Условия освещения щели спектрографа

Во втором способе гетерохромного фотометрирования производится сравнение интенсивностей измеряемых линий с участками сплошного спектра в тех л<е длинах волн. Источником сплошного спектра служит вольфрамовая ленточная лампа, проградуированная по цветовой температуре. Спектр этой лампы при температуре ленты Г фотографируется на той же пластинке, что и измеряемый спектр, при одном и том же времени экспонирования и при однородных условиях освещения щели спектрографа. Этот спектр воспроизводит фотографически относительное распределение энергии в излучении черного тела при температуре Т, равной цветовой температуре ленты лампы. Значения этой энергии Е-к даются в справочниках для единичного спектрального интервала (обычно 1А). [c.88]

УСЛОВИЯ ОСВЕЩЕНИЯ ЩЕЛИ СПЕКТРОГРАФА [c.295]

Общие указания. Расчеты показывают, что оптимальные условия освещения щели спектрографа объемным источником при заданных размерах рассеивающего сосуда осуществляются, когда с помощью конден- [c.295]

При выборе этого соотношения используются условия освещения щели спектрографа, приведенные на рис. 137. Минимальный объем такого сосуда будет равен [c.297]

Необходимые условия освещения щели спектрографа при использовании сосуда с многократным отражением иногда бывает удобнее осуществить с помощью двухлинзовой конденсорной системы. [c.298]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Фотографирование спектров мышьяка на спектрографе ИСП-28 с источником возбуждения ДГ-2 производят при следующих условиях ширина щели спектрографа — 0,020 мм, трехлинзовая конденсорная система освещения щели диафрагма на промежуточной линзе — 3,2 мм генерал тор ДГ-2 работает в дуговом режиме дуговой промежуток — 2,5 мм, сила тока—16 а, экспозиция — 30 сек. фотопластинки — спектральные, тип П, чувствительностью 11 или 16 ед. ГОСТ, проявитель № 1, фиксаж кислый. [c.229]

Спектры фотографируют при следующих условиях ширина щели спектрографа 0,018 мм с трехлинзовой системой освещения, промежуточная диафрагма 5 мм, расстояние между электродами 5 мм, сила тока дуги 12 а. Перед зажиганием дуги устанавливают зазор между соплом и дном сосудика равным 0,2 мм, затем регулируют положение сосудика так, чтобы сопло находилось на расстоянии 12 мм от угольных электродов. [c.432]

Условия возбуждения (в дуге переменного тока), рекомендуемые в работе [67], незначительно отличаются от описанных выше ток дуги 4 а, предварительный обжиг 70 сек, аналитический промежуток 1,5 мм (используется медный подставной электрод, заточенный на конус). Освещение щели спектрографа — без конденсоров. Спектры фотографируются дважды. Аналитические линии и фотометрические оценки приведены в табл. 14. [c.62]

Методики анализа с помощью спектрографа основаны на использовании кварцевого прибора средней дисперсии и чаще всего искрового возбуждения ([22, 270, 280, 283] и др.). Ширина щели спектрографа 0,020—0,030 мм. Условия освещения щели особо не оговариваются удобнее пользоваться стандартной трехлинзовой системой конденсоров. [c.166]

Этот принцип можно распространить на спектральные линии разных длин волн без особой погрешности, если линии близки. В методе фотометрического интерполирования для ослабления линий используют ступенчатый ослабитель, через который фотографируют спектры эталонов и образцов. Необходимое условие — равномерность освещения щели спектрографа. Таким образом, все спектры оказываются разделенными на ряд ступеней убывающей интенсивности. Фотометрирование проводится с помощью спектро-проектора. [c.112]

Важным условием получения характеристической кривой с правильным ходом в области слабых почернений является равно.мерное освещение щели спектрографа по всей ее высоте. [c.54]

Важным условием получения характеристической кривой с правильным ходом является равномерное освещение щели спектрографа по всей ее рабочей высоте, по крайней мере, в пределах высоты ступенчатого ослабителя (диаметр 8 мм). Равномерность освещения щели проверяют фотографированием спектра без ослабителя, ограничивая ее по высоте в пределах 10 мм с помощью диафрагмы Гартмана. Почернение линий в пределах этой высоты спектра должно оставаться постоянным, не обнаруживая расхождения результатов измерений плотности почернения на разных высотах более 0,01. [c.124]

Если ступенчатый ослабитель поставить перед шелью спектрографа, то спектральные линии в спектре разделятся на участки (ступени). Интенсивность каждого участка будет выражаться произведением пропускаемости соответствующей ступени ослабителя на интенсивность линии / = а/о. Для того чтобы получить характеристическую кривую, необходимо сфотографировать спектр какой-нибудь пробы или спектр железных электродов при условиях возбуждения, тождественных условиям проведения анализа. Особое внимание обращается на равномерность освещения щели спектрографа и равномерность освещения вдоль спектральных линий в спектре. Пластинка тщательно проявляется с соблюдением условий возможно однородного проявления. При помощи микрофотометра МФ-2 фотометрируются спектральные линии, лежащие вблизи аналитической пары, используемой для анализа. Для построения характеристической кривой целесообразно выбрать линии различных яркостей, чтобы почернения различных ступенек этих линий охватывали значения 5 от 2,00 до 0,05. [c.84]

Сравнительно простой вид имеет аппаратная функция А х) для предельных случаев, когда щель спектрографа освещена вполне когерентным или некогерентным светом. В промежуточных условиях освещения аппаратная функция имеет весьма сложный вид. Практически при освещении щели спектрографа с использованием конденсорной линзы, как [c.302]

Первая часть задачи может быть сформулирована так имеется определенный объем пробы. Каковы же должны быть размеры цилиндрического сосуда, чтобы при заданной светосиле спектрографа получить наибольшую освещенность щели спектрографа Ответ таков если спектрограф заполнен и условия освещения пробы яркость лампы, состояние зеркала осветителя и т. п.— неизменны, то освещенность щели пропорциональна длине рассеивающего столба и не зависит от его поперечных размеров. [c.112]

Сравнительно простой вид имеет функция аппарата а(х) для предельных случаев, когда щель спектрографа освещена вполне когерентным или вполне некогерентным светом. Практически же при освещении щели спектрографа с использованием конденсорной линзы, как это обычно делается при исследовании спектров комбинационного рассеяния, свет, падающий на щель, может быть частично когерентным. В этих промежуточных условиях освещения функция аппарата имеет весьма сложный вид. [c.14]

Как показало проведенное нами исследование [11], в этих условиях, т. е. при ширине щели 3, значительно большей нормальной ширины, и при освещении щели путем отображения на нее источника при помощи конденсорной линзы, свет, падающий на щель спектрографа, может считаться вполне некогерентным необходимо только, чтобы апертура конденсора несколько превосходила апертуру коллиматора, т. е. коллиматор был заполнен с некоторым избытком. Практически осуществить эти требования и в должной степени стандартизовать условия освещения не представляет труда. При этом вместо сложной функции аппарата, соответствующей промежуточным условиям освещения щели, можно использовать сравнительно простое выражение, справедливое для освещения щели вполне некогерентным светом, имеющее вид [c.15]

Рекомендуемые условия анализа. Спектрограф — кварцевый, средней дисперсии, с трехлинзовой системой освещения щели. [c.325]

ЛЕ), лучше — в форме 8 = ф(1 ). Практически это осуществляют размещением ступенчатого ослабителя на входной щели спектрографа и фотографированием через него исследуемого или какого-либо другого подходящего спектра при условиях, когда обеспечено постоянство освещенности входной щели на всю высоту ослабителя. [c.392]

В спектрографе ДС-1, собранном по автоколлимационной схеме с плоской дифракционной решеткой и линзовым объективом, сканирование осуществляется возвратно-поступательным движением щели при неподвижном ФЭУ. Этот прибор предназначен специально для анализа изотопного состава. Записывается только небольшой участок спектра (в пределах 1 мм). При этом условия освещения катода фотоумножителя практически не меняются. [c.124]

Существенным условием получения точных результатов анализа описанным методо.м является возможно более далеко идущая независимость относительных интенсивностей обеих линий от условий возбуждения спектра. Лучше всего, если обе линии происходят с общего верхнего уровня, т. е. являются компонентами одного мультиплета. Однако, соответствующий подбор необходимого числа пар в спектрах, бедных линиями, встречает обычно затруднения поэтому метод двух линий в основном применим лишь для анализа веществ, основной элемент которых обладает достаточно богатым спектром. Если соответствующий подбор линий удаётся осуществить, то метод двух линий обладает тем важным преимуществом перед методом ступенчатого ослабителя, что позволяет работать с низкой щелью спектрографа, т. е. экономить место на пластинке, что особенно существенно при серийных анализах, когда на одну пластинку важно поместить как можно больше снимков проб. Кроме того, благодаря использованию низкой щели, легче осуществить равномерность её освещения. [c.206]

Освещенность спектральных линий и фона, помимо перечисленных выше факторов [см. (III.16) и (III.17)], зависит также от способа установки источника света относительно входной щели спектрографа. В любом случае источник должен быть установлен так, чтобы его излучающая зона находилась на оптической оси объектива коллиматора. Невыполнение этого условия приведет к уменьшению освещенности линий и ухудшению качества спектра. [c.146]

Подготовка к работе. Рабочую поверхность электродов затачивают на плоскость или полусферу по указанию преподавателя. На щель спектрографа помещают диафрагму для того, чтобы высота освещенного участка равнялась 3 мм. Ширину щели устанавливают по указанию преподавателя. Порядок, и условия фотографирования по указанию преподавателя заранее записывают в рабочую тетрадь в виде таблицы [c.285]

Перед началом работы необходимо проверить наличие заземления у генератора и спектрографа, размеры входной щели, положение ослабителя или диафрагмы Гартмана относительно щели, установку на реле времени длительности обжига и экспозиции, степень чистоты оптических деталей прибора и изоляторов в штативе, качество зажимов и электрододержателей, параметры генератора. Зарядив и установив кассету, тщательно подготовив и установив электроды, включают прибор и корректируют напряжение и силу тока, а также проверяют качество освещения щели. Главными условиями для получения качественных результатов являются однотипность заточки электродов и тщательная установка их друг против друга симметрично оптической оси. При фигурной заточке электродов изменение положения резца влечет к существенным изменениям микрогеометрии анализируемой поверхности, даже при малозаметных изменениях формы заточки. Это в свою очередь приводит к перераспределению интенсивностей в спектре. Поэтому и пробы и с. о. затачивают при неизменном положении резца. Если же качество заточки плохое, то после замены резца заново затачивают и пробы и с. о. [c.191]

Таким образом, содержание ниобия до 300 у не мешает определению тантала по данной паре линий. Дальнейшее увеличение концентрации ниобия приводит к существенному ухудшению воспроизводимости значений AS. Содержание ниобия в тантале, выделенном по описанному методу, не превышает 50 Y- Щель спектрографа 0,007 мм, система освещения трехлинзовая, пластинка для научных целей тип 2 , условия обработки пластинки стандартные. [c.157]

Дуга постоянного тока мало подходит для целей микроанализа, т. е. для анализа небольших проб. Выделяя большое количество тепла, она способствует быстрому и невоспроизводимому испарению пробы небольшой массы, так что часть пробы вообш,е минует столб дуги. Вследствие блуждания разряда дуги плохо воспроизводятся условия освещения щели спектрографа. Поэтому понижается точность анализа. [c.153]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Условия спектрографического анализа сталей, перечисленных Б группе 1 кварцевый спектрограф средней дисперсии, ширина щели прибора 0,015 мм освещение ее — с помощью стандартной трехлинзовой системы конденсоров и без конденсоров, возбуждение— с помощью генератора дуги переменного тока (ДГ-1 нлн ДГ-2), работающего в дуговом режиме. Ток дуги 5 а, система поджига регулируется на получение одного цуга за полупе-риод П 1тающего тока. Длина рабочего дугового промежутка 2 мм, подставной электрод — спектрально чистый уголь или медный стержень заточка электродов стандартная. Длительность предварительного обжига 5 сек, выдержка — в зависимости от условий освещения щели и чувствительности фотопластинок. [c.80]

Опыты проводились при следующих, условиях ойислы железа и кварц смешивались с угольным порошком, как указано в таблице электроды угольные, верхний (катод) диаметром 4 мм, нижний (анод) размером 3 Х4 мм ток постоянный силой 10 А, межэлектродный промежуток 4 мм система освещения щели спектрографа — трех-линзовая . [c.86]

Методы исключения ширины щели развиты в спектроскошш работами Рэлея, Рупге, Пашена и др.[35]. Для наших целей достаточен простейший вариант, предложенный Рэлеем, состоящий в следующем. В условиях почти некогерентного освещения щели спектрографа наблюдаемый контур спектральной линии можно записать в виде [c.66]

Рекомендуемые условия анализа в 1 г образца закиси-окиси урана вводят 70 мг ВаСОз н 50 мг угольного порошка. Навеску пробы 25 мг помещают в электрод специальной формы (рис. 62). Источник спектра — генератор дугн переменного тока, сила тока— 18 а. Спектрограф —ИСП-51 с камерой УФ-85А с однолинзовой системой освещения щели. Аналитические линии А1 3944,03 А— Ва 3935,7 А. Градуировочные графики, построенные в координатах (А5, lg ), имеют прямолинейный вид в интервале концентраций 1 10 3 10 . [c.367]

Условия съемки спекторов при возбуждении искрозым генератором. Спектрограф ИСП-28 щель 0,020 мм, высота щели 1 мм, трехлинзовая система освещения щели. [c.198]

Основным источником излучения молекулярных спектров являются холодные периферические зоны дуги. Между тем оптические схемы спектрографов обычно рассчитаны на регистрацию излучения сравнительно небольшого наиболее горячего участка облака дугового разряда. Поэтому при анализе по молекулярным спектрам сигнал излучения регистрируют не в оптимальных условиях. Если регистрировать излучение холодных периферических областей спектра, то можно ожидать повышения чувствительности анализа по молекулярным спектрам. На этом принципе разработан метод определения фтора в порошках по молекулярной полосе aF с кантом 529,1 нм. Использованы спектрограф ИСП-28 и генератор ДГ-2. Анализ вели по методу просьшки. В связи с тем что при обычном освещении щели вся излучаемая область дугового облака не помещается в щели, на нее проектировали уменьшенное в 2—3 раза изображение дуги. С этой целью использовали кварцевый конденсор Ф-75 с фокусным расстоянием 75 мм, который был установлен на расстоянии приблизительно 10 см от щели спектрографа и 30 см от источника света. При этом изображение дугового облака уменьшалось до 8 мм по высоте, что соответствовало высоте щели прибора. При таком способе регистрации спектра предел обнаружения фтора составил 0,001—0,002%, в то время как при обычной регистрации был 0,05—0,1% [375]. [c.262]

Наиболее часто рекомендуемые условия анализа с фотографической регистрацией спектра кварцевый спектрограф средней дисперсии (ширина щели 0,020 мм) со стандартной трехлинзовой системой или бесконденсорной системой освещения щели. Источник света при искровом возбуждении — генератор ИГ-2 или ИГ-3 включение — по сложной схеме, С = 0,01 мкф, Ь = = 0,05 мгн, задающий искровой промежуток 3 мм, рабочий [c.61]

Концентрирование выполняют в запаянных стеклянных ампулах при частоте вращения ротора 22 с (на фронте кристаллизации a = 340go)-Температура в рабочем пространстве печей составляет 380 °С. От полученных слитков массой 7 г отделяют концентраты массой около 0,07 г, растирают в агатовой ступке и анализируют. Концентраты и градуировочные образцы плотно набивают в кратеры угольных электродов (диаметр и глубина кратера 4 мм). В качестве верхних электродов используют графитовые стержни диаметром 6 мм, заточенные на конус. Испарение вещества в дуге переменного тока и регистрацию спектров спектрографом ИСП-30 с трехлинзовой системой освещения щели выполняют при следующих условиях сила тока-16 А, аналитический промежуток-2 мм, ширина щели спектрографа-0,015 мм, экспозиция-60 с. Перед наполнением электроды прожигают 30 с в дуге переменного тока (16 А). [c.165]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология