Спектральное пропускание

Рис. 24.2. Спектральное пропускание кристаллического кварца толщиной 4,55 мм (1) и 40 мм (2) в длинноволновой области инфракрасного спектра

Таблица 1.1 Спектральная плотность пропускания и спектральное пропускание хрусталика человеческого глаза и пигмента желтого пятна (736 1)

Свет, отраженный от образца и эталона, после многократного отражения от стенок шара освещает фотоэлемент, расположенный за окном шара, закрытым молочным стеклом. Освещенность фотоэлемента в каждый момент времени определяется суммой мгновенных потоков, отраженных от образца и эталона. Если световые потоки, отраженные образцом и эталоном, равны, освещенность фотоэлемента будет постоянна в любой момент времени и переменный сигнал на входе усилительной системы будет отсутствовать. Если, испытуемый образец заметно поглощает, то суммарный световой поток на фотоэлементе будет изменяться с частотой 50 Гц и на входе усилителя появится сигнал такой же частоты. Напряжение сигнала усиливается и подается на обмотку якоря электродвигателя отработки, который при помощи фотометрического кулачка поворачивает призму Рошона до тех пор, пока не исчезнет сигнал на входе усилителя, т. е. пока не исчезнет разность световых потоков. Одновременно с поворотом призмы происходит перемещение пера, фиксирующего на бланке пропускание, отражение или оптическую плотность образца. Изменение длины волны света, выходящего из монохроматора, производится перемещением вдоль спектра средней щели прибора. Перемещение щели осуществляется от электродвигателя одновременно с поворотом барабана записывающего механизма. Таким образом, на бланке, закрепленном на барабане записывающего механизма, записывается кривая спектрального пропускания, отражения или оптической плотности. [c.274]

Пассивные методы включают абсорбционный и эмиссионный варианты. Первый основан на измерении поглощения детектируемыми компонентами прямого излучения Солнца, Луны, звезд, а также рассеянного дневным небом излучения Солнца. Аппаратура с достаточно высоким спектральным разрещением (< 0,01 см ) дает возможность проводить измерения спектрального пропускания Г(ш) или спектрального поглощения А(а>) атмосферного воздуха при оценке фоновых содержаний СО, СО2, NO2, N2O. В основе эмиссионного метода лежит перенос теплового излучения в атмосфере от детектируемых молекул. Поскольку максимум интенсивности их излучения (температура газа обычно лежит в пределах 220-500 К) приходится на спектральный диапазон от 6 до 13 мкм, то измерения эмиссионным методом проводятся в ИК-, а также в микроволновых диапазонах, где интенсивность собственного излучения газов еще достаточно велика (оценка содержаний Н2О, О3, СО2). К эмиссионным пассивным методам обычно относят и измерения резонансного комбинационного рассеяния на детектируемых молекулах. Это предельный случай КР, когда частота возбуждающего излучения приближается к собственным частотам энергетических переходов молекул детектируемого газа, что приводит к резкому увеличению интенсивности рассеяния. Резонансное рассеяние обычно наблюдается в УФ-диапазоне спектра (например, для молекулы N0 — это 200-220 нм), т.е. в области электронных переходов. [c.936]

Рис. IX.4. Кривые спектрального пропускания некоторых светофильтров (толщина светофильтров 5 мм).

В качестве стандартов можно использовать растворы некоторых веществ, спектральное пропускание которых при различных длинах [c.262]

Анализ кривых спектрального пропускания для тонких пленок ванадия толщиной 200 А, напыленных на подложку 5102, показывает, что при отжиге при 600° С образуется уже значительный слой окисла, что определяется как общим увеличением пропускания, так и характерным изменением пропускания в коротковолновой области спектра. Отжиг при 1150° С еще больше увеличивает [c.21]

Рис. 1. Спектральное пропускание материалов для инфракрасной

Степень приближения кривой спектрального пропускания корректирующих светофильтров к идеальной является возможно наиболее важным показателем точности, которую можно ожидать от фотоэлектрического трехцветного колориметра. Чтобы точно получать на колориметре координаты цвета (или координаты цветности и коэффициент яркости), необходимо полное соблюдение стандартов, рекомендованных МКО. Это относится не только к соответствию функций спектральной чувствительности колориметра стандартным функциям сложения. Необходимо также, чтобы при конструировании прибора был тщательно обоснован выбор источника света, освещающего образец в идеальном случае его излучение будет воспроизводить спектральное распределение одного из стандартных излучений МКО, например Вдд. Кроме того, отражающие образцы должны измеряться в стандартных условиях освещения и наблюдения (рис. 2.11) в качестве эталона при таких измерениях должен использоваться идеальный отражающий рассеиватель. [c.243]

Трудности расчетов Вх ну (9о, 0, широких диапазонах спектра обусловлены селективностью монохроматической функции спектрального пропускания %x z, 0), что приводит к выбору очень мелкого шага интегрирования по X при вычислении спектральных интенсивностей излучения в участках спектра конечной ширины и колоссальным затратам машинного времени для расчетов. Эти трудности удается обойти, записав уравнение (5.1) в приближении однократного рассеяния [49]. В этом случае интенсивность нисходящего излучения в участке спектра конечной ширины А определится формулой [c.184]

Функции спектрального пропускания вычисляются с учетом сферичности Земли и рефракции луча радиации в атмосфере по схемам, описанным в [24. [c.186]

Рис. 6.1. Спектральное пропускание бромистой меди толщиной 2,92 мм

Рис. 6.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/119368">бромистой меди</a> толщиной 2,92 мм

Пропускание зависит от длины волны падающего светового потока излучения 1 = Т (X). Эта зависимость называется спектральным пропусканием материала. Спектральное пропускание определяется отношением выраженным в процентах. [c.18]

Рис. 9.2. Спектральное пропускание фтористого лития толщиной i,0 мм в длинноволновой области инфракрасного спектра

Рис. 9.2. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/428829">фтористого лития</a> толщиной i,0 мм в <a href="/info/1436002">длинноволновой области</a> инфракрасного спектра

Рис. 1.1. Спектральное пропускание хлористого натрия толщиной

Рис. 1.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/32610">хлористого натрия</a> толщиной

Рис. 3.1. Спектральное пропускание хлористого серебра толщиной 5 мм

Рис. 3.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/113088">хлористого серебра</a> толщиной 5 мм

Рис. 9.1. Спектральное пропускание фтористого лития толщиной

Рис. 9.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/428829">фтористого лития</a> толщиной

Рис. 14.1. Спектральное пропускание фтористого кадмия толщиной 5,0 мм

Рис. 14.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/669678">фтористого кадмия</a> толщиной 5,0 мм

Рис. 10.1. Спектральное пропускание фтористого кальция толщиной

Рис. 10.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/519057">фтористого кальция</a> толщиной

Рис. 11.1. Спектральное пропускание фтористого бария толщиной 9 мм

Рис. 11.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/668912">фтористого бария</a> толщиной 9 мм

Рис. 12.1. Спектральное пропускание фтористого стронция толщиной 10 лж

Рис. 12.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/797898">фтористого стронция</a> толщиной 10 лж

Рпе. 13.1 Спектральное пропускание фтористого магния толщиной. 3 мм [c.100]

Рис. 16.2. Спектральное пропускание бромистого калия толщиной 0,41 мм в длинноволновой области спектра

Рис. 16.2. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/115881">бромистого калия</a> толщиной 0,41 мм в <a href="/info/1436002">длинноволновой области</a> спектра

Рис. 18.1. Спектральное пропускание бромистого тал.ппя толщиной

Рис. 18.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> бромистого тал.ппя толщиной

Рис. 22.1. Спектрально пропускание KRS-Q толщиной 3,5 мм

Рис. 22.1. <a href="/info/278578">Спектрально пропускание</a> KRS-Q толщиной 3,5 мм

Рис. 24.1. Спектральное пропускание кристаллического кварца толщиной 10 мм для обыкновенного луча

Рис. 24.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/172366">кристаллического кварца</a> толщиной 10 мм для обыкновенного луча

Рис. 25.2. Спектральное пропускание плавленого кварца толщиной 0,55 мм 1) и 8,30 мм (3) в длинноволновой области инфракрасного

Рис. 25.2. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/70611">плавленого кварца</a> толщиной 0,55 мм 1) и 8,30 мм (3) в <a href="/info/1436002">длинноволновой области</a> инфракрасного

Рис. 26.1. Спектральное пропускание сапфира толщиной 1,0 мм

Рис. 26.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> сапфира толщиной 1,0 мм

Рнс. 26.2. Спектральное пропускание сапфира в длинноволновой области инфракрасного спектра [c.151]

Исследование оптических свойств D (X) тонких пленок ванадия, напыленных на подложках AI2O3, (см. рис. 2) показало, что кривые спектрального пропускания для свеженапыленных образцов и отожженных при 600° С характеризуются медленным монотонным уве- [c.20]

При наблюдении и измерении люминесценции надо учитывать, что возбуждающий свет, не поглощенный люминофором, добавляется к свету люминесценции и искажает получаемый результат. Чтобы избежать ошибок прп измерении, используют так называемые скрещенные фильтры. Свет от источника возбуждения 3 (рис. IX.5) падает через фильтр Ф , выделяющшх область возбуждения, на люминофор Л. Свечение последнего воспринимается каким-либо приемником излучения, например, фотоэлектронным умножителем цлп глазом, через фильтр Фз, который не пропускает возбуждающий свет, но пропускает свет люминесценции. Фильтры Ф ц Фз называются скрещенными. Для люминофоров, излучающих в зеленой области спектра, скрещенными являются фильтры УФС-6 и СЗС-22, кривые спектрального пропускания которых показаны на рис. IX.4. [c.169]

Другой метод расположения фильтров с требуемыми спектральными характеристиками показан на схеме II (нижняя часть рис. 2.39). При этом расположении, иногда называемом схемой Дреслера [138, 177], некоторые компоненты фильтра размещаются рядом один с другим. Различные части светового пучка по-разному фильтруются стеклами, прежде чем пучок достигает катода фотоэлемента. Результирующая кривая спектрального пропускания комбинации может зффективно регулироваться путем изменения относительного размера отдельных компонентов. Выполненные по такому принципу корректирующие светофильтры могут с высокой степенью точности приближаться к идеальным при относительно высоком пропускании в максимумах кривых. [c.241]

В 1962 г. Батлер [881 показал, что распознавание прозрачного красящего вещества по малому количеству образца, слишком разбавленного для того, чтобы отличие спектрального внутреннего пропускания от 100% поддавалось бы измерению, может быть выполнено введением достаточного количества белого пигмента для получения слоя со спектральным пропусканием 0,1%, что соответствует условиям уравнения (3.15). Таким образом, неизвестный раствор становится связующим белой краски. Мы обнаруживаем, что изменение спектрального пропускания этой белой красочной пленки с длиной волны вполне поддается измерению. Таким образом, можно рассчитать коэффициент поглощения К в функции длины волны с помощью уравнения (3.21) и осуществить идентификацию. Увеличение чувствительности на два порядка вызвано увеличением пути, пройденного световым лучом через связующее от верхней до нижней границы слоя, претерпевшим многократное рассеяние от светонепоглощающих белых пигментных частиц. [c.490]

Такими характеристиками, определяющими предварительный выбор материала, являются оптыческке свойства (спектральное пропускание, показатель преломления, двупреломление, электрооптиче-ский эффект), а также плотность, твердость, растворимость, точка плавления, удельная теплоемкость, тепловое расширение, теплопроводность, модуль Юнга и диэлектрические постоянные. [c.20]

Рис. 20.1. Спектральное пропускание йодистого цезия толщиной 5 мм Преломление [511, 458J

Рис. 20.1. <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> <a href="/info/975126">йодистого цезия</a> толщиной 5 мм Преломление [511, 458J

Рис. 23.1 Спектральное пропускание KltS-iZ толщиной 9,5 жл Преломление Отражение

Рис. 23.1 <a href="/info/278578">Спектральное пропускание</a> KltS-iZ толщиной 9,5 жл Преломление Отражение