Плотность источника

Рассмотрим плоский диэлектрик, помещенный в водный электролит. Будем предполагать, что толщина диэлектрика много больше дебаевского радиуса электролита, что позволяет считать диэлектрик бесконечно толстым. Граница раздела диэлектрик/электролит непроницаема как для молекул воды, так и для ионов электролита. Введем декартову систему координат таким образом, что начало координат соответствует границе раздела оси х и у лежат в плоскости диэлектрика, а ось 2 направлена нормально плоскости раздела (рис. 9.3). Для простоты будем рассматривать одномерную задачу и считать, что плотности источников электрических полей зависят только от г. [c.151]

Сг — тепловой поток в расчете на единицу объема (плотность источника), ккал/ м -ч) пли вт/м [c.239]

Локальное производство энтропии, т. е. плотность источника энтропии, определяется по уравнению для диссипативной функции, которая в изотропных средах имеет вид [5] [c.241]

Здесь искомая функция р(х,у,1) соответствует давлению к = ко(х,у)1т, ) = Р = т+ (3 - коэффициент упругости пласта /-плотность источников и стоков, моделирующих работу добывающих и нагнетательных скважин. Со способами моделирования скважин можно познакомиться по книге [45]. [c.391]

Очевидно, что плотность источника или стока, т. е, количество выделяемого или поглощаемого вещества в единице объема за единицу времени, определяется характером обмена, который может происходить в объеме и на поверхности за счет как молекулярной, так и турбулентной диффузии. [c.76]

К объему стока или источника массы можно отнести объем застойных зон, объем твердых частиц в потоке, объем парового пространства в частицах, насадке, стенках аппарата и т. п. Плотность источника (стока), т. е. количество выделяемого (поглощаемого) вещества в единице объема в единицу времени, определяется характером обмена, который может происходить в объеме и на поверхности как за счет молекулярной, так и турбулентной диффузии. [c.396]

Описание модели. Рассмотрим поток в аппарате с насадкой, объем которого может быть представлен как сумма У=У,+72, где — эффективно используемый объем (объем проточных зон) 2 — объем, который может служить стоком или источником массы (объем застойных зон). К последней части объема можно отнести объем застойных зон, объем твердых частиц, объем поро-вого пространства в частицах, элементах насадки, стенках аппарата и т. д. Плотность источника или стока, т. е. количество выделяемого или поглощаемого вещества в единице объема в единицу времени, определяется характером обмена, который может происходить в объеме и на поверхности за счет как молекулярной, так и турбулентной диффузии. [c.346]

При формулировке уравнений балансов субстанций важно разделить плотность источника х на внутреннюю х ) и внешнюю х( ) [20] [c.62]

Внутренняя плотность источника х > является функцией локальных неоднородностей внутри системы, возникающих из-за неоднородного распределения скоростей, температур, концентраций, химических потенциалов и т. д. Плотности потоков, вызванных градиентами этих величин, представляют внутреннюю плотность источника х( >. [c.62]

Диаграммы связи локальной и субстанциональной форм баланса массы для однокомпонентного и многокомпонентного потоков. Примем в качестве рассмотренной выше экстенсивной величины А массу М материального континуума в объеме V, тогда удельная величина принимает значение, тождественно равное единице Ям = 1, Яу = р, а локальная плотность потока массы будет = ру. Кроме того, примем, что плотность источника массы X в объеме V равна нулю. [c.74]

Примем в качестве удельной характеристики среды (на единицу массы) удельный импульс а = . Субстанциональная плотность потока импульса по физическому смыслу представляет тензор напряжений (второго ранга) Р = РО, где О — метрический тензор. Плотность источника импульса определяется плотностью внешних сил рГ, которую можно отнести к внешним источникам х( ) = рР = 0. [c.178]

Здесь штрих для температур означает безразмерное значение, отнесенное к у. Величина Q известна как приведенная эффективность топки, D — приведенная плотность источника теплоты и Lr — ир)П еденные потери при излучении. [c.115]

Рассматриваемую систему можно сделать изолированной, включив в нее взаимодействующую с данным объемом жидкость. В этом случае силы давления и внутреннего трения войдут в скорость изменения импульса во времени. Единственной силой (из рассматриваемых), которая не позволяет сделать систему изолированной и служит источником изменения импульса во времени, является сила тяжести. Таким образом, сила тяжести - внешняя сила. Она характеризуется объемной плотностью притока импульса. Ввиду того что скорость притока импульса в единицу времени равна силе, действующей на тело, объемная плотность источника равна силе [c.55]

Проекция вектора плотности источника импульса на ось г составит [c.55]

Ввиду того что векторы д п к направлены взаимно противоположно (а = 180°), проекция вектора плотности источника импульса на ось будет иметь вид [c.55]

ЭТО дивергенции от плотности потока импульса, а —р -плотность источника импульса. [c.58]

Энергия кванта излучения определяет его проникающую способность и, следовательно, возможность выявления дефектов в контролируемых объектах различной толщины и плотности. Источники ионизирующих излучений могут создавать одновременно кванты широкого спектрального диапазона энергий, которые по- [c.272]

Измерительный прибор состоит из трех самостоятельных блоков, размещенных в своих ячейках общего металлического корпуса блока оптической плотности, источников питания (ИП-8 и СН-1) для источника света и потенциометра 12 [c.130]

В оптически однородных средах малые по сравнению с л оптич. неоднородности — термич. флуктуации плотности — источники местных изменений показателя преломления и причина молекулярного (рэлеевского) Р. с. В области фазовых переходов оптич. неоднородности (долгоживущие гетерофазные флуктуации) — причина критич. опалесценции (Р. с. высокой интенсивности). Интенсивность Р. с. особенно велика в коллоидных системах, когда размеры частиц сравнимы с X. [c.250]

В ряде случаев, вместо эффекта ослабления гамма-излучения пользуются свойством водорода влаги интенсивно задерживать быстрые нейтроны. Этот способ 22,.Схе-применим для неорганич. материалов, не ма датчика содержащих кристаллизационной воды, и осуществляется по след, схеме (рис. 22). галоген-Около объекта измерения устанавливают ный счетчик источник быстрых и приемник тепловых нейтронов, соединенный с электронным кадмия з — прибором последний измеряет плотность источник нейтронного газа, функционально свя- свинцо-занную с влажностью измеряемого веще- вый цилиндр, ства. [c.155]

Балансные уравнения, подобные уравнению (1.7), могут быть записаны для физических величин а,-, характеризующих вещтетво (плотность, массу, энергию, импульс и др.), плотность потока J обобщенных интенсивных параметров Г, ( в качестве последних служат температура Т, давление -Р, напряженность электрических Ё и магнитных полей Н, химический потенциал ц и т.п.) и объемную плотность источника о,, выражающую количество а,, возникающее в единице объема в [c.16]

N — расход энергии на перемешивание, кГ-м1сек п—число ячеек число теоретических тарелок Поб — скорость вращения мешалки, об сек /г ас — количество элементов насадки Пи — число пузырьков в единице (.бъема Лпр —число прорезей в колпачке Пщ — число щелей Р — давление, кГ1см р — оператор Лапласа Q.f—количество жидкости, удерживаемое на тарелке, д — плотность источника Я — флегмовое число [c.253]

Переменную плотность источника д ь ожно представить как изменение емкости источника g во времени, т. е. д = дд1д1, тогда [c.347]

Внешняя плотность источника А является результатом даль-нодействующего характера внешних силовых полей, влияющих на систему. К последним можно отнести гравитационное поле, внешние электромагнитные поля, радиационное излучение и т. п. [c.62]

Наибольшие градиенты скоростей имеют место в пристенных слоях жидкости. Если предположить, что мощность М, затрачиваемая на перемешивание, диссипируется равномерно в гидродинамическом пристенном слое толщиной б д, то объемная плотность источника тепла составит [c.198]

Пусть i(x y z) - заданная нквдя - плотность источников жидкости, й(х,у 0> - заданный вектор угловой скорости. Для нахоадения поля скоростей (х,у 0) именем два уравнения [c.3]

В [4.3] дается метод решения этой задачи при малых значениях чиела Рейнольдеа, когда для анализа движения жидкости может быть использован закон Дарси. В работе показано, что при плотности источников теплоты, зависящих только от температуры, а также при пренебрежении молекулярными процессами переноса теплоты н тепловым излучением изотермы совпадают с линиями равных времен — геометрическим местом точек т( о, )=сопз1, достигаемых частицами жидкости яа оди[ аковые промежутки времени. Таким образом, для расчета температурного поля камеры ТЭ не нужно зиать поля скоростей, а требуется определить только интегральные характеристики — линии равных времен. [c.173]

Отсюда следует, что при фиксированном значении R Rq = = onst) скорость крипа прямо пропорциональна растягивающему усилию. Но в действительности как R , так и плотность источников дислокаций (параметр L) могут существенно зависеть от а. И тогда даже в предположении чисто диффузионного механизма стационарного течения кристалла скорость пластической деформации оказывается более сложной функцией напряжения. [c.324]

Смотреть страницы где упоминается термин Плотность источника: [c.16] [c.397] [c.221] [c.221] [c.346] [c.75] [c.316] [c.545] [c.553] [c.270] [c.20] [c.46] [c.46] [c.47] [c.207] [c.284] [c.475] [c.926] [c.252] [c.324] [c.484]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология