Микроскоп отражательный объективов

Системы, проектирующие изображение объекта при помощи отражающей поверхности в плоскость самого объекта, называются автоколлимационными. В измерительной технике используются два вида автоколлимационных систем. В системах первого вида падающие на отражательную плоскость и отраженные от нее пучки являются параллельными (например, в оптиметре, автоколлиматоре и др.). В системах второго вида эти пучки лучей не являются параллельными (автоколлимационный микроскоп) . [c.68]

Зеркальный электронный микроскоп. Изображение в микроскопе создается зеркалом , состоящим из анода, иммерсионной линзы и объекта (под потенциалом катода). Пучок электронов, идущий от анода, рассеивается поверхностью зеркала в зависимости от отражательной способности разных ее участков. Рассеивание электронов происходит вблизи поверхности образца, несущей контактную разность потенциалов. Контактные разности потенциалов обусловлены неоднородностью состава и рельефа образца,, поэтому видимое изображение на экране картины рассеянных электронов отображает строение поверхности. Разрешение зеркального микроскопа является функцией напряжения поля у поверхности образца и составляет около 100 нм. Так, зеркальный микроскоп JEM-M1 (Япония) имеет разрешение 100 нм при увеличении 1000. Микро- [c.155]

Исследование микроструктуры шлифа ведется в отраженном свете лучей, поступающих от источника света и проходящих через осветительную систему. На рис. 95, а представлен ход лучей через осветительную и оптическую системы микроскопа МИМ-7 при работе в светлом поле. Луч света от источника света —лампы — попадает через коллектор иа зеркало 3. Отразившись от него, луч проходит через светофильтр апертурную диафрагму, осветительную линзу 6, призму иллюминатора 9, линзу 10, отражательную пластинку и объектив (который является частью осветительной системы) и попадает на зеркальную поверхность шлифа, освещая ее. Эта [c.168]

Комплексное применение совокупности новых препаративных методов ЭМ исследования полимеров (механическая и ультразвуковая диспергация, контрастирование продуктов дробления, использование метода реплик, ультратонких срезов, отражательной и сканирующей электронной микроскопии и т. п.) создали условия для выяснения характера НМС целлюлозы [6, 7]. Оказалось, что если диспергировать в жидкости пеболь-щую навеску волокна, то удается наблюдать распад исходного волокна на удлиненные образования, так как при дроблении полимер разрушается в первую очередь по границам структурных образований. Поперечные размеры продуктов дробления заключены в достаточно широком интервале (рис. П.1,с). Малоконтрастность снимков, не позволяющая обнаружить никаких более тонких деталей, обусловлена тем, что полимерные объекты состоят из слаборассеивающих элементов (в основном углерода), а соседние области мало различаются по толщине. Поэтому препараты для прямого исследования необходимо контрастировать , создавая неравномерное распределение посторонних веществ, содержащих тяжелые атомы. Для этой цели применяют методы косого напыления металлов в вакууме негативного контрастирования, а также пропитку за счет диффузии паров 0з04 или иода [8, гл. 9]. [c.87]

В существующих установках для ультрафиолетовой микроскопии оптика не ахроматизирована для ультрафиолета, и необходимость в создании ахроматизированной оптики уже давно признавалась всеми насущной задачей. Брумберг [36] разработал отражательный объектив с двумя поверхностями, в который введен преломляющий элемент из флюорита для устранения влияния покровного стекла. Брумберг предложил также метод перехода к цветному изображению в качестве [c.219]

Фотометрический окуляр для определения отражательной способности объектов на поляризационных микроскопах типа МИН [c.317]

Численно апертура отражательного объектива микроскопа определяется точно так же, как для обычного преломляющего объектива, и равна произведению синуса половины угла при вершине конуса лучей, идущих от объекта к вогнутому зеркалу, на показатель преломления среды, в которой эти лучи распространяются. В некоторых работах рассматривалась возможность увеличения апертуры инфракрасных микроспектрометров применением преломляющей оптики, однако, как показали Блаут и Бэрд [12], использование иммерсионных линз в инфракрасной области приводит к таким потерям света на отражение, что выигрыш за счет увеличения апертуры сводится на нет. Поэтому мы будем рассматривать только отражательные объективы сухого типа. [c.275]

Отражательная способность оптического материала с уменьшением длины волны падающего света увеличивается. С другой стороны, прозрачность оптического материала в этих условиях для УФ излучения довольно резко падает. Поэтому при сравнительно небольшом числе оптических деталей контрастность изображения в УФ области спектра заметно ухудшается. Например, в микроскопах, предназначенных для работы в УФ области спектра, особенно необходимо уменьшение количества рассеянного света. Пропускание биологических препаратов или отражательная способность металлографических шлифов, являющихся предметом исследований под микроскопом, сильно снижаются в ультрафиолетовой области. Из-за многократных интенсивных отражений яркость изображения объекта, наблюдаемого в микроскоп, сильно, уменьшается. Яркость светлого фона становится соизмеримой с яркостью изображения шлифа, вследствие чего детали последнего оказываются очень нечеткими. [c.11]

В зависимости от способа исследования объектов имеются электронные микроскопы различных типов просвечивающие, отражательные, растровые, эмиссионные (в том числе элект- роннйб проекторы) и теневые. Однако наибольшее распростра- нение получили приборы просвечивающего типа, обладающие (высоким разрешением и наибольшей универсальностью применения. В данной книге рассматривается почти исключительно применение просвечивающей электронной микроскопии. [c.4]

Работа всех микроскопов, описанных в литературе [3, 4, П, 12, 20, 27, 30, 49, 58], основана на одинаковом принципе. Получают очень малое изображение источника инфракрасного излучения с помощью оптической системы с высокой численной апертурой, и образец, спектр которого нужно измерить, помещают на место этого изображения. Таким образом, можно получить спектры образцов размером 0,01 X 0,6 мм. В некоторых случаях размеры образца могут быть даже меньше, что зависит от длины волны излучения. Эта проблема обсуждалась Фрэзером [25]. Для таких измерений были спроектированы различные оптические системы, но сейчас наибольшее распространение получил отражательный объектив типа Шварцшильда. Две другие системы конденсирования светового луча описаны в литературе [2, 23]. Одна из них — система отражательного типа, а другая состоит из двух линз из хлористого серебра. Обе эти системы чрезвычайно просты, и поэтому очень полезны. В этих системах достигается уменьшение изображения в 5—10 раз, что вполне достаточно для ряда задач. [c.237]

Бэрч построил отражательный объектив двойного отражения с нумерической апертурой 0,65, дающий высококачественное изображение как в видимом, так и в ультрафиолетовом свете. Нумерическая анертура этого объектива может быть повышена до 0,98 без потери ахроматизма, если к объективу добавить иммерсионную линзу из кварца, кривизна и толщина которой подобраны так, что объект находится в геометрическом центре ее сферической поверхности. Эта кварцевая линза дает возможность приспособить отражательный микроскоп для фазоконтрастного метода микроскопирования [38]. [c.220]

О т р а ж а т е л ь н ы е микроскопы, в которых аналогично отражательному металломикро-скопу изображение получается за счет потока электронов, отражегг-ных от поверхности рассматриваемого объекта. [c.169]

Детальный обзор различных вопросов, связанных с устройством отражательных микроскопов для использования с инфракрасными спектрометрами, сделал Норрис [12], который рассмотрел как опубликованные работы других авторов, так и ряд экспериментальных результатов, полученных с объективами, описанными им самим с соавторами (Норрис, Сиде и Уилкинс [13]). Здесь нет необходимости вникать в детали, основной же вывод тот, что достаточно хорошие для этих целей объективы могут быть сконструированы из сферических элементов с относительным отверстием вплоть до 0,8. Затемненная часть в центре пучка, если принять, что освещенное поле достаточно велико, для того чтобы охватить по высоте всю щель (обычно около 1 см), составляет 40—45%. При относительном отверстии 0,8 и использовании спектрометра, например, фирмы Грубб-Парсонс может быть достигнуто лишь одиннадцатикратное увеличение. Одну из таких систем, сочетающих объектив (и идентичный объективу конденсор с обратным порядком расположения деталей) и спектрометр Грубб- [c.276]

Далее луч света, отразившись от зеркальной поверхности шлифа, вновь проходит через объектив, отражательную пластинку, линзу 14, попадает на зеркало 18 и, отразившись от него, попадает в окуляр 19. Эта часть системы микроскопа называется главной оптической системой и она для всех металлографических микроскопов принципиально одинакова. При исследовании объекта в темном поле добиваются того, чтобы луч света не попадал на отражательную пластинку 11, которая направляет луч в объектив. Для этого вводится диафрагма 25 (рис. 95, б), закрывающая эту пластинку, а вместо линзы 10 устанавливается линза 21. Тогда луч света попадает на кольцевое зеркало 20, расположенное вокруг отражательной пластинки 11, и, отразившись от нее, попадает на параболическое зеркало 22, расположенное вокруг объектива 12 и составляющее с ним одно целое. Эти объективы называются эпиобъективами. От зеркала 20 луч света попадает на шлиф и отражается только от выступающих частей микроструктуры. Остальное поле при этом остается темным. [c.169]

Макроскопически песчаники и алевролиты, содержащие битумы, выделяются среди нефтенасыщенных пород своеобразными черны.ми тонами окраски, обусловленными таким интенсивным заполнением порового пространства битумным веществом, цементирующим обломочный материал, что присущие ему черные цвета превалируют среди других цветовых оттенков породы. Иногда наблюдаются включения черного вещества до нескольких сантиметров по длинной оси линзовидной, неправильной формы или в виде ирослойко1В, залегающих согласно слоистости породы. Морфология и размеры подобных включений полностью определяются структурно-текстурными особенностя.ми вмещающих отложений (рис. 1). Под микроскопом, в шлифах и полированных пришли-фовках видно, что однородные для невооруженного глаза включения в действительности. сложены массой мелких вытянутых, неправильных, округлых тел, подчиненных размерами и конфигурацией поровому пространству породы. Иногда отмечаются линейно-вытянутые объекты, появление которых связано с наличием в коллекторе микротрещиноватости. Полируются битумные включения по-разному, что, вероятно, зависит от примеси загрязняющих ис-слсдуемое вещество глинистых частиц. Замеры отражательной способности, выполненные на установке ПООС-1 в воздушной среде, дали величину ЮКЬ, равную 74%. При нагревании в термокамере биту.мное вещество практически полностью сгорает в интервале температур 180—400°С. Видимых признаков плавления или разложения не отмечается даже при наблюдении под микроскопом при увеличении 17,5. [c.98]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология