Многократное рассеяние

При малости эффектов многократного рассеяния справедлив закон Бугера - Ламберта - Бера [c.41]

Интенсивность излучения определяется энергией излучения, попадающего в единицу времени на единицу площади, расположенной перпендикулярно к направлению распространения излучения. Уравнение ослабления интенсивности излучений при прохождении вещества было рассмотрено выше. Исходя из определения понятия интенсивности, можно сделать вывод о том, что энергия излучения определяет его проникающую способность, выявляемость дефектов и длительность просвечивания. Уравнение интенсивности (2) описывает закон ослабления узкого, параллельного и моноэнергетического пучка лучей. При дефектоскопии сварных соединений, литья и других изделий используют широкие пучки. В этом случае на пленку (детектор) попадают не только те кванты, направление движения которых совпадает с начальным, но и кванты, испытавшие многократное рассеяние в контролируемом изделии. [c.118]

Эффекты многократного рассеяния света определяются свойствами среды в виде величины р = а /о и электрической матрицы рассеяния Вц I, /р), связанной с матрицей т (/, /р) и характеристикой оптической толщины [c.40]

Характер взаимодействия ионизирующего излучения е веществом определяется параметрами частиц и свойствами вещества. При взаимодействии заряженных частиц со средой основной причиной потерь энергии являются столкновения с атомами (электронами и ядрами), приводящие к ионизации и многократным рассеяниям. Потеря энергии электронами происходит также в результате радиационного торможения, а для тяжелых частиц (протон, а-частица) - потенциального рассеяния на ядрах и ядерных реакций. При взаимодействии 7-излуче ния со средой потеря энергии объясняется Комптон-эффектом (рассеяние 7-кванта на электронах), фотоэффектом (поглощение у-кванта с передачей энергии электрону), образованием электронно-позитронных пар (при энергиях V-квантов 1,02 МэВ) и ядерных реакций (при 10 МэВ). [c.107]

Шарики могут рассеивать свет, предварительно рассеянный другими шариками, тем самым увеличивая общий результат (Вал-стра, 1965). Интенсивность светового луча уменьшается поэтому согласно ехр ( — ), но не (1 — 5,,), где — общее рассеивающее поперечное сечение. Многократное рассеяние не происходит при ехр ( —5п) (1 — 5 ), для чего па практике требуется, чтобы О, < 0,05. [c.148]

При этих условиях значения в вертикальной и горизонтальной плоскостях были приблизительно равны 7,5° и 3,5°, соответственно, а углы и дет —9° и 5°. Средний диаметр шариков в этих эмульсиях 3 мкм, и нри Ф 0,04 общее поперечное сечение площади составило — 190 см 1мл. Результаты многократного рассеяния можно подсчитывать нри Ф > [c.149]

Перенесение этого результата на совокупность частиц оказывается очень несложным, когда их концентрация достаточно мала. Оно заключается в простом суммировании по числу частиц. При более высоких концентрациях картина значительно усложняется, так как происходит интерференция света, рассеянного отдельными частицами, и его частичное ослабление частицы освещаются не только непосредственно внешним источником света, но и светом, рассеянным другими частицами (многократное рассеяние) падаю- [c.19]

Для частиц данного размера интенсивность рассеянного света прямо пропорциональна концентрации золя. Это положение можно использовать для определения концентрации дисперсно фазы с помощью измерения светорассеяния золя. Однако следует учесть, что при очень больших концентрациях возникает многократное рассеяние и в уравнение Рэлея необходимо вводить соответствующие поправки. [c.36]

Свет рассеивается микрогетерогенными системами только в том случае, если размер частиц г меньше длины световой волны X, а расстояние между частицами больше световой волны. При размере частицы г < X световая волна огибает частицу происходит дифракционное рассеяние. Если размер частиц значительно больше длины световой волны, происходит отражение света. Рассеяние света связано с тем, что переменное электрическое поле световой волны возбуждает частицу, индуцируя в ней переменный дипольный момент. В результате этого частица становится источником собственного излучения, сохраняя строгие фазовые соотношения с облучающим электрическим полем. Такое рассеяние света называется когерентным. Если падающий луч света монохроматичен, то свет, рассеянный частицами, таклсе монохроматичен и имеет такую же длину волны, как и свет падающий. Свет, рассеянный частицей, попадает на находящиеся вблизи частицы, происходит многократное рассеяние света. В результате возникает само-освещение среды рассеянными внутри нее электромагнитными волнами. Вследствие когерентности света, рассеянного частицами, волны рассеянного ими света интерферируют между собой и с волнами падающего света. На границе дисперсионная среда — дисперсная фаза происходит полное гашение облучающей волны, и вместо нее возникают преломленные и отраженные волны. [c.389]

Явлением многократного рассеяния пренебрегают, когда брЯ< <0,02. Если это условие нарушается в 3...5 раз, то повторное рассеяние превалирует и почти вся картина распределения помех на линии развертки дефектоскопа формируется в результате многократного рассеяния импульсов в зоне крупнозернистого материала, расположенной вблизи преобразователя. [c.133]

Возможность получения окрашенных золей с самыми различными цветами (усиливающимися за счет многократного рассеяния) издавна используется для получения красителей и окрашенных стекол (например, рубиновые стекла — это коллоидные растворы золота в стекле с концентрацией золота около 10- %). Аналогичным образом могут окрашиваться естественные и искусственные драгоценные камни и самоцветы. [c.167]

ЭОС широко используется для анализа поверхности благодаря сочетанию малой глубины отбора информации и высокого пространственного разрешения. Продольная локальность определяется средней длиной свободного пробега электронов (см. разд. 10.1.1), которая находится в пределах от 0,5 до 10 нм. Малое значение поперечной локальности достигается за счет возбуждения оже-электронных сигналов тонко сфокусированным электронным пучком (Ео = 3-10 кэВ). Интересующую область для анализа можно выбрать с помощью электронных изображений (в режиме детектирования вторичных электронов). Минимальный диаметр пучка ограничен величиной 100 нм вследствие необходимости работать с пучками высокой интенсивности для получения хорошего соотношения сигнал/шум. Пики оже-электронов в спектре располагаются на сильном непрерывном электронном фоне, возникающем вследствие многократного рассеяния электронов (рис. 10.2-12). Для более четкого выделения пиков часто записывают первые производные спектров. Для количественного анали- [c.339]

Здесь В — коэффициент, учитывающий многократное рассеяние у-квантов (фактор накопления), < ср—средняя длина пробега у-квантов в слое материала. [c.59]

Упругое взаимодействие электронов с атомами происходит в виде рассеяния электронов на ядрах вследствие кулоновского взаимодействия. Обычно происходит рассеяние под малыми углами (1-3°), но возможно и рассеяние под углами вплоть до 180°, хотя и с гораздо меньшей вероятностью. Упругое рассеяние является основной причиной уширения электронного пучка в образце, а также приводит к тому, что часть падаюш их электронов в результате многократного рассеяния отражается от образца. Сечение упругого рассеяния пропорционально квадрату заряда ядра атомов мишени. Таким образом, образец, состоящий из разных фаз, характеризуется различным характером рассеяния в микрообластях различного состава. [c.325]

Возможности рентгеновского микроанализа в АЭМ ограничены не только малой эффективностью сбора фотонов, но и низким выходом рентгеновской флуоресценции для элементов с низкими атомными номерами. Оба этих недостатка менее ощутимы в спектроскопии характеристических потерь энергии прошедших электронов. Эффективность сбора прошедших электронов очень высока. Поскольку аналитический сигнал определяется числом актов ионизации в аналитическом объеме, легкие элементы можно анализировать с достаточно хорошей чувствительностью. Существенным недостатком спектров характеристических потерь энергии является плохое соотношение сигнал/шум, поскольку прошедшие электроны также теряют энергию при многократном рассеянии, что приводит к появлению непрерывного электронного фона. Отношение сигнал/шум можно улучшить, анализируя очень тонкие (10-20 нм) образцы. Количественный анализ по спектрам характеристических потерь с использованием величин сечений ионизации проводят обычно с правильностью 10-20%. [c.339]

Рис. 10.2-12. ЭОС Спектр электронов, испускаемых при бомбардировке электронным пучком с энергией 5 кэВ. Интенсивные пики в области высоких и низких энергий соответствуют отраженным и вторичным электронам. Пики оже-электронов проявляются на непрерывном электронном фоне, возникающем вследствие многократного рассеяния. На вставке изображена часть дифференцированного спектра, содержащая оже-пики.

При крупнозернистой структуре на графике в зависимости от времени или пути (рис. 33.13) получают высокую амплитуду рассеяния, которая из-за многократности рассеяния круто падает во времени. При мелком зерне получают небольшую ампли- [c.648]

Обратнорассеянное излучение (альбедо излучения) возникает при многократном рассеянии квантов в контролируемом объекте и поглотителе, расположенном за объектом. При этом часть рассеянного излучения выходит из поглотителя и воздействует на обслуживающий персонал и детектор. [c.57]

При обычных методах исследования рассеяния света большое значение имеет поправка на эффекты многократного рассеяния. От этих эффектов избавляются, проводя экстраполяцию на интенсивность рассеяния при нулевой концентрации. Хотя при измерениях методом проточной ультрамикроскопии имеют дело с рассеянием света от отдельной частицы, все же оказывается необходимым разбавлять латекс до концентраций, при которых многократное рассеяние не оказывает влияния на измерения. Эта концентрация часто получается ниже требуемой для того, чтобы можно было наблюдать единичные частицы в поле размером 20 х 20 мкм. [c.253]

НОВОГО непрерывно действующего лазера расширит пределы измерений до 0,5 мкм. Устранение эффекта многократного рассеяния осуществлено посредством последовательного разбавления латексной системы. Угол апертуры 9/2 был выбран равным 2°. Неопределенность значений величины т не оказывает столь большого влияния на результаты оценки размеров частиц, как в методах рассеяния света. Воспроизводимость результатов не менее 4% для 90%-ного доверительного интервала. [c.265]

Давайте рассмотрим случай многократного рассеяния на системе массивных нуклонов. Основное предположение теории многократного рассеяния состоит в том, что свойства каждого рассеивателя не меняются из-за присутствия других рассеивателей. [c.155]

Формально преломление света — это понятие геометрической оптики, относящееся к изменению направления светового луча в неоднородной среде, когда размеры неоднородностей су-ществено больше длины волны. Тем не менее преломление света частицами, размеры которых меньше длины световой волны, оказывают решающее влияние на рассеяние света. Многократное рассеяние света является результатом многократного преломления световых пучков, происходящего на границах частиц с дисперсионной средой. [c.389]

При выводе формул (2.36) и (2.37) был сделан ряд допущений. Предполагалось, что Аг<г излучение происходит в полубесконеч-ное пространство со статистически однородной структурой (т. е. нет зон с сильно отличающейся структурой), рассеяние изотропно по всем направлениям и рассеяние от каждого кристаллита начинается в момент поступления к нему излученного импульса и кончается одновременно с его окончанием. Последнее из сделанных допущений наиболее существенно. Оно, в частности, означает, что не учитывается повторное рассеяние ультразвуковых волн, уже претерпевших однократное рассеяние на неоднородностях среды. Например, считали, что структурные помехи от точки В (рис. 2.24) придут в момент времени, определяемый расстоянием АВ. В действительности сигнал от точки С, рассеянный не в направлении на преобразователь, может рассеяться еще раз в точке О и придет на преобразователь одновременно с сигналом однократного рассеяния от точки В, если удовлетворяется условие АС0А=2АВ. Это пример влияния двукратного рассеяния, однако существует также более сложное многократное рассеяние. [c.133]

В окрестности критической точки расслаивания раствора работа, требующаяся для образования флуктуаций концентрации, очень мала. Статистическое среднее квадрата флуктуаций концентрации возрастает. Даже малые локальные изменения состояния раствора оказывают заметное влияиие на состав сравнительно больших его участков. Иначе говоря, возрастает радиус корреляции флуктуаций концентрации. В окрестности критической точки при (Т—Т ) 1—2° флуктуации концентрации встречаются так часто, что лучи света, попадающие в раствор, нередко испытывают многократное рассеяние, прежде чем выйти наружу. Поэтому раствор становится мутным. Наблюдается критическая опалесценция. Постепенно радиус корреляции флуктуаций концентрации Ь достигает величин порядка 10 м, сравнимых с длиной волны света. Тогда при рассеянии света возникают отклонения от закона Релея. При устранении помех, связанных с многократным рассеянием, и тщательном термостатировангш отклонения от закона Релея нередко наблюдаются лишь в узком интервале температур, при Т—Гк1С0,1 [42]. Растворы с развитыми флуктуациями концентрации похожи на дисперсные системы с очень малыми неоднородностями. Отличие от обычных дисперсных систем состоит в том, что флуктуации концентрации неустойчивы Они случайно возникают и быстро исчезают. Среднее время их существования т обратно пропорционалыю коэффициенту диффузии. Исследования, выполненные автором и его сотр. [43], показали, что в растворах с положительными отклонениями от идеальности, состояние которых далеко от критической точки расслаивания, -с может лежать в интервале 10 — 10 с. Время 10" с само по себе очень малое, в молекулярных [c.154]

Цветные дымы можно получать путем возгонки или распыления взрывом различных органических веществ Некоторые органические полупродукты и кра сители достаточно устойчивы и испаряются из горячен смеси их с топливом без чрезмерного разложения Конденсация паров приводит к образованию дыма обычно негигроскопичного Порошкообразные красители также можно рассеять в виде тонкой пыли путем взрыва снаряда или бомбы однако при этом полу чaют 1 более крупные частицы а следовательно и менее насыщенные цвета по сравнению с конденсацией паров Частицы красителя независимо от способа их образования хорошо рассеивают белый свет в то же время сечективно абсор бируя волны определенной длины Если падающии на облако свет претерпевает многократное рассеяние частицами то вследствие потери некоторой части спек тра (см стр 128) облако в целом приобретает окраску Облака с низкои кон центрациеи частиц окрашены очень слабо так как недостаточно многократное светорассеяние не вызывает существенного изменения спектра [c.412]

В 1962 г. Батлер [881 показал, что распознавание прозрачного красящего вещества по малому количеству образца, слишком разбавленного для того, чтобы отличие спектрального внутреннего пропускания от 100% поддавалось бы измерению, может быть выполнено введением достаточного количества белого пигмента для получения слоя со спектральным пропусканием 0,1%, что соответствует условиям уравнения (3.15). Таким образом, неизвестный раствор становится связующим белой краски. Мы обнаруживаем, что изменение спектрального пропускания этой белой красочной пленки с длиной волны вполне поддается измерению. Таким образом, можно рассчитать коэффициент поглощения К в функции длины волны с помощью уравнения (3.21) и осуществить идентификацию. Увеличение чувствительности на два порядка вызвано увеличением пути, пройденного световым лучом через связующее от верхней до нижней границы слоя, претерпевшим многократное рассеяние от светонепоглощающих белых пигментных частиц. [c.490]

Более неприятен в большинстве случаев так называемый структурный шум, вызываемый многократным рассеянием на границах кристаллических зерен или мелких включений. Их отражения коррелируют с посылаемыми импульсами, т. е. при неподвижном искателе они неподвижны, как и эхо-импульс от дефекта. Однако уже при небольшом перемещении искателя эти отражения быстро изменяют свое положение и амплитуду. При записи со сканированием (развертка типа В или С) истинный эхо-импульс даже при приблизительно одинаковой высоте еще может быть достаточно четко выявлен как таковой. Например, глубину закаленного слоя отбеленных прокатных валков лучше измерять при помощи колеблющегося искателя [1515, 1689, 1217]. Вибрирование искателя используется и при всех методах сканирования, например ALOK, SAFT и др. В этих методах, как например в методе ALOK, дополнительно используются электронные схемы распознавания, чтобы устранить помехи с изображения на экране [1361]. [c.266]

Способ расщепления спектра [498, 1114, 846] основан на том, что отра кения от помех происходят в результате многократного рассеяния, при котором их частотная характеристика искажается сильнее, чем у настоящего зхо-импульса. При работе в реальном масштабе времени все показания должны быть дигитализированы (превращены в щ фровой вид), преобразованы в частотную кривую, разбиты на некоторое число полос частот и снова преобразованы в изображение во времени. Различные изображения на экране в разных диапазонах частот различаются для настоящего эхо-импулъса и отражения от помех лишь незначительно. Это различие можно установить с помощью различных методов логической увязки (алгоритмов). При решении задач по контролю аустенита успешным оказался алгоритм минимизации [151]. [c.267]

Однако точно рассчитать размер частиц и укрывистость указанным выше путем не удается, так как необходимо еще учитывать многократность рассеяния света частицами и эффект ннтерфч>енции при большой ОКП, когда г, Я-в расстояние между частицами соизмеримы [c.253]

В вещественную часть длины лё-рассеяния дают вклад эффекты, связанные с поглощением. Реалистическое вычисление (Mizutani and Koltun, 1977) дает отталкивающий вклад Re а а = = -6-10 /Ил . Этот последний результат интересен, так как ранее, в разделе 4.4 мы обнаружили, что поправки к а д на многократное рассеяние можно описать строго. Вклад, связанный с поглощением, был главной теоретической неопределенностью. Он дает поправку в полную длину лё-рассеяния на уровне 10%, которая, следовательно, может считаться хорошо понятой. [c.139]

Набор связанных интегральных уравнений (4.66) вместе с (4.64) известен как уравнения Фаддеева. Обычные разложения яКК-амплитуд многократного рассеяния с соответствующей трехтельной кинематикой получаются в пределе, когда пренебрегают нуклон-нуклонной амплитудой <(NiN2). Это значит, что не существует нуклон-нуклонного взаимодействия в промежуточных состояниях [c.148]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология