некоторой стадии приближения из-за ошибочного определения начальных фаз или знаков амплитуд какой-то доли отражений были найдены координаты атома, отвечающие точке А. Расчет структурных амплитуд и построение теоретического ряда рв(х) должны дать кривую с максимумом вблизи точки А, слегка смещенным из-за незаконченности самого ряда (точка А ). Экспериментальный же ряд (с теми же знаками амплитуд, что и в теоретическом ряду) дает координаты следующего приближения—т. е. максимум, смещенный в сторону истинного (точка В). Если атомная амплитуда и температурный фактор не подобраны в полном соответствии с экспериментальными данными, форма максимумов и их высоты в рэ(х) и в Рв х) будут несколько различаться. Однако это не меняет очевидного общего характера кривой разностного распределения R х) рэ х) — Ре х) R (х) растет от отрицательных к положительным значениям в направлении истинной координаты атома. Таким образом, характер разностного распределения вблизи центров атомов дает возможность правильно выбрать направления смендений атомов при поисках наилучшей структуры атомы следует сдвигать в сторону наибольшего повышения плотности в разност1юм распределении. Чем выше градиент плотности, тем больше должна быть и величина перемещений. [c.561]

Брегга машина для расчета структурных амплитуд—142 Буса машина для расчета структурных амплитуд—140 Буса поправка на обрыв ряда—539 [c.620]

Шаблоны Паттерсона—394 Шкала почернений рентгеновской пленки—161, 162 Штрипсы Александера—415 Штрипсы Липсона—Биверса—385 Штрчпсы Робертсона—395 Штрипсы, метод суммирования рядов Фурье—383 Штрипсы, применение для расчета структурных амплитуд—415 [c.625]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология